JPH03131984A - 実装基板検査装置のティーチング方法 - Google Patents

実装基板検査装置のティーチング方法

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JPH03131984A
JPH03131984A JP1270600A JP27060089A JPH03131984A JP H03131984 A JPH03131984 A JP H03131984A JP 1270600 A JP1270600 A JP 1270600A JP 27060089 A JP27060089 A JP 27060089A JP H03131984 A JPH03131984 A JP H03131984A
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JP
Japan
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land
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teaching
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JP1270600A
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Toshio Nakagawa
中川 敏夫
Toshihiro Kawahara
河原 敏弘
Hideya Ohata
大畑 秀弥
Takashi Tamura
尚 田村
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は基板に実装された部品の映像を個別にチエツク
し装着状態の良否を判定するという作業を行わせるため
の、検査装置のティーチンク方法に関する。
(ロ)従来の技術 電子回路を構成するにあたり、近年ますます多(の表面
実装型部品が用いられるようになっている。基板のスル
ーホールにリードを挿入するものに比べ、表面実装型部
品はランドに対し位置ずれを生じやすく、そのため半田
付工程の前に装着状態を検査して、その部品が良好な半
田接続を得られるか、どうかを調べる必要がある。この
ような目的に用いられる装置の例として、特開昭63−
90707号公報に記載されたもの、あるいは特開昭5
4−26988号公報に記載されたものを挙げることが
できる。これらの装置はいずれもテレビカメラにより基
板の映像をとり込み、検査対象部品の画像を個別にチエ
ツクして装着状態の良否判定を行っている。
e)発明が解決しようとする課題 装着状態の良否判定にあたっては、部品とランドの重な
り具合が重要なファクターになる。そこで、部品とラン
ドの位置及び形状寸法を個々に求め、双方のデータをつ
き合わせて重なり具合をチエツクする、という作業を行
う。そのため部品形状とランド形状を実際の基板からテ
ィーチングしておかねばならない。本発明はこのティー
チングの能率を向上させようとするものである。
(ハ)課題を解決するための手段 本発明では、ランドパターンのティーチングを下記ステ
ップに従って行う。
A、ランドの形状・寸法と部品に対する位置関係の規範
を、部品の種類に応じ設定するステップ。
B、前記ランドの規範形状を、部品装着データにより規
定される位置に、ランドの実画像に重ねて表示するステ
ップ。
C0前記ランドの実画像と規範形状との重なり具合から
、その規範形状をランドの実際形状に相当するものとし
て無修正のまま登録して良いか、どうかを決定するステ
ップ。
D、ステップCで規範形状の流用不可となったランドに
つき、実際形状に則してティーチングを行うステップ。
E・ ステップCで修正の必要なしと判定した規範形状
またはステップDでティーチングにより新たにとり込ん
だランドデータを正式のランドデータとして登録するス
テップ。
(ト)作用 特定の部品に組み合わせられるべきランドにつきティー
チングを行う時、その部品についての規範的なランド形
状が自動的にデイスプレィ画面に表示されるので、その
規範的な形状とランドの実画像との重なり具合をチエツ
クして、重なり具合が満足すべきものである場合にはそ
の規範形状をそのまま正式のランドデータとして登録す
る。
うまく重ならない場合のみ個々のランド形状をティーチ
ングし、修正データとして登録する。
(へ)実施例 第1図に実装基板検査装置1の全体構成を示す。10は
XYステージ部で、実装基板2を載置するXYステージ
11を備^ている。20は基板2に対し所定の方向から
所定の光量、スペクトル構成の光を照射する照明部、3
0は基板2の一定領域を視野におさめるテレビカメラ8
1を備えた撮像部、40は各種処理と指令を行う処理部
である。41は処理部40の中枢をなす中央処理部で、
これにはパスライン42を介し、A/D変換部43・画
像処理部44、メモリ45、撮像コントローラ46、X
Yステージコントローラ47、映像用デイスプレィ装置
48、データ用デイスプレィ装置49、キーボード50
、プリンタ51が1続されている。撮像コントローラ4
6は撮像部3゜及び照明部20を制御するものであり、
撮像部80においてはテレビカメラ31のズーミングや
露出調整を、解明部20においては照度調整や照明方向
の切替を行う。
上記装置1におけるランドパターンのティーチングは、
次の手順を踏んで行われる。
ステップA二検査対象とする基板に用いられる部品につ
き、ランドの形状・寸法と部品に対する位置関係の規範
を、部品メーカーの推奨値におさまるよう設定する。こ
れは、部品形状を与えてやれば計算プログラムで自動的
に計算される。第2図1乙部品8と、計算によって得ら
れたランド規範形状4を示す。検査対象部品全種につき
予め計算を済ませておく。
ステップB:XYステージ11を移動させてテレビカメ
ラ31の視野中央に検査対象のランドパターンを置く。
この場合、部品装着用の部品位置データをXYステージ
の移動データとしてそのまま利用することができる。テ
レビカメラ81のとり込んだ映像はA/D変換部43を
経て画像処理部44へ送られ、コントラスト強調等必要
な処理を施された上で映像用デイスプレィ装置48に表
示される。ここで中央処理部41が、ランドの実画像5
に重ねて、部品装着データにより規定される位置に1ラ
ンドの規範形状4を表示する(第8図)。6は部品を装
着すべき位置、すなわち部品中心を示す十字マークであ
る。
ステップC:ランドの実画像5と規範形状4との重なり
具合をチエツクし、規範形状4がランドの実際形状に相
当するものとして無修正のまま登録して良いか、どうか
を決定する。この決定もパターンマツチングのプログラ
ムによって自動的に行うことができる。
ステップDニステップCで規範形状4の流用不可となっ
たランドにつき、実際形状に則してティーチングを行う
。第4図に、規範形状4と実画像5との不一致により要
修正となった例を示す。この時には第5図のように中央
処理部41により十字形のカーソル7を表示させ、キー
ボード5oの操作によりランド実画像5の対角の隅にカ
ーソル7を合わせると、ランドの寸法及び位置がティー
チングされたことになる。
ステップEニステップCで修正の必要なしと判定された
ランドデータ(すなわち規範データ)またはステップD
で修正を施したランドデータ(実際のランド形状からテ
ィーチングしたデータ)を正式のランドデータとして登
録する。修正を施したランドデータはメモリ45のバッ
ファ領域52に登録する。
以下同様の手順を繰り返し、検査対象個所のすべてにつ
きランドパターンのティーチングを進めて行く。その間
の処理の流れは第7図に示すとおりである。データ用デ
イスプレィ装置49は、部品3またはランド4に関する
データを文字・数字で時々刻々に表示するのに用いる。
さてステップDで修正を施したランドデータは、後のテ
ィーチング作業に利用することができる。
すなわちランドデータの修正を行ったものと同種の部品
に遭遇した時には、規範形状4に代え修正登録済のラン
ド形状8を表示する(第6図)。以下の処理は第8図の
ように進行する。計算により求めた規範形状よりも、こ
ちらの方が重なりの確率が高くなる。
(ト)発明の効果 本発明によれば、ランドの実画像に重ねて規範的なラン
ド形状をデイスプレィ画面に表示し、重なり具合が満足
すべきものであれば規範形状をそのまま正式のランド形
状として登録するようにしたものであるから、−々実画
像からティーチングする手間を省くことができ、ティー
チング作業がスピードアップする。この効果は1枚の基
板に装着される部品麩が多くなるほど顕著である。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明により実装基板の検査を行う検査装置の
構成を示すブロック図、第2図乃至第6図はデイスプレ
ィ画面の模型図、第7図及び第8図は処理のフローチャ
ートである。 2・・・基板、3・・・部品、4・・・ランドの規範形
状、5・・・ランドの実画像。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)下記ステップを含むことを特徴とする実装基板検
    査装置のティーチング方法。 A.ランドの形状・寸法と部品に対する位置関係の規範
    を、部品の種類に応じ設定するステップ。 B.前記ランドの規範形状を、部品装着データにより規
    定される位置に、ランドの実画像に重ねて表示するステ
    ップ。 C.前記ランドの実画像と規範形状との重なり具合から
    、その規範形状をランドの実際形状に相当するものとし
    て無修正のまま登録して良いか、どうかを決定するステ
    ップ。 D.ステップCで規範形状の流用不可となったランドに
    つき、実際形状に則してティーチングを行うステップ。 E.ステップCで修正の必要なしと判定した規範形状ま
    たはステップDでティーチングにより新たにとり込んだ
    ランドデータを正式のランドデータとして登録するステ
    ップ。
JP1270600A 1989-10-18 1989-10-18 実装基板検査装置のティーチング方法 Expired - Lifetime JPH07120423B2 (ja)

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JPH03131984A true JPH03131984A (ja) 1991-06-05
JPH07120423B2 JPH07120423B2 (ja) 1995-12-20

Family

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63113681A (ja) * 1986-10-30 1988-05-18 Omron Tateisi Electronics Co 実装基板検査装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS63113681A (ja) * 1986-10-30 1988-05-18 Omron Tateisi Electronics Co 実装基板検査装置

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