JPH03154032A - 光パルスの発生法、発生装置および伝送方式 - Google Patents

光パルスの発生法、発生装置および伝送方式

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JPH03154032A
JPH03154032A JP1294258A JP29425889A JPH03154032A JP H03154032 A JPH03154032 A JP H03154032A JP 1294258 A JP1294258 A JP 1294258A JP 29425889 A JP29425889 A JP 29425889A JP H03154032 A JPH03154032 A JP H03154032A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、大容量光通信に適用し得る光パルスの発生
法、発生装置および伝送方式に係り、詳しくは半導体レ
ーザから射出される光パルスを、トランスフオームリミ
ットで高出力の光パルスに変換する光パルスの発生法、
発生装置および伝送方式に関するものである。
[従来の技術] 大容量かつ遠距離光通信を実現するには、超短、超高周
波(高繰り返し)、高出力であると共に、トランスフオ
ームリミット(後述)な光パルスを得ることが必要であ
る。
第9図に示すように、近年、超短光パルスの発生技術に
は大きな進展があった(参考文献:■中沢正隆、応用物
理総合報告第56巻IO号、1265〜1288頁“光
フアイバ中の非線形光学”■レーザ研究、解説第15巻
11号、869−886頁“光パルスの圧縮とソリトン
レーザー”)。
これらの中で、特筆すべきことは、色素レーザによりフ
ェムト秒(l fs= I O−”5ec)領域の光パ
ルスの発生が可能になった点である。
第10図(a)および(b)は、各々別異の色素レーザ
の構成を示す図である。これらの色素レーザは、いずれ
も、レーザ共振器を構成する複数のミラー1.1.・・
・と、レーザ媒質である色素2と、パルス幅を狭くする
ための、a飽和吸収色素3と、レーザ共振器内の分散を
補償し、光パルスの広がりを抑制するための複数のプリ
ズム4,4.・・・とから構成されているが、同図(a
)に示す色素レーザは、直線形構成の共振器からなって
おり、同図(b)に示す色素レーザは、リング形構成の
共振器からなっている。そして、これらの色素レーザ(
同図(a)、(b))によって、波長0.6μ−付近の
可視光で30rs程度のパルス幅が実現されている。
上述の光パルス発生技術をさらに発展させたものとして
、1(Hs以下の超短光パルスを得ることができるフェ
ムト秒光パルス発生装置が開発されている。
第2図は、このフェムト秒光パルス発生装置の構成を示
し、この図において、符号5は第1O図(a)または(
b)に示した色素レーザ、6は色素レーザから射出され
た光パルスを増幅するための色素増幅器、7は自己位相
変調効果を効率良く発生させるためのコア径の極めて小
さな光ファイバ、8.8は光ファイバ7の両端面に結合
した結合レンズ、9.9は光ファイバ7から射出した光
パルスを圧縮するためのパルス圧縮用回折格子である。
このような構成において、色素レーザ5から射出された
(パルス幅100fsの)光パルスハ、色素増幅器6に
より増幅され、光ファイバ7において自己位相変調し、
圧縮用回折格子9.9で圧縮されて、(パルス幅10f
sの)超短光パルスとなって出力される(参考文献:レ
ーザ研究、解説第15巻11号、869−886頁“光
パルスの圧縮とソリトンレーザー”)。
しかしながら、第1O図および第2図に示す構成におい
ては、超短光パルスが出力されるものの、パルスの繰り
返しく発振周波数)は100MHz程度と大変遅く、G
Hz帯の高繰り返しパルス列が得られないという欠点が
あった。
一方、GHz帯の高い繰り返しパルス列を得ることがで
きる光パルス発生装置として、第12図(a )、(b
 )、(c )に示す構成のものが知られている。
第12図に示す3種類の発生装置は、いずれも、レーザ
の共振器長(数100μl11)が短い半導体レーザ(
たとえば、波長1.3μm帯もしくは1゜5μ−帯のI
nGaAsP半導体レーザ)を用いて構成されるため、
高繰り返しく数GHz)のパルス列を得ることが可能と
なっている。ただし、そのパルス幅は数10ps〜数1
oopsと比較的広い。
個々について説明すると、まず、第同図(a)に示す光
パルス発生装置は“外部変調器法”と呼ばれる方法を適
用した装置であり、IOは半導体レーザ、11は半導体
レーザlOの励起用直流電源、12は半導体レーザ(装
置)10の外部に付加された超高速光強度変調器、13
はそのドライバである。ここで、超高速光強度変調器!
2は、LiNb05(ニオブ酸リチウム)もしくは多層
量子井戸(M Q W [M ult i Q uan
tuIllW ell])構造の半導体のシュタルク効
果を利用した変調器であり、これにより5〜1OGHz
の繰り返しのパルス列を得ることができる。この装置に
よる出力光は、パルス幅とスペクトル幅との積がトラン
スフオームリミットで与えられるという特長を有するも
のの、パルス幅が広い(100ps)のが欠点である。
次に、第同図(b)に示す光パルス発生装置は“正弦波
直接変調法”と呼ばれる方法を適用した装置であり、同
図(b)において、I4は正弦波電流を発生する正弦波
発生器、15は上記正弦波電流を増幅するための電気増
幅器である。同図(b)の構成においては、半導体レー
ザ!0を励振するための電流を直接正弦波変調するもの
であり、1OGHz程度のパルス列が得られる。また、
第同図(c)に示す光パルス発生装置は、“パルス直接
変調法″と呼ばれる方法を適用したもので、コムジヱネ
レータ(Comb Generator)16で発生す
るくし形パルスを半導体レーザ10に人力することによ
り、直接変調するものである。同図(c)の構成によっ
ても、同図(b)の構成による場合と同様に10GHz
程度のパルス列が得られる。
同図(b )、(c )の装置によれば、容易に10〜
50ps程度の短パルスが高繰り返しで得られるものの
、スペクトル幅が広がってしまうため、トランスフオー
ムリミットな光パルスは得られない。
すなわち、スペクトル幅Δνとパルス幅Δτの積がΔν
・Δτ=1〜3程度になってしまうため、長距離にわた
って光フアイバ中を伝搬させ・るとパルスが群速度分散
により広がって情報が伝えられないという大きな欠点が
ある。
[発明が解決しようとする課題] 上記したように、従来の光パルス発生技術においては、
■超短光パルスは得られるものの高い繰り返しパルス列
は得られない、■トランスフオームリミットな光パルス
は得られるものの、パルス幅が広すぎる、■超短でかつ
高い繰り返しのパルス列が得られるものの、トランスフ
オームリミットなパルスが得られないなど、いずれかの
点で欠けていた。このことが、大容量かつ遠距離光通信
の信頼性を阻害する原因となっていた。
この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、超短、
高い繰り返し、高出力であると共に、完全にトランスフ
オームリミットな光パルスを得ることができる光パルス
の発生法、発生装置を提供することを目的としている。
さらに、超高速高密度遠距離通信に好適な光パルスの伝
送方式を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するために、請求項1.記載の発明は、
半導体レーザから射出される変調光パルスを干渉させて
狭帯域の光パルスを得た後、該狭帯域の光パルスを増幅
して、0.32≦Δν・Δτ≦0.50(Δτはパルス
幅、Δνはスペクトルの幅)である光パルスを得ること
を特徴としている。
請求項2記載の発明は、半導体レーザから射出される変
調光パルスを干渉させて狭帯域の光パルスを得て、該狭
帯域の光パルスを時分割多重処理した後、増幅して、0
.32≦Δν・Δτ≦0.50(Δτはパルス幅、Δν
はスペクトルの幅)である先パルスを得ることを特徴と
している。
請求項3記載の発明は、半導体レーザと、該半導体レー
ザの出力光を変調させる変調器と、変調された前記出力
光を干渉させるファブリペロ−干渉計またはマツハツエ
ンダ干渉計と、前記干渉計からの射出光を光増幅する光
増幅器とからなることを特徴としている。
請求項4記載の発明は、半導体レーザと、該半導体レー
ザの出力光を干渉させるファブリペロ−干渉計またはマ
ツハツエンダ干渉計と、前記干渉計からの射出光を時分
割多重処理する複数個の3dB光カップラと、前記3d
Bカップラから出射された出射光を光増幅する光増幅器
とからなることを特徴としている。
請求項5記載の発明は、請求項3または4記載の光パル
ス発生装置において、前記光増幅器は、ネオジウムファ
イバ、エルビウムファイバ、または半導体レーザ増幅器
であることを特徴としている。
請求項6記載の発明は、請求項3.4、または5記載の
光パルス発生装置を用いて、コード化された光パルスの
列を発生させ、該光パルスの列を長尺の単一モードファ
イバに、その一端から入射させ、前記単一モードファイ
バの他端から射出した前記光パルスの列を光検出器によ
り検出することにより光通信を行うことを特徴としてい
る。
請求項7記載の請求項3.4、または5記載の光パルス
発生装置の後に光変調器を挿入させ、それをコード化さ
れた電気パルス列で駆動することにより、コード化され
た光パルスの列を発生させ、該光パルスの列を長尺の単
一モードファイバに、その一端から入射させ、前記単一
モードファイバの他端から射出した前記光パルスの列を
光検出器により検出することにより光通信を行うことを
特徴としている。
[作用] 上記構成において、半導体レーザの直接変調によって高
繰り返しのパルス列が発生する。
このパルス列を、ファブリペロ−干渉計またはマツハツ
エンダ干渉計により干渉させると、完全にトランスフオ
ームリミットなパルスが得られる。
このトランスフオームマットなパルスは、光増幅器によ
り、増幅される。
上記構成によれば、超短、高い繰り返し、高出力である
と共に、完全にトランスフオームリミットな光パルスを
得ることができる。
したがって、信頼性の極めて高い高密度遠距離光伝送が
可能となる。
[実施例] 以下、図面を参照して、この発明の実施例について説明
する。
(第1実施例) 第1図は、この発明の第一実施例である光パルス発生装
置の構成を示す図である。この例の光パルス発生装置は
、第9図(b)に示した光パルス発生装置に所定の構成
要件を付加したものである。
すなわち、第1図において、正弦波発振器14、電気増
幅器15、半導体レーザ10からなる構成部分は、第1
2図(b)に示した従来の構成と同一である。したがっ
て、これらの構成各部については、第12図(b)の各
部と同一の符号を付して説明を省略する。この例におい
て、新たに付加された構成要素は17〜22であり、1
7は2枚の高反射率の平行平面ガラスからなり、狭帯域
フィルタとして機能するファブリベロー干渉計、18は
ファブリペロ−干渉計を制御する干渉計制御装置、19
はファイバもしくは誘電体多層膜ミラーを用いた光カッ
プラ、20はエルビウムファイバである。このエルビウ
ムファイバ20は、コア領域に光増幅機能を有するエル
ビウムをドーピングしてなり、光増幅器として用いられ
る。また、21は、光カップラ20を介して、エルビウ
ムファイバ20に注入される励起光を発生する励起用光
源である。22は、上記エルビウムファイバ20内での
増幅過程において発生する自然放出雑音や励起光の残り
を取り除くための光フィルタである。
なお、23は上記光パルス発生装置から出力される光パ
ルスを検出するための光検出器である。
半導体レーザの出力特性 半導体レーザlOは、正弦波発振器14.電気増幅器!
5を用いて利得スイッチするこ、とにより、動作し、第
2図に示すパルス列を出力する。第2(a)は波長のス
ペクトル波形、同図(b)はパルスの時間波形を示す図
である。同図(a )、(b )に示すように、周波数
のスペクトル幅Δλ=1.5nm1パルスの時間幅Δτ
= 24 psが得られている。
半導体レーザ10は、電子が注入されると屈折率が下が
るという特性を有している。このため半導体レーザ10
の発振周波数は第3図に示すように、−変長波長側にチ
ャープしてもとに戻る。これを負またはダウンチャープ
と呼ぶ。
トランスフオームリミットなパルス トランスフオームリミットなパルスとは、パルスのフー
リエ変換によって得られる幅だけのスペクトルを有する
パルスのことであり、余分なスペクトルを含まないパル
スのことである。トランスフオームリミットなパルスを
数値的に表現すれば、パルス幅Δτとその周波数スペク
トル幅Δνとの積がΔν・Δτ=0.32〜0.44の
範囲にあるパルスであるということができるが、この明
細書においては、実用的見地から、Δν・Δτ=0.3
2〜0・50の範囲にあるパルスをトランスフオームリ
ミットなパルスという。かかるトランスフオームリミッ
トなパルスは、遠距離伝送後でも、波形が広がらず(く
ずれず)、したがって情報を正確に伝送することができ
る。ところで、一般に半導体レーザでは波形がガウス形
であり、スペクトル幅Δνとパルス幅Δτの間には の関係がある。
ここで、λは中心波長、Δλは中心波長のスペクトル幅
、Cは光の速さである。
そこで、第2図に示すパルスのΔν・Δτ積を計算する
と、 =4.6              (2)となり、
第(1)式の結果と比べると約10倍の大きさ(Δν・
Δτ)をもっていることがわかる。
したがって、直接変調によって得られるパルスはトラン
スフオームリミットからは程遠い。これが半導体レーザ
lOの直接変調のもつ本質的な欠点であった。
ファブリペロ−干渉計によるトランスフオームリミット
化 この実施例では、半導体レーザlOのチャープ特性(第
3図)に着目し、ファブリペロ−干渉計17を用いてス
ペクトルをトランスフオームリミット化する。実験では
、ファブリペロ−干渉計I7の透過帯域を0.22r+
mに設定して、挿入したとこる約17psのパルスにフ
ァブリペロ−出力として変換できた。この出力のΔν・
Δτ積を見積ると = 0.47              (3)この
値は第(1)式の値に非常に近<、トランスフオームリ
ミットなパルスが得られていると示している。もともと
チャープパルスであるから0.22nmの幅でも原理的
には僅かなチャープがある。このチャープを完全に補償
するにはファブリペロ−干渉計17と光カップラ19の
間に負のチャープ補償用の正常分散をもつファイバを挿
入すれば良い。たとえば0.2nmの帯域で2psのチ
ャープが存在すると10 ps/ nmであるが、これ
は零分散波長を1.6〜1.8μm帯にシフトしたファ
イバの分散量が50 ps/ km/ runであるこ
とから、上記補償用ファイバを200111の長さにし
て良い。
このようにしてファブリペロ−干渉計17を挿入すると
透過出力は約5〜10dB低下してしまう。これは1つ
にはスペクトル幅を制限することによる損失、2つ目は
、ファブリペロ干渉計の透過損失のためである。実験に
おいてはファブリペロ−干渉計17のフリースベクトル
レンジが約6n1こなるように設定した。すなわち、フ
リースベクトルレンジをΔλ、とすると、L=200μ
mのとき =6ns                     
 (4)である。したがって、分布帰還型レーザ(Di
stributed Feedback La5er 
(D F B ))の場合は、単一スペクトル発振(チ
ャープは含む)であり、その幅は広くとも2nm程度で
あるから、6nmのフォルター間隔があれば充分である
。すなわち、他のフィルター成分が入ってこない。ファ
ブリペロ−干渉計17の帯域に関してはファブリベロー
干渉計17を構成する鏡の反射率を適当に設定すること
によりフィネスを調整し、0,1〜lnm程度の帯域に
設定すれば良い。
エルビウムファイバおよびその励起用光源エルビウムフ
ァイバ20については、「光学(第18巻第6号、29
1〜296頁“光ファイバによる光増幅”、中沢正隆)
」に詳述されている。
エルビウムファイバ20の励起用光源21としては、0
.5μm帯、0.6μm帯、0.8μm帯、0゜98μ
m帯、1.48μm帯などがある。第4図において、出
力波長l、48μmのInGaAsP半導体レーザを励
起用光源21とした場合の、長さ100mのエルビウム
ファイバ20の利得特性を示す。この図に示すように、
数10mWの低い励起人力で容易に20dB以上の利得
が得られる。このためファプリーペロ干渉計17の挿入
損失を完全に補償することができる。したがって、ファ
プリーペロ干渉計17の出力をエルビウムファイバ20
を用いて光増幅することにより、高出力でかつトランス
フオームリミットな高繰り返しパルスを、半導体レーザ
IQの直接変調によって得ることができる。
実験結果 さて、このようにして得られたトランスフオームリミッ
トなパルスを長さ22kmの単一モードファイバ24(
第5図)内を通過させ、光検出器23で測定した。また
、比較のために、第5図に示すように、半導体レーザ1
0からの直接パルスを単一モードファイバ24内を通過
(従来法)させて同様の測定を行った。これらの結果を
第6図に示す。すなわち、従来法によれば、半導体レー
ザlOの出力は同図(a)に示すように、24psのパ
ルス出力であるが、22kfflのファイバを通過後、
同図(b)に示すように、もはやパルスではなくなる。
すなわちトランスフオームリミットではないためにパル
ス拡がりが発生している。これに比べて、この例の光パ
ルス発生装置および方法によれば、ファブリペロ−干渉
計17の出力は22に+++通過後でも入力の時とほと
んど変わらないパルスである(同図(C))。
このようにこの例の構成によれば、トランスフオームリ
ミットなパルスを得ることができる。しかも、フアブリ
ペロー干渉計17による挿入損失(5〜1OdB)、エ
ルビウムファイバ20の光増幅作用により、補償あるい
は半導体レーザ!0の出力以上に最終的に上げることが
できる。
(第2実施例) 第7図はこの発明の第2実施例である光パルス発生装置
の構成を示す図である。
この第2実施例においては、2本の分岐ファイバに、光
出力のパワーを等分する3dB光カップラ25,25.
・・・を複数個(N個)用いた点が上記第1実施例と異
なるところである。
すなわち、第2実施例は、光パルスをもとの半導体レー
ザ10の繰り返しの2ト1倍に時間軸上で多重化する方
法および装置に関する。
N個の3dB光カップラ25,25.・・・は、第7図
に示すように、ファブリペロ−干渉計17と光カップラ
19との間に挿入するのが適当である。
また時間遅延を発生させパルスの多重化を図るために、
接続した3dB光カップラ25,25.・・・の2つの
うでの長さの片方を変化させている。3dB光カップラ
25,25.・・・のうでの長さの差は、半導体レーザ
lOの繰返し周期をTとすると時間遅延がT/ 2 ’
、(i = 1.2 、・・・、N−1)となる組合わ
せに設定する。たとえば50psの時間遅延を与えるた
めには長さとしては1cmのずれを与えればよい。この
ようにして容易にパルスの多重化が可能となる。N個の
3dBカップラ25,25.・・・を通すことによりパ
ルスのピーク強度は1/29に低下するが、これは光増
幅器を用いることによって補償することが可能である。
(第3実施例) 第8図は、この発明の第3実施例である光パルス発生装
置の構成、およびこの装置を適用した伝送方式を説明す
るための図である。
この例の光パルス発生装置が第1実施例のそれと異なる
ところは、第■実施例の正弦波発生器14に代えてパル
スパターン発生器26を用いた点である。パルスパター
ン発生器26により構成したのは、実際の信号をのせて
伝送させるためである。従来のG b/ S帯光パルス
通信においては半導体レーザのチャーブにより光パルス
は光フアイバ中を長距離にわたって伝搬することができ
なかった。第8図(a)を説明すると、情報をのせたパ
ルス列は広帯域電気増幅器15によって増幅され、半導
体レーザ10の出力光を直接変調する。パルス変調され
た出力光は、ファブリペロ−干渉計17〜光フイルタ2
2を通過して、トランスフオームリミットな信号パルス
として伝搬用の長尺ファイバ27に導かれる。伝搬用光
ファイバ27はその零分散波長をレーザパルスの発振波
長に一致さけておく。このようにしておくと10Gb/
s程度のパルス列でも200に+++伝搬できる。すな
わち、18PSのパルス幅のl OG b/sのパルス
列はスペクトル幅が約0.2mm(トランスフオームリ
ミット)であるから、l ps/ km/ a++nの
分散シフトファイバ中を200 km伝搬しても40P
SLか広がらない。l OG b/sのパルスの繰り返
しは100PSであるから完全に情報が伝搬できること
になる。
この方式はたとえ30〜100GHz程の超高繰り返し
になっても、半導体レーザlOの直接変調がその周波数
帯において可能な限り、トランスフオームリミットなパ
ルスが実現できるため、大変有効な方法と言える。
また、この方法では完全にトランスフオームリミットな
パルスが直接変調によって得られるため、従来用いられ
てきた、LiNbO3やMQWの半導体などによる光強
度変調器は必要ではなくなる。
もしも、パルスコード化した信号で直接変調した場合に
、トランスフオームリミットなパルスからずれる場合に
は、パルスパターン発生器26の代わりに、第1図に示
した正弦波発生器14を用いて、まず、トランスフオー
ムリミットなパルス列を発生させ、ファブリペロ−干渉
計17と光カップラ19との間に上記の光強度変調器1
2を挿入し、パルスパターン発生器26で駆動すれば、
信号伝送が可能となる。この様子を第8図(b)に示す
なお、上述の実施例においては、狭帯域フィルタとして
ファブリベロー干渉計17を用いた場合について述べた
が、これに代えて、たとえばマツハツエンダ干渉計を用
いるようにしても上記と同様の効果を得ることができる
また、上述の実施例においては、光増幅器としてエルビ
ウムファイバ20を用いた場合について述べたが、これ
に限定するものではなく、たとえば、ネオジウムをドー
ピングしたネオジウムファイバや半導体レーザ増幅器な
どを用いても同様の効果を得ることができる。
[発明の効果] 以上説明してきたように、従来不可能とされてきた半導
体レーザからトランスフオームリミットな高出力パルス
の発生をファブリペロ−干渉計なとの狭帯域フィルター
とエルビウム光フアイバ増1幅器を用いることによって
実現できるため、光の強度変調を用いる通信に幅広く用
いることができる利点がある。すなわち、従来高速の光
通信には不可欠であったL r N bo 3、もしく
はMQWの半導体による高速光変調器が不必要になり、
単に半導体レーザを高速に直接変調すれば良い。
このため光伝送システムが非常に簡便なものとなる利点
がある。
もしも、パルスコードで直接変調した場合、パルス波形
が乱れるならば、高速光変調器を挿入すれば良い。たと
え、従来通り光変調器を用いても、パルスがトランスフ
オームリミットであるため、光伝送の大容量化および長
距離化を達成することができる。
また、伝送信頼性の向上を図ることができる。
また、この発明が採用する直接変調方式は光ソリトン伝
送にも応用できる可能性があると共に、0.8μm帯、
1.3μm帯、および1.5μmおよびのGaAsやI
nGaAsPなどの半導体材料の緩和時間、光増幅特性
、光検出器の特性などの評価に用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1実施例である光パルス発生装置
の構成を示す図、第2図は同実施例の半導体レーザの出
力パルスのスペクトル波形および時間波形を示す図、第
3図は同半導体レーザのチャ−プ特性を示す図、第4図
はエルビウムファイバの光増幅特性を示す図、第5図は
光パルス発生装置を適用した光伝送実験の構成を示す図
、第6図は従来法とこの発明の実施例との比較実験の結
果を示す図、第7図はこの発明の第2実施例である光パ
ルス発生装置の構成を示す図、第8図はパルスパターン
発生器を用いて実際に光伝送を行なった第3の実施例の
構成を示す図、第9図は光パルスの発生の歴史を示す図
、第10図は色素レーザの構成を示す図1、第11図は
フェムト秒パルス発生装置の構成を示す図、第12図は
半導体レーザを用いた先パルス発生装置の構成およびそ
の出力波形を示す図である。 !、1.・・・・・・・・・レーザ共振器構成用ミラー
 2・・・・・レーザ媒質色素、3・・・・・・過飽和
吸収色素、4゜4、・・・・・・・・・プリズム、5・
・・・・・色素レーザ、6・・・パルス増幅用の色素増
幅器、7・・・・・・結合レンズ、8・・・・・・自己
位相変調効果発生用の光ファイバ、9・・・・・・パル
ス圧縮用の回折格子、10・・・・・・半導体レーザ、
11・・・・・・半導体レーザの励起用直流電源、!2
・・・・・・超高速光強度光変調器、13・・・・・・
光変調器用ドライバ、14・・・・・・正弦波発生器、
I5・・・・・・電気信号増幅器、16・・・・・・コ
ムジェネレータ、17・・・・・・ファブリペロ−干渉
計、18・・・・・・ファブリペロ干渉計制御装置、1
9・・・・・・光カップラ、20・・・・エルビウムフ
ァイバ、21・・・・・・エルビウムファイバ励起用光
源、22・・・・・・光フィルタ、23・・・・・・光
検出器、24・・・・・・長さ22knの単一モードフ
ァイバ、25・・・・・・3db光カップラ、26・・
・・・・パルスパターン発生器、27・・・・・・分散
シフト形の長尺単一モードファイバ。 第4 図 エルビウムフフイハの尤珈幅1うlb’Ia
及斗が甥頃多パワーfmW) 第7 間第2晃殆イ列の7紡 第8図第3大井づ列の講戒 第5図促来;t1−よ5尤信逍笑散 ら 第6 図q芝り汰と不完明の疋駿秀古果の比申久(0)
午鴫傅し一ワ゛10の出力へ°ルス  (b)予餐出ご
淑nへ°ルス放形(慣し釆jl)(c)7吏出2淑たパ
ルス;痕形(寅シ乞イ列)a′!1間 111図 フェムト禾少パルス嘴ドt 112図午莫体し−リ゛によSa仄お・よひtの出の態
形(aJ外外音2講講#t (b)正弦波通得隻論広 J圧◇ $ 汁・

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体レーザから射出される変調光パルスを干渉
    させて狭帯域の光パルスを得た後、該狭帯域の光パルス
    を増幅して、 0.32≦Δν・Δτ≦0.50(Δτはパルス幅、Δ
    νはスペクトルの幅)である光パルスを得ることを特徴
    とする光パルス発生法。
  2. (2)半導体レーザから射出される変調光パルスを干渉
    させて狭帯域の光パルスを得て、該狭帯域の光パルスを
    時分割多重処理した後、増幅して、0.32≦Δν・Δ
    τ≦0.50(Δτはパルス幅、Δνはスペクトルの幅
    )である光パルスを得ることを特徴とする光パルス発生
    法。
  3. (3)半導体レーザと、該半導体レーザの出力光を変調
    させる変調器と、変調された前記出力光を干渉させるフ
    ァブリペロー干渉計またはマッハツェンダ干渉計と、前
    記干渉計からの射出光を光増幅する光増幅器とからなる
    ことを特徴とする光パルス発生装置。
  4. (4)半導体レーザと、該半導体レーザの出力光を干渉
    させるファブリペロー干渉計またはマッハツェンダ干渉
    計と、前記干渉計からの射出光を時分割多重処理する複
    数個の3dB光カップラと、前記3dBカップラから出
    射された出射光を光増幅する光増幅器とからなることを
    特徴とする光パルス発生装置。
  5. (5)請求項3または4記載の光パルス発生装置におい
    て、前記光増幅器は、ネオジウムファイバ、エルビウム
    ファイバ、または半導体レーザ増幅器であることを特徴
    とする光パルス発生装置。
  6. (6)請求項3、4、または5記載の光パルス発生装置
    を用いて、コード化された光パルスの列を発生させ、該
    光パルスの列を長尺の単一モードファイバに、その一端
    から入射させ、前記単一モードファイバの他端から射出
    した前記光パルスの列を光検出器により検出することに
    より光通信を行うことを特徴とする光パルスの伝送方法
  7. (7)請求項3、4、または5記載の光パルス発生装置
    の後に光変調器を挿入させ、それをコード化された電気
    パルス列で駆動することにより、コード化された光パル
    スの列を発生させ、該光パルスの列を長尺の単一モード
    ファイバに、その一端から入射させ、前記単一モードフ
    ァイバの他端から射出した前記光パルスの列を光検出器
    により検出することにより光通信を行うことを特徴とす
    る光パルスの伝送方法。
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