JPH0316332A - ビット照合制御方式 - Google Patents

ビット照合制御方式

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JPH0316332A
JPH0316332A JP2031537A JP3153790A JPH0316332A JP H0316332 A JPH0316332 A JP H0316332A JP 2031537 A JP2031537 A JP 2031537A JP 3153790 A JP3153790 A JP 3153790A JP H0316332 A JPH0316332 A JP H0316332A
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純一 吉村
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内海 敦彦
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Fujitsu Ltd
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
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  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
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  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [1!t要] 多重化装置等の被監視回路の入力データと出力データと
を基に、ビットエラー検出を行うビット照合制御方式に
関し、 人力データと出力データとの間の位相同期をモi実に引
込んで、ビットエラー検出を行わせることを目的とし、 被監視回路と、該被監視回路の出力データを人力して該
被監視回路の処理と逆の処理を行う基準回路と、前記被
監視回路の入力データと前記基準回路の出力データとを
照合するビット照合回路とを備え、該ビット照合回路は
、遅延ビット段数を制御できる可変遅延回路を含む位相
同期部と、該位相同期部の位相引込み制御を行う制御部
と、ビットエラーを検出する検出部と、位相同期がとれ
た時の遅延ビット段数を記憶するメモリとを有し、前記
制御部の制御により、前記可変遅延回路の遅延ビット段
数を順次制御して、全遅延ビット段数にわたって前記被
監視回路の人力データと前記基準回路の出力データとの
間の位相同期をとり、位相同期がとれた時の遅延ビット
段数を前記メモリに記憶し、全遅延ビット段数の中に1
回のみ位相同期がとれた時に、前記メモリに記憶した遅
延ビット段数を前記可変遅延回路に設定して、前記検出
部により前記被監視回路の入力データと匍記基準回路の
出力データとのビット対応の照合によりビットエラー検
出を行うように構戊した。
[産業上の利用分野〕 本発明は、多重化回路等の被監視回路の入力デ一夕と出
力データとを基に、ビットエラー検出を行うビット照合
制御方式に関するものである。
多重化回路や多重分離回路或いは符号化回路や復号化回
路等により処理されたデータの誤りを検出して、回路の
動作不良や回路の故障等を検出することができる。例え
ば、ディジタル伝送端局装置の多重化回路の多重化出力
データを、多重分離回路で分離し、その分離出力データ
と、多重化回路の入力データとを照合することにより、
ビシトエラーを検出し、多重化回路の正常性を確認する
ことができる。その場合に、入力データと出力データと
の位相同期をとる必要があり、擬似同期を防止して、ビ
ットエラー検出の信頼性を向上することが要望されてい
る。
[従来の技術] 第5図は従来例の要部ブロック図であり、50はディジ
タル伝送端局装置等のデータ処理装置、5lは被監視回
路、52は被監視回路と逆の処理を行う基準回路、53
はビット照合回路、54は位相同期部、55はビットエ
ラー検出部、56は制御部、57.58は伝送路である
。被監視回路51を例えば多重化回路とすると、基準回
路52は多重化回路と逆の処理を行う多重分離回路とす
るものである。又現用系と予備系等の冗長構威を用いて
いる場合は、現用系の被監視回路5lに対して基準回路
52を予備系の装置を流用して構戒することができる。
伝送路57から例えば複数チャネルの入力データAが、
多重化回路等の被監視回路51に入力されて多重化処理
され、その多重化出力データBは伝送路58に送出され
る。この多重化出力データBは、多重分離回路等の基準
回路52により多重分離され、この分離出力データCは
入カデ・一タAと共にビット照合回路53に人力される
。この場合、選択されたチャネルのデータをビ・ント照
合回路53に入力するように、図示を省略した選択回路
を介して、ビット照合回路53に人力することになり、
位相同期引込みができない時は、他のチャネルのデータ
に切替えることができる。
多重化回路等の被監視回路51と,、多重分離回路等の
基準回路52とは、フリップフロップ等の各種の回路構
或を含むものであるから、各回路の入力データと出力デ
ータとの間には、フリップフロップ等の段数に対応した
位相差が生じることになる。従って、ビット照合回路5
3に於いては、位相同期部54により入力データAと出
力データCとの間の位相同期をとるものであり、ビット
エラー検出部55により入力データAと出力データCと
を照合してビットエラーを検出し、その検出信号Dに応
じて制御部56により位相同期部54が制御され、位相
同期引込みが行われる。そして、位相同期引込み完了に
より、ビットエラー検出部55に於いて検出されたピッ
トエラーレートが闇値と比較され、ピットエラーレート
が閾値を超えると、被監視回路5lに障害が発生したと
判断して、例えば、現用,予備の切替え等の制御が行わ
れる。
位相同期部54とビットエラー検出部55とは、例えば
第6図及び第7図に示すlit戒を有するものであり、
第6図に於いて、61.62はフリップフロップ、63
はエラステックメモリ、64は固定遅延回路、65は可
変遅延回路、66は排他的オア回路、67はフリップフ
ロツブ、68はアンド回路である。又第7図は可変遅延
回路65の一例を示し、71はセレクク、72はn段の
シフトレジスタ、FFI〜FFnはシフトレジスタ72
を構成するフリップフロップであり、セ1/クト信号は
、前述の制御部56から加えられる。
位相同期部54のフリップフロツプ61には、前述の入
力データAとクロック信号CLKA、フリップフロップ
62には、出力データCとクロツク信号CLKCとがそ
れぞれ人力される。出力データCはフリップフロップ6
2を介してエラステックメモリ63に加えられ、クロッ
ク信号CLKCにより書込まれ、クロック信号CLKA
により続出される。即ち、出力データCは、入力データ
Aのクロック信号CLKAに同期化されて、ビットエラ
ー検出部55の排他的オア回路66に加えられる。
又入カデータAは、フリップフロツブ6iを介して固定
遅延回路64に加えられ、この固定遅延回路64により
、ビント照合回路53内のゲート遅延分等の固定的な遅
延時間について遅延され、この固定遅延回路64の出力
信号は可変遅延回路65に加えられる。この可変遅延回
路65は、第7図に示すように、制御部56からのセレ
クト信号により制1卸されるセレクタ71と、シフトレ
ジスタ72とからなり、入力データAの遅延ビット段数
0〜nがセレクタ7lにより選択されて、被監視回路5
l及び基準回路52を経由することにより遅延された出
力データCとの間の位相同期がとられる。このセレクタ
71により選択されたシフトレジスタ72の遅延ビット
段数の出力のデータAがビットエラー検出部55の排他
的オア回路66に加えられる。
この排他的オア回路66には、エラステンクメモリ63
を介したデータCも加えられ、データA,Cのビ・ント
が不一敗の場合に、フリップフロップ67がクロック信
号CLKAによりセットされ、そのフリップフロツブ6
7のQ端子出力信号は、アンド回路68を介してビット
エラーバルスDとして制御部に加えられる。
第8図は従来例のフローチャートであり、ステップS1
〜S8により位相同期引込み処理とビット照合処理とを
示す。先ず、制御部56は、可変遅延回路65の遅延ビ
ット段数nを0とし(n=0)(ステップS1)、セレ
クタ71により遅延ビット段数0を選択させる。即ち、
可変遅延回路65に入力されたデータAは遅延されるこ
となく、セレクタ71から出力される。
次に遅延ビット段数nが最大値を超えたか否か判定し(
ステップS2)、超えない場合は、測定時間Δtにより
ピットエラーレートBER 1を測定する(ステップS
3)。
そして、ピットエラーレートBERIが閾{直Thl(
例えば、10”’)より大きいか否か判定し(ステップ
S4)、大きい場合は、n=n+1とする(ステップS
5)。それにより、可変遅延回路65のセレクタ7lは
遅延ビット段数1を選択することになり、人力されたデ
ータAは1ビット分遅延される。そして、前述のステッ
プ31−35が繰り返される。
又ステップS2に於いて、遅延ビット段数nが最大値を
超えたと判定されると、被監視回路51の障害等により
位相同期引込み不可と判定され、例えば、被監視回路5
lを予備系に切替える制御が行われる(ステップS8)
又ビットエラーレ−1−BER 1が閾値Thlより大
きくない場合は、位相同期引込みが完了したと見做して
ビット照合動作に移行し、測定時間ΔT(>ΔL)によ
りピットエラーレー}BER2を測定し(ステップS6
)、このピットエラーレ−トBER2が閾値Th2 (
例えば、10−1′)より大きいか否か判定し(ステッ
プS7)、ピットエラーレートBER2が闇値Th2よ
り小さい場合は被監視回路51が正常と判定し、他のチ
ャネルに切替えるか或いは他の回路を被監視回路とする
ように切替える等の制御が行われる。
又ステップS7に於いてビットエラーレートBER2が
閾値Th2より大きい場合は、被監視回路5lの障害と
判定して、例えば、予備系に切替える制御が行われる(
ステップ38)。
第9図は位相同期引込み動作説明図であり、2ビット位
相ずれ、lビット位相ずれ、位相同期弓込みの状態を示
し、(a), (b)は第5図に於けるデータA,Cに
対応し、(C)はビットエラー検出部55のフリップフ
ロップ67のQ端子出力信号、(d)はクロック信号C
 L K A. (e)はビットエラーパルスDを示す
フリップフロップ67は、(a), (b)に示すデー
タの不一致ビットによりセットされ、一敗ビットにより
リセットされ、セット期間中に(d)に示すクロック信
号CLKAが(e)に示すビットエラーバルスDとして
出力される。そして、位相同期引込み状態となると、デ
ータにビットエラーが含まれていなければ、フリップフ
ロツブ67はリセットされた状態のままとなるから、(
e)に示すビソトエラーバルスはOとなる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述のようなビット照合方式に於いて,、擬似位相同期
引込み状態となる場合があり、その場合にはビント照合
動作に誤りが生じることになる。例えば、被監視回路5
1に入力されるデータAが、オール゛’ 1 ”  (
A I S ; Alarm  I ndicatio
nSignal )のパターン、、II I I+ .
  11 Q I+の交番パターン、“1101・・・
′゜等の短い周期のパターン等の場合に擬似位相同期引
込み状態となる。
例えば、第10図は、オール”1゛パターンの場合の動
作説明図であり、可変遅延回路65の遅延ビット段数を
4とした時に正しい位相同期引込み状態となる場合を示
す。又(a), (b)は前述の第9図の(a), (
b)と同様なデータ、(e)はビットエラーパルスを示
す。
データにビットエラーが含まれていなければ、可変遅延
回路65の遅延ビット段数nは任意の値で位相同期引込
み状態となる。即ち、遅延ビット段数nが0の場合でも
、位相同期引込み状態となり、(1)のn=oの場合で
も、(a), (b)のデータにビットエラーが含まれ
ていなければ、(e)に示すように、ビット照合による
ビットエラーパルスが生じないので、正常と判定される
しかし、(2)の(a)のデータにビットエラーが含ま
れていると、正しい位相同期引込み状態ではないから、
ビソトエラー検出部55には、被監視回路51へ入力さ
れるデータ(a)と、基準回路52の出力データ(b)
とは、異なるビッl・位相でそれぞれ入力され、(e)
に示すように2ビット分のビットエラーパルスが生じ、
被監視回路51が正常であっても、2ビット分のエラー
が生じたと判定される。
又(3)は正しい位相同期引込み状態の場合で、(a)
.(b)のデータにエラーパルスが含まれていても、ビ
ットエラー検出部55には同一位相で人力されるので、
(e)に示すようにビットエラーパルスは生じないこと
になり、被監視回路51に於いてエラーが生じたもので
はないから、正しい判定となる。
又(4)は、n=8とした場合の誤引込み状態を示し、
(2)の場合と同様にデータ(a)内の1個のビッ1・
エラーにより2ビット分のビッl・エラーパルスが生し
ることになる。
又第11図は“1゜゛,“0゛′交互パターンの場合の
動作説明図であり、(a). (b), (e)は第1
0図と同様のデータ及びビットエラーパルスを示す。こ
の“1′゜,“0′゛交互パターンの場合は、一つおき
の遅延ビット段数毎に位相同期引込み状態となるもので
あり、(1). (2)はn=oの場合を示し、(1)
はデータにビソトエラーが含まれていない場合であって
、(e)に示すように、ビットエラーバルスも0となる
。しかし、(2)に於いて、データ(a)に1ビットの
エラーがあると、第10図の(2)の場合と同様に、2
ビット分のビットエラーバルスが生じ、被監視回路51
が正常であっても、2ビット分のエラーが生じたと判定
される。
(3)はn−4として正しい位相同期引込み状態となっ
た場合で、データ(a)に1ビットのエラーが含まれて
いても、ビットエラー検出部55には同一位相で人力さ
れるので、ビットエラーパルスは生じないことになる。
又(4)はn=8とした場合であり、位相同期引込み状
態となったとしても、n=oの場合と同様に擬似同期引
込み状態であるから、データ(a)に1ビットのエラー
が含まれていると、(e)に示すように2ビット分のビ
ットエラーパルスが生じる,又第12図は”11010
“゜パターンの場合の動作説明図であり、(a). (
b). (e)は第10図及び第11図と同様のデータ
及びビソ1・エラーパルスを示し、可変遅延回路65の
遅延ビット段数nを5とした時に、正しい位相同期引込
み状態となる場合である。この場合のデータのパターン
は5ビット毎に繰り返されるものであるから、n=oで
も位相同期引込み状態となる。即ち、(1)に示すよう
に、(a), (b)のデータにビットエラーが含まれ
ていなければ、(e)に示すようにビットエラーバルス
は生じないことになる。
しかし、(2)に於いては、(a)のデータにlビソI
・のエラーが含まれていることにより、(e)に示すよ
うに、2ビ・νト分のビットエラーパルスが生じること
になる。(3)はn=5として正しい位相同期弓込み状
態となった場合で、データに1ビットのエラーが含まれ
ていても、(e)に示すように、ビットエラーバルスは
生しないことGコなる。
又n=loとした場合も、(4)のように、位相同期引
込み状態となるが、データに1ビットのエラーが含まれ
ていると、(e)に示すように、2ビット分のビットエ
ラーパルスが生しることになる。
前述のように、従来例に於いては、被監視回路51の入
力データと、基準回路52の出力データとの位相同期を
とって、ビット照合する場合に、データのパターンによ
って擬似同期引込み状態となり、その場合には、被監視
回路51が正常であっても、ビット照合によりビットエ
ラーパルスが生しることになり、被監視回路5lに障害
が発生したと誤判定される欠点があった。
本発明は、人力データと出力データとの間の位相同期を
確実に引込んで、ビットエラー検出を行わせることを目
的とするものである。
〔課題を解決するための手段] 本発明のビット照合制御方式は、擬似同期引込み状態を
判定し、正しい位相同期引込み状態に於いてビット照合
を行わせるものであり、第1図を参照して説明する。
被監視回路1と、被監視回路1と逆の処理を行う基準回
路2と、ビット照合回路3とを備え、ビット照合回路3
は、遅延ビット段数を制御できる可変遅延回路4を含む
位相同期部5と、制御部6と、ビットエラーを検出する
検出部7ど、遅延ビット段数を記憶するメモリ8とを有
し、制御部6の制御により、可変遅延回路4の遅延ビッ
I・段数を順次制御して、全遅延ビット段数にわたって
被監視回路1の入力データと基準回路2の出力データと
の間の位相同期をとり、位相同期がとれた時の遅延ビッ
ト段数をメモリ8に記憶し、全遅延ビット段数の中の一
回のみ位相同期がとれた時に、メモリ8に記憶した遅延
ビット段数を可変遅延回路4に設定して、検出部7によ
り被監視回路lの入力データと基準回路2の出力データ
とのビット対応の照合によりビッ1・エラー検出を行う
ものである。
又可変遅延回路4の全遅延ピント段数について位相同期
がとれない時、及び全遅延ビット段数について2回以上
位相同期がとれた時は、位相同期引込み不可と判定する
又位相同期がとれた時に同期フラグをセットし、この同
期フラグがセントされた後、遅延ビッ1・段数を変更し
て再度位相同期がとれた時は、全遅延ビット段数につい
ての位相同期引込み動作の終了前でも、位相同期引込み
不可と判定する。
(作用) 可変遅延回路4の遅延ビット段数nを順次変更して、全
遅延ビット段数にわたって位相同期をとった時に、オー
ル“l I+のパターンの場合は、全遅延ビット段数に
ついて位相同期がとれることになり、又“1゜゜,“0
′゛交互パターンの場合は、一つおきの遅延ビット段数
で位相同期がとれることになる。即ち、可変遅延回路4
の全遅延ビット段数について複数回の位相同期がとれた
時は、擬似同期引込み状態が生じるものであるから、位
相同期引込み不可と判定して、被監視回路1を監視する
為のビット照合には移行しないものである。
又可変遅延回路4の全遅延ビット段数について一回のみ
位相同期がとれた時は、正しい位相同期引込み状態と判
定して、被監視回路1を監視する為のビット照合に移行
するものである。
又全遅延ビット段数についての位相同期引込み動作を行
っている時に、最初に位相同期引込み状態となると、同
期フラグを設定し、遅延ビッI・段数を変更して再度位
相同期引込み動作を行い、既に同期フラグが設定されて
いる場合に、再度位相同期引込み状態となった時は、擬
似同期引込み状態が生じる場合であるから、それ以上の
位相同期引込み動作を行うことなく、位相同期引込み不
可と判定し、他の処理等に移行するものである。
(実施例] 以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。
第2図は本発明の一実施例のフローチャ−1・、第3図
は本発明の一実施例のビット照合回路のブロック図であ
り、第3図に於いて、10は制御部、20は位相同期部
、30はビットエラー検出部、2lは可変遅延回路であ
る。図示を省略した被監視回路の入力データAと、被監
視回路の出力デー夕を逆の処理を行って出力する基準回
路の出力データCとが位相同期部20に入力される。
又11は位相同期部20の可変遅延回路2lにセレクト
信号を加えて遅延ビット段数を制御する遅延ビット(n
)制御部、12はビットエラー検出部30からのビット
エラーパルスを計数するビットエラー計数部、13は引
込み回数(k)計数部、l4は遅延ビット段数nが最大
値を超えたか否かを検出する検出部、15は遅延ビット
段数(L)を記1意するメモリ、16〜19は検出部で
あり、検出部l6はk=oを検出して位相同期引込み不
可を判定し、検出部17はk≧1を検出し、又検出部1
8はk=1を検出して位相同期引込み完了を判定し、検
出部l9はk≧2を検出して、位相同期引込み不可を判
定するものである。メモリ15は制御部10内に設けた
場合を示すものであるが、第1図に示すメモリ8のよう
に、制御部の外部に設けることも可能である。
ビット照合動作の前に位相同期引込み動作が行われるも
のであり、遅延ビット(n)制御部11により、遅延ビ
ット段数n=o及び引込み回数k=0の初期化が行われ
る(ステップS11)。即ち、セレクト信号は遅延ビッ
ト段数0を示し、計数部13はリセ・冫ト信号によりリ
セットされる。
次に遅延ビント段数nが最大値を超えたか否か検出部l
4に於いて判定され(ステップS12)、超えない場合
は、ビットエラー計数部l2に於いてピットエラーレー
トBERIの測定が行われる(ステップS13)。この
ピットエラーレートB已R1が閾値Thl(例えば10
−”)より小さいか否か判定され(ステップ314)、
小さい場合は、位相同期引込みと判定し、引込み信号を
計数部13に於いて計数する(k=k+1)。それによ
り、検出部17によりk≧1の条件が検出され、遅延ビ
ット段数書込信号がメモリ15に加えられて、その時の
遅延ビット段数nがメモリ15に記憶される(L=n)
(ステップ16)。
又ステップ314に於いて、ピットエラーレートBER
1が閾値T h lより大きい場合、及びステップS1
6 (k=k+1,L=n)の次に、遅延ビット段数を
+1 (n=n+1) し(ステップS15)、ステッ
プ312〜315,316を繰り返す。
又ステップS12に於いて、遅延ビット段数nが最大値
を超えたことが検出部l4で検出されると、計数部13
に於ける引込み回数kがOか否か検出部16.17に於
いて検出される(ステップS17)。検出部16により
引込み回数kがOであることが検出されると、位相同期
引込み不可によるビット照合エラーと判定される(ステ
ップS18)。この場合は、全遅延ビ・ント段数につい
て位相同期引込みが行われないので、現用系の被監視回
路から予備系の被監視回路に切替える制御等が行われる
又検出部17により引込み回数kがOでないことが検出
されると、検出部18.19により引込み回数kがlで
あるか否か検出される(ステップS19)。検出部19
により引込み回数kが2以上であることが検出された場
合は、位相同期引込み不可と判定される(ステップS2
2)。この場合、再度位相同期引込み動作を行う為にス
テップSllに戻るか、或いは被監視回路が多重化回路
であると、他のチャネルに切替えてビット照合の為の位
相同期引込みを行うことになる。
又検出部18により引込み回数nが1であることが検出
された場合は、遅延ビットメモリ書込信号が遅延ビッ}
 (n)制御部l1に加えられ、遅延ビット段数nを、
メモリ15に記憶されている遅延ビット段数Lとし(n
=L)(ステップS20)、全遅延ビット段数について
位相同期引込みが1回のみの場合であるから、位相同期
引込み完了と判断する(ステップS21)。従って、遅
延ピント(n)制御部1lにより位相同期部20の可変
遅延回路21の遅延ビット段数が設定され、ビット照合
に移行することになる。
前述のような処理により、例えば、位相同期部20に入
力されるデータAが、オール゜“1“゜パターン、11
 1 11,“0′゛交互パターン、可変遅延回路21
の遅延ビット段数に比較して短い繰り返しパターン等の
場合に、全遅延ビッ1・段数に複数回の位相同期引込み
状態が生じることなるが、正しい位相同期引込み状態は
その中の1回のみであるから、このような状態ではビッ
ト照合に移行することを中止する。従って、被監視回路
を監視する為のビット照合に誤りが生しるような擬似同
期弓込みを回避することができる。
第4図は本発明の他の実施例のフローチャートであり、
同期フラグFを用いて正しい位相同期引込みとなるか否
かを判定するもので、第3図に於ける引込み回数(k)
計数部13を同期フラグFの設定部とし、検出部16〜
l9を、遅延ビット段数nが最大値を超えた場合と超え
ない場合とに於いて同期フラグFが設定されたか否かを
検出する構戒とすることになる。
ビット照合の為の位相同期引込みを開始時、先ず、可変
遅延回路の遅延ビット段数nと同期フラグFとをそれぞ
れ初期設定し(n=o,F=O)(ステップS31)、
次に、第2図のステップS12と同様に遅延ビット段数
nが最大値を超えたか否か判定し(ステップS32)、
uえた場合はステップ338に移行し、超えない場合は
第2図のステップS23と同様に、ビットエラーレート
BER1を測定し(ステップS33)、次に、第2図の
ステップS14と同様にビットエラーレー}BER l
が閾値Thlより小さいか否か判定する(ステップS3
4)。
この判定により、ピットエラーレートBERIが閾値T
hlより大きい場合は、第2図のステップS15と同様
に遅延ビット段数を+IL(n一n+1)(ステップS
35)、ステップS32に移行する。又ビットエラーレ
ートBERIが閾値Thlより小さい場合は、位相同期
引込みと判定し、既に同期フラグFが設定されているか
否か判定し(F−07)(ステップS36)、同期フラ
グFが設定されていない場合は、最初に位相同期引込み
状態となったものであるから、同期フラグFを設定し、
且つその時の遅延ビット段数Mをメモリ (第3図のメ
モリ15)に記憶させる(F=1,M=n)(ステップ
S37),そして、ステップ335に移行する。
ステップS36に於いて、同期フラグFが設定されてい
る場合、既に位相同期引込み状態となった遅延ビット段
数の場合があり、全遅延ビット段数中に複数回の位相同
期引込み状態が生じることを示すので、位相同期引込み
不可と判定する(ステップS41)。この場合は、遅延
ビット段数を+1することなく位相同期引込み動作は中
止され、再度ステップ531から位相同期引込み動作を
開始するか、或いは他のチャネルに切替える等の制御が
行われる。
又ステップS32に於いて、遅延ビット段数nが最大値
を超えた場合に、同期フラグFが設定されているか否か
判定し(F=O?)(ステップS38)、同期フラグF
が設定されていない場合、全遅延ビッ1・段数について
位相同期引込みを行っても、1回も位相同期引込み状態
とならないものであるから、位相同期引込み不可による
ビット照合エラーと判定する(ステップS39)。
又同期フラグFが設定されてシ)る場合、全遅延ビ・ン
ト段数についてl回のみ位相同期引込み状態となったも
のであるから、位相同期引込み完了と判定する(ステッ
プS40).この場合は、ビット照合に移行することに
なる。
従って、前述の実施例と同様に、正しい位相同期引込み
状態となる場合のみ、ビット照合に移行して、被監視回
路を監視することができる。
本発明は、前述の各実施例にのみ限定されるものではな
く、種々付加変更することができるものである。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明は、位相同期部5の可変遅
延回路4の全遅延ピント段数について位相同期引込み動
作を行った時に、複数回の位相同期引込み状態が生した
場合は、擬似同期引込み状態を含むものであるから、被
監視回路1を監視する為のビット照合動作に移行せず、
位相同期引込みが1回のみの場合は、正しい位相同期引
込め状態と判定して、ビット照合動作に移行するもので
ある。それによって、短いパターン周期のデータによる
擬似同期引込みを回避し、ビット照合による監視の信頼
性を向上することができる。
又可変遅延回路4の遅延ビット段数を順次変更して位相
同期引込みを行い、位相同期引込みにより同期フラグF
を設定し、この同期フラグFが設定された後に、遅延ビ
ット段数を変更して位相同期引込みを行った時に、再び
位相同期引込み状態となった場合は、可変遅延回路4の
全遅延ビット段数について位相同期引込みを行った時に
、少なくとも2回は位相同期引込み状態となる場合であ
るから、位相同期引込み不可と判定することにより、短
い期間で位相同期引込みが可能か否かを判定することが
できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の一実施
例のフローチャート、第3図は本発明の一実施例のビッ
ト照合回路のブロック図、第4図は本発明の他の実施例
のフローチャート、第5図は従来例の要部ブロック図、
第6図はビット照合回路の要部ブロック図、第7図は可
変遅延回路の要部ブロック図、第8図は従来例のフロー
チャート、第9図は位相同期引込み動作説明図、第10
図はオール“I I1パターンの場合の動作説明図、第
11図は“+ 1 ++,“0゜゜交互パターンの場合
の動作説明図、第12図は“ttoto”パターンの場
合の動作説明図である。 lは被監視回路、2は基準回路、3はビント照合回路、
4は可変遅延回路、5は位相同期部、6は制御部、7は
検出部、8はメモリである。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、被監視回路(1)と、該被監視回路(1)の出
    力データを入力して該被監視回路(1)の処理と逆の処
    理を行う基準回路(2)と、前記被監視回路(1)の入
    力データと前記基準回路(2)の出力データとを照合す
    るビット照合回路(3)とを備え、 該ビット照合回路(3)は、遅延ビット段数を制御でき
    る可変遅延回路(4)を含む位相同期部(5)と、該位
    相同期部(5)の位相引込み制御を行う制御部(6)と
    、ビットエラーを検出する検出部(7)と、位相同期が
    とれた時の遅延ビット段数を記憶するメモリ(8)とを
    有し、 前記制御部(6)の制御により、前記可変遅延回路(4
    )の遅延ビット段数を順次制御して、全遅延ビット段数
    にわたって前記被監視回路(1)の入力データと前記基
    準回路(2)の出力データとの間の位相同期をとり、位
    相同期がとれた時の遅延ビット段数を前記メモリ(8)
    に記憶し、全遅延ビット段数の中に1回のみ位相同期が
    とれた時に、前記メモリ(8)に記憶した遅延ビット段
    数を前記可変遅延回路(4)に設定して、前記検出部(
    7)により前記被監視回路(1)の入力データと前記基
    準回路(2)の出力データとのビット対応の照合により
    ビットエラー検出を行うことを特徴とするビット照合制
    御方式。
  2. (2)、前記制御部(6)の制御により、前記可変遅延
    回路(4)の遅延ビット段数を順次制御して、前記被監
    視回路(1)の入力データと前記基準回路(2)の出力
    データとの間の位相同期をとり、前記全遅延ビット段数
    について位相同期がとれない時、及び2回以上位相同期
    がとれた時は、位相同期引込み不可と判定する ことを特徴とする請求項1記載のビット照合制御方式。
  3. (3)、前記制御部(6)の制御により、前記可変遅延
    回路(4)の遅延ビット段数を順次制御し、前記被監視
    回路(1)の入力データと前記基準回路(2)の出力デ
    ータとの間の位相同期をとり、位相同期がとれた時の遅
    延ビット段数を前記メモリ(8)に記憶し、且つ同期フ
    ラグをセットし、該同期フラグがセットされた後に、遅
    延ビット段数を変更して再度位相同期がとれた時は、全
    遅延ビット段数についての位相同期引込み動作の終了前
    でも、位相同期引込み不可と判定する ことを特徴とする請求項1記載のビット照合制御方式。
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