JPH03129684A - 電子部品用端子 - Google Patents
電子部品用端子Info
- Publication number
- JPH03129684A JPH03129684A JP26678389A JP26678389A JPH03129684A JP H03129684 A JPH03129684 A JP H03129684A JP 26678389 A JP26678389 A JP 26678389A JP 26678389 A JP26678389 A JP 26678389A JP H03129684 A JPH03129684 A JP H03129684A
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- Japan
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- temperature
- surface layer
- terminal
- solder
- base material
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- Pending
Links
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000011282 treatment Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 abstract 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は電子部品に用いて半田付けにて接続する電子部
品用端子に関するものである。
品用端子に関するものである。
[従来の技術]
一般に端子は母材そのままであると半田付けで接続する
とき半田の半田濡れ性が悪いという問題がある。そこで
従来、端子の半田濡れ性をよくするためSnとpbの比
が90710の半田の表面層を端子の母材(鉄−ニッケ
ル系合金、銅系合金′4)の表面に電気メツキや溶融〆
・ンキにて被覆している。
とき半田の半田濡れ性が悪いという問題がある。そこで
従来、端子の半田濡れ性をよくするためSnとpbの比
が90710の半田の表面層を端子の母材(鉄−ニッケ
ル系合金、銅系合金′4)の表面に電気メツキや溶融〆
・ンキにて被覆している。
[発明が解決しようとする課題1
ところが、Snとpbとの比が90/10の梓通の半田
の融点は200℃前後であるため、高温で溶融しやすい
。つまり電子部品は加速度劣化試験等をするとき高温処
理や水魚A処理をするが、このような処理をすると表面
層の半田が溶融して母材が露出しな1)することがあり
、半田付けするとき半田の濡れ性が悪くなることがあり
、表面層の半田を厚く被覆する必要がある。まrこ表面
層の半田の被覆厚を厚くしても、端子接合のため半田浸
漬をしたりするとき半田が溶融して部分的に薄くなる部
分ができて半田の濡れ性を確保できないという問題があ
る。
の融点は200℃前後であるため、高温で溶融しやすい
。つまり電子部品は加速度劣化試験等をするとき高温処
理や水魚A処理をするが、このような処理をすると表面
層の半田が溶融して母材が露出しな1)することがあり
、半田付けするとき半田の濡れ性が悪くなることがあり
、表面層の半田を厚く被覆する必要がある。まrこ表面
層の半田の被覆厚を厚くしても、端子接合のため半田浸
漬をしたりするとき半田が溶融して部分的に薄くなる部
分ができて半田の濡れ性を確保できないという問題があ
る。
本発明はg、述の点に鑑みてなされたものであって、本
発明の目的とするところは表面層が高温でも溶融しなく
て半田濡れ性に優れた電子部品用端子を提供するにある
。
発明の目的とするところは表面層が高温でも溶融しなく
て半田濡れ性に優れた電子部品用端子を提供するにある
。
[課題を解決するための手段1
上記目的を達成するため本発明電子部品用端子は、端子
の母材1の表面に融点が270℃以上の高温半田の表面
層2を被覆して成ることを特徴とする。
の母材1の表面に融点が270℃以上の高温半田の表面
層2を被覆して成ることを特徴とする。
f作用]
高温半田の表面N2のため加速度劣化試験、または端子
接続や部品実装等の後工程で高温にさらされても表面N
2が溶融することなく半田の濡れ性を確保できる。
接続や部品実装等の後工程で高温にさらされても表面N
2が溶融することなく半田の濡れ性を確保できる。
[実施例]
端子の母材1は鉄−ニッケル系合金や銅糸合金にて形成
され、この母材1の表面に融点が270°C以上の高温
半田の表面層2が被覆されている。
され、この母材1の表面に融点が270°C以上の高温
半田の表面層2が被覆されている。
ここで270 ’Cとは加速度劣化試験、または端子接
続や部品実装等の後工程でさらされる高温で溶融しない
温度である二高温半田の表面層2を被覆する厚さは3μ
−以上が望ましいが特に限定されるものでない。高温半
田の表面層2を被覆する方法はミスメツキであっても、
溶融半田メ・ンキであ・ても、その他の方法であっても
よい。
続や部品実装等の後工程でさらされる高温で溶融しない
温度である二高温半田の表面層2を被覆する厚さは3μ
−以上が望ましいが特に限定されるものでない。高温半
田の表面層2を被覆する方法はミスメツキであっても、
溶融半田メ・ンキであ・ても、その他の方法であっても
よい。
上記高温半田としては例えば次の組成のものがある。
Sn/Pb/八g= 8へ90/2−8点285−29
6℃Sn/Pb/^g= 2/95.5/2.5・・・
融点300−305”CPb/^、= 97,5/2,
5・・・融点304℃Pb/Sn= 90/10・”融
点280−300°C具体的な商品として次のものがあ
る。
6℃Sn/Pb/^g= 2/95.5/2.5・・・
融点300−305”CPb/^、= 97,5/2,
5・・・融点304℃Pb/Sn= 90/10・”融
点280−300°C具体的な商品として次のものがあ
る。
千住金属91# 295(融点285〜296℃)、井
304(融点304℃) 日本スペリア製5n515(融点296〜301”C)
タムラ製作所製No−900(融点300〜321°C
)このような高温半田の表面層2が被覆された端子は高
温にさらされても溶融することなく、十分な半田濡れ性
があって高い信頼性のある半田付は接続ができる。
304(融点304℃) 日本スペリア製5n515(融点296〜301”C)
タムラ製作所製No−900(融点300〜321°C
)このような高温半田の表面層2が被覆された端子は高
温にさらされても溶融することなく、十分な半田濡れ性
があって高い信頼性のある半田付は接続ができる。
r発明の効果]
本発明は叙述の如く端子の母Hの表面に融点が270℃
以上の高温半田の表面層を被覆しているので、表面層が
従来のように後工程で高温にさらされても溶融すること
がないものであって、端子接合、実装等の後加工でも当
初形成した厚みを保持して十分な半田濡れ性を保持する
も、のであり、また種々の処理(im温保存、高温高湿
処理、スチーム処理)¥?の後にも十分に優れた半田濡
れ性を示すものであり、高い信頼性を得ることができる
ものである。
以上の高温半田の表面層を被覆しているので、表面層が
従来のように後工程で高温にさらされても溶融すること
がないものであって、端子接合、実装等の後加工でも当
初形成した厚みを保持して十分な半田濡れ性を保持する
も、のであり、また種々の処理(im温保存、高温高湿
処理、スチーム処理)¥?の後にも十分に優れた半田濡
れ性を示すものであり、高い信頼性を得ることができる
ものである。
PIS1図は本発明の一実施例の断面図であって、1は
母材、2は表面層である。
母材、2は表面層である。
Claims (1)
- [1]端子の母材の表面に融点が270℃以上の高温半
田の表面層を被覆して成ることを特徴とする電子部品用
端子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26678389A JPH03129684A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 電子部品用端子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26678389A JPH03129684A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 電子部品用端子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03129684A true JPH03129684A (ja) | 1991-06-03 |
Family
ID=17435630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26678389A Pending JPH03129684A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 電子部品用端子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03129684A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62176073A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-08-01 | 三菱電機株式会社 | 接触子用材料の製造方法 |
JPH0218989A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半田付け方法 |
-
1989
- 1989-10-14 JP JP26678389A patent/JPH03129684A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62176073A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-08-01 | 三菱電機株式会社 | 接触子用材料の製造方法 |
JPH0218989A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半田付け方法 |
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