JPH03138364A - 強誘電体膜形成用ターゲット材 - Google Patents

強誘電体膜形成用ターゲット材

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JPH03138364A
JPH03138364A JP27553489A JP27553489A JPH03138364A JP H03138364 A JPH03138364 A JP H03138364A JP 27553489 A JP27553489 A JP 27553489A JP 27553489 A JP27553489 A JP 27553489A JP H03138364 A JPH03138364 A JP H03138364A
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Tadashi Sugihara
杉原 忠
Yukihiro Ouchi
大内 幸弘
Fumio Noda
納田 文男
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、近年、ICのキャパシタ絶縁膜や分極の反
転を利用する強誘電体メモリーなどとして注目を集めて
いる組成式: Pb(Z r  。
Tit−x)03、ただしx : 0.42〜0.[i
8、並びに同p b t−yΦLa、(ZrxlTil
−x)03、ただしx : 0.42〜0.68、y 
: 0.12以下(以上モル比)を有する強誘電体膜を
形成するのに用いられるターゲット材に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来、上記の強誘電体膜を、例えばスパッタリング法に
より形成する方法として、特開昭62−83463号公
報に記載されるように、ターゲット材としてPbターゲ
ット材、Zrターゲット材、およびT1ターゲット材、
さらにLaターゲット材を用い、酸素含有雰囲気中で、
これらの別個に設置されたターゲット材に対して、同時
にスパッタを行なうことにより形成する方法が知られて
いる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記の従来方法では、スパッタを複数のターゲ
ット材に対して同時に行なわなければならず、このため
所定組成の強誘電体膜形成にはターゲット材毎のスパッ
タ制御が必要となり、この場合スパッタ速度を速くする
と、それだけ夕一ゲット材のスパッタ制御が困難となり
、膜組成が激しく変動するようになるので、スパッタ速
度を速く、すなわち膜形成速度を速くすることができな
いのが現状である。
〔課題を解決するための手段〕
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、高速ス
パッタでも所定組成の強誘電体膜を安定して形成するこ
とができるターゲット材を開発すべく研究を行なった結
果、 まず、形成せんとする強誘電体膜の組成に対応して所定
の割合に配合され、混合されたZr粉末とT1粉末、あ
るいはZr粉末とTi粉末とLa粉末から、仮焼結、焼
結、あるいはホットプレスなどの手段により、これら粉
末相互が結合し、かつ同じく形成せんとする強誘電体膜
のPb含有量に対応して定めた10〜50%の空孔率を
もった多孔質の結合成形体を形成し、 この結合成形体の空孔に、強誘電体膜の構成成分である
Pbを溶浸含有させることにより形成したターゲット材
は、Z r、T I、およびPb、さらにLaが強誘電
体膜形成に適合した割合で、それぞし微細均一に分布し
た状態)二なっているので、このターゲット材に直接ス
パッタを行なうだけで所定組成の強誘電体膜を形成する
ことができ、従来法のようにターゲット材相互のスパッ
タ制御は必要がないので、スパッタ速度を速くしても膜
組成に変動は起らず、安定した組成の強誘電体膜を速い
膜形成速度で形成することができるようになるという研
究結果を得たのである。
この発明は、上記研究結果にもとづいてなされたもので
あって、 いずれも10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi
粉末の結合成形体、またはZr粉末とTi粉末とLa粉
末の結合成形体の空孔に、Pbを溶浸含有してなる強誘
電体膜形成用ターゲット材に特徴を有するものである。
なお、この発明のターゲット材において、これを構成す
る結合成形体の10〜50%の空孔率は、上記の通り形
成される強誘電体膜の組成に則して定めたものであって
、空孔率が10%未満でも、また空孔率が50%を越え
ても、これにえI応して、これに溶浸含HされるPbの
含6割合が低く、あるいは高くなりすぎ、他の構成成分
であるZr、T1.およびLaの含有割合との関係で所
定組成の強誘電体膜を形成することができなくなるとい
う理由によるものである。
〔実 施 例〕
つぎに、この発明のターゲット材を実施例により具体的
に説明する。
原料粉末として、いずれも99.99%の純度を有し、
かつ5〜100mの範囲内の所定の(1シ均粒径を有す
るZr粉末、T1粉末、およびLa粉末を用意し、これ
ら原料粉末を、それぞれ第1表に示される割合に配合し
、乾式V形混合機で1時間混合した後、1〜5ton/
cdの範囲内の所定の圧力でプレス成形して圧粉体を成
形し、ついでこの圧粉体に、 (a)  水素雰囲気中、温度ニア00℃に1時間保持
の条件での仮焼結、あるいは、 (b)  真空雰囲気中、温度=500℃に、100k
g/cシの圧力を付加しながら36時間保持の条件での
ホットプレス、 を施して同じく第1表に示される空孔率をもった結合成
形体を形成し、引続いてこの結合成形体の上面に純度:
99.99%のPbブロックを載置した状態で、IO’
torr以下の真空中、温度=400℃に1時間保持の
条件でPbb浸処理を行ない、さらにPb溶浸没後スパ
ッタ時のPbb浸部の異常放電と異常溶融を防止する目
的で、10’torr以下の真空中、温度:280℃に
10時間保持の条件で熱処理を施すことにより、ターゲ
ット材に占める割合で、それぞれ第1表に示される成分
組成、並びに外径=50龍φ×厚さ:5mmの寸法をも
った本発明ターゲット材1〜10をそれぞれ製造した。
ついで、この結果得られた本発明ターゲット材1〜IO
を用い、機械加工により、その寸法を外径:50龍φX
厚さ:4■鵬とし、かつ無酸素銅製のバッキングプレー
トにはんだ付けした状態で、市販の直流スパッタリング
装置およびマグネトロン型高周波スパッタリング装置に
て、前記直流スパッタリング装置では、 付加型カニ BOW (電圧:直流200V)、基  
体:MgO単結晶、 基体温度ニア00℃、 雰囲気ガス組成: A r / 02−2 / I (
容量比)、雰囲気圧カニ 1OLorr、 基体−ターゲット材間の距fil : 50m■、の条
件で、また高周波スパッタリング装置では、高周波型カ
ニ 100 W。
基   体:SrTiO3単結晶、 基体温度=700℃、 雰囲気ガス組成:Ar10□−3/1(容量比)、雰囲
気圧カニ 20torr、 基体−ターゲット材間の距i!fl : 70+n、の
条件でそれぞれ平均層厚二0.7−の強、A電体膜を形
成し、これに要した時間を測定し、第1表に示した。な
お、第1表には、上記の従来法で同じ厚さにして、同じ
組成の強誘電体膜を形成するのに要した時間を1とし、
これに対する割合、すなわち膜形成相対時間比で示した
。また、第1表にはEPMA分析法(電子線マイクロア
ナリシス)による膜組成を示した。さらにこれらの形成
された強誘電体膜をXRD分析法(X線回折法)にて観
察した≧ころ、いずれもC軸に配向したペロブスカイト
型結晶構造を示した。
〔発明の効果〕
第1表に示される結果から、本発明ターゲット材1〜l
Oにおいては、従来法におけるよりも速いスパッタ速度
で、いずれもペロブスカイト型結晶構造を有する強誘電
体膜を安定的に形成することができることが明らかであ
る。
上述のように、この発明のターゲット材によれば、これ
を構成するZr、Ti、およびPb、さらにLaが微細
均一に分布した状態になっているので、複数ターゲット
材を用いる従来法のようなターゲット材相互のスパッタ
制御を行なうことなく、速いスパッタ速度で、かつ膜組
成に変動なく強誘電体膜を安定的に形成することができ
るなど工業上有用な効果がもたらされるのである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi粉
    末の結合成形体の空孔に、Pbを溶浸含有してなる強誘
    電体膜形成用ターゲット材。
  2. (2)10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi粉
    末とLa粉末の結合成形体の空孔に、Pbを溶浸含有し
    てなる強誘電体膜形成用ターゲット材。
JP27553489A 1989-10-23 1989-10-23 強誘電体膜形成用ターゲット材 Expired - Fee Related JP2734687B2 (ja)

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