JPH0316025A - 基準光ディスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ産業上の利用分野 本発明は基準光ディスクに関し、例えばコンパクトディ
スクプレーヤのプレーヤ特性を評価するものに通用し得
る。

Ｂ発明の概要 本発明は、基準光ディスクにおいて、情報記録膜に評価
用情報信号を潰してディフェクトパターンを形或するよ
うにしたことにより、情報記録膜の傷に対する光ディス
ク装置のプレーヤ特性を評価し得る． Ｃ従来の技術 従来、コンパクトディスクの急速な市場拡大に伴い、コ
ンパクトディスクプレーヤの信頼性等でなるプレーヤビ
リテイを評価するため種々の基準光ディスクが用いられ
ている。

このような基準光ディスクとしては、例えば光ディスク
の読取り面上に種々の傷パターン（以下これをデイフエ
クトパターンと呼ぶ）を形成し、コンパクトディスクの
読取り面に付いた傷や汚れに対するコンパクトディスク
プレーヤの信頼性を評価するものや、光ディスクのアル
ミニウム反射膜にデイフエクトパターンを形成し、コン
パクトディスクのアルξニウム反射膜に付いた傷等に対
するコンパクトディスクプレーヤの信頼性を評価するも
のがある。

Ｄ発明が解決しようとする問題点 ところで上述のように、読取り面上にデイフエクトパタ
ーンを形或する基準光ディスクは、スクリーン印刷等の
手法で種々のデイフエクトパターンを印刷したり、また
読取り面上に細かな傷を付けることにより、比較的容易
に再現性の良いものを製造しかつ量産することができる
。

ところがアルミニウム反射膜にデイフエクトパターンを
形或する場合には、光ディスクの保ｉｉ側から傷を入れ
たり、またアル逅ニウム反射膜の威膜時にビンホールを
混入して形成されており、このため個々の基準光ディス
クでばらつきが発生し、かつ量産が困難であるという問
題があった．またこのような基準光ディスクの基板は、
一般のコンパクトディスクと同様に例えばボリカーボネ
イト等のプラスチック樹脂材料で形成されているため傷
や汚れが付きやすい問題があり、使用時に新たな傷や汚
れが発生すると基準光ディスクとしての機能を果たさな
くなり、信頼性及び耐久性の点で実用上未だ不十分であ
った。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、従来の問
題を一挙に解決して、信頼性及び耐久性を格段的に向上
し得ると共に高い精度で量産可能な基準光ディスクを提
案しようとするものである。

？問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため本発明においては、所定の
アドレス情報ＴＮＯ　ｊを含んでなる評価用情報信号Ｓ
■，が、所定の記録単位Ｄ　ＴＨｏｈ　、ＤＴ■，　、
ＤＴａｓｙｊ毎に記録されると共に、その記録単位ＤＴ
ＮＯｌ　、ＤＴＭｕＪ％　ＤＴｍｓｔｊに応して、半径
方向に順次異なる幅で評価用情報信号Ｓ■，を潰してな
るデイフエクトパターンＰＴ．Ｆが形成された情報記録
［７を設けるようにした。

Ｆ作用 情報記１１膜７の評価用情報信号Ｓ　ＲＥＦを潰して？
イフエクトパターンＰＴ■を形或するようにしたことに
より、光ディスク１の情報記録膜７の傷を再現すること
ができ、かくして情報記録膜７の傷に対する光ディスク
装置のプレーヤ特性を評価し得る。

Ｇ実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。

第１図において、１は全体としてコンパクトディスク（
ＣＤ）のフォーマットに応じて直径１２０〔問〕を有す
る基準光ディスクを示し、内径４６〔１〕から外径５０
　（ｍｆｆの２〔旧〕幅を有するリードインエリアＡＲ
１、内径１１６　（＋＋ｎ）から外径１１８　（ａｒｍ
）のｌＣｌｌｌＩ１〕幅を有すルＩＪ　−　Ｆ　７　ウ
｝　ｘ　＋ＪＡＲ．。に挾まれた内径５０　（ｇｅｍ）
から外径１１６〔叩〕までのプログラム記録エリアＡＲ
０には、所定の評価用基準信号Ｓ　ＩＩＥＦが記録され
ている。

またこのプログラム記録エリアＡ　Ｒ　Ｐ　Ｒの所定の
位置には内周側から、所定の半径毎に順次記録ト？ック
方向に幅の広くなる傷（デイフエクト）パターンＰＴ■
が、半径方向に伸長するような階段形状の範囲で、評価
用基準信号Ｓ　ＩＩＦのビットパターンを潰すようにし
て形成されている。

実際上プログラム記録エリアＡＲ■の評価用基準信号Ｓ
　ＩＩ！Ｆは、第２図に示すように、デイジタル的に無
音情報を表す無音信号ＤＴ．。五　（但し、ｉ＝１、２
、３、・・・・・・、８）、例えば任意の音楽情報が６
０秒分だけ録音されたＥＦＭ変調信号でなる音楽信号Ｄ
Ｔ．ｕ＝　　（但し、ｊ−１、２、３、・・・・・・、
７）及び周波数４００（Ｈｚ）の単一周波数情報が２０
秒分だけ録音された基準信号Ｄ　Ｔ’ｓ７＝が、順次交
互に記録されている。

なお、この実施例の場合、音楽信号ＤＴｎ＋ｔｊ及び基
準信号ＤＴｍｓｔｊには、それぞれ内周側から順次増加
する曲番号が評価番号ＴＮＯｊとして付されており、ま
た無音信号Ｄ　Ｔ　ｓ。先は、音楽信号ＤＴＭｕＪ及び
基準信号ＤＴｍｓｙｊを録音した記録トラックを、基準
光ディスク１上にほぼ等間隔で配置するため、それぞれ
内周側から例えば９６、４７、５４、？１、６８、７５
、８３秒分ずつ録音されている．ここでデイフエクトパ
ターンＰＴｏｒは、それぞれ幅の異なる第１〜第７の評
価用デイフエクト部ＤＦＩ〜ＤＦ７より形成されている
。

この第１の評価用デイフエクト部ＤＰＩは、基準光ディ
スク１の半径方向に第１の音楽信号ＤＴ■，及び基準信
号ＤＴｍｓｔ＋を亘たり、かつ第１及び第２の無音信号
ＤＴＮＯ１及び［）Ｔ’Ｎｏｇの所定量ずつを含み、記
録トラック方向に０．３　　（ｍｍ）の幅を有して形或
されている。

また同様に、第２〜第７の評価用デイフエクト部ＤＦ２
〜ｌ）Ｆ７は、基準光ディスクｌの半径方向に、それぞ
れ第２〜第７の音楽信号ＤＴｌ４ｔＩｔ〜ＤＴ，ｌＬｌ
？及び基準信号ＤＴ■７，〜ＤＴｇｓｔｔを亘たり、か
つ第２〜第７及び第３〜第８の無音信号ＤＴ　Ｎｏｔ　
〜Ｄ　Ｔ　ＮＯ？及びＤ　Ｔ　Ｎｏｓ　−　Ｄ　Ｔ　Ｍ
ｏｉｌの所定量ずつを含み、それぞれ記録トラック方向
に０．４、０．５　、０．６　、０．７　、０．９　、
１．１　　（ａｍ）の幅を有して形成されている。

以上の構或において、この基準光ディスク１を？ンパク
トディスクプレーヤに装着して、デイフエクトパターン
ＰＴｏｒを再生すれば、コンパクトディスクプレーヤの
光ヘッドから送出される再生信号ＳＩＦによって、光デ
ィスク上に実際に付いた傷を再現できることがわかる。

因に実験によれば、第３図に示すように、基準光ディス
ク１のディフェクトパターンＰＴＯＦのうち、第１の評
価用ディフェクト部ＤＰＩを再生して得られる再生信号
Ｓ■ｏ＋　（第３図（Ａ）〉は、保護膜側からアルξニ
ウム反射膜に０．３　　（關）幅の傷を付けた光ディス
クを再生して得られる再生信号Ｓ０え　（第３図（Ｂ〉
）と、ほぼ等価であることが分かった． また実験において、ディフェクトパターンＰＴＤＦの第
１〜第７の評価用ディフェクト部ＤＦ１〜ＤＦ７を再生
して得られる再生信号ＳＩＩＦ■〜Ｓ　ＩＩＦＤ？は、
第３図（Ａ）及び第４図（Ａ）〜（Ｆ）に示すように、
それぞれ第１〜第７の評価用ディフエクト部ＤＰＩ−Ｄ
Ｆ７の幅に応じた変動をすることが分かる． ？って、この基準光ディスクｌを用いれば、光ディスク
のアルミニウム反射膜に付いた傷によるコンパクトディ
スクプレーヤに対する影響を確実に再現することができ
る。

かくして、曲番号でなる評価番号ＴＮＯ　ｊを検出しな
がら基準光ディスク１を再生することにより、デイフエ
クトパターンＰＴ■のうち、何〔ｍ−〕幅の評価用デイ
フエクト部ＤＦＩ〜ＤＦ７まで再生できるか、すなわち
、何（ｍ．）幅の評価用ディフエクト部ＤＦＩ〜ＤＦ７
からは、フォーカスエラーやトラッキングエラーが発生
して再生できなくなるかを検出することができ、このよ
うにして光ディスクのアルミニウム反射膜に付いた傷の
大きさに対するコンパクトディスクプレーヤの信頼性を
確実に評価することができる． なおこの基準光ディスク１は、基板としてガラス基板上
に紫外線硬化樹脂を用いて光ディスクを複製するように
なされた２Ｐ　（ｐｈｏｔｏ　ｐｏｌｙｍｅｒｉｚａｔ
ｉｏｎ）法（特願昭６１−１１１１９９号、特願昭６１
−１４６７３１号）によって製造されている。

すなわち２Ｐ法においては、まず第５図（Ａ）に示すよ
うに、記録信号に応じて微細な凹凸パターンが形成され
たディスクスタンバ２及び厚さ約１．２（ｍ）程度でな
るガラス基板３間に、紫外線照射前は液状でなる紫外線
硬化樹脂４を挟むと共に、加圧ローラ（図示せず）等を
用いてガラス基板３側から加圧することにより、スタン
バ２及びガラス基板３間に紫外線硬化樹脂４を充填する
。

続イテ、第５図（Ｂ）に示すように、ガラス基板３側か
ら紫外線ランプ等でなる光源５より発せられる紫外線光
Ｌｕｖを照射して、紫外線硬化樹脂４を硬化させた後、
第５図（Ｃ）に示すように、この紫外線硬化樹脂４をガ
ラス基Ｆｉ３と共にスタンバ２から剥離する。

これにより、ガラス基板３上にスタンバ２の微細な凹凸
パターンを転写した信号パターン転写層を形或する。

この後、第５図（Ｅ）に示すように、信号パターン転写
層が形或されてなる転写ガラス基板６のピット側から、
例えばスパッタリングや真空蒸着？はスビンコート等の
手法を用いてアル竃ニウム反射膜７を形成した後、当該
アル竃ニウム反射膜７側に厚さ１０（μ属〕程度の保護
膜８を紫外線硬化樹脂で形戒し、このようにしてスタン
バ２の凹凸パターンに応じたビットパターンが形成され
た基準光ディスクｌを製造し得るようになされている． なおこの基準光ディスク１の場合、ディスクスタンバ２
には、第２図について上述したように評価用基準信号Ｓ
■，に応じて、深さ０．１〔μｓ）程度の微細な凹凸パ
ターンが形成されている．さらにこの凹凸パターンに対
して、例えば３次元可動の電気マイクロの先端に取り付
けたダイヤモンドバイト等によって、数〔μ請〕のピッ
チで表面に引掻き傷を入れていくことにより、５〔μ一
〕程度の深さで上述したデイフエクトパターンＰＴ■に
応じて凹凸パターンが潰されている．実際上、先端の尖
ったダイヤモンドバイトを、厚さ約０．３〜０．４　（
ｍ−）のニッケル製のスタンバ２に対して、１０　（ｇ
ｆ）程度の荷重かつ数（Ｃ１１／秒〕？度の引掻き速度
で加工すれば、幅３〜５（μ園）で深さ５〔μｌ〕以下
の傷を入れることができる．このようにしてこの実施例
の場合、ディスクスクンバ２の凹凸パターンをデイフエ
クトパターンＰＴｏｒに恣じて潰し、ガラス基板３上に
２Ｐ法によってこれを転写するようにしたことにより、
精度良く基準光ディスク１を複製し得るようになされて
いる． またこれに加えてこの基準光ディスクｌの場合には、転
写ガラス基板６のアル竃二ウム反射膜７側に保護１！Ｉ
８を形成した後、さらにこの保！ｌ膜８上に５０〔μ謹
〕程度の厚さのラξネートフイルム９を貼着するように
なされており、これにより、使用中の傷や汚れの付着を
有効に防止できる基準光ディスクｌを得るようになされ
ている．以上の構或によれば、プログラム記録エリアＡ
Ｒ■の評価用基準信号Ｓ　ＩＩＥＦに対して、内周側か
ら半径情報に応じて順次記録トラック方向に幅の広くな
るデイフエクトパターンＰＴ．，を、半径方向に伸長す
るような形状で、評価用基準信号Ｓ　ＩＩＩ！Ｆのビッ
トパターンを潰すようにして形成したことにより、光デ
ィスクのアル肴ニウム反射膜７に付いた傷を再現するこ
とができ、かくしてアルξニウム反射膜７に付いた傷に
対するコンパクトディスクプレーヤのプレーヤビリティ
を確実に評価し得る基準光ディスク１を実現できる． さらに上述の構成によれば、ディスクスタンバ２の凹凸
パターンをデイフエクトパターンＰＴ．に応じて潰し、
２Ｐ法によって複製するようにしたことにより、量産性
を格段的に向上し得る基準光ディスク１を実現できる。

さらに上述の構戒によれば、基板としてガラス基板３を
用い、さらに転写後の保護膜８上にラミネートフイルム
９を貼着するようにしたことにより、使用中の傷や汚れ
の付着を未然に防止し得、かくして、高い信頼性でコン
パクトディスクプレーヤのプレーヤビリテイを評価し得
る基準光ディスクｌを実現できる。

なお上述の実施例においては、評価用基準信号ＳＲ！Ｆ
として、無音信号ＤＴ．。五間に音楽信号ＤＴ）４ｕｊ
及び周波数４００（Ｈｚ）の基準信号ＤＴｍｓｔ．＋を
、順次交互に記録した場合について述べたが、本発明は
これに限らず、音楽信号又は一定周波数の基準信号のみ
を用いるようにしても良い。

また上述の実施例においては、ディフェクトパターンと
して、半径方向に０．３　（ｍｍ：ｌから順次幅の広く
なる評価用デイフエクト部を７個設けた場合について述
べたが、評価用ディフエクト部の幅及び個数は、必要に
応じて種々選択するようにしても上述の実施例と同様の
効果を実現できる。

さらに上述の実施例においては、本発明をコンパクトデ
ィスクプレーヤのプレーヤビリテイを評価する基準光デ
ィスクに適用した場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、レーザディスク装置や光磁気ディスク装置等
他の光ディスク装置の特性を評価する基準光ディスクに
も広く適用して好適なものである． 因に、光磁気ディスク装置の特性を評価する基準光ディ
スクに適用する場合、アルミニウム反射膜に代え垂直磁
化膜にディフエクトパターンを形戒すれば良い． Ｈ発明の効果 上述のように本発明によれば、情報記録膜の評価用情報
信号を潰してデイフエクトパターンを形成するようにし
たことにより、光ディスクの情報記録膜の傷を再現する
ことができ、かくして情報記録膜の傷に対する光ディス
ク装置のプレーヤ特性を確実に評価し得ると共に、量産
性を格段的に向上し得る基準光ディスクを容易に実現で
きる。

１・・・・・・基準光ディスク、２・・・・・・ディス
クスタンパ、３・・・・・・ガラス基板、４・・・・・
・紫外線硬化樹脂、７・・・・・・アルミニウム反射膜
、８・・・・・・保護膜、９・・・・・・ラミネートフ
イルム．

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　所定のアドレス情報を含んでなる評価用情報信号が、
   所定の記録単位毎に記録されると共に、当該記録単位に
   応じて、半径方向に順次異なる幅で上記評価用情報信号
   を潰してなるデイフエクトパターンが形成された情報記
   録膜を具え、上記デイフエクトパターンを用いて光ディ
   スクの上記情報記録膜に付いた傷を再現するようにした
   ことを特徴とする基準光ディスク。