JPH03152480A - 電子部品検査装置 - Google Patents

電子部品検査装置

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JPH03152480A
JPH03152480A JP1291731A JP29173189A JPH03152480A JP H03152480 A JPH03152480 A JP H03152480A JP 1291731 A JP1291731 A JP 1291731A JP 29173189 A JP29173189 A JP 29173189A JP H03152480 A JPH03152480 A JP H03152480A
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JP
Japan
Prior art keywords
tape
inspection
tool
inspection jig
tab
Prior art date
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Pending
Application number
JP1291731A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Kaneko
猛 金子
Kiyoshi Kimura
潔 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Nippon Steel Texeng Co Ltd
Original Assignee
Nisshin Koki Co Ltd
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nisshin Koki Co Ltd, Japan Synthetic Rubber Co Ltd filed Critical Nisshin Koki Co Ltd
Priority to JP1291731A priority Critical patent/JPH03152480A/ja
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、テープ状の電子部品の検査装置に関する。
(従来の技術) 近年、第9図、第10図に示すT A B (Tape
 Autemated Bonding)テープとよば
れる電子部品が用いられている。このTABテープ1は
、リール2に巻かれた状態で取り扱われる。TABテー
プ1は、1フレ一ム単位で導電パターンなどによって構
成される配線部3が形成されている。この配線部3には
、半導体集積回路などがボンディングされ、第10図に
示す一点鎖線に沿って切断されて、電卓、時計などの電
子機器に装備される。またテープ1の上下端部には送り
穴4が形成されている。
TABテープ1は、配線部3の導電不良の有無などの導
電状態を検査する必要がある。かかる検査はTABテー
プ検査装置によって自動的に行う。
TABテープ検査装置による配線部3の導電状態の検査
について説明する。
TAB検査装置にTABテープ1が巻かれたり−ル2を
セットし、テープ入、は装置のスプロケットの回転動作
によって走行する。
そして、テープ1を1フレ一ム単位ごと測定装置に設け
られている検査治具に対し位置調整した後、配線部3を
検査治具に接触させるなどして、配線部3の導電状態を
検査している。
上記検査においては、TABテープ1を検査治具に対し
て正確に位置決めする必要がある。このため測定装置に
カメラを固定して設け、テープ1を撮像し、この像を予
め記憶された基準となる配線部の像と比較し、その結果
に基づいてテープ1と測定装置を相対的に移動して、テ
ープ1の検査治具に対する位置調整を行うようにしてい
る。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来の装置では、TABテープ1のみを
撮像し、位置調整を行うようにしているので、テープと
検査治具とのずれが生じやすい。
また、上記のTABテープ検査装置において高精度に位
置調整を行うためには、大がかりで、しかも、かなり高
い精度をもった検査装置が必要となる。
(課題を解決するための手段) 本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされた
ものであり、本発明は、表面に導電部が形成されている
テープを走行、停止させる手段と、テープ表面の導電部
に接触する検査治具を有し。
導電部の導電状態を測定する測定手段と、対向したテー
プと検査治具双方の位置を検出する位置検知手段と、こ
の位置検知手段の検出結果に基づいてテープと検査治具
を相対的に移動させる移動手段とを有して成る電子部品
検査装置である。
(作 用) 本発明では、位置検知手段によって、対向したテープと
検査治具双方の位置が検出される。そして、移動手段に
より1位置検知手段による検出結果に基づいて、テープ
と検査治具が相対的に移動させられ、テープの検査治具
に対する位置調整が行われる0次いで、測定手段の検査
治具がテープ表面の導電部に接触し、導電部の導電状態
が測定される。
(実 施 例) 以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図において符号10は、電子部品検査装置としての
TABテープ検査装置を示す。
同図において符号11は装置本体を示し、この装置本体
11には、一対のリール台12.13が設けられている
。リール台12には、供給リール15が取付けられてい
る。この供給リール15には、TABテープ1と、スペ
ースフィルム14が巻かれている。このスペースフィル
ム14は、リール15にTABテープ1が巻かれた状態
で運搬する際、TABテープ1が損傷するのを防止する
ためのものであり、TABテープ1間に介在するように
巻かれている。リール台13には収容り一ル16が取付
けられている。また装置本体11にはスペースフィルム
誘導用のローラー17が7個、配設されている。
装置本体11には、供給側アイドルリール18と供給側
スプロケット20、さらに収容側アイドルリール19と
収容側スプロケット21が配設されている。スプロケッ
ト20.21はモータによって駆動されるようになって
いる。
符号27.28はテープクランプを示し、このテープク
ランプ27.28によって、テープ1の導通状態を検査
する際に、テープ1が固定される。
テープクランプ27の左側には、テープ1の送り量等を
検知するためのセンサ29が配置されている。
符号23は測定装置を示し、この測定装置23は上下方
向、さらにテープ1が張られている方向(以下X方向と
いう)と、テープ1に直交する方向(以下Y方向という
)へ移動するようになっている。
測定装置!23の上面には第5図、第6図に示す検査治
具50が備えられている。この検査治具50は、導電性
ゴムシートによって構成されており、この導電性ゴムシ
ートは、加圧状態でまた無加圧状態のままで厚み方向に
導電路を形成する複数の導電路形成部とこれら導電路形
成部の相互間を絶縁する絶縁部とにより構成されてなる
ものである。
この導電性ゴムシートの具体的な構成例としては(1)
金属繊維や炭素繊維等の導電性繊維を弾性体シート中の
厚み方向に並列に埋設した構成、(2)導電性カーボン
を含有してなる導電性ゴムと絶縁性ゴムとを交互に積層
した構成、(3)粒径1〜100μ−程度の導電性磁性
体粒子を弾性体シート中に厚み方向に配列した状態で含
有させた構成などを挙げることができる。そして、この
導電性ゴムシ−トの下には、テープ1の被測定配線部3
と対応する測定電極が例えばプリント基板などの形態で
形成されている。
検査治具50にはテスターが接続されており。
検査治具にTABテープ1を接触させることによって第
10図に示したテープ1の配線部3の導電状態を測定す
ることができるようになっている。
測定装置23の上側には、加圧装置25が設けられてい
る。加圧装置25には、加圧板と加圧ばねによって構成
される加圧部が設けられ、この加圧部は測定装置23の
検査治具50に対向している。加圧装置25は上下方向
に動作できるようになっている。
符号30は、TABテープ1の検査治具との位置を検出
するための装置を示す。この装置30の詳細な構成を第
2図に示す。
同図において符号31は位置検知手段としての位置検出
装置を示し、この位置検出装置31はL字形状を有して
おり、Yテーブル32に固定されている。Yテーブル3
2はY方向移動自在にしてXテーブル33に取付けられ
、このYテーブル32はモータ35によって駆動される
ようになっている。Xテーブル33はX方向移動自在に
してベース34に取付けられ、このXテーブル33はモ
ータ36によって駆動されるようになっている。
第3図、第4図に位置検出装置31の内部構造を示す。
同図に示すように位置検出装置31のヘッド部38の先
端部上下面には、開口部4o、41が形成されている。
ヘッド部38内には、開口部40.41から入射した光
を直角方向へ反射するプリズム42が、支持台43に接
着されて設けられている。プリズム42の反射方向には
、対物レンズ44がレンズホルダ45に保持されて配置
されている。
さらにヘッド部38内の基端部には、反射プリズム46
が配設されている0反射プリズム46の反射方向には、
図示しないカメラ及び画像処理袋!!!60が備えられ
ており、対物レンズ44の結像を撮像し画像処理して位
置検出する。この画像処理装置60は、開口部40.4
1からの画像のずれ(光軸が一致しない部分)を修正し
て、2つの像の位置を検出する。カメラによって撮像さ
れた画像は第1図に示した装置本体に備えられているモ
ニターテレビ51に写し出されるようになっている。
符号48.49は照明灯を示し、これらの照明灯48.
49は、ヘッド部38の上下面先端部に図示しない機構
によって支持されている。この照明灯48.49は装置
周囲が明るければ省略できる。
次に、TABテープ検査装置10の動作について説明す
る。
TABテープ検査装置1oの作動開始時においては、加
圧装置25は上方に移動した状態となっており、この加
圧装置25の加圧部は、測定装置23の上面に設けられ
ている検査治具から離れた状態となっている。さらにテ
ープクランプ27.28は、テープ1を保持する状態に
なっておらず。
テープ1は走行可能な状態となっている。
スプロケット20.21の回転動作によって、供給リー
ル15からTABテープ1が引き出され、所定のピッチ
すなわち1フレ一ム単位(検査単位)毎、−点鎖線で示
す経路にしたがって送られ、収容リール16に巻き取れ
られる。この際、スペースフィルム14はスペースフィ
ルム誘導用ローラー17に誘導されて、収容リール16
に巻き取れられる。
テープ1の測定装置23に設けられた検査治具に対する
位置決め動作、ならびにテープ1の導電状態を検査する
ための動作について第8図のフローチャートにしたがっ
て説明する。
TABテープlが所定ピッチ送ら九ると、テープ1は停
止しくステップsi)、テープクランプ27.28によ
って、テープ1が保持され、テープ1の検査対象となる
部分が固定され、同時に平面度が保たれた状態となる(
ステップS2)、この時、測定装置23はテープ1と離
間対向した待機位置にいる。
そして、Yテーブル32とともに、位置検出装置31が
Y方向へ移動し1位置検出装置31のへラド部38は、
第5図、第6図、第7図に示すようにテープ1と測定装
置23との間へ進出する(ステップS3)。
第4図に示すように照明灯49によって測定装置23の
上面に設けられている検査治具50のエラ部分周辺が照
明される。この測定装置23側からの反射光は、開口部
41からヘッド部38内に入り、プリズム42によって
対物レンズ44に向かって反射される。さらに対物レン
ズ44を通過した光は1反射プリズム46によって反射
し、図示しないカメラに導か九で、対物レンズ44の結
像として検査治具50のエツジ部分がカメラによって撮
像される。そして1画像処理によって検査治具50のエ
ツジ部分の位置を検出し図示しない制御装置に記憶され
る(ステップS4)。
次に、照明灯48によってテープ1が照明される。この
テープ1側からの反射光は、開口部40からヘッド部3
8内に入り、プリズム42によって対物レンズ44に向
かって反射される。さらに対物レンズ44を通過した光
は、反射プリズム46によって反射し図示しないカメラ
に導かれて、対物レンズ44の結像としてテープ1の検
査対象となる部分がカメラによって撮像され1画像処理
によって検査対象の位置を検出する(ステップS、)。
尚、カメラに入射するテープ1、検査治具50の像はプ
リズム42により光軸が上下にずれるが。
このずれは画像処理装置60で予め修正されるので、上
下像の正確な位置が検出できる。
そして、この検出されたテープ1の位置と、既に記憶さ
れている検査治具50のエツジ部分の位置を比較し、検
査対象となるテープlの部分と、検査治具50とのずれ
を求め、測定袋!!23の移動を指示する(ステップS
6)、勿論、ずれが無ければ指示は出ない。
次いで、この検出結果に基づいて測定装置23をX方向
およびY方向へ移動させて、テープ1の検査治具50に
対する位置合わせを行う(ステップS7)。
その後、位置検出装置31をYテーブル32とともにY
方向へ移動させ、位置検出装置31のへラド部38を、
テープ1と測定装置23との間の外へ後退させる(ステ
ップS、)。
次いで、測定装置23を上昇させてから加圧部!!i2
5を下降させ、加圧部によって、テープ1の配線部3を
検査治具50に押し付けて、配線部3の導電状態を検査
する(ステップSg)。
さらに、検査装置10は検査開始前の状態に復帰して(
ステップS工。)、テープ1の走行、停止、テープクラ
ンプ27.28によるテープ1の保持。
加圧装置25の下降、および測定装置23の上昇による
テープ1の配線部3の導電状態の検査の工程を繰り返し
て行う。
尚、上記の位置検出装[31による測定装置l!23の
検査治具5oのエツジ部分の撮像ならびにエツジ部分の
位置記憶、テープ1の撮像、さらに測定袋[23の位置
調整動作を行う時期は任意設定することが可能であるが
、実際の測定作業においては、一つの供給リール15に
巻装されたテープ1の検査が終了し、新たに検査するテ
ープ1が巻装されている供給リール15を検査装置10
に取付けて、装置を再始動した際に行うようにする。
また、テープ1の位置と検査治具50との位置にずれが
生じ、検査が行えなくなった場合にのみ上記位置調整動
作を行うようにしてもよい、さらにテープ1の所定数の
単位フレーム毎や室温が変わった時等に行うようにして
もよい、そして、くり返しの位置調整動作ではテープ側
のみ撮像、画像処理して、既に記憶した検査治具の位置
と比較してもよい。
(発明の効果) 以上のように本発明によれば、テープならびに検査治具
の双方の位置を検出して、両者の位置を調整する位置調
整手段を具備したので、テープと検査治具とのずれの発
生を防止でき、位置調整を高精度に行うことが可能とな
る。しかも検査装置を、小型のものとでき、また比較的
簡易なものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はTABテープ検査装置の構成を示す図、第2図
は第1図のTABテープ検査装置に搭載されでいる位置
検出装置ならびにその駆動機構を示す斜視図、第3図と
第4図は位置検出装置の内部構造を示す図、第5図から
第7図は位置検出装置の動作を示す図、第8図はテープ
の検査治具に対する位置決め動作ならびにテープ1の導
電状態の検査動作を示すフローチャート、第9図と第1
0図はTABテープを示す図である。 1・・・TABテープ、3・・・配線部、10・・・T
AB検査装置、23・・・測定装置、31・・・位置検
出装置、50・・・検査治具 市Z図 うυ 閃 %C図 v)7目 v>q 圀 うlθ幻

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 表面に導電部が形成されているテープを走行、停止させ
    る手段と、テープ表面の導電部に接触する検査治具を有
    し、導電部の導電状態を測定する測定手段と、対向した
    テープと検査治具双方の位置を検出する位置検知手段と
    、この位置検知手段の検出結果に基づいてテープと検査
    治具を相対的に移動させる移動手段とを有する電子部品
    検査装置。
JP1291731A 1989-11-09 1989-11-09 電子部品検査装置 Pending JPH03152480A (ja)

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JP1291731A JPH03152480A (ja) 1989-11-09 1989-11-09 電子部品検査装置

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63215974A (ja) * 1987-03-04 1988-09-08 Nec Corp ハンドリング装置
JPH01125837A (ja) * 1987-11-10 1989-05-18 Tokyo Electron Ltd プロービング方法
JPH01184473A (ja) * 1988-01-19 1989-07-24 Kyoei Sangyo Kk プリント配線板検査機の位置合せ装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63215974A (ja) * 1987-03-04 1988-09-08 Nec Corp ハンドリング装置
JPH01125837A (ja) * 1987-11-10 1989-05-18 Tokyo Electron Ltd プロービング方法
JPH01184473A (ja) * 1988-01-19 1989-07-24 Kyoei Sangyo Kk プリント配線板検査機の位置合せ装置

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