JP2734687B2 - 強誘電体膜形成用ターゲット材 - Google Patents

強誘電体膜形成用ターゲット材

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、近年、ICのキャパシタ絶縁膜や分極の反
転を利用する強誘電体メモリーなどとして注目を集めて
いる組成式:Pb(Zrx,Ti1-x)O3、ただしx:0.42〜0.68、
並びに同Pb1-y・Lay(Zrx,Ti1-x)O3、ただしx:0.42〜
0.68、y:0.12以下(以上モル比)を有する強誘電体膜を
形成するのに用いられるターゲット材に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来、上記の強誘電体膜を、例えばスパッタリング法
により形成する方法として、特開昭62−83463号公報に
記載されるように、ターゲット材としてPbターゲット
材、Zrターゲット材、およびTiターゲット材、さらにLa
ターゲット材を用い、酸素含有雰囲気中で、これらの別
個に設置されたターゲット材に対して、同時にスパッタ
を行なうことにより形成する方法が知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記の従来方法では、スパッタを複数のター
ゲット材に対して同時に行なわなければならず、このた
め所定組成の強誘電体膜形成にはターゲット材毎のスパ
ッタ制御が必要となり、この場合スパッタ速度を速くす
ると、それだけターゲット材のスパッタ制御が困難とな
り、膜組成が激しく変動するようになるので、スパッタ
速度を速く、すなわち膜形成速度を速くすることができ
ないのが現状である。
〔課題を解決するための手段〕
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、高速
スパッタでも所定組成の強誘電体膜を安定して形成する
ことができるターゲット材を開発すべく研究を行なった
結果、 まず、形成せんとする強誘電体膜の組成に対応して所
定の割合に配合され、混合されたZr粉末とTi粉末、ある
いはZr粉末とTi粉末とLa粉末から、仮焼結、焼結、ある
いはホットプレスなどの手段により、これら粉末相互が
結合し、かつ同じく形成せんとする強誘電体膜のPb含有
量に対応して定めた10〜50%の空孔率をもった多孔質の
結合成形体を形成し、 この結合成形体の空孔に、強誘電体膜の構成成分であ
るPbを溶浸含有させることにより形成したターゲット材
は、Zr,TiおよびPb,さらにLaが強誘電体膜形成に適合し
た割合で、それぞれ微細均一に分布した状態になってい
るので、このターゲット材に直接スパッタを行なうだけ
で所定組成の強誘電体膜を形成することができ、従来法
のようにターゲット材相互のスパッタ制御は必要がない
ので、スパッタ速度を速くしても膜組成に変動は起ら
ず、安定した組成の強誘電体膜を速い膜形成速度で形成
することができるようになるという研究結果を得たので
ある。
この発明は、上記研究結果にもとづいてなされたもの
であって、 いずれも10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi粉末の
結合成形体、またはZr粉末とTi粉末とLa粉末の結合成形
体の空孔に、Pbを溶浸含有してなる強誘電体膜形成用タ
ーゲット材に特徴を有するものである。
なお、この発明のターゲット材において、これを構成
する結合成形体の10〜50%の空孔率は、上記の通り形成
される強誘電体膜の組成に則して定めたものであって、
空孔率が10%未満でも、また空孔率が50%を越えても、
これに対応して、これに溶浸含有されるPbの含有割合が
低く、あるいは高くなりすぎ、他の構成成分であるZr,T
i,およびLaの含有割合との関係で所定組成の強誘電体膜
を形成することができなくなるという理由によるもので
ある。
〔実 施 例〕
つぎに、この発明のターゲット材を実施例により具体
的に説明する。
原料粉末として、いずれも99.99%の純度を有し、か
つ5〜100μmの範囲内の所定の平均粒径を有するZr粉
末、Ti粉末、およびLa粉末を用意し、これら原料粉末
を、それぞれ第1表に示される割合に配合し、乾式V形
混合機で1時間混合した後、1〜5ton/cm2の範囲内の所
定の圧力でプレス成形して圧粉体を成形し、ついでこの
圧粉体に、 (a) 水素雰囲気中、温度:700℃に1時間保持の条件
での仮焼結、あるいは、 (b) 真空雰囲気中、温度:500℃に、100kg/cm2 の圧力を付加しながら36時間保持の条件でのホットプレ
ス、 を施して同じく第1表に示される空孔率をもった結合成
形体を形成し、引続いてこの結合成形体の上面に純度:9
9.99%のPbブロックを載置した状態で、10-2torr以下の
真空中、温度:400℃に1時間保持の条件でPb溶浸処理を
行ない、さらにPb溶浸後、スパッタ時のPb溶浸部の異常
放電と異常溶融を防止する目的で、10-2torr以下の真空
中、温度:280℃に10時間保持の条件で熱処理を施すこと
により、ターゲット材に占める割合で、それぞれ第1表
に示される成分組成、並びに外径:50mmφ×厚さ:5mmの
寸法をもった本発明ターゲット材1〜10をそれぞれ製造
した。
ついで、この結果得られた本発明ターゲット材1〜10
を用い、機械加工により、その寸法を外径:50mmφ×厚
さ:4mmとし、かつ無酸素銅製のバッキングプレートには
んだ付けした状態で、市販の直流スパッタリング装置お
よびマグネトロン型高周波スパッタリング装置にて、前
記直流スパッタリング装置では、 付加電力:60W(電圧:直流200V)、 基 体:MgO単結晶、 基体温度:700℃、 雰囲気ガス組成:Ar/O2=2/1(容量比)、 雰囲気圧力 :10torr、 基体−ターゲット材間の距離:50mm、 の条件で、また高周波スパッタリング装置では、 高周波電力:100W、 基 体:SrTiO3単結晶、 基体温度 :700℃、 雰囲気ガス組成:Ar/O2=3/1(容量比)、 雰囲気圧力 :20torr、 基体−ターゲット材間の距離:70mm、 の条件でそれぞれ平均層厚:0.7μmの強誘電体膜を形成
し、これに要した時間を測定し、第1表に示した。な
お、第1表には、上記の従来法で同じ厚さにして、同じ
組成の強誘電体膜を形成するのに要した時間を1とし、
これに対する割合、すなわち膜形成相対時間比で示し
た。また、第1表にはEPMA分析法(電子線マイクロアナ
リシス)による膜組成を示した。さらにこれらの形成さ
れた強誘電体膜をXRD分析法(X線回折法)にて観察し
たところ、いずれもC軸に配向したペロブスカイト型結
晶構造を示した。
〔発明の効果〕
第1表に示される結果から、本発明ターゲット材1〜
10においては、従来法におけるよりも速いスパッタ速度
で、いずれもペロブスカイト型結晶構造を有する強誘電
体膜を安定的に形成することができることが明らかであ
る。
上述のように、この発明のターゲット材によれば、こ
れを構成するZr,Ti,およびPb,さらにLaが微細均一に分
布した状態になっているので、複数ターゲット材を用い
る従来法のようなターゲット材相互のスパッタ制御を行
なうことなく、速いスパッタ速度で、かつ膜組成に変動
なく強誘電体膜を安定的に形成することができるなど工
業上有用な効果がもたらされるのである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/203 C04B 35/49 Z 21/822 H01L 27/04 C 27/04 (56)参考文献 特開 昭60−211069(JP,A) 特開 昭64−6306(JP,A) 特開 平1−96368(JP,A)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi粉末
    の結合成形体の空孔に、Pbを溶浸含有してなる強誘電体
    膜形成用ターゲット材。
  2. 【請求項2】10〜50%の空孔率を有するZr粉末とTi粉末
    とLa粉末の結合成形体の空孔に、Pbを溶浸含有してなる
    強誘電体膜形成用ターゲット材。
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