JP2501915B2

JP2501915B2 - 光記録再生装置

Info

Publication number: JP2501915B2
Application number: JP1239010A
Authority: JP
Inventors: 寛藤; 毅山口; 敏久出口
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1989-09-14
Filing date: 1989-09-14
Publication date: 1996-05-29
Anticipated expiration: 2011-05-29
Also published as: JPH03102601A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、使用する光記録媒体ごとに最適な記録条件
を求め、その条件で記録することによって再生時のS/N
比を向上させる光記録再生装置に関するものである。

〔従来の技術〕

従来の光記録再生装置について、ここでは光磁気メモ
リ装置を例に挙げて説明する。

光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ
装置をとりあげ、光磁気ディスクに対する情報の記録、
記録された情報の再生、およびその消去の各動作につい
て第27図ないし第34図に基づいて説明すると以下のとお
りである。

まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気デ
ィスクに記録された情報の消去の各動作について第27図
に基づいて説明する。

情報の記録・消去が可能な光磁気記録媒体としての光
磁気ディスクは、同図（ａ）に示すように、ディスク基
板2804上に、成膜された記録磁性膜2805が形成されてい
る。記録磁性膜2805は、磁化容易軸がその膜面に垂直な
方向になるように成膜されており、予め同一の向き（例
えば、同図中の磁化の向きＡ）にイニシャライズされて
いる。さて、半導体レーザ2801から出射されたレーザビ
ーム2803は対物レンズ2802で１μｍ程度の径に集光さ
れ、記録磁性膜2805に照射される。記録すべき情報に対
応する記録信号2807（同図（ｂ）に示す）に基づいてレ
ーザビーム2803の光強度の強弱が制御される。光強度の
強いレーザビーム2803が照射された部分の温度は局所的
に上昇してキュリー温度を越えると、その部分の保磁力
が著しく低下する。そして、その部分の磁化の向きは、
予め印加されていた外部印加磁場2806と同一の向き（同
図中の磁化の向きＢ）に反転する。このようにして、記
録信号2807と同一の情報が記録磁性膜2805に記録される
ことになる。以下、上記のようにして記録された記録部
分をマーク2809、そうでない部分を非マーク2810と称す
る。即ち、例えばマーク2809は２値信号の（１）に対応
し、非マーク2810は２値信号の（０）に対応するように
情報が構成されている。また、この方法で記録すること
を光磁気記録と称する。記録磁性膜2805に記録された情
報の消去は、外部印加磁場2806の向きを逆にして記録時
と同様の方法でおこない、磁化の向きを元のイニシャラ
イズ時の向き（即ち、同図中の磁化の向きＡ）に戻すこ
とによりおこなわれる。この結果、消去された部分は非
マーク2810となる。

なお、本例ではレーザビーム2803を記録信号2807に応
じて変調し、一定の強さの外部印加磁場2806を印加して
記録する光変調方式を示したが、その他にこれとは逆
に、レーザビーム2803の強さを一定にし、外部印加磁場
2806の向きを記録信号2807に応じて変調して記録する磁
界変調方式で記録してもよい。

また、本例のディスク基板2804にはガラス、またはプ
ラスチック等のディスク板が用いられており、第27図
（ａ）に示すように、トラックやセクタの番地を示すア
ドレス情報が、予め物理的な凹凸2808の形状で刻み込ま
れて形成されている。この凹凸2808もマーク、および非
マークである。アドレス情報は予め一定のフォーマット
で刻み込まれているので、それ以降は記録・消去の各動
作はできないようになっている。予め物理的な凹凸2808
の形状で刻み込まれた部分を以降プリフォーマット部と
称する。これに対して情報の記録・消去の各動作はプリ
フォーマット部以外の部分でおこなわれ、この部分をMO
（データ）部と称する。通常、このプリフォーマット部
3003、およびMO（データ）部3002は、第29図に示すよう
に、渦巻状または同心円状のトラック3005上に交互に配
置されている。プリフォーマット部3003とMO（データ）
部3002とが一対でひとつのセクタ3004を構成している。
光磁気ディスク3001はトラック3005上に、それぞれアド
レス（番地）情報を含んだ多数のセクタを含む構成とな
っている。情報の記録・再生・消去の各動作は、セクタ
単位ごとにおこなわれる。また、第30図に示すように、
上記トラック3005上のプリフォーマット部3003にマーク
2808が予め刻み込まれているとともに、MO（データ）部
3002に光磁気記録によるマーク2809が記録されることに
なる。

光磁気ディスクの再生動作を第28図に基づいて以下に
説明する。

同図（ａ）に示すように、半導体レーザ2801から出射
され、対物レンズ2802で１μｍ程度の径に集光されたレ
ーザビーム2803は、記録磁性膜2805に照射される。ただ
し、レーザビーム2803は直線偏光されており、レーザビ
ーム2803の光強度は記録・消去の各動作時よりも弱くし
てある。直線偏光されたレーザビーム2803の光磁気ディ
スク3001からの反射光は、記録磁性膜2805を通過、およ
び反射する際にファラデー効果、およびカー効果によっ
てその偏光面が回転する。この回転方向は、マーク2809
と非マーク2810とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆
方向に回転する。この偏光方向の違いを検出することに
より再生をおこない、同図（ｂ）（ｃ）に示すような再
生信号S1、S2が生成される。

第31図は再生光学系の構成の要部を示すものであり、
同図に基づいて上記再生信号S1、S2の分離を以下に説明
する。

反射光3201はPBS（検光子）3202に入射され、２つの
検波光3210、3211がそれぞれの偏光方向ごとに光検出器
3203、3204に導かれる。そして、光検出器3203、3204に
おいてそれぞれ光強度に応じて変化する電気信号に変換
され、再生信号S1、S2として出力される。従って、再生
信号S1、S2からマーク2809と非マーク2810とが分離して
読み出せるので、記録磁性膜2805に記録された情報の再
生をおこなうことができる。

第32図に基づいて光磁気記録されたMO（データ）部30
02を再生した時に分離される再生信号S1、S2の極性につ
いて以下に説明する。光磁気記録による非マーク2810
（磁化の向きＡ）からの反射光ベクトルをα、マーク28
09（磁化の向きＢ）からの反射光ベクトルをβとする
と、αとβとは互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回
転した反射光ベクトルである。反射光ベクトルα、β
は、検光子（PBS3202）におけるふたつの偏光方向Ｘ、
Ｙへそれぞれ検波される。このふたつの偏光方向Ｘ、Ｙ
は互いに直角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏
光方向Ｘ、Ｙにそれぞれ投影した検波光ベクトルα_Ｘ、
β_Ｙの大きさが再生信号S1および再生信号S2に対応して
いる。さらに検波光ベクトルα_Ｘ、β_Ｙは、第31図の検
波光3210、3211にそれぞれ対応している。第32図に示す
ように、再生信号S1は非マーク2810に対してハイレベ
ル、マーク2809に対してローレベルが対応している。ま
た、再生信号S2は非マーク2810に対してローレベル、マ
ーク2809に対してはハイレベルが対応しており、再生信
号S1とは逆極性となっている。そして、再生信号S1、S2
は、S/N比を向上させるために差動増幅器に入力され、
差動増幅されて情報の再生がおこなわれるようになって
いる。

次に、第33図に基づいて物理的な凹凸2808で刻み込ま
れたプリフォーマット部3003を再生したときの再生信号
S1、S2の極性について以下に説明する。

プリフォーマット部3003は記録・消去の各動作がおこ
なわれないので、磁化の向きはＡのみである。この部分
では、凹凸2808の形状によりレーザビームの回折が生じ
る。従って、同図に示すように、反射光ベクトルは凹凸
2808に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα（凹凸の非
マークの再生に対応する）、および短い反射光ベクトル
γ（凹凸のマークの再生に対応する）となる。これを検
光子（PBS3202）の偏光方向Ｘ、Ｙに投影すると検波光
ベクトルα_Ｘ、γ_Ｙがそれぞれ得られる。検波光ベクト
ルα_Ｘ、γ_Ｙの大きさが再生信号S1、S2に対応してい
る。再生信号S1および再生信号S2はともに、凹凸2808の
非マークに対してハイレベル、マークに対してローレベ
ルに対応している。従って、この再生信号S1、S2は第32
図に示した光磁気記録のマーク2809、非マーク2810のも
のとは異なり、極性が同じものとなる。即ち、第28図に
示すように、再生信号S1、S2はプリフォーマット部3003
において極性が同じであり、MO（データ）部3002におい
ては互いに極性が反転した信号になる。

第34図に基づいて光磁気ディスクメモリ装置における
再生回路について以下に説明する。

第34図において再生信号S1、S2は再生回路3501に入力
され、２値化された出力信号3510がアドレス発生回路35
02、およびタイミング発生回路3503に入力される。アド
レス発生回路3502において第29図に示したセクタ単位の
プリフォーマット部3003に含まれるアドレス（番地）情
報が出力信号3510から読み出され、アドレス信号3511が
出力される。また、タイミング発生回路3503においては
同じくプリフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセ
クタマークが検出され、記録・再生・消去基準タイミン
グ信号3512が出力される。光磁気ディスクメモリ装置に
おいて、このアドレス信号3511と記録・再生・消去基準
タイミング信号3512とに基づいて、所望のアドレスのセ
クタに情報の記録・再生・消去をおこなうようになって
いる。

上述した光磁気記録におけるマークの大きさは、記録
光量、記録パルス長や外部印加磁場などの各記録条件に
よって変化する。第35図に基づいて記録条件と、その条
件により記録されるマークの大きさとの関係を以下に説
明する。

第35図（ａ）（ｂ）に示すように、記録パルスの振
幅、即ち、記録光量が大きくなると記録されるマークの
大きさが大きくなる（ただし記録パルス長は一定の長
さ）。また、同図（ｃ）（ｄ）に示すように、記録パル
スの振幅を一定値に保持した状態で、そのパルス長（パ
ルス幅）を大きくしても、パルス長に比例して記録され
るマークの大きさが大きくなる。

記録条件が適正に制御されていない場合、再生時にお
いては、再生データのエラーが発生することもある。第
36図〜第41図を参照しながら再生データのエラー発生に
ついて説明すると以下のとおりである。

第36図はMO波形処理部2502の要部を示しており、再生
信号S1、S2が、MO波形処理部2502内のイコライザ50に入
力される。イコライザ50の出力は、微分回路51およびゼ
ロクロス検出回路52を介して微分ゼロクロス検出信号が
出力されるようになっている。また、イコライザ50の出
力は、レベル検出回路53に入力され、同検出回路53から
ゲート信号が出力されるようになっている。第36図に示
したMO波形処理部2502の再生動作を第37図に基づいて説
明すると以下のとおりである。

第37図（ａ）に示す変調データ（例えば2,7変調方式
により変調されたデータ）に基づいて、同図（ｂ）に示
すように、マークが記録（光磁気記録）される。このよ
うに記録された記録領域に同図（ｂ）中に一点鎖線で示
すような直径を有するレーザスポット2701を照射して再
生すると、同図（ｃ）に示すように、例えば記録マーク
の中心で最大振幅になる再生信号（再生信号S1、S2の差
動信号もしくは同加算信号）が生成される。同図（ｃ）
からわかるように、マーク間の距離が小さいところでは
再生信号のピークピーク値が小さくなり、周波数成分も
高くなっている。上記再生信号はイコライザ50において
高域の周波数成分が強調されて、同図（ｅ）に示すよう
なイコライザ出力信号波形となる。イコライザ出力信号
は、微分回路51において微分され、同図（ｄ）に示すよ
うな微分信号が微分回路51から出力される。さらに、微
分信号からゼロクロス検出回路52において、同図（ｆ）
に示すような微分ゼロクロス検出信号が生成される。な
お、微分ゼロクロス検出信号中のゼロクロスノイズは、
同図（ｄ）に示した微分信号においてゼロレベル付近の
変化率が小さい部位に生じるものである。また、同図
（ｇ）に示すように、イコライザ出力信号からレベル検
出回路53を介してゲート信号が生成される。ゲート信号
がハイレベルの期間に上記微分ゼロクロス検出信号の立
ち下がりエッジを検出すると、同図（ｈ）に示すよう
に、データ信号がローレベルからハイレベルに立ち上が
り、ゲート信号の終焉とともにローレベルになる。以上
のようにして、変調データを再生して再生データが得ら
れる（同図（ｉ）参照）。一方、同図中の破線で示すよ
うに、記録マークが異なる記録条件で記録されるとS/N
比が劣化するため、これに対応して同図（ｆ）の破線で
示すように微分ゼロクロス検出信号のジッタが増加す
る。また、同図（ｅ）には示さないが、イコライザ出力
信号のS/N比も劣化するので、これに伴ってゲート信号
のジッタも増加する。従って再生データ中にジッタが生
じ、S/N比が劣化する。なお、上記のデータ信号は、例
えば第38図に示すようなゲート回路54により生成され
る。即ち、微分ゼロクロス検出信号が同回路54内のイン
バータ55を介してフリップフロップ56のクロック入力端
子CLKに伝送される。微分ゼロクロス検出信号がハイレ
ベルからローレベルに立ち下がると、クロック入力端子
CLKはローレベルからハイレベルに立ち上がるので、フ
リップフロップ56の出力端子Ｑはローレベルからハイレ
ベルに変化し、ゲート信号がローレベルになるまでこの
状態を保持する。つまり、ゲート信号がローレベルにな
ると、フリップフロップ56のクリア端子CLにローレベル
が伝送されるので、上記出力端子Ｑはローレベルにな
る。ゲート信号がハイレベルの間だけ、微分ゼロクロス
検出信号の立ち下がりに同期してハイレベルになるデー
タ信号が生成される。

異なる記録マークの例として、記録マークのエッジに
より情報を記録する例をここに開示する。なお、MO波形
処理部として第40図に示すような回路構成を使用した場
合について説明すると以下のとおりである。

この場合のMO波形処理部は、主として余弦等化回路5
7、比較電圧発生回路58およびコンパレータ59から構成
されている。再生信号が余弦等化回路57に入力される。
余弦等化回路57の出力は、比較電圧発生回路58およびコ
ンパレータ59を介して２値化信号が出力されるようにな
っている。第40図に示したMO波形処理部の再生動作を第
41図に基づいて説明すると以下のとおりである。

第41図（ａ）に示す変調データ（例えば2,7変調方式
により変調されたデータ）に基づいて、同図（ｂ）に示
すようにマークが記録（光磁気記録）される。このよう
に記録された記録領域に同図中には図示しないレーザス
ポットを照射して再生すると、同図（ｃ）に示すよう
に、例えば記録マークの中心付近で振幅が大きくなる再
生信号が生成される。同図（ｃ）からわかるように、マ
ーク間の距離が小さいところでは再生信号のピークピー
ク値が小さくなり、周波数成分も高くなっている。上記
再生信号は余弦等化回路57において高域の周波数成分が
強調されて、同図（ｄ）に示すような余弦等化出力信号
波形となる。余弦等化回路57は、再生信号の品質を維持
しながらその波形を整形している。余弦等化出力信号に
基づいてコンパレータ59は、比較電圧発生回路58の出力
をしきい値として、同図（ｅ）に示すような２値化信号
を生成する。なお、比較電圧発生回路58は、例えばロー
パスフィルタまたはエンベロープ検波回路を含む構成か
ら成っているものでもよく、上記のしきい値は比較電圧
発生回路58の入力に応じて変化するようになっている。
このようにして得られた２値化信号と、同図（ｆ）に示
すようなPLLクロックとから、例えば第39図に示す変換
回路60により、再生データ（同図（ｉ）参照）が生成さ
れる。第39図および第41図に基づいて再生データの生成
を以下に説明する。

上記の２値化信号は、第39図に示すように、変換回路
60内の第１フリップフロップ61のデータ入力端子Ｄに入
力される。PLLクロックは、第１フリップフロップ61お
よび第２フリップフロップ62の各クロック入力端子CLK
に伝送される。PLLクロックの立ち上がりエッジに同期
して、第１フリップフロップ61の出力端子Ｑが２値化信
号に基づいて変化する。例えば、第41図（ｅ）に示すよ
うな２値化信号がデータ入力端子Ｄに入力され、同図
（ｆ）に示すようなPLLクロックがクロック入力端子CLK
に入力されると、第１フリップフロップ61の出力端子Ｑ
の波形は同図（ｇ）に示すような波形となる。この波形
が第２フリップフロップ62のデータ入力端子Ｄに入力さ
れるので、第２フリップフロップ62の出力端子Ｑの波形
は同図（ｈ）に示すような波形となる。第１フリップフ
ロップ61および第２フリップフロップ62の出力端子Ｑの
波形は、PLLクロックの１クロック分だけ位相がずれた
ものとなる。そして、第１フリップフロップ61および第
２フリップフロップ62の出力は、それぞれ後続の排他的
論理和ゲート63の入力端子に伝送され、排他的論理和演
算がおこなわれて同図（ｉ）に示すような再生データが
同ゲート63から出力される。一方、記録マークが同図中
の破線で示すように、異なる記録条件で記録されると、
これに対応して同図（ｃ）の破線で示すように、再生信
号の位相がずれてしまう。また、同図（ｄ）に示さない
が、余弦等化出力信号の位相もずれてしまうので、これ
に伴って２値化信号の位相がずれ、これがジッタの原因
となり、再生データ中にエラーが生じることもあり、S/
N比が劣化することになる。

以上より、再生時にエラーのない再生データを得るた
めには、上記記録条件を常に最適に制御する必要があ
る。記録条件の最適制御については、所定の基本周波数
を有する記録情報を記録光量等を変えて光磁気記録媒体
にテストライトして、再生時の再生信号からその振幅が
最大となる条件を求め、その時の記録条件で以降の記録
をおこなうことが従来から知られている。例えば、第42
図（ａ）（ｂ）に示すように、再生信号中の実線で示す
記録マークを記録した記録条件下でS/N比が最良であ
り、記録する際、実線に対応する記録光量（または記録
パルス長）よりも大きくても、また小さくても、例えば
同図（ｂ）中の破線で示すように、再生信号の振幅（ピ
ークピーク値）が小さくなることがわかる（例えば、特
開昭58−80138を参照）。なお、再生信号の振幅を検出
する回路としては、例えば第43図に示すようなエンベロ
ープ検波回路64が従来からよく知られ、かつ採用されて
いる。同回路64は、主としてバッファ回路65、第１ピー
クホールド回路66、第２ピークホールド回路67および差
動増幅回路68から構成されている。再生信号は、バッフ
ァ回路65を介して第１および第２ピークホールド回路66
・67において上・下両側のピーク値がホールドされた
後、差動増幅回路68により再生信号のピークピーク値に
対応する振幅レベル信号が出力される。この振幅レベル
信号の大小から最適な記録条件が決定される。この他
に、再生信号中のエンベロープ、あるいは１次および２
次高調波を検出することによって、最適な記録条件を決
定している例もある（例えば、特開昭59−193544、特開
昭60−13334を参照）。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、上記従来の構成では、再生時の再生信号の最
大振幅、エンベロープ、あるいは１次および２次高調波
を検出するための各回路が別途必要であり、このため回
路構成が複雑になり、したがって全体としてコスト高に
なるという問題点を有している。また、AGC回路が既設
の構成においても、適宜、AGC回路をホールドしなけれ
ばならないので、制御が複雑になり、小型化・低価格化
が難しいという問題点を有している。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る光記録再生装置は、上記の課題を解決す
るために、所定の基本周波数を有する情報を光記録媒体
の複数の記録領域に、記録領域ごとに記録条件を変えて
記録できるとともに、その再生回路内に再生信号振幅に
対応するAGC電圧を出力するAGC回路を備えた光記録再生
装置において、上記AGC回路からの記録条件ごとにサン
プリングされた複数のAGC電圧に基づいて最適な記録条
件を決定する記録条件決定手段を備えたことを特徴とし
ている。

〔作用〕

上記の構成によれば、光記録再生装置の再生回路に既
設のAGC回路を利用するので、最大振幅、エンベロー
プ、あるいは１次および２次高調波を検出するための各
回路が不要になる。即ち、AGC回路の出力であるAGC電圧
は、再生信号振幅をそのまま表してはいないが、再生信
号振幅に対応して単調増加、または単調減少する。した
がって、記録条件ごとにAGC電圧をサンプリングし、こ
のサンプリング値に基づいてプロセッサが記録の最適条
件を決定することができる。なお、記録の最適条件は、
光記録再生装置の起動時にプロセッサによって決定され
る。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１図ないし第26図に基づいて説
明すれば、以下のとおりである。

まず、本発明に係る光記録再生装置として光磁気メモ
リ装置について第11図ないし第19図に基づいて以下に説
明する。

第11図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。光磁気ディスク1201はスピンドルモータ1202に
よって回転され、光ヘッド1203から出射されたレーザビ
ーム1204によって情報の記録・再生・消去がおこなわれ
る。この時、外部印加磁石1205をモータ等で回転させて
磁場の向きを反転させることよって記録・消去のための
外部印加磁場を得る。また、電磁石により記録・消去の
ための外部印加磁場を得てもよい。光ヘッド1203内の半
導体レーザ（同図中には図示しない）へは、記録回路12
06から半導体レーザ駆動電流1210が入力される。同駆動
電流1210によって半導体レーザの光強度が適切に制御さ
れるとともに、記録情報が光磁気ディスク1201に記録さ
れる。光ヘッド1203からは再生回路1207へ再生信号1211
（再生信号S1、S2）が出力される。再生回路1207におい
て再生された再生データ1212はコントローラ1208へ送ら
れる。コントローラ1208では、再生データ1212に基づい
て各種の制御信号のタイミングをとるとともに、入力さ
れる信号の状態に基づく制御信号を出力するようになっ
ている。即ち、コントローラ1208からは各種制御信号12
13が記録回路1206、および再生回路1207へ送られる。ま
た、コントローラ1208から磁場制御信号1214が外部印加
磁石1205へ伝送され、外部印加磁場の向きが制御され
る。

第12図に基づいて上記記録回路1206について以下に説
明する。

コントローラ1208（同図中には図示しない）から送ら
れた記録データ1311は記録回路1206内の変調回路1302に
入力される。変調回路1302では、記録データ1311が、制
御信号1213によって記録フォーマットに応じた変調デー
タ1310に変換される。この変調は、例えば第15図に示す
ような変調方式（後述する）に従っておこなわれる。変
調データ1310は、半導体レーザ駆動回路1301へ出力され
る。半導体レーザ駆動回路1301からは半導体レーザ駆動
電流1210が出力され、光ヘッド1203内の半導体レーザ28
01へ伝送される。これと同時に、半導体レーザ駆動回路
1301へはコントローラ1208からの制御信号1213が入力さ
れ、半導体レーザ2801の光強度が記録、再生、および消
去の各動作に応じて適切に制御される。

第13図に基づいて上記再生回路1207について以下に説
明する。

光ヘッド1203（同図中には図示しない）からの再生信
号1211（再生信号S1、S2）は、再生回路1207内の信号処
理回路1401に入力される。信号処理回路1401からは、同
期データ1410が復調回路1402へ送られ、同時にセクタマ
ーク信号1411がコントローラ1208へ伝送される。同期デ
ータ1410の復調は、第15図に示すような方式（後述す
る）に従っておこなわれる。つまり、第12図に示す変調
回路1302とは逆の変換をおこなうことによって復調され
る。信号処理回路1401、復調回路1402へはコントローラ
1208から各種制御信号1213が伝送される。復調回路1402
からは再生データ1212がコントローラ1208へ出力され
る。

第14図に基づいて上記コントローラ1208について以下
に説明する。

上述の信号処理回路1401からのセクタマーク信号1411
は、コントローラ1208内のタイミング発生回路1501に入
力され、セクタ単位のタイミングで基準タイミング信号
1510がコントロール回路1502へ伝送される。また、上述
の復調回路1402からの再生データ1212がコントロール回
路1502に入力される。コントロール回路1502では、上記
２つの入力信号から各種制御信号1213が生成されるとと
もに、外部装置との情報の入出力がおこなわれるように
なっている。

次に、第15図ないし第19図に基づいて、第12図に示し
た記録回路1206の動作を以下に説明する。

第12図における変調回路1302では、例えば第15図に示
す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これは、所
謂、2,7変調方式と呼ばれるものである。第15図に示す
ように、入力データ（記録情報）は所定の変調データの
パターンに変換される。さらに、第16図に示すフォーマ
ットに従って適切なタイミングで、変調データ1310を第
12図に示した半導体レーザ駆動回路1301へ出力する。第
16図は、第29図に示したセクタ3004のフォーマットを示
すもので以後セクタフォーマットと称する。第16図にお
いてプリフォーマット部3003は、セクタ単位の同期タイ
ミングを得るためのセクタマーク部1701と、セクタのア
ドレス（番地）情報を含んだID部1702とから構成され
る。これらは第29図に示したように、記録・消去できな
いマーク、および非マークに対応する物理的な凹凸が光
磁気ディスク1201に刻み込まれている。MO（データ）部
3002は、情報データを記録・再生・消去するためのデー
タ部1703と、ふたつのギャップ部1704、1705とから構成
されている。データ部1703に上記変調データ1310が記録
される。この時の記録は、第27図または第28図に示した
ように、光磁気記録によるマーク、および非マークでお
こなわれる。なお、プリフォーマット部3003とMO（デー
タ）部3002との間に配置されたギャップ部1704、1705
は、データ部1703に情報を記録する際の余裕領域であ
る。つまり、これらのギャップ部1704、1705は、スピン
ドルモータ1202の回転と上記セクタ単位の同期タイミン
グとの間に発生する位相誤差などによって、記録開始位
置、および記録終了位置が前後にずれるため、これを見
込んだ領域である。

第17図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路1301につ
いて以下に説明する。

半導体レーザ駆動回路1301とコントローラ1208との間
では４つの各種信号1810、1811、1812、および1813が入
出力される。また、変調回路1302（同図中には図示しな
い）からは変調データ1310が半導体レーザ駆動回路1301
に入力される。上記の再生光量制御信号1810は、再生光
量制御回路1801に入力され、再生時に光ヘッド1203内の
半導体レーザ2801の再生光量が適切に制御されるように
なっている。記録・消去光量制御信号1811は、記録・消
去光量制御回路1803に入力され、記録時・消去時に対応
する半導体レーザ2801の光量が制御されるようになって
いる。高周波重畳スイッチ信号1812は、高周波重畳回路
1802に入力され、半導体レーザ2801の戻り光によるノイ
ズが低減される。再生光量制御回路1801、記録・消去光
量制御回路1803、高周波重畳回路1802の各出力信号181
4、1815、および1816は、加算回路1805で加算され、半
導体レーザ駆動電流1210が半導体レーザ2801に入力され
る。半導体レーザ2801の光量（光強度）は、光ヘッド12
03内の光検出器1806によってその光強度に応じて変化す
る電気信号に変換され、光量モニター回路1804を介して
光量モニター信号1813がコントローラ1208（同図中には
図示しない）へ伝送されるようになっている。コントロ
ーラ1208では、光量モニター信号1813に基づいて、上記
３つの信号1810、1811、および1812が出力される。つま
り、半導体レーザ2801の光強度（光量）が再生時と、記
録・消去時とで適切な強度になるように制御される。な
お、高周波重畳回路1802の出力信号1816は再生時にのみ
加算回路1805へ出力されるようになっている。

第18図、および第19図に基づいて、第17図における情
報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に説明
する。

第18図（ｂ）に示すように、高周波重畳スイッチ信号
1812は、データ部1703（同図（ａ）参照）においてロー
レベル（０）になり、それ以外ではハイレベル（１）に
なる。即ち、MO（データ）部3002内のデータ部1703にお
いて高周波重畳をオフし、データ部1703以外ではオンす
るようになっている。これに伴って、同図（ｃ）に示す
ように、変調データ1310はデータ部1703において光磁気
記録される。この時、同図（ｄ）に示すように、半導体
レーザ2801の光量レベル（光強度）1910はデータ部1703
で高レベルになり、それ以外では低レベルになる。つま
り、プリフォーマット部3003内のセクタマーク部1701か
らセクタ同期タイミングを検出し、ID部1702からアドレ
ス（番地）情報等を読み出して、所定のアドレス（番
地）を確認しながら、MO（データ）部3002において情報
が記録・消去される。

一方、情報再生時には、第19図（ｂ）に示すように、
プリフォーマット部3003、およびMO（データ）部3002の
いずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号1812はハイレ
ベル（１）である。また、同図（ｃ）に示すように、変
調データ1310はローレベル（０）である。さらに、同図
（ｄ）に示すように、光量レベル1910は低レベルであ
る。つまり、プリフォーマット部3003（同図（ａ）を参
照）内のセクタマーク部1701からセクタ同期タイミング
を検出し、ID部1702からアドレス（番地）情報等を読み
出して、所定のアドレス（番地）を逐次確認しながら、
今度はMO（データ）部3002から記録された情報が再生さ
れる。

次に、第20図ないし第23図に基づいて第14図に示した
タイミング発生回路1501、およびコントロール回路1502
の動作について以下に説明する。

第20図はタイミング発生回路1501の構成を示すブロッ
ク図であり、信号処理回路1401（同図中に図示しない）
から出力されたセクタマーク信号1411はタイミング発生
回路1501内のセクタマーク検出回路2101に入力される。
同回路2101は、セクタマーク検出信号2110を出力する。
セクタマーク検出回路2101では、セクタマークの有無が
検出される。セクタマーク検出信号2110は、カウンタ21
02、タイマー回路2104、判定回路2106へそれぞれ伝送さ
れる。カウンタ2102、およびタイマー回路2104の出力信
号2111、および2112は、それぞれスイッチ回路2103に入
力され、同回路2103でどちらか一方が選択された後に基
準タイミング信号1510として出力される。また、同信号
1510は、データ部発生回路2107にも入力され、これに基
づいてデータ部発生信号2116が出力される。タイマー回
路2104からは、別の出力信号2113がウインドウ発生回路
2105へ伝送される。同回路2105の出力信号であるウイン
ドウ信号2114は、判定回路2106へ入力される。判定回路
2106では、ウインドウ信号2114とセクタマーク検出信号
2110とから、タイミング判定信号2115が出力される。同
判定信号2115により、スイッチ回路2103では、カウンタ
2102の出力信号2111とタイマー回路2104の出力信号2112
とのどちらか一方が選択される。基準タイミング信号15
10、データ部発生信号2116、およびタイミング判定信号
2115は、それぞれコントロール回路1502（第14図参照）
へ伝送される。コントロール回路1502は、これらのタイ
ミング発生回路1501から出力される各種信号と、再生デ
ータ1212とに基づいて、前述した各種制御信号1213を記
録回路1206、および再生回路1207（第11図参照）へ伝送
し、情報の記録・再生・消去の各制御をおこなうように
なっている。

第21図に基づいて第20図に示したセクタマーク検出回
路2101について以下に説明する。信号処理回路1401（同
図中には図示しない）から出力されたセクタマーク信号
1411は、カウンタ回路2201を構成するカウンタ１〜９の
各入力へ伝送される。カウンタ１〜９の各出力信号2211
〜2219は、判定回路2202へそれぞれ伝送され、この結果
に基づいてセクタマーク検出信号2110が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路2101は、セクタマーク
部1701（第16図参照）を検出し、セクタ単位の記録・再
生・消去の各動作をおこなうのに必要な同期タイミング
を得る回路である。

第22図に基づいて上記のカウンタ１〜９の動作を以下
に説明する。

セクタマーク部1701のパターンの一例として、同図
（ｂ）に示すようなマーク、および非マークから構成さ
れるものを示す。この例では、同図（ａ）に示すよう
に、マーク長、および非マーク長の比が5:3:3:7:3:3:3:
3:5の順序になるようにマークが刻み込まれている。こ
のマーク、および非マークのパターンを再生して得られ
るセクタマーク信号1411は、同図（ｃ）に示すように、
例えばマークの部分でローレベル（０）、非マークの部
分でハイレベル（１）となる２値信号に変換される。こ
のセクタマーク信号1411が上記カウンタ１〜９にそれぞ
れ入力されると、まずカウンタ１は、マーク長５の長さ
に対応するカウンタクロック2310のクロック数をカウン
トする。カウンタクロック2310は、同図（ｄ）で示すよ
うに、セクタマーク信号1411よりも高い周波数を有して
いる。そして、このカウント数が所定範囲内であれば最
初のマーク（マーク長５）が正確に検出されたことにな
る。続いて、カウンタ２において同様に非マーク長３の
長さの非マークが検出される。このように順次セクタマ
ーク部1701のマーク、および非マークが検出され、最後
にマーク長５の長さをカウンタ９が検出する。このよう
にして得られた９個の、マークまたは非マークの検出信
号2211〜2219が判定回路2202へ伝送される。そして、こ
の９個の検出結果のうち、全て、またはその一部がセク
タマーク部1701のパターンと一致しているか否かが判定
されるとともに、マーク・非マークの順序が判定され
る。この結果、セクタマーク部であると判定された場合
のみ、セクタマーク検出信号2110がローレベル（０）に
なる。従って、この信号2110はセクタ単位の同期タイミ
ングとして使用することができる。

第23図に基づいてタイミング発生回路1501の各部の波
形を以下に説明する。

同図（ｂ）に示すように、セクタマーク検出信号2110
はプリフォーマット部3003内のセクタマーク部1701（同
図中（ａ）に示す）を検出するとローレベルになる。同
検出信号2110の立ち下がりエッジがセクタの同期タイミ
ングになる。カウンタ2102は、同検出信号2110の立ち下
がりエッジから所定カウント後に、同図（ｃ）に示すよ
うに、カウンタ出力信号2111をローレベルにする。一
方、タイマー回路2104のカウント数は、上記カウンタ21
02のカウント数を加えて１つのセクタ長分だけカウント
数が大きい。従って、同図（ｄ）に示すように、タイマ
回路2104の出力であるタイマー回路出力信号2112の立ち
下がりエッジは、次のセクタの信号2111の立ち下がりエ
ッジとタイミングがほぼ一致する。また、同図（ｅ）に
示すように、ウインドウ発生回路2105からのウインドウ
信号2114は、セクタマーク検出信号2110の立ち下がりエ
ッジを基準に、次のセクタにおけるセクタマーク検出信
号2110の立ち下がりエッジ付近で所定のウインドウ幅を
もってローレベルになるようになっている。判定回路21
06の出力信号であるタイミング判定信号2115は、ウイン
ドウ発生回路2105からのウインドウ信号2114がローレベ
ルの時に、セクタマーク検出信号2110の立ち下がりエッ
ジが存在すれば、同図（ｆ）中の実線で示すように、ハ
イレベルになるようになっている。一方、セクタマーク
検出信号2110の立ち下がりエッジが存在しなければロー
レベルになるようになっている（同図（ｆ）中の破線で
示す）。従って、タイミング判定信号2115は、セクタマ
ークの検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出
ミスであったかを判定する信号になる。スイッチ回路21
03においては、セクタマークの検出ができた場合には信
号2111が選択され、そうでなく検出ミスである場合には
信号2112が選択されるようになっている。この結果、同
図（ｇ）に示すように、基準タイミング信号1510はセク
タマークの検出ミスが発生してもそのタイミング信号を
確実に出力できる。即ち、上記に示したようにひとつ前
のセクタのタイミングに基づいて補正をおこなうことが
できる。このようにして得られた基準タイミング信号15
10は、データ部発生回路2107へ伝送される。同回路2107
はカウンタの一種であり、その出力であるデータ部発生
信号2116はデータ部1703でローレベルになる。（同図
（ｈ）を参照）つまり、データ部発生信号2116は、プリ
フォーマット部3003とMO（データ）部3002とを判別する
信号として利用できる。このようにして得られた基準タ
イミング信号1510、タイミング判定信号2115、およびデ
ータ部発生信号2116は、第14図に示したコントロール回
路1502へ伝送される。同回路1502では、これらの信号に
基づいて前述の各種制御信号1213が生成される。

次に、第24図ないし第26図に基づいて、第13図に示し
た信号処理回路1401の動作について以下に説明する。

光磁気ディスク1201から再生された再生信号1211（再
生信号S1、S2）は、信号処理回路1401内のバッファアン
プ2501に入力される。その出力信号2510は、MO波形処理
部2502とプリフォーマット波形処理部2503とへ伝送され
る。これらの回路からは、MO（データ）部3002とプリフ
ォーマット部3003とのマーク、および非マークに対応し
た２値化信号2511、2512がそれぞれ出力される。これら
の２値化信号はデータ同期部2504に入力され、データ同
期部2504内のPLL（Phase Locked Loop）において、クロ
ックと同期した同期データ2513が出力され、復調回路14
02（同図中には図示しない）へ伝送される。また、プリ
フォーマット波形処理部2503ではセクタマーク信号1411
が生成され、タイミング発生回路1501へ伝送される。信
号処理コントロール部2505では、信号処理回路1401内の
各部間の各種制御信号2514〜2517が入出力される。ま
た、第14図に示したコントローラ1208との間で各種制御
信号1213が入出力される。

第25図および第26図は、信号処理回路1401の各部の波
形を示す図である。第25図（ｂ）、および同図（ｃ）に
示すように、再生信号S1、S2はMO波形処理部2502におい
て差動されてMO（データ）部3002の情報のみが分離さ
れ、さらに２値化され、MO2値化信号2511が生成される
（同図（ｄ）を参照）。また、再生信号S1、S2はプリフ
ォーマット波形処理部2503において加算されてプリフォ
ーマット部3003の情報のみが分離され、さらに２値化さ
れて、ID2値化信号2512とセクタマーク信号1411が得ら
れる（同図（ｅ）、および同図（ｇ）を参照）。再生信
号S1、S2の差動および加算によってMO（データ）部3002
とプリフォーマット部3003が分離できる理由は、第28図
に示したように、再生信号S1、S2の極性がMO（データ）
部3002では逆であり、プリフォーマット部3003において
同じだからである。MO2値化信号2511とID2値化信号2512
とは、同図（ｆ）に示すように、それぞれデータ同期部
2504においてクロックと同期した同期データ2513に変換
される。

第26図は、第25図の波形を詳細に説明する図である。
変調データ1310（第26図（ａ）を参照）に基づいて記録
されたマーク、および非マークはレーザスポット2701の
照射によって再生される（同図（ｂ）を参照）。同図
（ｃ）に示すように、再生信号S1、S2はマークの中心で
ピークになる信号である。MO2値化信号2511またはID2値
化信号2512は、このピーク位置を検出した信号であり、
その立ち上がりエッジがピーク位置と一致している（同
図（ｄ）を参照）。データ同期部2504内のPLLにおい
て、MO2値化信号2511またはID2値化信号2512から同期ク
ロックを生成し、このクロックと同期させて同期データ
2513を得ている。同図（ｅ）に示すように、同期データ
2513は変調データ1310を忠実に再生したデータとなる。

ここで記録条件を変化させることについて、第１図お
よび第２図に基づいて説明すると、以下のとおりであ
る。

第１図は、コントローラ1208の本発明に係る要部を示
しており、前述の光量モニター回路1804を介して光量モ
ニター信号1813がコントローラ1208（同図中には図示し
ない）内の、記録条件決定手段としてのプロセッサ70に
入力される。また、後述するAGCアンプ75の出力であるA
GC電圧は、A/D変換器49を介してプロセッサ70に入力さ
れる。プロセッサ70では、光量モニター信号1813、およ
びAGCアンプ75からのAGC電圧に基づいて、記録条件が最
適になる記録・消去光量制御信号1811、およびパルス長
制御信号が出力されるようになっている。記録光量は、
前述の記録・消去光量制御回路1803に入力され、記録時
・消去時に対応する半導体レーザ2801の光量が制御され
るようになっている。一方、変調データは、パルス長制
御信号に基づいて制御される。第２図に基づいて変調デ
ータの生成について説明すると、以下のとおりである。

コントローラ1208（同図中には図示しない）から送ら
れた記録データ1311は、前述の変調回路1302内の変調部
71に入力される。変調部71では、例えば第15図に示した
ような2,7変調方式に従って、タイミング信号に同期し
て変調がおこなわれる。変調された記録データ1311は、
記録フォーマット部72において、タイミング信号に同期
して記録フォーマットに適合するように処理され、さら
に記録パルス長制御部73において上述のパルス長制御信
号に基づいて変調データ1310が生成される。そして、変
調データ1310は半導体レーザ駆動回路1301へ出力され、
半導体レーザ駆動回路1301からは半導体レーザ駆動電流
1210が出力され、光ヘッド1203内の半導体レーザ2801へ
伝送される。このようにして記録パルス長を制御するこ
とができる。

次に、上記のように記録条件を変えて記録した情報の
再生について、第３図に基づいて以下に説明する。

第３図は、MO波形処理部2502の要部を示しており、再
生信号S1、S2は、MO波形処理部2502内の差動増幅器74に
入力され、ここで再生信号中のMOデータのみが分離され
るようになっている。MOデータは、AGC回路としてのAGC
アンプ75に入力され、MOデータの振幅が一定にされ、さ
らに２値化回路76において２値化されて２値化信号が出
力される。そして、２値化信号に基づいて再生データが
生成されるようになっている。なお、AGCアンプ75から
はAGC電圧がコントローラ1208内のA/D変換器49へ出力さ
れる。

上記のAGCアンプ75の例を第４図、第７図および第８
図に基づいて説明すると以下のとおりである。

AGCアンプ75は主として、第４図に示すように、クラ
ンプ回路78、コンパレータ79、AGC電圧発生回路80、お
よび電圧制御アンプ（以下、単にVCAと称す）77から構
成されており、前述の差動増幅器74の出力信号である差
動信号がVCA77に入力される。VCA77の増幅度はAGC電圧
発生回路80の出力であるAGC電圧に応じて変化し、第７
図に示すように、AGC電圧が大きくなるにつれて増幅度
が小さくなり、AGC電圧が小さくなるにつれて増幅度が
大きくなるようになっている。VCA77の出力は、２値化
回路76（同図中には図示しない）へ伝送されるととも
に、クランプ回路78の入力へ伝送される。クランプ回路
78では、VCA77の出力中の直流分がカットされるととも
に、交流分（ピークピーク値に相当する）のうちプラス
方向のピークは、同回路78内のダイオードＤによりダイ
オードＤの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナス
方向のピークはクランプされずにそのまま後続のコンパ
レータ79の反転入力へ伝送される。従ってVCA77の出力
の振幅値（ピークピーク値）が増加すると、それに伴っ
てマイナス方向のピークが下がっていくことになる。コ
ンパレータ79では、非反転入力に印加されている基準電
圧V_Oと、クランプ回路78の出力とが大小比較される。コ
ンパレータ79の出力に基づいて、AGC電圧発生回路80はA
GC電圧を出力するようになっている。

例えば、クランプ回路78の出力振幅が大きくなってマ
イナス方向のピークが下がり、基準電圧V_Oを越える場合
には、コンパレータ79の出力がハイレベルとなり、トラ
ンジスタ81はONするので、コンデンサ83が充電抵抗82を
介して電源V_CCにより充電されてコンデンサ83の両端の
電圧が大きくなる。この時の充電時定数は、充電抵抗82
およびコンデンサ83によって決まる。充電抵抗82とコン
デンサ83との接続点Ａに生じるAGC電圧、即ち、コンデ
ンサ83の両端の電圧が増幅度調整用の電圧としてVCA77
に伝送され、VCA77の増幅度は小さくなる。一方、クラ
ンプ回路78の出力振幅が小さくなってマイナス方向のピ
ークが上がり、基準電圧V_Oを越えない場合には、コンパ
レータ79の出力がローレベルとなり、トランジスタ81は
OFFするので、コンデンサ83に蓄えられた電荷が放電抵
抗84を介して放電される。この時の放電時定数は、放電
抵抗84およびコンデンサ83によって決まる。これに伴っ
て、AGC電圧が小さくなり、VCA77の増幅度は大きくな
る。以上より、差動信号のピークピーク値とAGC電圧と
の間には、第８図に示すような関係があり、同図に示す
通常振幅範囲においてAGC電圧は差動信号のピークピー
ク値に対して単調増加することがわかる。即ち、AGC電
圧の最大値・最小値が、差動信号のピークピーク値の最
大値・最小値に対応する。なお、上記のクランプ回路78
は、全波整流回路でもよい。

AGCアンプの他の例を第５図に基づいて以下に説明す
る。なお、上述したAGCアンプで使用した部材と同一の
機能を有する部材には同一の符号を付記し、便宜上、そ
の詳細な説明を省略する。

ここで例示するAGCアンプは、AGC電圧がサンプルホー
ルド回路85およびアナログスイッチ86を介してVCA77へ
伝送されるという点を除いては、上述したAGCアンプと
本質的には同じである。上記のサンプルホールド回路85
およびアナログスイッチ86は、記録・消去の各動作時に
AGC電圧をその直前の値にホールドするために設けられ
ている。即ち、再生動作時には、アナログスイッチ86は
開状態（接点86aと接点86bとが接続されない状態）とな
り、接続点ＡのAGC電圧がVCA77へ伝送され、AGC電圧はO
N状態となる。一方、記録・消去の各動作時には、ホー
ルドタイミング信号（ハイレベル）によりアナログスイ
ッチ86は閉状態（接点86aと接点86bとが接続された状
態）となり、サンプルホールド回路85は、ホールドタイ
ミング信号により、記録・消去の各動作直前のAGC電圧
値にホールドされる。これと同時に、ハイレベルのホー
ルドタイミング信号はインバータ90を介してアンドゲー
ト91の一方の入力に伝送されるので、アンドゲート91の
出力はローレベルとなる。これに伴って、上記コンデン
サ83への充電はおこなわれなくなり、AGC電圧（接続点
Ａの電圧）が上記の電圧値にホールドされることにな
る。このことにより、記録・消去の影響が回避でき、信
頼性が向上する。なお、上記のサンプルホールド回路85
は、例えばA/D変換器、およびD/A変換器を含む構成から
成っているものでもよい。

ところで、最適記録条件を決定するためには、例えば
セクタごとに記録条件を変えて記録するので、この時AG
Cアンプは早い応答性が要求される。このために、AGCア
ンプのAGC電圧発生回路80内のコンデンサ83の放電の時
定数を短縮して応答性を改善する回路を第６図に基づい
て以下に説明する。

この回路は、主としてオープンコレクタ87・88と放電
抵抗89とから構成されており、オープンコレクタ88の出
力は、第４図（または第５図）中の充電抵抗82とコンデ
ンサ83との接続点Ａに接続されている。例えば、オープ
ンコレクタ87にはAGC速度制御信号が入力され、オープ
ンコレクタ88にはAGCリセット信号が入力される。AGC速
度制御信号は、記録の最適条件を決定するためのテスト
ライト時にハイレベルになる。この時、オープンコレク
タ87の出力はローレベルになり、第４図（または第５
図）中の放電抵抗84と並列に放電抵抗89が接続されるこ
とになる。この結果、コンデンサ83の放電に要する時間
が短縮される。また、AGCリセット信号は、システム起
動時やシステム異常時などにハイレベルになる。この
時、放電抵抗84が短絡されることになるので、瞬時に放
電が完了する。

次に、記録の最適条件の決定例を第９図に基づいて以
下に説明する。

第９図（ａ）に示すように、例えばＡ〜Ｈの８個のセ
クタをテストライトのための記録領域に使用し、その
時、同図（ｂ）に示すような記録光量（または記録パル
ス長）でMO（データ）部にテストライトしたとする。こ
のようにして記録されたセクタを再生すると、同図
（ｃ）に示すようなMO信号が各セクタごとに得られる。
これに伴って、AGC電圧は、同図（ｄ）に示すように変
化する。AGC電圧は、同図（ｅ）に示すサンプルタイミ
ング（例えば立ち上がりエッジ）で各セクタごとにサン
プリングされて、第１図で示したコントローラ1208にお
いてその最大値が求められ、その時の記録光量（または
記録パルス長）がRAMやE²PROMなどの記憶素子に記憶さ
れる。以後はこの記録光量（または記録パルス長）で記
録・消去の各動作がおこなわれる。この例においては、
セクタＥ、Ｆ、およびＧを再生して得られるAGC電圧は
同レベルであり、セクタＧの記録光量（または記録パル
ス長）をそれより大きくしても、また小さくしても、AG
C電圧が減少することがわかる。したがって、最適記録
条件は、セクタＥ、Ｆ、およびＧの記録光量（または記
録パルス長）から決定される。一般に、記録光量や記録
パルス長などの記録条件を変えると、それに伴って記録
マーク長が変化する。これに伴って信号振幅が変化す
る。つまり、第10図に示すように、記録マーク長が同図
中の破線で示す最適記録条件に相当する長さより長い場
合にも、また短い場合にも、AGC電圧は小さくなり、S/N
比は低下する。また、この時ビットジッタは大きくな
る。なお、説明の便宜上、記録条件を変える際に、記録
光量を変化させるときは記録パルス長は一定とし、記録
パルス長を変化させるときは記録光量は一定としてい
る。また、記録条件として上記以外に、外部印加磁場の
強さを変えてもよい。さらに上記の例では、AGC電圧の
最大値を求めることにより最適な記録条件を決定した
が、これに限らずAGC電圧の極性が逆の場合には、その
最小値を求めることにより最適な記録条件を決定しても
よい。

以上のように、最適記録条件を求めて、その条件のも
とで情報の記録・消去をおこなうことにより、信頼性の
高い再生信号が得られる。

〔発明の効果〕

本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、所定
の基本周波数を有する情報を光記録媒体の複数の記録領
域に、記録領域ごとに記録条件を変えて記録できるとと
もに、その再生回路内に再生信号振幅に対応するAGC電
圧を出力するAGC回路を備えた光記録再生装置におい
て、上記AGC回路からの記録条件ごとにサンプリングさ
れた複数のAGC電圧に基づいて最適な記録条件を決定す
る記録条件決定手段を備えた構成である。

これにより、再生時の再生信号の最大振幅、エンベロ
ープ、あるいは１次および２次高調波を検出するための
各回路が不要になり、このため回路構成が簡素になるの
で小型化が可能となり、したがって全体としてコスト低
減が可能となる。また、記録・消去の各動作時において
も、便宜、AGC回路をホールドする必要がなくなるの
で、制御が簡素になるなどの効果を併せて奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第10図は、本発明の一実施例を示すもので
ある。第１図は、コントローラの要部を示すブロック図であ
る。第２図は、変調回路の構成をを示すブロック図である。第３図は、MO波形処理部の要部の構成を示すブロック図
である。第４図は、AGCアンプの一構成例を示す図である。第５図は、AGCアンプの他の構成例を示す図である。第６図は、AGC電圧発生回路の放電時定数を短縮させる
回路例を示す図である。第７図は、電圧制御増幅器に入力されるAGC電圧と電圧
制御増幅器の増幅度との関係を示す図である。第８図は、AGC電圧と差動信号のピークピーク値との関
係を示す図である。第９図は、記録の最適条件の決定例を説明する図であ
る。第10図は、記録マーク長と最適記録条件との関係を示す
図である。第11図ないし第26図は、本発明に係る光記録再生装置の
構成を説明するためのものである。第11図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図で
ある。第12図は、記録回路の構成を示すブロック図である。第13図は、再生回路の構成を示すブロック図である。第14図は、コントローラの構成を示すブロック図であ
る。第15図は、記録情報の変調方式の一例として、2,7変調
方式を説明した図である。第16図は、セクタのフォーマットを示す図である。第17図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示す図であ
る。第18図、および第19図は、第17図における情報の記録・
消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ駆動回
路の各部の波形を示す図である。第20図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック図
である。第21図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロック
図である。第22図は、第21図を構成するカウンタの動作を模式的に
説明した図である。第23図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図で
ある。第24図は、信号処理回路の構成を示すブロック図であ
る。第25図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である。第26図は、第25図をさらに詳しく説明した図で、MO（デ
ータ）部およびプリフォーマット部のマークから２値化
データの生成過程を説明する図である。第27図ないし第43図は、従来例を示すものである。第27図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁
気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明する
図である。第28図は、光磁気ディスクの再生動作を説明する図であ
る。第29図、および第30図は、光磁気ディスク上におけるプ
リフォーマット部とMO（データ）部との関係を示す図で
ある。第31図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロック
図である。第32図および第33図は、MO（データ）部、およびプリフ
ォーマット部における再生信号S1、S2のそれぞれの極性
についての説明図である。第34図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイミ
ング発生回路との関係を示す図である。第35図は、記録マークと、記録光量および記録パルス長
との関係を示す図である。第36図は、MO波形処理部の要部の構成例を示す図であ
る。第37図は、第36図に示したMO波形処理部の再生動作を説
明する図である。第38図は、ゲート回路の構成例を示す図である。第39図は、変換回路の構成例を示す図である。第40図は、他のMO波形処理部の要部の構成を示すブロッ
ク図である。第41図は、第40図に示したMO波形処理部の再生動作を説
明する図である。第42図は、記録マークと再生信号のピークピーク値との
関係を示す図である。第43図は、エンベロープ検波回路の例を示す図である。 49はA/D変換器、70はプロセッサ（記録条件決定手
段）、73は記録パルス長制御部、75はAGCアンプ（AGC回
路）である。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】所定の基本周波数を有する情報を光記録媒
体の複数の記録領域に、記録領域ごとに記録条件を変え
て記録できるとともに、その再生回路内に再生信号振幅
に対応するAGC電圧を出力するAGC回路を備えた光記録再
生装置において、上記AGC回路からの記録条件ごとにサンプリングされた
複数のAGC電圧に基づいて最適な記録条件を決定する記
録条件決定手段を備えたことを特徴とする光記録再生装
置。