JPH03171746A - インナリードボンディング装置システム - Google Patents

インナリードボンディング装置システム

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JPH03171746A
JPH03171746A JP31135689A JP31135689A JPH03171746A JP H03171746 A JPH03171746 A JP H03171746A JP 31135689 A JP31135689 A JP 31135689A JP 31135689 A JP31135689 A JP 31135689A JP H03171746 A JPH03171746 A JP H03171746A
Authority
JP
Japan
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inner lead
lead bonding
tape
single point
bonding
Prior art date
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Pending
Application number
JP31135689A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiya Nemoto
根本 俊哉
Hideo Aoki
秀夫 青木
Yoshizumi Sato
佐藤 由純
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はインナリードボンディング装置システムに関す
るもので、特に半導体部品の組立てに使用されるもので
ある。
(従来の技術) 従来、インナリードボンディング装置としては、ギャン
グ・インナリードボンディング装置、及びシングル・ポ
イント・インナリードボンディング装置の2種類が知ら
れており、これらはそれぞれ独自の装置であった。
しかしながら、ギャング・インナリードボンディング装
置は、その性質上テーブー巻が終了するまで外観検査を
することができず、例えば未接合箇所があってもこれを
修正することができない欠点がある。また、ギャング・
インナリードボンディング終了後、接合不良があっても
検査、修正等ができず、樹脂封止工程乃至キュア工程後
に電気検査を行って、この接合不良を発見するというの
が現状である。  ″ また、シングル・ポイント・インナリードボンディング
装置は、ワイヤボンディング装置の改良により開発され
た装置であるため、リードを1ビンずつしかボンディン
グすることができないという欠点がある。
即ち、これらの要因により、製造時間のロス、歩留まり
の低下、生産性の悪化等の悪影響が生じている。
(発明が解決しようとする課題) このように、従来のインナリードボンディング装置は、
ギャング・インナリードボンディング装置と、シングル
・ポイント・インナリードボンディング装置とがそれぞ
れ独自の装置であったため、製造時間のロス、歩留りの
低下、生産性の悪化等を生じる欠点があった。
よって、本発明は、半導体部品の品質を低下させること
なく、歩留り、生産性、稼働率、信頼性等の向上、及び
生産時間の短縮を達成できるインナリードボンディング
装置システムを提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明のインナリードボン
ディング装置システムは、インナリードボンディングを
行うインナリードボンディング装置と、前記インナリー
ドボンディング終了後、連続してその接合部の外観上の
良否を検査及び判断する接合部外観検査装置と、この接
合部外観検査装置からの情報を元にリードを1本づつボ
ンディングすることが可能なシングル・ポイント・イン
ナリードボンディング装置と、テープの自動供給機能を
有するテープロータ装置と、テープの自動収納機能を有
するテープアンロータ装置とを有している。
また、前記インナリードボンディング装置、接合部外観
検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
ィング装置は、テープを搬送するフィーディング機構を
有しているというものである。
さらに、前記インナリードボンディング装置、接合部外
観検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボン
ディング装置は、それぞれ独自のCPUを有しており、
各々のCPUが個々に前記インナリードボンディング装
置、接合部外観検査装置又はシングル・ポイント・イン
ナリードボンディング装置を自動制御可能なものである
また、前記インナリードボンディング装置、接合部外観
検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
ィング装置は、それぞれ独自のCPUを有しており、各
々のCPUが通信により他のCPUを自動制御可能なも
のである。
(作 用) このような構或によれば、ギャング・インナリードボン
ディング装置、接合部外観検査装置及びシングル・ポイ
ント・インナリードボンディング装置によりシステムを
構成している。このため、一連の動作でインナリードボ
ンディング並びにその検査及び修正を行うことができる
。また、インナリードボンディング装置、接合部外観検
査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンディ
ング装置は、それぞれ独自のCPUを有している。
これにより、インナリードボンディング装置、接合部外
観検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボン
ディング装置の自動制御が可能になる。また、各々のC
PUが通信により他のCPUを自動制御可能であるため
、インナリードボンディング並びにその検査及び修正を
一連のラインで行うことができる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について詳
細に説明する。
第1図は本発明の一実施例に係わるインナリードボンデ
ィング装置システムの原理を示すブロック図である。
lOiは、例えばTABテープのインナリードとICペ
レット上に形成されたバンプとの接続を行うギャング・
インナリードボンディング装置である。ギャング・イン
ナリードボンディング装置101は、独自のC P U
 (Central Process1ngUnit)
 102を備えており、これにより自動制御が可能にな
っている。 103は、インナリードボンディング後の
接合部の外観上の良否を検査判断する接合部外観検査装
置である。接合部外観検査装置103は、独自のCPU
I04を備えており、これにより自動制御が可能になっ
ている。105は、例えばリード剥がれ等に対し、リー
ドを1本づつをボンディングすることが可能なシングル
・ポイント・インナリードボンディング装置である。シ
ングル・ポイント・インナリードボンディング装置10
5は、独自のCPULOl3を備えており、これにより
自動制御が可能になっている。107は、テープの自動
供給機能を有するテーブローダ装置である。108は、
テープの自動収納機能を有するテープアンロータ装置で
ある。テープロータ装置107は、ギYング・インナリ
ードボンディング装置101に接続され、又テープアン
ロータ装置108は、シングル・ポイント・インナリー
ドボンディング装置103に接続されている。テープロ
ータ装置107及びテープアンロータ装置108は、そ
れぞれが独立に駆動されている。また、ギャング・イン
ナリードボンディング装置101,接合部外観検査装i
t 103及びシングル・ポイント・インナリードボン
ディング装置105には、テープを搬送するフィーディ
ング機構が設けられているため、一連の動作を連続して
行うことが可能になっている。さらに、CP0  10
2,  104,  106は、通信により他のC P
 U 102,  104,  106の制御(例えば
各々の装置スピードに対するインデックスタイムの変更
等)が可能となっている。
第2図は本発明の一実施例に係わるインナリードボンデ
ィング装置システムの概略図を示すものである。
ギャング・インナリードボンディング装置101には、
ボンディングステージ部11及びモニタテレビ12が設
けられている。また、連続動作を可能とするフィーディ
ング機構としてのスブロケットホイールl3及びテープ
フィード用プーリー14が設けられている。ボンディン
グステージ部l1は、第3図に示すように、ボンディン
グヘッド15、ボンディングヘッドZ駆動部16、ボン
ディングヘッドXYテーブルl7、ボンディングッール
18、ボンディングステージ19、ボンディングステー
ジXYテーブル20、ゲージング21、ピックアップヘ
ッド22、ウエハステーション23から構或されている
接合部外観検査装置103には、モニタテレビl2及び
検査用カメラ24が設けられている。また、連続動作を
可能とするフィーディング機構としてのスブロケットホ
イールl3及びテープフィード用ブーリー14が設けら
れている。
シングル・ポイント・インナリードボンディング装置1
05には、モニタテレビ12、ボンディングヘッドXY
テーブル25、ボンディングッール26、ボンディング
ヘッド27及びボンディングステージ28が設けられて
いる。また、連続動作を可能とするフィーディング機構
としてのスブロケットホイールl3及びテープフィード
用ブーリー14が設けられている。
テーブローダ装置107及びテープアンロータ装置10
8には、テープ供給部30及びテープ収納部3lがそれ
ぞれ設けられている。また、連続動作を可能とするフィ
ーディング機構としてのテープフィード用プーリー14
及びテンションブーリー29が設けられている。さらに
、フィルムキャリアテーブ32及びスペーサテーブ33
が交互に巻かれているテープー巻がテープ供給部30に
セットされているなお、フィルムキャリアテーブ32は
、スプロケットホイールl3、テンションブーリー29
等を介してテープ収納部3lに収納される。また、スペ
ーサテーブ33は、テープフィード用ブーリー14を介
してテープ収納部3lに収納される。
次に、前記第2図及び第3図を参照しながら前記インナ
リードボンディング装置システムの動作について詳細に
説明する。
テープアンロータ装置10gでは、フィルムキャリアテ
ーブ32及びスペーサテープ33がモータ(図示せず)
の駆動によってリール(図示せず)に巻き取られている
。これにより、フィルムキャリアテーブ32は、テープ
ロータ装置107からギャング・インナリードボンディ
ング装置101へ搬送され、又スペーサテープ33は、
テープロータ装置107からテープフィード用プーリー
14を介して直接テープアンロータ装置108のテープ
収納部3lへ搬送されている。
ギャング・インナリードボンディング装置101に搬送
されたフィルムキャリアテーブ32は、テンションブー
リー29を介してスブロケットホイール13により一定
ピッチでボンディングステーションに搬送される。ここ
で、フィルムキャリアテープ32上のインナリード(図
示せず)の2点をCCDカメラ(図示せず)により検出
し、リードの位置を認識する。同時にマガジン(図示せ
ず)に入っているウエーハ34を自動でウェハステーシ
ョン23に搬送する。この後、粘着シートを引き伸ばし
てウエーハ34からそれぞれIC35を分離し、1つの
ICl5をピックアップヘッド22によりボンディング
ステージl9へ移載する。また、ゲージング2lにより
プリアライメント(XY方向)を行った後、CCDカメ
ラ(図示せず)によりICの2点を検出し、インナリー
ド(図示せず)との相対位if (XYθ方向)を補正
して、位置合わせを完了する。この後、IC上の金バン
ブ(図示せず)とフィルムキャリアテープ32のインナ
リードとをコンスタントヒートツール(又はパルスヒー
トツール)18により加圧、接合する。
ギャング・インナリードボンデイングが終了すると、フ
ィルムキャリアテーブ32は、テンションブーリー29
及びスブロケットホイールl3により接合部外観検査装
置l03に搬送される。ここで、フィルムキャリアテー
プ32に接合されたICのバンブと、インナリードとの
接合部は、複数個のCCDカメラ24により検査される
。この時、接合部外観検査装置103のCPUは、不良
部を検知すると、その番号と位置(座標)とをシングル
・ポイント◆インナリードボンデイング装置105のC
PUへ通信により伝える。
接合部外観検査装置103による外観検査終了後、フィ
ルムキャリアテープ32は、テンションプーリー29及
びスプロケットホイールl3によりシングルーポイント
●インナリードボンデイング装置105に搬送される。
そして、搬送されてきたフィルムキャリアテーブ32は
、下部からボンディングステージ28により、父上部よ
り上押え(図示せず)により固定される。また、ボンデ
ィングステージ2Bには、ヒータ(図示せず)及びセン
サ(図示せず)が内臓されており、適切な加熱が行われ
る。
さらに、CCDカメラ(図示せず)が、ICの決められ
たパターンを認識することにより、位置(XY方向)補
正が行われる。この後、上述の通信により送られてきた
リードの位置のみについて、ボンディングヘッドXYテ
ーブル25、ボンディングヘッド26、ボンディングツ
ール27によってボンディングが行われる。この場合の
ボンディング位置は、あらがじめICのパッド位置を人
力により教示してあるものである。なお、不良がない場
合には、そのまま以下のテープアンロータ装置10gに
搬送される。
シングル・ポイント・インナリードボンディングの終了
後、フィルムキャリアテープ32は、テンションプーリ
ー29及びスブロケットホイールl3によりテープアン
ロータ装置lO8に搬送される。
そして、テープ収納部3lのリールにスペーサテーブ3
3と共に巻き取られ収納される。
このような構成によれば、ギャング・インナリードボン
ディング装置lot,接合部外観検査装置 103及び
シングル・ポイント・インナリードボンディング装置1
05によりシステムを構威し、連の動作でインナリード
ボンディング並びにその検査及び修正が行われている。
即ち、ギャング・インナリードボンディング終了後、即
座にその不良を検査でき、歩留り等が把掘できる。また
、リード未接合等の不良は、シングル・ポイント・イン
ナリードボンディング装置で修正できるため、生産性が
向上する。さらに、これらにより製造時間の短縮、歩留
り向上、生産性が向上する。
なお、本発明の変形例として、上述の装置にさらに電気
検査工程、バーンイン工程、ボッティング工程、キュア
ライン工程等に使用する装置を増設することも可能であ
る。また、接合部外観検査装置103にての情報をホス
トコンピュータ等に取り入れることで生産管理もできる
[発明の効果] 以上、説明したように、本発明のインナリードボンディ
ング装置によれば、次のような効果を奏する。
ギャング・インナリードボンディング装置、接合部外観
検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
ィング装置によりシステムを構成し、一連の動作でイン
ナリードボンディング並びにその検査及び修正が行って
いる。このため、ギャング・インナリードボンディング
終了後、即座にその不良を検査でき、歩留り等が把握で
きる。
また、リード未接合等の不良は、シングル・ポイント・
インナリードボンディング装置で修正できるため、生産
性が向上する。さらに、これらにより製造特開の短縮、
歩留り向上、生産性が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わるインナリードボンデ
ィング装置システムの原理を示すブロック図、第2図は
本発明の一実施例に係わるインナリードボンディング装
置システムの概略図、第3図は前記第2図におけるボン
デイングステージ部を詳細に示す外観図である。 lot・・・ギャング・インナリードボンデイング装置
、102,  104,  106・・・CPU,  
I(13・・・接合部外観検査装置、105・・・シン
グル・ポイント・インナリードボンディング装置、 l1・・・ボンデインダステージ部、l2・・・モニタ
テレビ、l3・・・スブロケットホイール、14・・・
テープフイード用プーリー 15・・・ボンディングヘ
ッド、l6・・・ボンディングヘッド2駆動部、17・
・・ボンデイングヘッドXYテーブル、l8・・・ボン
ディングツール、19・・・ボンディングステージ、2
0・・・ボンデイングステージXYテーブル、21・・
・ゲージング、22・・・ビックアップヘッド、23・
・・ウエハステーション、24・・・検査用カメラ、2
5・・・ボンデイングヘッドXYテーブル、2B・・・
ボンディングツール、27・・・ボンディングヘッド、
28・・・ボンデイングステージ、29・・・テンショ
ンプーリー 30・・・テープ供給部、31・・・テー
プ収納部、 32・・・フィルムキャ リアテーブ、 33・・・スベーサテープ。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)インナリードボンディングを行うインナリードボ
    ンディング装置と、前記インナリードボンディング終了
    後、連続してその接合部の外観上の良否を検査及び判断
    する接合部外観検査装置と、この接合部外観検査装置か
    らの情報を元にリードを1本づつボンディングすること
    が可能なシングル、ポイント・インナリードボンディン
    グ装置と、テープの自動供給機能を有するテープロータ
    装置と、テープの自動収納機能を有するテープアンロー
    タ装置とを具備することを特徴とするインナリードボン
    ディング装置システム。
  2. (2)前記インナリードボンディング装置、接合部外観
    検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
    ィング装置は、テープを搬送するフィーディング機構を
    有していることを特徴とする請求項1記載のインナリー
    ドボンディング装置システム。
  3. (3)前記インナリードボンディング装置、接合部外観
    検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
    ィング装置は、それぞれ独自のCPUを有しており、各
    々のCPUが個々に前記インナリードボンディング装置
    、接合部外観検査装置又はシングル、ポイント・インナ
    リードボンディング装置を自動制御可能なことを特徴と
    する請求項1又は2記載のインナリードボンディング装
    置システム。
  4. (4)前記インナリードボンディング装置、接合部外観
    検査装置及びシングル・ポイント・インナリードボンデ
    ィング装置は、それぞれ独自のCPUを有しており、各
    々のCPUが通信により他のCPUを自動制御可能なこ
    とを特徴とする請求項1又は2記載のインナリードボン
    ディング装置システム。
JP31135689A 1989-11-30 1989-11-30 インナリードボンディング装置システム Pending JPH03171746A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002373920A (ja) * 2001-06-15 2002-12-26 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法及びその製造装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002373920A (ja) * 2001-06-15 2002-12-26 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法及びその製造装置

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