JPH0316277A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0316277A
JPH0316277A JP1151880A JP15188089A JPH0316277A JP H0316277 A JPH0316277 A JP H0316277A JP 1151880 A JP1151880 A JP 1151880A JP 15188089 A JP15188089 A JP 15188089A JP H0316277 A JPH0316277 A JP H0316277A
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JP
Japan
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lead frame
emitting element
light
die pad
semiconductor device
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JP1151880A
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Sadao Osada
長田 貞雄
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、受発光素子間のギャップを一定に保ち、特性
のバラッキを低減し、歩留りの向上した、光結合半導体
装置に関するものである。
従来の技術 以下に、従来の光結合半導体装置について説明する。第
5図は従来の光結合半導体装置の断面図で、リードフレ
ームlに発光素子2が、リードフレーム3に受光素子4
が、相対向して装着されている。発光素子2と、リード
フレーム1との間には、ワイヤー5が、また受光素子4
とリードフレーム3との間にはワイヤー6がそれぞれ接
続されている。そして、リードフレーム1.3、発光素
子2,受光素子4およびワイヤー5.6を透過率の良好
な一次モールド崩脂7により封止し、一体化しており、
さらに、前記一次モールド樹脂7を外部光を遮断するた
めの黒色の二次モールド樹脂8により包囲している。
第6図はリードフレーム1の加工前の正面図でグイバッ
ド9に発光素子2を装着する。
第7図はグイバッド9の部分の正面拡大図と側面拡大図
である。
また、リードフレーム3も、リードフレーム1と同様な
形状となっている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来例の構成では、特性にバラツキ
を生じるという問題があった。
これは、光結合半導体装置の一次モールド形戚時にモー
ルド樹脂を高圧で封入するため、リードフレームの材質
,厚さ,受発光素子間ギャップなどによっては、高圧に
より封入された樹脂が、リードフレームに、ストレスな
どの影響を与え、変形を起こすためである。高圧により
封入された樹脂により、リードフレームに変形が生じた
場合、受発光素子間ギャップにバラツキが生じ、光結合
半導体装置としての特性、特に電流伝達比にバラッキが
生じるという問題があった。本発明は、上記従来の問題
点を解決するもので、封正工程における特性のバラツキ
のない光結合半導体装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 この目的を達戒するために、本発明の光結合半導体装置
装置においては、発光素子および受光素子をそれぞれ装
着するリードフレームのダイパッドの一部に少なくとも
一箇所以上の位置規制用の突起部を設けた構成を有して
いる。
作用 この構成によって、突起部が、一次モールド用の金型に
より位置規制されることによりリードフレームに、変形
が生じず受発光素子間ギャップを一定に保つことができ
るため特性のバラツキを低減することができる。
実施例 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
第1図は、本発明の一実施例における光結合半導体装置
の断面図を示すものである。第1図において、1’0.
11はリードフレーム、12は発光素子、13は受光素
子、14.15はワイヤー16は一次モールド樹脂、1
7は二次モールド樹脂、18.19はダイパッド部に加
工された位置規制用の突起部である。
リードフレーム10に発光素子12を、リードフレーム
11に受光素子13を相対向して装着してある。発光素
子12とリードフレーム10との間には、ワイヤー14
が、受光素子13とリードフレーム11との間にはワイ
ヤー15がそれぞれ接続されている。そして発光素子1
2,受光素子13.リードフレーム10.11およびワ
イヤー14.15を透過率の良好なエポキシ系一次モー
ルド樹脂16により封止し、一体化してある。さらに前
記一次モールド樹脂16への外部光を遮断するための黒
色の二次モールド樹脂17で包囲してある。
また、第2図にリードフレーム10.11の加工前の正
面図を第3図にダイパッド20の部分の正面拡大図と、
側面拡大図を示す。
ここでグイバッド20の一部に設けた位置規制用の突起
部の厚さは、一次モールド樹脂16の樹脂厚を考慮し、
リードフレーム10.11か平行に相対するように設定
されている。すなわち、ダイバッドの一部に設けた突起
部が一次モールド用の金型により位置規制されることに
よりリードフレームの平行を保つよう設定してある。
発光素子および受光素子を装着するリードフレームのダ
イバッドの一部に、リードフレームの位置規制用の突起
部を設けたことにより、一次制脂モールド時に、高圧に
より樹脂を封入した際、リードフレームにそりを生じる
ことがなく、受発光素子間ギャップを一定に保つことが
でき、特性のバラツキをおさえることができる。
また、第4図は本発明の他の実施例における光結合半導
体装置の断面図を示すものである。
構成は前記実施例と同様である。
リードフレーム21.22のダイパッドの一部に、リー
ドフレームが平行に相対するように、位置規制用の円形
の陥没部を設けてある。前記実施例のようにダイパッド
の一部に位置規制用の厚みを持たせるよりもパンチング
により陥没部を設ける工法は、作業性2量産性に優れて
いる。位置規制用の円形の陥没部を設けたことにより、
前記実施例と同様の効果を得ることができる。
また、位置規制用の陥没部を矩形としても、同様の効果
を得ることは言うまでもない。
発明の効果 本発明は、発光素子および受光素子をそれぞれ装着する
リードフレームのダイバッドの一部に、少なくとも一箇
所以上の位置規制用の突起部を設けることにより、封止
工程における特性のバラツキのない優れた光結合半導体
装置を実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における光結合半導体装置の
断面図、第2図は同装置の要部正面図、第3図(a) 
, (b)は同装置の要部正面拡大図および側面拡大図
、第4図は本発明の他の実施例における光省く結合半導
体装置の断面図、第5図は従来の光桔合半導体装置の断
面図、第6図は同装置の要部正面図、第7図(a) ,
 (b)は同装置の要部正面拡大図および側面拡大図で
ある。 1・・・・・・リードフレーム、2・・・・・・発光素
子、3・・・・・・リードフレーム、4・・・・・・受
光素子、5.6・・・・・・ワイヤー、7・・・・・・
一次モールド樹脂、8・・・・・・二次モールド樹脂、
9・・・・・・ダイパッド、10.11・・・・・・リ
ードフレーム、12・・・・・・発光素子、13・・・
・・・受光素子、14.15・・・・・・ワイヤー 1
6・・・・・・一次モールド樹脂、17・・・・・・二
次モールド樹脂、18.19・・・・・・陥没部、20
・・・・・・ダイパッド、21.22・・・・・・リー
ドフレーム。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光素子と、対向して設けられた受光素子と、前
    記発光素子と受光素子を共に包囲し、一体化した透過率
    の良好な一次モールド樹脂と、前記一次モールド樹脂を
    包囲して外部光を遮断するための黒色の二次モールド樹
    脂よりなり、前記発光素子および受光素子をそれぞれ装
    着するリードフレームのダイパッドの一部に少なくとも
    一箇所以上の位置規制用の突起部を設けたことを特徴と
    する光結合半導体装置。
  2. (2)位置規制用の突起部を、リードフレームの反対面
    から円形もしくは矩形の陥没状にパンチングすることに
    より設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の光結合半導体装置。
JP15188089A 1989-06-14 1989-06-14 半導体装置 Expired - Lifetime JP2809709B2 (ja)

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JPS53122392A (en) * 1977-03-31 1978-10-25 Omron Tateisi Electronics Co Manufacture for photo electric device
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