JPH0131694B2 - - Google Patents
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- JPH0131694B2 JPH0131694B2 JP57048674A JP4867482A JPH0131694B2 JP H0131694 B2 JPH0131694 B2 JP H0131694B2 JP 57048674 A JP57048674 A JP 57048674A JP 4867482 A JP4867482 A JP 4867482A JP H0131694 B2 JPH0131694 B2 JP H0131694B2
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- Japan
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- chip
- tape carrier
- bonding
- stage
- aligning
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/79—Apparatus for Tape Automated Bonding [TAB]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/86—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using tape automated bonding [TAB]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01039—Yttrium [Y]
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はテープキヤリア方式による半導体装置
の製造方法及びその製造装置にかかり、特にペレ
ツトの保持やボンデイング前の位置整合等を改良
したテープキヤリア方式による半導体装置の製造
方法及びその製造装置に関する。 従来ケースとICチツプの接続は一般にはワイ
ヤボンデイングによつてなされてきたが、このワ
イヤボンデイングは本質的に一点一点の接続法で
あるため接続の自動化が進んでいる現在において
もIC組立工程の中でも大きな割合を占め組立コ
スト低減のために大きなポイントとなつている。
更にLSI化に伴いICの端子数が多くなると上記問
題は更に重要となると共にワイヤボンデイングの
加工精度が多端子化に伴う求められる寸法精度に
追いつけなくなつて来る傾向にある。フイルムキ
ヤリア方式はこれらの問題を解決する接続技術と
して最近脚光を浴びている方式である。 フイルムキヤリア方式は、まず、フイルムテー
プに銅箔をはり付け、この銅箔をホトエツチング
してフイルムテープ上にリードフレームを形成
し、一方、ICチツプとして接続端子部に金のバ
ンプをつけたものを用意して、これをリードフレ
ーム内側端子に一括ボンデイングすることによつ
て、フイルムキヤリアにマウントされたチツプを
得ることができる。 第1図a〜dは従来のインナリードボンデイン
グの工程原理図である。第1図aにおいて1はウ
エーハを固定するチツプ支持基板、2はウエーハ
を固定する接着層、3はウエーハを接着後一般に
はダイヤモンドカツタを用いたダイシングによつ
て、基板に固定されたまま個々の素子に分離され
たチツプである。5はフイルムキヤリアで6のフ
イルムと7のエツチングされた銅箔とからなりフ
イルムから突出してインナーリード8が形成され
ている。4はチツプに形成されたバンプ、10は
インナーリードに接続されたチツプである。また
9はボンデイングツールである。 ボンデイング工程は、先ずボンデイングの基準
はボンデイングツールが採用され、第1図aのよ
うにチツプ支持基板に接着されたチツプのうちの
接着すべきチツプがボンデイングツールに対し
XYステージを駆動し位置合せされ次にテープキ
ヤリアのインナーリードが同様にボンデイングツ
ールに位置合せされる。位置合せが完了すると第
1図bに示すようにボンデイングツールが下降し
熱圧着によりチツプとインナーリードが接続され
る。接続が完了するとボンデイングツールは第1
図cに示すとおり元の位置に戻り、次に第1図d
に示すようにテープキヤリアはスプロケツトホー
ルにより1個分移動する。これらの工程が連続繰
返されることになる。 従来の工程では前記したようにペレツトは接着
剤により支持基板に固定されているが熱圧着ボン
デイングでペレツトが加熱され接着剤がとける
が、このとき接着剤のワツクスが這いあがりボン
デイングパツトに付着することがあり、接続不良
の原因となつていた。またボンデイングするペレ
ツトの近傍のペレツトに於てもワツクスがとけて
ペレツトの位置ずれを生じ勝でボンデイング作業
を困難にしていた。また接着剤を使つているため
ボンデイング後に有機溶剤による洗滌工程を必要
としていた。また位置合せ基準をボンデイングツ
ールにおきテープキヤリアとペレツトをこれに位
置合せするため位置合せがむずかしく整合時間を
多く要していた。 本発明は以上の問題点に対処してなされたもの
でペレツトの保持を接着剤でなくシート接着と真
空吸着保持とし、接着剤による問題発生を防ぐと
共に、目合せを簡易化し信頼性の優れたテープキ
ヤリア方式による半導体装置の製造方法及びその
製造装置を提供するためにある。 すなわち本第1の発明の要旨は、テープキヤリ
ア内に形成されたリードフレームのインナーリー
ドとチツプの電極とを接続する工程を連続して行
うテープキヤリア方式による半導体装置の製造方
法において、シート上に分離、整列、貼付された
チツプをチツプステージに設置する工程と、搬送
すべきチツプを所定位置に位置整合する工程と、
位置整合されたチツプをボンデイングステージの
所定位置に搬送する工程と、該位置で真空吸着保
持する工程と、テープキヤリア、チツプおよびボ
ンデイングツールを位置整合する工程とを含むこ
とを特徴とするテープキヤリア方式による半導体
装置の製造方法にある。 また本第2の発明の要旨は、テープキヤリアの
送り手段及び保持手段と、シート上にチツプが整
列貼付されたシートリングの保持手段と、チツプ
の位置の検出並びに整合手段と、位置整合された
チツプの移送手段と、移送されたチツプの保持手
段と、ボンデイング位置にあるテープキヤリア、
チツプおよびボンデイングツールの位置検出並び
に位置整合の手段とを含むことを特徴とするテー
プキヤリア方式による半導体装置の製造装置にあ
る。 以下図面を参照し本発明の詳細につき説明す
る。第2図は本第1および第2の発明の一実施例
のシステム説明図である。図において1は張られ
たシート上に拡大再配列されたチツプを有する拡
大シートリングであり、11はチツプステージ、
12は前記チツプの位置整合用のXYステージ、
13はチツプ位置検出用の検出カメラで、この検
出結果に基きXYステージが駆動される。14は
位置整合されたチツプをボンデイングステージ1
5に移送するチツプ移送部である。また16はボ
ンデイングステージ上のチツプの位置整合のため
のXYステージ、17はチツプの方向を位置整合
する回転ステージ、5はテープキヤリア、18は
テープキヤリアを保持固定するテープキヤリア保
持部、19は検出カメラ、20はボンデイングツ
ールでボンデイングヘツド21に固定されXYス
テージ22上に設置されている。 次に動作並びに製造方法につき説明する。先
ず、チツプステージに設置する拡大シートリング
1には別の装置にて良品チツプが一定間隔、一定
方向に配列される。このように配列されたチツプ
は次工程の作業を容易にする。しかし良品のみを
再配列する必要はなく拡大シートリングで引伸し
たまま、または引伸し前のシートに貼付されたチ
ツプでも差支えない。拡大シートリング1はチツ
プステージ11の規定位置に設置される。規定位
置に固定された拡大シートリング1上のチツプは
固定された検出カメラによりその位置が認識され
規定位置とのずれ量が検出され、その結果に基き
XYステージ12が駆動され規定位置に位置整合
される。チツプの認識は電極又は回路パターン等
のある任意の2点以上のパターンを認識すること
により容易にチツプの位置を検出できる。位置整
合されたチツプは次にボンデイングステージに移
送されるが、規定位置に位置整合されているので
チツプ移送部の先端にて真空吸着し容易にボンデ
イングステージ15に移送することができる。ボ
ンデイングステージ15にはチツプ保持用の真空
吸引口が設けられておりそれによりチツプは固定
される。一方テープキヤリア保持部18にはテー
プキヤリアが固定されている。本発明においては
テープキヤリアを固定しこれにチツプおよびボン
デイングツール20を整合せしめる。 すなわちテープキヤリアが固定するとXYステ
ージ22により可動な検出カメラはテープの基準
位置に整合する。フイルムキヤリアの検出は前記
したようにフイルムキヤリアのインナーリードの
ある2点以上のパターンを認識することにより出
来る。またボンデイングステージ上に固定された
チツプはチツプの電極又は回路パターンの2点以
上の該当位置を認識することにより基準位置との
ずれ量が検出されチツプの方向に関しては方向合
せ用の回転ステージ17、XY方向に関しては
XYステージ16によりテープキヤリアに対する
位置整合が実施される。一方ボンデイングツール
20はボンデイング時に検出時のカメラ位置に合
うよう、すなわちテープキヤリアに対する位置整
合が実施される。一方ボンデイングツール20は
ボンデイング時に検出時のカメラ位置に合うよ
う、すなわちテープキヤリアの位置に整合するよ
うXYステージが駆動し、整合位置でボンデイン
グツールが下降しボンデイングされる。 以上のとおり本第1の発明によれば先ず大きな
問題となつていた接着剤を用いないので接着剤に
起因するボンデイング時の接着剤の這いあがりに
よる接続不良問題、接着剤がボンデイング時の熱
によりとけることによるチツプの位置ずれの問
題、またボンデイング終了後有機溶剤による洗滌
工程が必要である等の問題はすべて解決された。
またボンデイングツール、フイルムキヤリア及び
チツプの位置整合は従来はボンデイングツールを
基準としたため連続体であるテープキヤリアを
XY方向に移動させることは困難で大きく動かす
ときはテープの方向又は水平角度が変る危険があ
り整合時間を多く要すると共に精度も出しにくか
つた。しかし本第1の発明では位置整合のむずか
しいテープキヤリアを基準としたため容易に他の
チツプ及びボンデイングツールを整合させること
が可能になり信頼性の向上並びにコスト低下を推
進することができた。 第3図a,bは本第2の発明の一実施例による
テープキヤリア方式による半導体装置の製造装置
の概略正面図及びその側面図である。装置の動作
等については既に第2図で示したので構成の概略
につき第3図a,bで説明する。第3図aにおい
て長尺のテープキヤリア5は供給側リール31に
捲回されテープテンシヨン機構33′を通りテー
プガイドローラ35及びテープガイド上下機構3
6の間をとおりテープ保持部(第2図参照)で上
下位置が固定される。またテープはスロケツトホ
ールを利用しテープ送り部34により1サイクル
分づつ送られる。収納側も供給側と同じテープガ
イドローラ35′、テープガイド上下機構36テ
ープテンシヨン機構33及び収納側リール32等
が配置されテープキヤリアの送り手段及びその保
持手段を構成している。シート上にチツプが整列
貼付された拡大シートリング取付部11がチツプ
ステージに設けられこれにリングが固定される。
固定されたリング上のチツプは上部に固定された
検出用のITVカメラ13により位置検出がされ、
ずれ量が指示されチツプステージ用のXYステー
ジ12が駆動し所定の位置に位置整合される。チ
ツプが所定位置に整合されると第3図b図に示す
ペレツト移送機構部40により駆動されるペレツ
ト移送アーム39がチツプ上に至りチツプを真空
吸着してボンデイングステージ15の所定位置に
移送する。所定位置にはチツプを吸着固定するた
めの開孔が設けられ真空吸着によりチツプは固定
される。次にボンデイング位置にあるテープキヤ
リア、チツプおよびボンデイングツールは次の手
段により位置整合される。ボンデイングするチツ
プの固定されたボンデイングステージはXY方向
およびペレツトの方向調整のためXYステージお
よび回転ステージにより構成されている。また検
出カメラ13′およびボンデイングヘツド20は
XYステージ16上に設置されXY方向に可動で
ある。また検出カメラによりチツプパターンの検
出時にボンデイングヘツド20が検出カメラの真
下にあつてはチツプパターンの認識が出来ないの
で邪魔にならない位置に固定し、ボンデイングツ
ール下降前にXYステージ41の駆動により検出
カメラ13′が基準テープキヤリアを検出した位
置に来るよう予め位置合せすることにより容易に
基準テープキヤリアとチツプおよびこれをボンデ
イングするボンデイングツールの関係位置を容易
に整合させることができる。 また位置整合の状況を観察するためのモニター
37を設ければ整合状況が目視でき作業実施に好
都合である。 以上一実施例で説明したとおり本第2の発明の
製造装置によれば、さきにのべた第1の発明を自
動的に実施することができ、接着剤に起因する問
題点および装置の構成上の問題点が解決できる。 以上説明したとおり本発明によれば従来の問題
点は解決され、生産性並びに信頼性の優れたテー
プキヤリア方式の半導体装置を得ることが出来
る。
の製造方法及びその製造装置にかかり、特にペレ
ツトの保持やボンデイング前の位置整合等を改良
したテープキヤリア方式による半導体装置の製造
方法及びその製造装置に関する。 従来ケースとICチツプの接続は一般にはワイ
ヤボンデイングによつてなされてきたが、このワ
イヤボンデイングは本質的に一点一点の接続法で
あるため接続の自動化が進んでいる現在において
もIC組立工程の中でも大きな割合を占め組立コ
スト低減のために大きなポイントとなつている。
更にLSI化に伴いICの端子数が多くなると上記問
題は更に重要となると共にワイヤボンデイングの
加工精度が多端子化に伴う求められる寸法精度に
追いつけなくなつて来る傾向にある。フイルムキ
ヤリア方式はこれらの問題を解決する接続技術と
して最近脚光を浴びている方式である。 フイルムキヤリア方式は、まず、フイルムテー
プに銅箔をはり付け、この銅箔をホトエツチング
してフイルムテープ上にリードフレームを形成
し、一方、ICチツプとして接続端子部に金のバ
ンプをつけたものを用意して、これをリードフレ
ーム内側端子に一括ボンデイングすることによつ
て、フイルムキヤリアにマウントされたチツプを
得ることができる。 第1図a〜dは従来のインナリードボンデイン
グの工程原理図である。第1図aにおいて1はウ
エーハを固定するチツプ支持基板、2はウエーハ
を固定する接着層、3はウエーハを接着後一般に
はダイヤモンドカツタを用いたダイシングによつ
て、基板に固定されたまま個々の素子に分離され
たチツプである。5はフイルムキヤリアで6のフ
イルムと7のエツチングされた銅箔とからなりフ
イルムから突出してインナーリード8が形成され
ている。4はチツプに形成されたバンプ、10は
インナーリードに接続されたチツプである。また
9はボンデイングツールである。 ボンデイング工程は、先ずボンデイングの基準
はボンデイングツールが採用され、第1図aのよ
うにチツプ支持基板に接着されたチツプのうちの
接着すべきチツプがボンデイングツールに対し
XYステージを駆動し位置合せされ次にテープキ
ヤリアのインナーリードが同様にボンデイングツ
ールに位置合せされる。位置合せが完了すると第
1図bに示すようにボンデイングツールが下降し
熱圧着によりチツプとインナーリードが接続され
る。接続が完了するとボンデイングツールは第1
図cに示すとおり元の位置に戻り、次に第1図d
に示すようにテープキヤリアはスプロケツトホー
ルにより1個分移動する。これらの工程が連続繰
返されることになる。 従来の工程では前記したようにペレツトは接着
剤により支持基板に固定されているが熱圧着ボン
デイングでペレツトが加熱され接着剤がとける
が、このとき接着剤のワツクスが這いあがりボン
デイングパツトに付着することがあり、接続不良
の原因となつていた。またボンデイングするペレ
ツトの近傍のペレツトに於てもワツクスがとけて
ペレツトの位置ずれを生じ勝でボンデイング作業
を困難にしていた。また接着剤を使つているため
ボンデイング後に有機溶剤による洗滌工程を必要
としていた。また位置合せ基準をボンデイングツ
ールにおきテープキヤリアとペレツトをこれに位
置合せするため位置合せがむずかしく整合時間を
多く要していた。 本発明は以上の問題点に対処してなされたもの
でペレツトの保持を接着剤でなくシート接着と真
空吸着保持とし、接着剤による問題発生を防ぐと
共に、目合せを簡易化し信頼性の優れたテープキ
ヤリア方式による半導体装置の製造方法及びその
製造装置を提供するためにある。 すなわち本第1の発明の要旨は、テープキヤリ
ア内に形成されたリードフレームのインナーリー
ドとチツプの電極とを接続する工程を連続して行
うテープキヤリア方式による半導体装置の製造方
法において、シート上に分離、整列、貼付された
チツプをチツプステージに設置する工程と、搬送
すべきチツプを所定位置に位置整合する工程と、
位置整合されたチツプをボンデイングステージの
所定位置に搬送する工程と、該位置で真空吸着保
持する工程と、テープキヤリア、チツプおよびボ
ンデイングツールを位置整合する工程とを含むこ
とを特徴とするテープキヤリア方式による半導体
装置の製造方法にある。 また本第2の発明の要旨は、テープキヤリアの
送り手段及び保持手段と、シート上にチツプが整
列貼付されたシートリングの保持手段と、チツプ
の位置の検出並びに整合手段と、位置整合された
チツプの移送手段と、移送されたチツプの保持手
段と、ボンデイング位置にあるテープキヤリア、
チツプおよびボンデイングツールの位置検出並び
に位置整合の手段とを含むことを特徴とするテー
プキヤリア方式による半導体装置の製造装置にあ
る。 以下図面を参照し本発明の詳細につき説明す
る。第2図は本第1および第2の発明の一実施例
のシステム説明図である。図において1は張られ
たシート上に拡大再配列されたチツプを有する拡
大シートリングであり、11はチツプステージ、
12は前記チツプの位置整合用のXYステージ、
13はチツプ位置検出用の検出カメラで、この検
出結果に基きXYステージが駆動される。14は
位置整合されたチツプをボンデイングステージ1
5に移送するチツプ移送部である。また16はボ
ンデイングステージ上のチツプの位置整合のため
のXYステージ、17はチツプの方向を位置整合
する回転ステージ、5はテープキヤリア、18は
テープキヤリアを保持固定するテープキヤリア保
持部、19は検出カメラ、20はボンデイングツ
ールでボンデイングヘツド21に固定されXYス
テージ22上に設置されている。 次に動作並びに製造方法につき説明する。先
ず、チツプステージに設置する拡大シートリング
1には別の装置にて良品チツプが一定間隔、一定
方向に配列される。このように配列されたチツプ
は次工程の作業を容易にする。しかし良品のみを
再配列する必要はなく拡大シートリングで引伸し
たまま、または引伸し前のシートに貼付されたチ
ツプでも差支えない。拡大シートリング1はチツ
プステージ11の規定位置に設置される。規定位
置に固定された拡大シートリング1上のチツプは
固定された検出カメラによりその位置が認識され
規定位置とのずれ量が検出され、その結果に基き
XYステージ12が駆動され規定位置に位置整合
される。チツプの認識は電極又は回路パターン等
のある任意の2点以上のパターンを認識すること
により容易にチツプの位置を検出できる。位置整
合されたチツプは次にボンデイングステージに移
送されるが、規定位置に位置整合されているので
チツプ移送部の先端にて真空吸着し容易にボンデ
イングステージ15に移送することができる。ボ
ンデイングステージ15にはチツプ保持用の真空
吸引口が設けられておりそれによりチツプは固定
される。一方テープキヤリア保持部18にはテー
プキヤリアが固定されている。本発明においては
テープキヤリアを固定しこれにチツプおよびボン
デイングツール20を整合せしめる。 すなわちテープキヤリアが固定するとXYステ
ージ22により可動な検出カメラはテープの基準
位置に整合する。フイルムキヤリアの検出は前記
したようにフイルムキヤリアのインナーリードの
ある2点以上のパターンを認識することにより出
来る。またボンデイングステージ上に固定された
チツプはチツプの電極又は回路パターンの2点以
上の該当位置を認識することにより基準位置との
ずれ量が検出されチツプの方向に関しては方向合
せ用の回転ステージ17、XY方向に関しては
XYステージ16によりテープキヤリアに対する
位置整合が実施される。一方ボンデイングツール
20はボンデイング時に検出時のカメラ位置に合
うよう、すなわちテープキヤリアに対する位置整
合が実施される。一方ボンデイングツール20は
ボンデイング時に検出時のカメラ位置に合うよ
う、すなわちテープキヤリアの位置に整合するよ
うXYステージが駆動し、整合位置でボンデイン
グツールが下降しボンデイングされる。 以上のとおり本第1の発明によれば先ず大きな
問題となつていた接着剤を用いないので接着剤に
起因するボンデイング時の接着剤の這いあがりに
よる接続不良問題、接着剤がボンデイング時の熱
によりとけることによるチツプの位置ずれの問
題、またボンデイング終了後有機溶剤による洗滌
工程が必要である等の問題はすべて解決された。
またボンデイングツール、フイルムキヤリア及び
チツプの位置整合は従来はボンデイングツールを
基準としたため連続体であるテープキヤリアを
XY方向に移動させることは困難で大きく動かす
ときはテープの方向又は水平角度が変る危険があ
り整合時間を多く要すると共に精度も出しにくか
つた。しかし本第1の発明では位置整合のむずか
しいテープキヤリアを基準としたため容易に他の
チツプ及びボンデイングツールを整合させること
が可能になり信頼性の向上並びにコスト低下を推
進することができた。 第3図a,bは本第2の発明の一実施例による
テープキヤリア方式による半導体装置の製造装置
の概略正面図及びその側面図である。装置の動作
等については既に第2図で示したので構成の概略
につき第3図a,bで説明する。第3図aにおい
て長尺のテープキヤリア5は供給側リール31に
捲回されテープテンシヨン機構33′を通りテー
プガイドローラ35及びテープガイド上下機構3
6の間をとおりテープ保持部(第2図参照)で上
下位置が固定される。またテープはスロケツトホ
ールを利用しテープ送り部34により1サイクル
分づつ送られる。収納側も供給側と同じテープガ
イドローラ35′、テープガイド上下機構36テ
ープテンシヨン機構33及び収納側リール32等
が配置されテープキヤリアの送り手段及びその保
持手段を構成している。シート上にチツプが整列
貼付された拡大シートリング取付部11がチツプ
ステージに設けられこれにリングが固定される。
固定されたリング上のチツプは上部に固定された
検出用のITVカメラ13により位置検出がされ、
ずれ量が指示されチツプステージ用のXYステー
ジ12が駆動し所定の位置に位置整合される。チ
ツプが所定位置に整合されると第3図b図に示す
ペレツト移送機構部40により駆動されるペレツ
ト移送アーム39がチツプ上に至りチツプを真空
吸着してボンデイングステージ15の所定位置に
移送する。所定位置にはチツプを吸着固定するた
めの開孔が設けられ真空吸着によりチツプは固定
される。次にボンデイング位置にあるテープキヤ
リア、チツプおよびボンデイングツールは次の手
段により位置整合される。ボンデイングするチツ
プの固定されたボンデイングステージはXY方向
およびペレツトの方向調整のためXYステージお
よび回転ステージにより構成されている。また検
出カメラ13′およびボンデイングヘツド20は
XYステージ16上に設置されXY方向に可動で
ある。また検出カメラによりチツプパターンの検
出時にボンデイングヘツド20が検出カメラの真
下にあつてはチツプパターンの認識が出来ないの
で邪魔にならない位置に固定し、ボンデイングツ
ール下降前にXYステージ41の駆動により検出
カメラ13′が基準テープキヤリアを検出した位
置に来るよう予め位置合せすることにより容易に
基準テープキヤリアとチツプおよびこれをボンデ
イングするボンデイングツールの関係位置を容易
に整合させることができる。 また位置整合の状況を観察するためのモニター
37を設ければ整合状況が目視でき作業実施に好
都合である。 以上一実施例で説明したとおり本第2の発明の
製造装置によれば、さきにのべた第1の発明を自
動的に実施することができ、接着剤に起因する問
題点および装置の構成上の問題点が解決できる。 以上説明したとおり本発明によれば従来の問題
点は解決され、生産性並びに信頼性の優れたテー
プキヤリア方式の半導体装置を得ることが出来
る。
第1図a〜dは従来のフイルムキヤリア方式に
よる半導体装置の製造工程原理図、第2図は本第
1および第2の発明の一実施例のシステム説明
図、第3図a,bは本第2の発明の一実施例によ
るテープキヤリア方式による半導体装置の製造装
置の概略正面図及びその側面図である。 1…チツプ支持基板、1…拡大シートリング、
2…接着層、3…チツプ、4…バンプ、5…フイ
ルムキヤリア、6…フイルム、7…銅箔、8…イ
ンナーリード、9…ボンデイングツール、10…
インナーリードに接続されたチツプ、11…チツ
プステージ、12,16,22…XYステージ、
13,13′,19…位置検出用カメラ、14,
39…チツプ移送部、15…ボンデイングステー
ジ、17…回転ステージ、18…テープキヤリア
保持部、20…ボンデイングツール、21…ボン
デイングヘツド、31…供給側リール、32…収
納側リール、33,33′…テープテンシヨン機
構、34…テープ送り部、35,35′…テープ
ガイドローラ、36…テープガイド上下機構、3
7…モニター、38…リード修正部、40…チツ
プ移送機構部、41…ボンデイングヘツドステー
ジ。
よる半導体装置の製造工程原理図、第2図は本第
1および第2の発明の一実施例のシステム説明
図、第3図a,bは本第2の発明の一実施例によ
るテープキヤリア方式による半導体装置の製造装
置の概略正面図及びその側面図である。 1…チツプ支持基板、1…拡大シートリング、
2…接着層、3…チツプ、4…バンプ、5…フイ
ルムキヤリア、6…フイルム、7…銅箔、8…イ
ンナーリード、9…ボンデイングツール、10…
インナーリードに接続されたチツプ、11…チツ
プステージ、12,16,22…XYステージ、
13,13′,19…位置検出用カメラ、14,
39…チツプ移送部、15…ボンデイングステー
ジ、17…回転ステージ、18…テープキヤリア
保持部、20…ボンデイングツール、21…ボン
デイングヘツド、31…供給側リール、32…収
納側リール、33,33′…テープテンシヨン機
構、34…テープ送り部、35,35′…テープ
ガイドローラ、36…テープガイド上下機構、3
7…モニター、38…リード修正部、40…チツ
プ移送機構部、41…ボンデイングヘツドステー
ジ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 テープキヤリア内に形成されたリードフレー
ムのインナーリードとチツプの電極とを接続する
工程を連続して行うテープキヤリア方式による半
導体装置の製造方法において、シート上に分離、
整列、貼付されたチツプをチツプステージに設置
する工程と、搬送すべきチツプを所定位置に位置
整合する工程と、位置整合されたチツプをボンデ
イングステージの所定位置に搬送する工程と、該
位置で真空吸着保持する工程と、テープキヤリ
ア、チツプ及びボンデイングツールをそのうちの
1つを基準として位置整合する工程とを含むこと
を特徴とするテープキヤリア方式による半導体装
置の製造方法。 2 チツプステージに於て搬送すべきペレツトの
所定位置への位置整合の工程が、チツプの電極又
は回路パターン等のある任意な2点以上のパター
ンを認識し、基準位置とずれ量を検出し補正する
工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のテープキヤリア方式による半導体装置の
製造方法。 3 テープキヤリア、チツプおよびボンデイング
ツールをそのうちの1つを基準として位置整合せ
しめる工程が、ボンデイング位置に送られたテー
プキヤリアのリードフレームのある任意な2点以
上のパターンを検出カメラを移動しその位置を認
識する工程と、上記認識したテープキヤリアのリ
ードフレームにボンデイングツールを位置整合せ
しめる工程と、ボンデイング位置に移送されたチ
ツプの電極又は回路パターンのある任意な2点以
上のパターンを認識し先に認識したテープキヤリ
アのリードフレームの基準位置からのずれ量を検
出しチツプをテープキヤリアのリードフレームに
位置整合せしめる工程とを含むことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のテープキヤリア方式
による半導体装置の製造方法。 4 テープキヤリアの送り手段及びその保持手段
と、チツプの位置の検出並びに整合手段と、位置
整合されたチツプの移送手段と、移送されたチツ
プの保持手段と、ボンデイング位置にあるテープ
キヤリア、チツプ及びボンデイングツールの位置
検出並びに位置整合の手段とを含むことを特徴と
するテープキヤリア方式による半導体装置の製造
装置。 5 シートに整列貼付されたチツプの位置の検出
並びに位置整合の手段が、基準位置に固定されチ
ツプの電極及び配線パターン等のある任意な2点
以上パターンを認識しチツプの基準位置からのず
れ量を検出する検出カメラ機構と、検出結果に基
き基準位置に位置補正するXYステージを含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第4項記載のテー
プキヤリア方式による半導体装置の製造装置。 6 移送されたペレツトの保持手段がボンデイン
グステージに設けられた開孔を通して真空吸着に
より保持されていることを特徴とする特許請求の
範囲第4項記載のテープキヤリア方式による半導
体装置の製造装置。 7 ボンデイング位置にあるテープキヤリア、チ
ツプおよびボンデイングツールの位置検出並びに
位置整合の手段が、XY方向に駆動可能でパター
ン認識位置検出をする検出カメラと、XY方向に
駆動可能なボンデイングツールと、チツプのXY
方向の位置調整用のXYステージと、チツプの回
転方向の位置調整用の回転ステージとを含むこと
を特徴とする特許請求の範囲第4項記載のテープ
キヤリア方式による半導体装置の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57048674A JPS58165335A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | テ−プキヤリア方式による半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57048674A JPS58165335A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | テ−プキヤリア方式による半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58165335A JPS58165335A (ja) | 1983-09-30 |
JPH0131694B2 true JPH0131694B2 (ja) | 1989-06-27 |
Family
ID=12809865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57048674A Granted JPS58165335A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | テ−プキヤリア方式による半導体装置の製造方法及びその製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58165335A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02109346A (ja) * | 1988-10-19 | 1990-04-23 | Marine Instr Co Ltd | テープボンディング装置 |
JPH0711467Y2 (ja) * | 1989-04-06 | 1995-03-15 | 株式会社リコー | インナリードボンディング装置 |
JPH0388344A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-12 | Seiko Epson Corp | インナーリードのボンディング方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5141960A (en) * | 1974-10-07 | 1976-04-08 | Shinkawa Seisakusho Kk | Handotaino waiyabondeinguhoho |
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JPS54134974A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-19 | Hitachi Ltd | Method and device for bonding on tape carrier system |
JPS5520378A (en) * | 1978-08-01 | 1980-02-13 | Ebara Mfg | Differential pressure drafting apparatus |
JPS5641172A (en) * | 1979-08-31 | 1981-04-17 | Kawasaki Steel Co | Multiple water sealing sideewall type liquid storage tank |
JPS56158435A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-07 | Hitachi Ltd | Pellet bonding |
JPS56162846A (en) * | 1980-05-20 | 1981-12-15 | Citizen Watch Co Ltd | Ic gang bonding device |
-
1982
- 1982-03-26 JP JP57048674A patent/JPS58165335A/ja active Granted
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5141960A (en) * | 1974-10-07 | 1976-04-08 | Shinkawa Seisakusho Kk | Handotaino waiyabondeinguhoho |
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JPS5443678A (en) * | 1977-09-13 | 1979-04-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor element bonding method and its bonding unit |
JPS54134974A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-19 | Hitachi Ltd | Method and device for bonding on tape carrier system |
JPS5520378A (en) * | 1978-08-01 | 1980-02-13 | Ebara Mfg | Differential pressure drafting apparatus |
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JPS56162846A (en) * | 1980-05-20 | 1981-12-15 | Citizen Watch Co Ltd | Ic gang bonding device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58165335A (ja) | 1983-09-30 |
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