JPH03113855A - 光磁気記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、使用する光記録媒体ごとに最適な差動比率調
整をおこなうことによって再生時のＳ／Ｎ比を向上させ
る光磁気記録再生装置に関するものである。

〔従来の技術〕

従来の光磁気記録再生装置について、ここでは光磁気メ
モリ装置を例に挙げて説明する。

光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ装
置をとりあげ、光磁気ディスクに対する情報の記録、記
録された情報の再生、およびその消去の各動作について
第２６図ないし第３３図に基づいて説明すると以下のと
おりである。

まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気ディ
スクに記録された情報の消去の各動作について第２６図
に基づいて説明する。

情報の記録・消去が可能な光磁気記録媒体としての光磁
気ディスクは、同図（ａ）に示すように、ディスク基板
２８０４上に、成膜された記録磁性膜２８０５が形成さ
れている。記録磁性膜２８０５は、磁化容易軸がその膜
面に垂直な方向になるように成膜されており、予め同一
の向き（例えば、同図中の磁化の向きＡ）にイニシャラ
イズされている。さて、半導体レーザ２８０１から出射
されたレーザビーム２８０３は対物レンズ２８０２で１
μｍ程度の径に集光され、記録磁性膜２８０５に照射さ
れる。記録すべき情報に対応する記録信号２８０７　（
同図（ｂ）に示す）に基づいてレーザビーム２８０３の
光強度の強弱が制御される。光強度の強いレーザビーム
２８０３が照射された部分の温度は局所的に上昇してキ
ュリー温度を越えると、その部分の保磁力が著しく低下
する。そして、その部分の磁化の向きは、予め印加され
ていた外部印加磁場２８０６と同一の向き（同図中の磁
化の向きＢ）に反転する。このようにして、記録信号２
８０７と同一の情報が記録磁性膜２８０５に記録される
ことになる。以下、上記のようにして記録された記録部
分をマーク２８０９、そうでない部分を非マーク２８１
０と称する。

即ち、例えばマーク２８０９が２値信号の（１）に対応
し、非マーク２８１０が２値信号の（０）に対応し、こ
れらで情報が構成されている。また、この方法で記録す
ることを光磁気記録と称する。

記録磁性１ｆｆｆ２８０５に記録された情報の消去は、
外部印加磁場２８０６の向きを逆にして記録時と同様の
方法でおこない、磁化の向きを元のイニシャライズ時の
向き（即ち、同図中の磁化の向きＡ）に戻すことにより
おこなわれる。この結果、消去された部分は非マーク２
８１０となる。

なお、本例ではレーザビーム２８０３を記録信号２８０
７に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場２８０６
を印加して記録する光変調方式を示したが、その他にこ
れとは逆に、レーザビーム２８０３の強さを一定にし、
外部印加磁場２８０６の向きを記録信号２８０７に応じ
て変調して記録する磁界変調方式で記録してもよい。

また、本例のディスク基板２８０４にはガラス、または
プラスチック等のディスク板が用いられており、第２６
図（ａ）に示すように、トラックやセクタの番地を示す
アドレス情報が、予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻
み込まれて形成されている。この凹凸２８０８もマーク
、および非マークである。アドレス情報は予め一定のフ
ォーマットで刻み込まれているので、それ以後は記録・
消去の各動作はできないようになっている。予め物理的
な凹凸２８０８の形状で刻み込まれた部分を以後プリフ
ォーマット部と称する。これに対して情報の記録・消去
の各動作はプリフォーマット部以外の部分でおこなわれ
、この部分をＭＯ（データ）部と称する。通常、このプ
リフォーマット部３００３、およびＭＯ（データ）部３
００２は、第２８図に示すように、渦巻状または同心円
状のトラック３００５上に交互に配置されている。

プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３００
２とが一対でひとつのセクタ３００４を構成している。

光磁気ディスク３００１はトラック３００５上に、それ
ぞれアドレス（番地）情報を含んだ多数のセクタを含む
構成となっている。情報の記録・再生・消去の各動作は
、セクタ単位ごとにおこなわれる。また、第２９図に示
すように、上記トラック３００５上のプリフォーマット
部３００３にマーク２８０８が予め刻み込まれていると
ともに、ＭＯ（データ）部３００２に光磁気記録による
マーク２８０９が記録されることになる。

光磁気ディスクの再生動作を第２７図に基づいて以下に
説明する。

同図（ａ）に示すように、半導体レーザ２８０１から出
射され、対物レンズ２８０２で１μｍ程度の径に集光さ
れたレーザビーム２８０３は、記録磁性１１！２８０５
に照射される。ただし、レーザビーム２８０３は直線偏
光されており、レーザビーム２８０３の光強度は記録・
消去の各動作時よりも弱くしである。直線偏光されたレ
ーザビーム２８０３の光磁気ディスク３００１からの反
射光は、記録磁性膜２８０５を通過、および反射する際
にファラデー効果、およびカー効果によってその偏光面
が回転する。この回転方向は、マーク２８０９と非マー
ク２８１０とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向
に回転する。この偏光方向の違いを検出することにより
再生をおこない、同図（ｂ）（Ｃ）に示すような再生信
号Ｓ１、Ｓ２が生成される。

第３０図は再生光学系の構成の要部を示すものであり、
同図に基づいて上記再生信号Ｓ１、Ｓ２の分離を以下に
説明する。

反射光３２０１はＰＢＳ　（検光子）３２０２に入射さ
れ、２つの検波光３２１０．３２１１がそれぞれの偏光
方向ごとに光検出器３２０３．３２０４に導かれる。そ
して、光検出器３２０３．３２０４においてそれぞれ光
強度に応じて変化する電気信号に変換され、再生信号Ｓ
１、Ｓ２として出力される。従って、再生信号３１．Ｓ
２からマーク２８０９と非マーク２８１０とが分離して
読み出せるので、記録磁性膜２８０５に記録された情報
の再生をおこなうことができる。

第３１図に基づいて光磁気記録されたＭＯ（データ）部
３００２を再生した時に分離される再生信号Ｓ１、Ｓ２
の極性について以下に説明する。

光磁気記録による非マーク２８１０（磁化の向きＡ）か
らの反射光ベクトルをα、マーク２８０９（磁化の向き
Ｂ）からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは互
いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベク
トルである。反射光ベクトルα、βは、検光子（ＰＢＳ
）３２０２におけるふたつの偏光方向Ｘ、Ｙへそれぞれ
検波される。このふたつの偏光方向Ｘ、、Ｙは互いに直
角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏光方向Ｘ、
Ｙにそれぞれ投影した検波光ベクトルα８、β７の大き
さが再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ２に対応している。

さらに検波光ベクトルα０、β７は、第３０図の検波光
３２１０．３２１１にそれぞれ対応している。第３１図
に示すように、再生信号Ｓ１は非マーク２８１０に対し
てハイレベル、マーク２８０９に対してはローレベルが
対応している。また、再生信号Ｓ２は非マーク２８１０
に対してローレベル、マーク２８０９に対してはハイレ
ベルが対応しており、再生信号Ｓ１とは逆極性となって
いる。そして、再生信号Ｓ１、Ｓ２は、Ｓ／Ｎ比を向上
させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて情
報の再生がおこなわれるようになっている。

次に、第３２図に基づいて物理的な凹凸２８０８で刻み
込まれたプリフォーマット部３００３を再生したときの
再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性について以下に説明する。

プリフォーマット部３００３は記録・消去の各動作がお
こなわれないので、磁化の向きはＡのみである。この部
分では、凹凸２８０８の形状によりレーザビームの回折
が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトル
は凹凸２８０８に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα
（凹凸の非マークの再生に対応する）、および短い反射
光ベクトルγ（凹凸のマークの再生に対応する）となる
。これを検光子（ＰＢＳ）３２０２の偏光方向Ｘ、Ｙに
投影すると検波光ベクトルαｘ、７ｖがそれぞれ得られ
る。検波光ベクトルα８、γ１の大きさが再生信号Ｓ１
、Ｓ２に対応している。再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ
２はともに、凹凸２８０８の非マークに対してハイレベ
ル、マークに対してローレベルに対応している。従って
、この再生信号Ｓ　Ｌ−、Ｓ　２は第３１図に示した光
磁気記録のマーク２８０９、非マーク２８１０のものと
は異なり、極性が同じものとなる。即ち、第２７図に示
すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマット部３
００３において極性が同じであり、ＭＯ（データ）部３
００２においては互いに極性が反転した信号になる。

第３３図に基づいて光磁気ディスクメモリ装置における
再生回路について以下に説明する。

第３３図において再生信号Ｓ１、Ｓ２は再生回路３５０
１に入力され、２値化された出力信号３５１０がアドレ
ス発生回路３５０２、およびタイミング発生回路３５０
３に入力される。アドレス発生回路３５０２において第
２８図に示したセクタ単位のプリフォーマット部３００
３に含まれるアドレス（番地）情報が出力信号３５１０
から読み出され、アドレス信号３５１１が出力される。

また、タイミング発生回路３５０３においては同じくプ
リフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセクタマー
クが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号３
５１２が出力される。光磁気ディスクメモリ装置におい
て、このアドレス信号３５１１と記録・再生・消去基準
タイミング信号３５１２とに基づいて、所望のアドレス
のセクタに情報の記録・再生・消去をおこなうようにな
っている。

ところで、上述した光磁気再生信号の差動調整において
、光学系や光磁気ディスク３００１などの装置ごとのば
らつきにより差動比率が異なるために、プリフォーマッ
ト部３００３の残留信号振幅は変化する。なお、プリフ
ォーマット部３００３の残留信号は、再生信号Ｓ１、Ｓ
２を所定の差動比率で差動増幅した場合に生じるもので
、好ましくはゼロになるように調整される。第３４図に
基づいて差動比率と、その差動比率により生じるプリフ
ォーマット部３００３の残留信号振幅、およびＳ／Ｎ比
との関係を以下に説明する。

第３４図に示すように、同図中の破線で示す最適な差動
比率よりも大きくても、小さくても上記の残留信号振幅
は大きくなり、これに伴ってＳ／Ｎ比も劣化する。即ち
、差動比率が適正に設定されていない場合、再生時にお
いては再生データのエラー発生の原因になるので、差動
比率を適切に調整する必要がある。従来は、差動比率を
適切に調整するために、調整用の可変抵抗器を使用して
再生信号Ｓ１、Ｓ２の各増幅度、即ち差動比率を例えば
オシロスコープ等を観測しながら手動で調整していた。

この際、残留信号振幅が最小になるように上記調整用の
可変抵抗器を調整していた。

この残留信号振幅が最小になるように調整用の可変抵抗
器を調整すればＳ／Ｎ比のよい再生信号が得られる。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、上記従来の構成では、手動で残留信号振幅が最
小になるように調整していたので、調整には煩雑な作業
を要するという問題点を有している。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る光磁気記録再生装置は、上記の課題を解決
するために、再生信号の差動比率を変化させることがで
きる電圧制御増幅器と、再生信号を差動して差動信号を
出力する差動増幅器と、差動信号を入力してＡＧＣ電圧
を出力するＡＧＣ回路とを備えた光磁気記録再生装置に
おいて、各差動比率においてＡＧＣ電圧から最小値を求
めることによって上記電圧制御増幅器の最適な差動比率
を決定する差動比率決定手段を備えたことを特徴として
いる。

〔作　用〕

上記の構成によれば、光磁気記録再生装置の再生回路に
既設のＡＧＣ回路を利用するので、最小振幅を検出する
ための回路が不要になる。即ち、ＡＧＣ回路の出力であ
るＡＧＣ電圧は、再生信号振幅をそのまま表してはいな
いが、差動信号に対応して単調増加、または単調減少す
る。したがって、差動比率を変化させて、それらに対応
するＡＧＣ電圧をサンプリングし、これらのサンプリン
グ値に基づいてプロセッサが最適な差動比率を決定する
ことができる。なお、最適な差動比率は、サンプリング
したＡＧＣ電圧が最小値になる時の差動比率である。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１図ないし第２５図に基づいて説
明すると、以下のとおりである。

まず本発明に係る光磁気記録再生装置として光磁気メモ
リ装置について第１Ｏ図ないし第１８図に基づいて以下
に説明する。

第１０図は光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図で
ある。光磁気ディスク１２０１はスピンドルモータ１２
０２によって回転され、光ヘッド１２０３から出射され
たレーザビーム１２０４によって情報の記録・再生・消
去がおこなわれる。

この時、外部印加磁石１２０５をモータ等で回転させて
磁場の向きを反転させることよって記録・消去のための
外部印加磁場を得る。また、電磁石により記録・消去の
ための外部印加磁場を得てもよい。光ヘツド１２０３内
の半導体レーザ（同図中には図示しない）へは、記録回
路１２０６から半導体レーザ駆動電流１２１０が入力さ
れる。同駆動電流１２１０によって半導体レーザの光強
度が適切に制御されるとともに、記録情報が光磁気ディ
スク１２０１に記録される。光ヘッド１２０３からは再
生回路１２０７へ再生信号１２１１　（再生信号Ｓ１、
Ｓ２〕が出力される。再生回路１２０７において再生さ
れた再生データ１２１２はコントローラ１２０８へ送ら
れる。コントローラ１２０８では、再生データ１２１２
に基づいて各種の制御信号のタイミングをとるとともに
、入力される信号の状態に基づく制御信号を出力するよ
うになっている。即ち、コントローラ１２０８からは各
種制御信号１２１３が記録回路１２０６、および再生回
路１２０７へ送られる。また、コントローラ１２０８か
ら磁場制御信号１２１４が外部印加磁石１２０５へ伝送
され、外部印加磁場の向きが制御される。

第１１図に基づいて上記記録回路１２０６について以下
に説明する。

コントローラ１２０Ｂ　（同図中には図示しない）から
送られた記録データ１３１１は記録回路１２０６内の変
調回路１３０２に入力される。変調回路１３０２では、
記録データ１３１１が、制御信号１２１３によって記録
フォーマットに応じた変調データ１３１０に変換される
。この変調は、例えば第１４図に示すような変調方式（
後述する）に従っておこなわれる。変調データ１３１０
は、半導体レーザ駆動回路１３０１へ出力される。半導
体レーザ駆動回路１３０１からは半導体レーザ駆動電流
１２１０が出力され、光ヘツド１２０３内の半導体レー
ザ２８０１へ伝送される。これと同時に、半導体レーザ
駆動回路１３０１へはコントローラ１２０８からの制御
信号１２１３が人力され、半導体レーザ２８０１の光強
度が記録、再生、および消去の各動作に応じて適切に制
御される。

第１２図に基づいて上記再生回路１２０７について以下
に説明する。

第１２図に示すように、光ヘッド１２０３（同図中には
図示しない）からの再生信号１２１１（再生信号Ｓ１、
Ｓ２）は、再生回路１２０７内の信号処理回路１４０１
に入力される。信号処理回路１４０１からは、同期デー
タ１４１０が復調回路１４０２へ送られ、同時にセクタ
マーク信号１４１１がコントローラ１２０８へ伝送され
る。

同期データ１４１０の復調は、第１４図に示すような方
式（後述する）に従っておこなわれる。つまり、第１１
図に示す変調回路１３０２とは逆の変換をおこなうこと
によって復調される。信号処理回路１４０１、復調回路
１４０２へはコントローラ１２０８から各種制御信号１
２１３が伝送される。復調回路１４０２からは再生デー
タ１２１２がコントローラ１２０８へ出力される。

第１３図に基づいて上記コントローラ１２０８について
以下に説明する。

上述の信号処理回路１４０１からのセクタマーク信号１
４１１は、コントローラ１２０８内のタイミング発生回
路１５０１に入力され、セクタ単位のタイミングで基準
タイミング信号１５１０がコントロール回路１５０２へ
伝送される。また、上述の復調回路１４０２からの再生
データ１２１２がコントロール回路１５０２に入力され
る。コントロール回路１５０２では、上記２つの入力信
号から各種制御信号１２１３が生成されるとともに、外
部装置との情報の入出力がおこなわれるようになってい
る。

次に、第１４図ないし第１８図に基づいて、第１１図に
示した記録回路１２０６の動作を以下に説明する。

第１１図における変調回路１３０２では、例えば第１４
図に示す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これ
は、所謂、２，７変調力式と呼ばれるものである。第１
４図に示すように、入力データ（記録情報）は所定の変
調データのパターンに変換される。さらに、第１５図に
示すフォーマットに従って適切なタイミングで、変調デ
ータ１３１０を第１１図に示した半導体レーザ駆動回路
１３０１へ出力する。第１５図は、第２８図に示したセ
クタ３００４のフォーマットを示すもので以後セクタフ
ォーマットと称する。第１５図においてプリフォーマッ
ト部３００３は、セクタ単位の同期タイミングを得るた
めのセクタマーク部１７０１と、セクタのアドレス（番
地）情報を含んだＴＤ部部子７０２から構成される。こ
れらは第２９図に示したように、記録・消去できないマ
ーク、および非マークに対応する物理的な凹凸が前述の
光磁気ディスク１２０１に刻み込まれている。ＭＯ（デ
ータ）部３００２は、情報データを記録・再生・消去す
るためのデータ部１７０３と、ふたつのギャップ部１７
０４．１７０５とから構成されている。データ部１７０
３に上記変調データ１３１０が記録される。この時の記
録は、第２６図または第２７図に示したように、光磁気
記録によるマーク、および非マークでおこなわれる。

なお、プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部
３００２との間に配置されたギヤ・ンブ部１７０４．１
７０５は、データ部１７０３に情報を記録する際の余裕
領域である。つまり、これらのギャップ部１７０４．１
７０５は、スピンドルモータ１２０２の回転と上記セク
タ単位の同期タイミングとの間に発生する位相誤差など
によって、記録開始位置、および記録終了位置が前後に
ずれるため、これを見込んだ領域である。

第１６図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路１３０１
について以下に説明する。

半導体レーザ駆動回路１３０１とコントローラ１２０８
との間では４つの各種制御信号１８１０１８１１．１８
１２、および１８１３が入出力される。また、変調回路
１３０２　（同図中には図示しない）からは変調データ
１３１０が半導体レーザ駆動回路１３０１に入力される
。上記の再生光量制御信号１８１０は、再生光量制御回
路１８０１に入力され、再生時に光ヘツド１２０３内の
半導体レーザ２８０１の再生光量が適切に制御されるよ
うになっている。記録・消去光量制御信号１８１１は、
記録・消去光量制御回路１８０３に入力され、記録時・
消去時に対応する半導体レーザ２８０１の光量が制御さ
れるようになっている、高周波重畳スイッチ信号１８１
２は、高周波重畳回路１８０２に入力され、半導体レー
ザ２８０１の戻り光によるノイズが低減される。再生光
量制御回路１８０１、記録・消去光量制御回路１８０３
、高周波数重畳回路１８０２の各出力信号１８１４．１
８１５、および１８１６は、加算回路１８０５で加算さ
れ、半導体レーザ駆動電流１２１０が半導体レーザ２８
０１に入力される。半導体レーザ２８０１の光量（光強
度）は、光ヘツド１２０３内の光検出器１８０６によっ
てその光強度に応じて変化する電気信号に変換され、光
量モニター回路１８０４を介して光量モニター信号１８
１３がコントローラ１２０８　（同図中には図示しない
）へ伝送されるようになっている。コントローラ１２０
８では、光量モニター信号１８１３に基づいて、上記３
つの制御信号１８１０．１８１１、および１８１２が出
力される。つまり、半導体レーザ２８０１の光強度（光
量）が再生時と、記録・消去時とで適切な強度になるよ
うに制御される。なお、高周波重畳回路１８０２の出力
信号１８１６は再生時にのみ加算回路１８０５へ出力さ
れるようになっている。

第１７図、および第１８図に基づいて、第１６図におけ
る情報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に
説明する。

第１７図（ｂ）に示すように、情報の記録、消去の各動
作時には、高周波重畳スイッチ信号１８１２は、データ
部１７０３　（同図（ａ）参照）においてローレベル（
０）になり、それ以外ではハイレベル（１）になる。即
ち、ＭＯ（データ）部３００２内のデータ部１７０３に
おいて高周波重畳をオフし、データ部１７０３以外では
オンするようになっている。これに伴って、同図（Ｃ）
に示すように、変調データ１３１０はデータ部１７０３
において光磁気記録される。この時、同図（ｄ）に示す
ように、半導体レーザ２８０１の光量レベル（光強度）
１９１０はデータ部１７０３で高レベルになり、それ以
外では低レベルになる。

つまり、プリフォーマット部３００３内のセクタマーク
部１７０１からセクタ同期タイミングを検出し、ＩＤ部
部子７０２らアドレス（番地）情報等を読み出して、所
定のアドレス（番地）を確認しながら、ＭＯ（データ）
部３００２において情報が記録・消去される。

一方、情報再生時には、第１８図（ｂ）に示すように、
プリフォーマット部３００３、およびＭ０（データ）部
３００２のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号１
８１２はハイレベル（１）である。また、同図（Ｃ）に
示すように、変調データ１３１０はローレヘル（０）で
ある。さらに、同図（ｄ）に示すように、光量レベル１
９１０は低レベルである。つまり、プリフォーマット部
３００３　（同図（ａ）を参照）内のセクタマーク部１
７０１からセクタ同期タイミングを検出し、ＩＤ部部子
７０２らアドレス（番地）情報等を読み出して、所定の
アドレス（番地）を逐次確認しながら、今度はＭＯ（デ
ータ）部３００２から記録された情報が再生される。

次に、第１９図ないし第２２図に基づいて第１３図に示
したタイミング発生回路１５０１、およびコントロール
回路１５０２の動作について以下に説明する。

第１９図はタイミング発生回路１５０１の構成を示すブ
ロック図であり、信号処理回路１４０１（同図中に図示
しない）から出力されたセクタマーク信号１４１１はタ
イミング発生回路１５０１内のセクタマーク検出回路２
１０１に入力される。同回路２１０１は、セクタマーク
検出信号２１１０を出力する。セクタマーク検出回路２
１０１では、セクタマークの有無が検出される。セクタ
マーク検出信号２１１０は、カウンタ２１０２、タイマ
ー回路２１０４、判定回路２１０６へそれぞれ伝送され
る。カウンタ２１０２、およびタイマー回路２１０４の
出力信号２１１１、および２１１２は、それぞれスイッ
チ回路２１０３に入力され、同回路２１０３でどちらか
一方が選択された後に基準タイミング信号１５１０とし
て出力される。また、同信号１５１０は、データ部発生
回路２１０７にも入力され、これに基づいてデータ部発
生信号２１１６が出力される。タイマー回路２１０４か
らは、別の出力信号２１１３がウィンドウ発生回路２１
０５へ伝送される。同回路２１０５の出力信号であるウ
ィンドウ信号２１１４は、判定回路２１０６へ入力され
る。判定回路２１０６では、ウィンドウ信号２１１４と
セクタマーク検出信号２１１０とから、タイミング判定
信号２１１５が出力される。同判定信号２１１５により
、スイッチ回路２１０３では、カウンタ２１０２の出力
信号２１１１とタイマー回路２１０４の出力信号２１１
２のどちらか一方が選択される。

基準タイミング信号１５１０、データ部発生信号２１１
６、およびタイミング判定信号２１１５は、それぞれコ
ントロール回路１５０２　（第１３図参照）へ伝送され
る。コントロール回路１５０２は、これらのタイミング
発生回路１５０１から出力される各種信号と、再生デー
タ１２１２とに基づいて、前述した各種制御信号１２１
３を記録回路１２０６、および再生回路１２０７　（第
１０図参照）へ伝送し、情報の記録・再生・消去の各制
御をおこなうようになっている。

第２０図に基づいて第１９図に示したセクタマーク検出
回路２１０１について以下に説明する。

信号処理回路１４０１　（同図中には図示しない）から
出力されたセクタマーク信号１４１１は、カウンタ回路
２２０１を構成するカウンタ１〜９の各入力へ伝送され
る。カウンタ１〜９の各出力信号２２１１〜２２１９は
、判定回路２２０２へそれぞれ伝送され、この結果に基
づいてセクタマーク検出信号２１１０が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路２１０１は、セクタマ
ーク部１７０１　（第１５図参照）を検出し、セクタ単
位の記録・再生・消去の各動作をおこなうのに必要な同
期タイミングを得る回路である。

第２１図に基づいて上記のカウンタｌ〜９の動作を以下
に説明する。

セクタマーク部１７０１のパターンの一例として、同図
（ｂ）に示すようなマーク、および非マークから構成さ
れるものを示す。この例では、同図（ａ）に示すように
、マーク長、および非マーク長の比が５：３：３ニア：
３：３：３：３：５の順序になるようにマークが刻み込
まれている。

このマーク、および非マークのパターンを再生して得ら
れるセクタマーク信号１４１１は、同図（Ｃ）に示すよ
うに、マークの部分でローレベル（Ｏ）、非マークの部
分でハイレベル（１）となる２値信号に変換される。こ
のセクタマーク信号１４１１が上記カウンタ１〜９にそ
れぞれ入力されると、ますカウンタ１は、マーク長５の
長さに対応するカウンタクロック２３工０のクロック数
をカウントする。カウンタクロック２３１０は、同図（
ｄ）で示すように、セクタマーク信号１４１１よりも高
い周波数を有している。そして、このカウント数が所定
範囲内であれば最初のマーク（マーク長５）が正確に検
出されたことになる。

続いて、カウンタ２において同様に非マーク長３の長さ
の非マークが検出される。このように順次セクタマーク
部１７０１のマーク、および非マークが検出され、最後
にマーク長５の長さをカウンタ９が検出する。このよう
にして得られた９個の、マークまたは非マークの検出信
号２２１１〜２２１９が判定回路２２０２へ伝送される
。そして、この９個の検出結果のうち、全て、またはそ
の一部がセクタマーク部１７０１のパターンと一致して
いるか否かが判定されるとともに、マーク・非マークの
順序が判定される。この結果、セクタマーク部であると
判定された場合のみ、セクタマーり検出信号２１１０が
ローレベル（０）になる。従って、この信号２１１０は
セクタ単位の同期タイミングとして使用することができ
る。

第２２図に基づいてタイミング発生回路１５０１の各部
の波形を以下に説明する。

同図（ｂ）に示すように、セクタマーク検出信号２１１
０はプリフォーマット部３００３内のセクタマーク部１
７０１　（同図中（ａ）に示す）を検出するとローレベ
ルになる。同検出信号２１１０の立ち下がりエツジがセ
クタの同期タイミングになる。同図（Ｃ）に示すように
、カウンタ２１０２は、同検出信号２１１０の立ち下が
りエツジから所定カウント後にカウンタ出力信号２１１
１をローレベルにする。一方、タイマー回路２１０４の
カウント数は、上記カウンタ２１０２のカウント数を加
えて１つのセクタ製分だけカウント数が大きい。従って
、同図（ｄ）に示すように、タイマ回路２１０４の出力
であるタイマ回路出力信号２１１２の立ち下がりエツジ
は、次のセクタの信号２１１１の立ち下がりエツジとタ
イミングがほぼ一致する。また、同図（ｅ）に示すよう
に、ウィンドウ発生回路２１０５のウィンドウ信号２１
１４は、セクタマーク検出信号２１１Ｏの立ち下がりエ
ツジを基準に、次のセクタにおけるセクタマーク検出信
号２１１０の立ち下がりエツジ付近で所定のウィンドウ
幅をもってローレベルになるようになっている。判定回
路２１０６の出力信号であるタイミング判定信号２１１
５は、ウィンドウ発生回路２１０５のウィンドウ信号２
１１４がローレベルの時に、セクタマーク検出信号２１
１０の立ち下がりエツジが存在すれば、同図（ｆ）中の
実線で示すように、ハイレベルになるようになっている
。一方、セクタマーク検出信号２１１０の立ち下がりエ
ツジが存在しなければローレベルになるようになってい
る（同図（ｆ）中の破線で示す）。従って、タイミング
判定信号２１１５は、セクタマークの検出が所定の範囲
で検出できたか、あるいは検出ミスであったかを判定す
る信号になる。スイッチ回路２１０３においては、セク
タマークの検出ができた場合には信号２１１１が選択さ
れ、そうでなく検出ミスである場合には信号２１１２が
選択されるようになっている。この結果、同図（ｇ）に
示すように、基準タイミング信号１５１０はセクタマー
クの検出ミスが発生してもそのタイミング信号を確実に
出力できる。

即ち、上記に示したようにひとつ前のセクタのタイミン
グに基づいて補正をおこなうことができる。このように
して得られた基準タイミング信号１５１０は、データ部
発生回路２１０７へ伝送される。同回路２１０７はカウ
ンタの一種であり、その出力であるデータ部発生信号２
１１６はデータ部１７０３でローレベルになる。（同図
（ｈ、）ヲ参照）つまり、データ部発生信号２１１６は
、プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３０
０２とを判別する信号として利用できる。このようにし
て得られた基準タイミング信号１５１０、タイミング判
定信号２１１５、およびデータ部発生信号２１１６は、
第１３図に示したコントロール回路１５０２へ伝送され
る。同回路１５０２では、これらの信号に基づいて前述
の各種制御信号１２１３が生成される。

次に、第２３図ないし第２５図に基づいて、第１２図に
示した信号処理回路１４０１の動作について以下に説明
する。

光磁気ディスク１２０１から再生された再生信号１２１
１　（再生信号Ｓ１、Ｓ２）は、信号処理回路１４０１
内のバッファアンプ２５０１に入力される。その出力信
号２５１０は、ＭＯ波形処理部２５０２とプリフォーマ
ット波形処理部２５０３とへ伝送される。これらの回路
からは、ＭＯ（データ）部３００２とプリフォーマット
部３００３とのマーク、および非マークに対応した２値
化信号２５１１．２５１２がそれぞれ出力される。

これらの２値化信号はデータ同期部２５０４に入力され
、データ同期部２５０４内のＰＬＬ　（Ｐｈａｓｅ　　
Ｌｏｃｋｅｄ　　Ｌｏｏｐ）において、クロックと同期
した同期データ２５１３が出力され、復調回路１４０２
　（同図中には図示しない）へ伝送される。また、プリ
フォーマット波形処理部２５０３ではセクタマーク信号
１４１１が生成され、タイミング発生回路１５０１へ伝
送される。

信号処理コントロール部２５０５では、信号処理回路１
４０１内の各部間の各種制御信号２５１４〜２５１７が
入出力される。また、第１３図に示したコントローラ１
２０８との間で各種制御信号１２１３が入出力される。

第２４図および第２５図は、信号処理回路１４０１の各
部の波形を示す図である。第２４図（ｂ）、および同図
（Ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はＭＯ波形処
理部２５０２において差動されてＭＯ（データ）部３０
０２の情報のみが分離され、さらに２値化され、ＭＯ２
値化信号２５１１が生成される（同図（ｄ）を参照）。

また、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマット波形処理
部２５０３において加算されてプリフォーマット部３０
０３の情報のみが分離され、さらに２値化されて、ＩＤ
２値化信号２５１２とセクタマーク信号１４１１が得ら
れる（同図（ｅ）、および同図（ｇ）を参照）。再生信
号Ｓ１、Ｓ２の差動および加算によってＭＯ（データ）
部３００２とプリフォーマット部３００３が分離できる
理由は、第２７図に示したように、再生信号Ｓ１、Ｓ２
の極性がＭＯ（データ）部３００２では逆であり、プリ
フォーマット部３００３においては同じだからである。

ＭＯ２値化信号２５１１とＩＤ２値化信号２５１２とは
、同図（ｆ）に示すように、それぞれデータ同期部２５
０４においてクロックと同期した同期データ２５１３に
変換される。

第２５図は、第２４図の波形を詳細に説明する図である
。変調データ１３１０　（第２５図（ａ）を参照）に基
づいて記録されたマーク、および非マークはレーザスポ
ット２７０１の照射によって再生される（同図（ｂ）を
参照）。同図（ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２
はマークの中心でピークになる信号である。ＭＯ２値化
信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２は、このピ
ーク位置を検出した信号であり、その立ち上がり工・ン
ジがピーク位置と一致している（同図（ｄ）を参照）、
データ同期部２５０４内のＰＬＬにおいて、ＭＯＺ値化
信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２から同期ク
ロックを生成し、このクロックと同期させて同期データ
２５１３を得ている。同図（ｅ）に示すように、同期デ
ータ２５１３は変調データ１３１０を忠実に再生したデ
ータとなる。

ここで、第１図に基づいて差動比率の自動調整について
説明すると、以下のとおりである。

第１図に示すように、再生信号Ｓ１は、バッファアンプ
２５０１内のＡＣ結合用のコンデンサｌＯ５を介して、
電圧制御増幅器（以下、単にＶＣＡと称す）１０８に入
力される。ＶＣＡ１０８の出力は、ＭＯ波形処理部２５
０２内の差動増幅器７４の反転入力に伝送される。一方
、再生信号Ｓ２は、バッファアンプ２５０１内のＡＣ結
合用のコンデンサ１０２を介して、アンプ１０４に入力
される。アンプ１０４の出力は、ＭＯ波形処理部２５０
２内の差動増幅器７４の非反転入力に伝送される。アン
プ１０４の増幅度は固定であり、ＶＣＡ１０８は入力さ
れる差動比率制御信号（後述する）によってその増幅度
が変化するようになっている。これにより、差動比率が
可変になる。差動増幅器７４からの差動信号はＡＧＣ回
路としてのＡＧＣアンプ７５に入力され、振幅が一定に
される。ＡＧＣアンプ７５の出力は、２値化回路７６に
おいて２値化されて２値化信号として出力される。そし
て、２値化信号に基づいて再生データが生成されるよう
になっている。なお、ＡＧＣアンプ７５からはＡＧＣ電
圧がコントローラ１２０８内のＡ／Ｄ変換器４９（第９
図参照）へ出力される。

上記のＡＧＣアンプ７５の例を第２図ないし第４図に基
づいて説明すると以下のとおりである。

第２図に示すように、ＡＧＣアンプ７５は主として、ク
ランプ回路７８、コンパレータ７９、ＡＧＣ電圧発生回
路８０、および電圧制御アンプ（以下、単にＶＣＡと称
す）７７から構成されており、前述の差動増幅器７４の
出力信号である差動信号がＶＣＡ７７に入力される。Ｖ
ＣＡ７７の増幅度はＡＧＣ電圧発生回路８０の出力であ
るＡＧＣ電圧に応じて変化し、第３図に示すように、Ａ
ＧＣ電圧が大きくなるにつれて増幅度が小さくなり、Ａ
ＧＣ電圧が小さくなるにつれて増幅度が大きくなるよう
になっている。ＶＣＡ７７の出力は、２値化回路７６（
同図中には図示しない）へ伝送されるとともに、クラン
プ回路７８の入力へ伝送される。クランプ回路７８では
、ＶＣＡ７７の出力中の直流分がカットされるとともに
、交流骨（ピークピーク値に相当する）のうちプラス方
向のピークは、同回路７日内のダイオードＤによりダイ
オードＤの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナス
方向のピークはクランプされずにそのまま後続のコンパ
レータ７９の反転入力へ伝送される。コンパレータ７９
では、非反転入力に印加されている基準電圧ｖ０と、ク
ランプ回路７８の出力とが大小比較される。コンパレー
タ７９の出力に基づいて、ＡＧＣ電圧発生回路８０はＡ
ＧＣ電圧を出力するようになっている。

例えば、クランプ回路７８の出力振幅が基準電圧ｖ０を
越える場合には、コンパレータ７９の出力がハイレベル
となり、トランジスタ８１はＯＮするので、コンデンサ
８３が充電抵抗８２を介して電源ＶＣＣにより充電され
てコンデンサ８３０両端の電圧が大きくなる。この時の
充電時定数は、充電抵抗８２およびコンデンサ８３によ
って決マる。充電抵抗８２とコンデンサ８３との接続点
Ａに生じるＡＧＣ電圧、即ち、コンデンサ８３の両端の
電圧が増幅度調整用の電圧としてＶＣＡ７７に伝送され
、ＶＣＡ７７の増幅度は小さくなる。

一方、クランプ回路７８の出力振幅が基準電圧ｖ０を越
えない場合には、コンパレータ７９の出力がローレベル
となり、トランジスタ８１はＯＦＦするので、コンデン
サ８３に蓄えられた電荷が放電抵抗８４を介して放電さ
れる。この時の放電時定数は、放電抵抗８４およびコン
デンサ８３によって決まる。これに伴って、ＡＧＣ電圧
が小さくなり、ＶＣＡ７７の増幅度は大きくなる。上記
のプリフォーマット部の残留信号振幅とＡＧＣ電圧との
間には、第４図に示すような関係があり、同図に示す通
常振幅範囲において、ＡＧＣ電圧は残留信号振幅に対し
て単調増加することがわかる。即ち、ＡＧＣ電圧の最大
値・最小値が、残留信号振幅の最大値・最小値に対応す
る。なお、上記のクランプ回路７８は、全波整流回路で
もよい。なお、残留信号振幅の最小（あるいは最大）を
検出する回路として、例えば第３５図に示すようなエン
ベロープ検波回路６４がよく知られ、かつ採用されてい
る。同回路６４は、主としてバッファ回路６５、第１サ
ンプルホールド回路６６、第２サンプルホールド回路６
７および差動増幅回路６８から構成されている。再生信
号は、バッファ回路６５を介して第１および第２サンプ
ルホールド回路６６・６７において、そのエンベロープ
の上・下側側のピーク値がホールドされた後、差動増幅
回路６８により再生信号のビークピーク値に対応する残
留信号振幅が出力される（例えば、特開昭５８−８０１
３８を参照）。しかし、このように再生時の残留信号振
幅の最小振幅を検出するための回路が別途必要であり、
このため回路構成が複雑になり、したがって全体として
コスト高になる。

ここで、ＡＧＣアンプの他の例を第５図に基づいて以下
に説明する。なお、上述のＡＧＣアンプで使用した部材
と同一の機能を有する部材には同一の符号を付記し、便
宜上、その詳細な説明を省略する。

ここで例示するＡＧＣアンプは、ＡＧＣ電圧がサンプル
ホールド回路８５およびアナログスイッチ８６を介して
ＶＣＡ７７へ伝送されるという点を除いては、上述した
ＡＧＣアンプと本質的には同じである。上記のサンプル
ホールド回路８５およびアナログスイッチ８６は、記録
・消去の各動作時にＡＧＣ電圧をその直前の値にホール
ドするために設けられている。即ち、再生動作時には、
ＡＧＣ電圧が直接アナログスイッチ８６の接点８６ａを
介してＶＣＡ７７へ伝送される。一方、記録・消去の各
動作時には、スイッチタイミング信号によりアナログス
イッチ８６は閉状態となり、サンプルホールド回路８５
は、ホールドタイミング信号により、記録・消去の各動
作直前のＡＧＣ電圧値にホールドされる。このことによ
り、記録・消去の影響が回避でき、信幀性が向上する。

なお、上記のサンプルホールド回路８５は、例えばＡ／
Ｄ変換器、およびＤ／Ａ変換器を含む構成から成ってい
るものでもよい。

ところで、最適な差動比率を決定するためには、例えば
セクタごとに差動比率を変えて記録するので、この時Ａ
ＧＣアンプは早い応答性が要求される。このために、Ａ
ＧＣアンプのＡＧＣ電圧発生回路８０内のコンデンサ８
３の放電の時定数を短縮して応答性を改善する回路を第
６図に基づいて以下に説明する。

この回路は、主としてオーブンコレクタ８７・８８と放
電抵抗８９とから構成されており、オーブンコレクタ８
８の出力は、第２図（または第５図）中の充電抵抗８２
とコンデンサ８３との接続点Ａに接続されている。例え
ば、オーブンコレクタ８７にはＡＧＣ速度制御信号が入
力され、オーブンコレクタ８８にはＡＧＣリセット信号
が入力される。ＡＧＣ速度制御信号は、記録の最適条件
を決定するためのテストライト時などにハイレベルにな
る。この時、オーブンコレクタ８７の出力はローレベル
になり、第２図（または第５図）中の放電抵抗８４と並
列に放電抵抗８９が接続されることになる。この結果、
コンデンサ８３の放電に要する時間が短縮される。また
、ＡＣＣリセット信号は、システム起動時やシステム異
常時などにハイレベルになる。この時、放電抵抗８４が
短絡されることになるので、瞬時に放電が完了すること
になる。

次に、最適な差動比率の決定例を第７図ないし第９図に
基づいて以下に説明する。

第８図に示すように、差動比率を変えると、それに伴っ
て再生時の緒特性も変化し、同図中の破線で示す最適差
動比率より大きい場合にも、また小さい場合にも、プリ
フォーマット部のＡＧＣ電圧は大きくなり、Ｓ／Ｎ比は
低下する。また、この時プリフォーマット部の残留信号
振幅は太き（なる。したがって、再生信号は、最適な差
動比率で再生される必要がある。最適な差動比率の決定
例を説明すると、以下のとおりである。

再生信号Ｓ２によるアンプ１０４の出力波形が第７図（
ａ）の実線で示すような波形とし、再生信号Ｓ１による
ＶＣＡ１０８の出力波形が第７図（ｂ）の実線で示すよ
うな波形とする。この時、差動増幅器７４の出力である
差動信号は、同図（Ｃ）に示すような波形になり、プリ
フォーマット部に対応する残留信号振幅はゼロにならな
い。これに伴って、ＡＧＣアンプ７５から出力されるＡ
ＧＣ電圧は、同図（ｄ）に示すような波形となる。ここ
で、プロセッサは複数の差動比率を設定し、設定した差
動比率に対応する差動比率制御信号を第１図に示すよう
に、バッファアンプ２５０１内のＤ／Ａ変換器４８を介
してＶＣＡアンプ１０８に伝送する。これに伴って、Ｖ
ＣＡアンプ１０８はその増幅度を変化させ、増幅した出
力を差動増幅器７４に伝送する。そして、差動増幅器７
４の出力（差動信号）に基づいて、ＡＣＣアンプ７５か
ら対応するＡＧＣ電圧が出力される。このＡＧＣ電圧は
、第９図に示すように、コントローラ１２０８内のＡ／
Ｄ変換器４９を介してプロセッサ７０によりサンプリン
グされる。この動作が設定された差動比率の数だけおこ
なわれた後、プロセッサ７０では、これらの入力に基づ
いてＡＧＣ電圧の最小値が求められ、その時の差動比率
に相当する差動比率制御信号がＲＡＭやＥ”　ＦＲＯＭ
などの記憶素子（図示しない）に記憶される。以後はこ
の差動比率で再生がおこなわれる。例えば、第７図（ｂ
）〜（ｄ）中の破線は、差動比率が最小になる時の各部
の波形を示しており、この時プリフォーマット部の差動
信号がほぼゼロになっている。なお、プロセッサ７０に
よるＡＧＣ電圧のサンプリングは、例えば同図（ｅ）で
示すサンプルタイミング信号の立ち上がりエツジでおこ
なわれる。このサンプルタイミング信号は、セクタ単位
の基準タイミング信号、およびデータ信号によりコント
ロール回路において生成される。また、差動調整をおこ
なうセクタおよびトラックは予め決めておき、データ信
号によってそのセクタおよびトラックを確認しながら、
基準タイミング信号を基にプリフォーマット部中にサン
プルタイミング信号を発生させてもよい。さらに、装置
の出荷時、または装置のリセット後、またはディスクの
再挿入時に、上記差動調整をおこなってもよい。なお、
装置出荷時の差動調整については、差動調整専用のディ
スクを用いたり、また差動調整専用のプロセッサ、Ａ／
Ｄ変換器、およびそのプログラムを装置とは別に用意し
てもよい。なお、上記Ｄ／Ａ変換器４８は、例えばＦ／
Ｖ変換器のように周波数に応じてその大きさが変化する
電圧に変換するものでもよい。

以上のように、最適差動比率を求めて、その差動比率の
もとて情報の再生をおこなうことにより、信幀性の高い
再生信号が得られる。

〔発明の効果〕

本発明に係る光磁気記録再生装置は、以上のように、再
生信号の差動比率を変化させることができる電圧制御増
幅器と、再生信号を差動して差動信号を出力する差動増
幅器と、差動信号を入力してＡＧＣ電圧を出力するＡＧ
Ｃ回路とを備えた光磁気記録再生装置において、各差動
比率においてＡＧＣ電圧から最小値を求めることによっ
て上記電圧制御増幅器の最適な差動比率を決定する差動
比率決定手段を備えた構成である。

これにより、再生時の再生信号の最大振幅やエンベロー
プを検出するための各回路が不要になり、このため回路
構成が簡素になるので小型化が可能となり、したがって
全体としてコスト低減が可能となる。また、プリフォー
マット部の残留信号振幅を最小にする差動比率の調整が
プロセッサにより自動的におこなわれるので、調整に必
要な煩雑な作業工程を省略できる等の効果を併せて奏す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第９図は、本発明の一実施例を示すもので
ある。 第１図は、本発明に係る光磁気記録再生装置の要部を示
すブロック図である。 第２図は、ＡＧＣアンプの一構成例を示す図である。 第３図は、電圧制御増幅器に入力されるＡＧＣ電圧と電
圧制御増幅器の増幅度との関係を示す図である。 第４図は、ＡＧＣ電圧とプリフォーマット部の残留信号
振幅との関係を示す図である。 第５図は、ＡＧＣアンプの他の構成例を示す図である。 第６図は、ＡＧＣ電圧発生回路の放電時定数を短縮させ
る回路の構成例を示す図である。 第７図は、第１図で示した回路の各部の波形を示す図で
ある。 第８図は、差動比率と再生時の緒特性との関係を示す図
である。 第９図は、コントローラの要部を示すブロック図である
。 第１０図ないし第２５図は、本発明に係る光磁気記録再
生装置の構成を説明するためのものである。 第１Ｏ図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。 第１１図は、記録回路の構成を示すブロック図である。 第１２図は、再生回路の構成を示すブロック図である。 第１３図は、コントローラの構成を示すブロック図であ
る。 第１４図は、記録情報の変調方式の一例として、２．７
変調方式を説明した図である。 第１５図は、セクタのフォーマットを示す図である。 第１６図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示すブロッ
ク図である。 第１７図、および第１８図は、第１６図における情報の
記録・消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ
駆動回路の各部の波形を示す図である。 第１９図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック
図である。 第２０図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロッ
ク図である。 第２１図は、セクタマーク検出回路を構成するカウンタ
の動作を模式的に説明した図である。 第２２図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図
である。 第２３図は、信号処理回路の構成を示すブロック図であ
る。 第２４図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である
。 第２５図は、第２４図をさらに詳しく説明した図で、Ｍ
Ｏ（データ）部およびプリフォーマット部のマークから
２値化データの生成を説明する図である。 第２６図ないし第３５図は、従来例を示すものである。 第２６図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光
磁気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明す
る図である。 第２７図は、光磁気ディスクの再生動作を示す図である
。 第２８図、および第２９図は、光磁気ディスク上におけ
るプリフォーマット部とＭＯ（データ）部との関係を示
す図である。 第３０図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロッ
ク図である。 第３１図および第３２図は、ＭＯ（データ）部、および
プリフォーマット部における再生信号Ｓ１、Ｓ２のそれ
ぞれの極性についての説明図である。 第３３図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイ
ミング発生回路との関係を示す図である。 第３４図は、差動比率と、残留信号振幅およびＳ／Ｎ比
との関係を示す図である。 第３５図は、エンベロープ検波回路の構成例を示す図で
ある。 ４８はＤ／Ａ変換器、４９はＡ／Ｄ変換器、７０はプロ
セッサ、７４は差動増幅器、７５はＡＧＣアンプ、１０
８は電圧制御増幅器である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、再生信号の差動比率を変化させることができる電圧
   制御増幅器と、再生信号を差動して差動信号を出力する
   差動増幅器と、差動信号を入力してＡＧＣ電圧を出力す
   るＡＧＣ回路とを備えた光磁気記録再生装置において、 各差動比率においてＡＣＣ電圧から最小値を求めること
   によって上記電圧制御増幅器の最適な差動比率を決定す
   る差動比率決定手段を備えたことを特徴とする光磁気記
   録再生装置。