JPH03102639A - 情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば、光磁気メモリ装置など、各種情報記
録再生装置に関し、より詳しくは情報記録再生装置にお
ける再生回路に関するものである。

〔従来の技術〕

従来の情報記録再生装置について、ここでは光磁気メモ
リ装置を例に挙げて説明する。

光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ装
置をとりあげ、光磁気ディスクに対する情報の記録、記
録された情報の再生、およびその消去の各動作について
第２３図ないし第３３図に基づいて説明すると以下のと
おりである。

まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気ディ
スクに記録された情報の消去の各動作について第２３図
に基づいて説明する。

情報の記録・消去が可能な光磁気記録媒体としての光磁
気ディスクは、同図（ａ）に示すように、ディスク基板
２８０４上に、戒膜された記録磁性膜２８０５が形戒さ
れている。記録磁性ｗＡ２８０５は、磁化容易軸がその
膜面に垂直な方向になるように或膜されており、予め同
一の向き（例えば、同図中の磁化の向きＡ）にイニシャ
ライズされている。さて、半導体レーザ２８０１から出
射されたレーザビーム２８０３は対物レンズ２８０２で
１μｍ程度の径に集光され、記録磁性膜２８０５に照射
される。記録すべき情報に対応する記録信号２８０７　
（同図（ｂ）に示す）に基づいてレーザビーム２８０３
の光強度の強弱が制御される。光強度の強いレーザビー
ム２８０３が照射された部分の温度は局所的に上昇して
キュリー温度を越えると、その部分の保磁力が著しく低
下する。そして、その部分の磁化の向きは、予め印加さ
れていた外部印加磁場２８０６と同一の向き（同図中の
磁化の向きＢ）に反転する。このようにして、記録信号
２８０７と同一の情報が記録磁性膜２８０５に記録され
ることになる。以下、上記のようにして記録された記録
部分をマーク２８０９、そうでない部分を非マーク２８
１０と称する。

例えば、マーク２８０９が符号「ｌ」に、非マーク２８
１０が符号「０」に対応し、マーク２８０９及び非マー
ク２８１０で記録情報が構威される．また、この方法で
記録することを光磁気記録と称する。記録磁性膜２８０
５に記録された情報の消去は、外部印加磁場２８０６の
向きを逆にして記録時と同様の方法でおこない、磁化の
向きを元のイニシャライズ時の向き（即ち、同図中の磁
化の向きＡ）に戻すことによりおこなわれる。この結果
、消去された部分は非マーク２８１０となる。

なお、本例ではレーザビーム２８０３を記録信号２８０
７に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場２８０６
を印加して記録する光変調方式を示したが、その他にこ
れとは逆に、レーザビーム２８０３の強さを一定にし、
外部印加磁場２８０６の向きを記録信号２８０７に応じ
て変調して記録する磁界変調方式で記録してもよい。

また、本例のディスク基板２８０４にはガラス、または
プラスチック等のディスク板が用いられており、第２３
図（ａ）に示すように、トラックやセクタの番地を示す
アドレス情報が、予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻
み込まれて形戒されている．この凹凸２８０８もマーク
、および非マークであるが、ここでは光磁気記録に関す
るものだけをこのように称することにする。アドレス情
報は予め一定のフォーマットで刻み込まれているので、
それ以後は記録・消去の各動作はできないようになって
いる．予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻み込まれた
部分を以後プリフォーマット部３００３と称する．これ
に対して情報の記録・消去の各動作はプリフォーマット
部以外の部分でおこなわれ、この部分をＭＯ（データ）
部３００２と称する．通常、このブリフォーマット部３
００３、およびＭＯ（データ）部３００２は、第２５図
に示すように、渦巻状または同心円状のトラック３００
５上に交互に配置されている。プリフォーマット部３０
０３とＭＯ部３００２とが一対でひとつのセクタ３００
４を構威している。光磁気ディスク３００１はトラック
３００５上に、それぞれアドレス（番地）情報を含んだ
多数のセクタを含む構戒となっている。情報の記録・再
生・消去の各動作は、セクタ単位ごとにおこなわれる。

また、第２６図に示すように、上記トラック３００５上
のブリフォーマット部３００３にマーク２８０８が予め
刻み込まれているとともに、ＭＯ（データ）部３００２
に光磁気記録によるマーク２８０９が記録されることに
なる。

光磁気ディスクの再生動作を第２４図に基づいて以下に
説明する。

同図（ａ）に示すように、半導体レーザ２８０１から出
射され、対物レンズ２８０２で１μｍ程度の径に集光さ
れたレーザビーム２８０３は、記録磁性膜２８０５に照
射される。ただし、レーザビーム２８０３は直線偏光さ
れており、レーザビーム２８０３の光強度は記録・消去
の各動作時よりも弱くしてある．直線偏光されたレーザ
ビーム２８０３の光磁気ディスク３００１からの反射光
は、記録磁性膜２８０５を通過、および反射する際にフ
ァラデー効果、およびカー効果によってその偏光面が回
転する．この回転方向は、マーク２８０９と非マーク２
８１０とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回
転する。この偏光方向の違いを検出することにより再生
をおこない、同図（ｂ）（ｃ）に示すような再生信号Ｓ
１、Ｓ２が生威される。

第２７図に再生光学系の構成の要部を示すものであり、
同図に基づいて上記再生信号Ｓ１、Ｓ２の分離を以下に
説明する。反射光３２０１はＰＢＳ（検光子）３２０２
に入射され、２つの検波光３２１０、３２１１がそれぞ
れの偏光方向ごとに光検出器３２０３、３２０４に導か
れる。そして、光検出器３２０３、３２０４においてそ
れぞれ光強度に応じて変化する電気信号に変換され、再
生信号Ｓ１、Ｓ２として出力される。従って、再生信号
Ｓ１、Ｓ２からマーク２８０９と非マーク２８ｌＯとが
分離して読み出せるので、記録磁性膜２８０５に記録さ
れた情報の再生をおこなうことができる。

第２８図に基づいて光磁気記録されたＭＯ（データ）部
３００２を再生した時に分離される再生信号Ｓ１、Ｓ２
の極性について以下に説明する。

光磁気記録による非マーク２８１０（ｌ化の向きＡ）か
らの反射光ベクトルをα、マーク２８０９（磁化の向き
Ｂ）からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは互
いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベク
トルである。反射光ベクトルα、βは、検光子（ＰＢＳ
３２０２）におけるふたつの偏光方向Ｘ，Ｙへそれぞれ
検波される。このふたつの偏光方向Ｘ，Ｙは互いに直角
に配置されている。反射光ベクトルα、βを偏光方向Ｘ
，Ｙにそれぞれ投影した検波光ベクトルα、、βヶの大
きさが再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ２に対応している
。さらに検波光ベクトルα８、β，は、第２７図の検波
光３２１０，３２１１にそれぞれ対応している．第２８
図に示すように、再生信号Ｓ１は非マーク２８１０に対
してハイレヘル、マーク２８０９に対してはローレベル
が対応している。また、再生信号Ｓ２は非マーク２８１
０に対してローレベル、マーク２８０９に対してはハイ
レベルが対応しており、再生信号Ｓ１とは逆極性となっ
ている。そして、再生信号Ｓ１、Ｓ２は、Ｓ／Ｎ比を向
上させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて
情報の再生がおこなわれるようになっている． 次に、第２９図に基づいて物理的な凹凸２８０８で刻み
込まれたブリフォーマット部３００３を再生したときの
再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性について以下に説明する。

プリフォーマット部３００３は記録・消去の各動作がお
こなわれないので、磁化の向きはＡのみである。この部
分では、凹凸２８０８の形状によりレーザビームの回折
が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトル
は凹凸２８０８に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα
（凹凸の非マークの再生に対応する）、および短い反射
光ベクトルγ（凹凸のマークの再生に対応する）となる
。これを検光子（ＰＢＳ３２０２）の偏光方向Ｘ、Ｙに
投影すると検光子ベクトルαウ、ＴＶがそれぞれ得られ
る。検光子ベクトルα×、ＴＶの大きさが再生信号Ｓ１
、Ｓ２に対応している。再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ
２はともに、凹凸２８０８の非マークに対してハイレベ
ル、マークに対してローレベルに対応している。従って
、この再生信号Ｓｌ，３２は第２８図に示した光磁気記
録のマーク２８０９、非マーク２８１０のものとは異な
り、極性が同じものとなる。即ち、第２４図に示すよう
に、再生信号Ｓ１、Ｓ２はブリフォーマット部３００３
において極性が同じであり、ＭＯ（データ）部３００２
においては互いに極性が反転した信号になる。

第３０図、および第３１図に基づいて光磁気ディスクメ
モリ装置における再生回路について以下に説明する。

第３０図において再生信号Ｓ１、Ｓ２は再生回路３５０
１に入力され、２値化された出力信号３５１０がアドレ
ス発生回路３５０２、およびタイミング発生回路３５０
３に入力される．アドレス発生回路３５０２において第
２５図に示したセクタ単位のブリフォーマット部３００
３に含まれるアドレス（番地）情報が出力信号３５１０
から読み出され、アドレス信号３５１１が出力される。

また、タイミング発生回路３５０３においては同じくブ
リフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセクタマー
クが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号３
５１２が出力される。

第３１図に基づいて、第３０図における従来の再生回路
３５０１に配置されているプリフォーマット波形処理部
について以下に説明する。

再生信号Ｓ１およびＳ２は，加算増幅器３６０２に入力
される。加算増幅器３６０２では、再生信号３１，３２
の極性が異なるＭＯ（データ）部の情報は除かれ、極性
が同じブリフォーマット部の情報のみが出力信号３６０
５として分離される．このようにして得られたプリフォ
ーマット部の出力信号３６０５はＡＧＣアンブ３６０３
に入力される。ＡＧＣアンプ３６０３では、ＡＧＣ回路
内のＡＧＣ電圧発生部（図示しない）から出力されたＡ
ＧＣ電圧によって、所定の再生信号レベルが得られるよ
うに増幅度が制御される。ＡＧＣアンプ３６０３の出力
信号３６０６は、２値化回路３６０４に入力され、２値
化された後、２値化信号３５１０として出力される。そ
して、２値化信号３５１０から、第３０図に示したよう
に、アドレス信号３５１１および記録・再生・消去基準
タイミング信号３５１２がそれぞれアドレス発生回路３
５０２とタイミング発生回路３５０３とによって得られ
る。光磁気ディスクメモリ装置ではこのアドレス信号３
５１ｌと記録・再生・消去基準タイミング信号３５１２
とに基づいて、所望のアドレスのセクタに情報の記録・
再生・消去をおこなうようになっている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、第３１図のＡＧＣアンプ３６０３を用いた上
記従来の装置では、プリフォーマット部３００３のアド
レス情報が再生できない場合がある。つまり、情報の記
録・再生・消去をおこなうべきセクタ３００４が検索で
きなくなり、情報の記録・再生・消去の各動作が不可能
になる。このことについて第３２図および第３３図に基
づいて以下に説明する。

第３２図は、光磁気ディスク上におけるブリフォーマッ
ト部３００３のマーク２８０８の形状、およびその形状
に対応して得られる再生信号振幅を示したものである。

プリフォーマット部３００４はセクタ同期情報を記録し
たセクタマーク部１７０１とアドレス情報を記録した１
０部１７０２とから構威され、情報はどちらも物理的凹
凸によって予め記録されている。同図（ａ）に示される
ように、セクタマーク部１７０１は、一連の縦長形状の
マーク２８０８から戒っており、他のＩＤ部及びデータ
部の情報と明確に区別できるようになっている。一方、
ＩＤ部１７０２は、同図（ｂ）に示されるように、一連
の円形状のマーク２８０８から戒っており、これは例え
ば２．７変調方式（後述する）で得ることができる。こ
のマーク形状の違いから、同図（ｃ）および（ｄ）に示
されるように、縦長形状のマーク２８０８から或るセク
タマーク部１７０１からの再生信号の振幅は円形状のマ
ーク２８０８から或るＩＤ部からの再生信号の振幅より
大きくなり、例えば約２倍である。これは、レーザスポ
ット２７０１内のマーク２８０８の総面積が非マークの
総面積に近いほど、レーザビーム反射光間の干渉が大き
くなり、従って再生信号の振幅も最も大きくなるためで
ある．また、これはマークの幅および深さによって変化
する。例えば、上記第３２図の波形は、セクタマーク部
１７０１とＩＤ部１７０２のマーク２８０８が共に、深
さ約１００ｎｍ、幅約０．４μｍであり、これを、直径
が１．３μｍ（１／ｅ”）のレーザスポットで再生した
ものである。したがって、マーク２８０８の深さ又は幅
、レーザスポット２７０１の直径が変化すれば、上記第
３２図の波形も変化する。

第３３図に基づいて、上記振幅の大きいセクタマーク部
ｌ７０１の信号と振幅の小さいＩＤ部ｌ７０２の信号か
ら構威されるブリフォーマット部３００３の再生信号が
、第３１図のプリフォーマット波形処理部に入力された
場合に従来のＡＧＣアンプ３６０３がＩＤ部１７０２の
信号振幅に応答しないことを以下に説明する。

プリフォーマット部３００３は、第３３図（ａ）に示す
ように、セクタマーク部１７０１とＩＤ部１７０２から
構威されている。前述の理由から、同図（ｂ）に示すよ
うに、セクタマーク部１７０１の再生信号振幅３８０１
はＩＤ部１７０２の再生信号振幅３８０２よりも大きい
。この再生信号は、ＡＣ結合によってＤＣ戒分が除去さ
れた後、ＡＧＣアンブ３６０３に入力される。ＡＣ結合
後の出力信号はＡＣ結合の過渡応答特性によって同図（
Ｃ）に示すような波形になる。ＡＧＣアンブ３６０３で
は、入力信号の振幅に応答して図示しないＡＧＣ電圧発
生部からＡＧＣ電圧が生或され、このＡＧＣ電圧によっ
て出力信号の振幅が所定の大きさになるように自動的に
増幅度が制御される。しかし、プリフォーマット部３０
０３の再生信号のように振幅の大きなセクタマーク部１
７０１の信号の直後に振幅の小さなＩＤ部１７０２の信
号が続く場合、ＡＧＣ電圧は瞬時に変わらないため、増
幅度はセクタマーク部１７０１の信号振幅になお応答し
ており、従ってＩＤ部１７０２の信号に対して増幅度は
低いものとなる。本来、ＩＤ部ｌ７０２の信号を再生す
る場合は、ＩＤ部ｌ７０２の信号振幅にＡＧＣを応答さ
せる必要がある。しかし従来のＡＧＣアンプ３６０３は
ＩＤ部１７０２の信号振幅に応答しない。しかも、セク
タマーク部１７０１の信号振幅とＩＤ部１７０２の信号
振幅との比は一定とは限らない。このため、同図（ｄ）
に示すように、ＡＧＣアンブ３６０３の出力信号中、■
Ｄ部１７０２の信号振幅は小さく、しかも一定ではない
のでアドレス情報を再生できない。つまり、所望のセク
タ３００４を検索できないという問題点を有している．
〔課題を解決するための手段〕 本発明に係る情報記録再生装置は、上記の課題を解決す
るために、情報の再生を行う再生回路内に、再生信号振
幅に応じて再生信号を増幅するオートゲインコントロー
ル部を備え、再生信号振幅の異なる２種類似上のＭ域を
有する記録媒体から情報を再生する情報記録再生装置に
おいて、記録媒体における再生信号振幅の大きい領域の
再生時に上記オートゲインコントロール部の増幅度の低
下を制限する制限手段を設けたことを特徴としている。

〔作　用〕

上記の構或により、記録媒体における再生信号振幅の大
きい領域の再生時に、オートゲインコントロール部の増
幅度の低下を制限する制限手段を設けたので、大振幅信
号直後の小振幅信号に対しても、所定の増幅度が得られ
る。したがって、小振幅信号も再生できる。

〔実施例〕

本発明の実施例を第１図ないし第２２図に基づいて説明
すれば、以下のとおりである。

まず本発明に係る情報記録再生装置として光磁気メモリ
装置について第７図ないし第１５図に基づいて以下に説
明する。第７図は光磁気メモリ装置の構戒を示すブロッ
ク図である。記録媒体としての光磁気ディスクｌ２０１
はスピンドルモータ１２０２によって回転され、光ヘッ
ド１２０３から出射されたレーザビームｌ２０４によっ
て情報の記録・再生・消去がおこなわれる。この時、外
部印加磁石１２０５をモータ等で回転させて磁場の向き
を反転させることよって記録・消去のための外部印加磁
場を得る。また、電磁石により記録・消去のための外部
印加磁場を得てもよい。光ヘッド１２０３内の半導体レ
ーザ（同図中には図示しない）へは、記録回路１２０６
から半導体レーザ駆動電流１２１０が入力される．同駆
動電流Ｉ２１０によって半導体レーザの光強度が適切に
制御されるとともに、記録情報が光磁気ディスク１２０
１に記録される。光ヘッド１２０３からは再生回路１２
０７へ再生信号１２１１（再生信号Ｓ１、Ｓ２）が出力
される。再生回路１２０７において再生された再生デー
タ１２１２はコントローラ１２０８へ送られる。コント
ローラ１２０８では、再生データ１２１２に基づいて各
種の制御信号のタイミングをとるとともに、入力される
信号の状態に基づく制御信号を出力するようになってい
る。即ち、コントローラ１２０８からは各種制御信号ｌ
２１３が記録回路１２０６、および再生回路１２０７へ
送られる。また、コントローラ１２０８から磁場制御信
号１２１４が外部印加磁石１２０５へ伝送され、外部印
加磁場の向きが制御される。

第８図に基づいて上記記録回路１２０６について以下に
説明する．コントローラ１２０Ｂ　（同図中には図示し
ない）から送られた記録データ１３１１は記録回路１２
０６内の変調回路１３０２に入力される。変調回路１３
０２では、記録データｌ３１１が、制御信号１２１３に
よって記録フォーマットに応じた変調データ１３ＩＯに
変換される。この変調は、例えば第１１図に示すような
変調方式（後述する）に従っておこなわれる，変調デー
タ１３１０は、半導体レーザ駆動回路１３０１へ出力さ
れる。半導体レーザ駆動回路１３０１からは半導体レー
ザ駆動電流１２１０が出力され、光ヘッド１２０３内の
半導体レーザ２８０ｌへ伝送される。同時に、半導体レ
ーザ駆動回路１３０１へはコントローラ１２０８からの
制御信号１２１３が入力され、半導体レーザ２８０１の
光強度が記録、再生、および消去の各動作に応じて適切
に制御される。

第９図に基づいて上記再生回路１２０７について以下に
説明する．光ヘッド１２０３　（同図中には図示しない
）からの再生信号１２１１　（再生信号Ｓ１、３２）は
、再生回路１２０７内の信号処理回路１４０１に入力さ
れる。信号処理回路１４０１からは、同期データ１４１
０が復調回路１４０２へ送られ、同時にセクタマーク｛
ｉ号１４１１がコントローラ１２０８へ伝送される。同
期データ１４１０の復調は、第１１図に示すような方式
（後述する）に従っておこなわれる。つまり、第８図に
示す変調回路ｌ３０２とは逆の変換をおこなうことによ
って復調される。信号処理回路ｌ４０１、復調回路１４
０２へはコントローラ１２０８から各種制御信号１２１
３が伝送される。復調回路１４０２からは再生データ１
２１２がコントローラ１２０８へ出力される。

第ｌＯ図に基づいて上記コントローラ１２０日について
以下に説明する。上述の信号処理回路１４０１からのセ
クタマーク信号ｌ４１１は、コントローラ１２０８内の
タイξング発生回路１５０１に入力され、セクタ単位の
タイミングで基準タイミング信号１５ｌＯがコントロー
ル回路１５０２へ伝送される。また、上述の復調回路１
４０２からの再生データ１２１２がコントロール回路１
５０２に入力される。コントロール回路ｌ５０２では、
上記２つの人力信号から各種制御信号ｌ２１３が生或さ
れるとともに、外部装置との情報の人出力がおこなわれ
るようになっている。

次に、第１１図ないし第１５図に基づいて、第８図に示
した記録回路１２０６の動作を以下に説明する。

第８図における変調回路１３０２では、例えば第１１図
に示す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これは
、所謂、２．７変調方式と呼ばれるものである。第１１
図に示すように、入力データ（記録情報）は所定の変調
データのパターンに変換される。さらに、第１２図に示
すフォーマットに従って適切なタイミングで、変調デー
タ１３１０を第８図に示した半導体レーザ駆動回路１３
０１へ出力する。第ｌ２図は、第２５図に示したセクタ
３００４のフォーマットを示すもので以後セクタフォー
マットと称する。第１２図においてブリフォーマット部
３００３は、セクタ単位の同期タイミングを得るための
セクタマーク部１７０１と、セクタのアドレス（番地〉
情報を含んだＩＤ部１７０２とから構威される。これら
は第２５図に示したように、記録・消去できないマーク
、および非マークに対応する物理的な凹凸が光磁気ディ
スク１２０１に刻み込まれている。ＭＯ（データ）部３
００２は、情報データを記録・再生・消去するためのデ
ータ部１７０３と、ふたつのギャップ部１７０４、１７
０５とから構威されている。データ部１７０３に上記変
調データ１３１０が記録される。この時の記録は、第２
３図または第２４図に示したように、光磁気記録による
マーク、および非マークでおこなわれる。なお、ブリフ
ォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３００２との
間に配置されたギャップ部１７０４、工７０５は、デー
タ部１７０３に情報を記録する際の余裕領域である。つ
まり、これらのギャップ部ｌ７０４、１７０５は、スピ
ンドルモータ１２０２の回転と上記セクタ単位の同期タ
イミングとの間に発生する位相誤差によって、記録開始
位置、および記録終了位置が前後にずれるため、これを
見込んだ領域である。

第１３図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路１３０１
について以下に説明する。半導体レーザ駆動回路１３０
１とコントローラ１２０８との間では４つの各種制御信
号１８１０、１８１ｌ、１８１２、および１８１３が入
出力される。また、変調回路１３０２（同図中には図示
しない）からは変調データ１３１０が半導体レーザ駆動
回路１３０１に入力される。上記の再生光量制御信号１
８１０は、再生光量制御回路１８０１に入力され、再生
時に光ヘッド１２０３内の半導体レーザ２８０１の再生
光量が適切に制御されるようになっている。記録・消去
光量制御信号１８１１は、記録・消去光量制御回路１８
０３に入力され、記録時・消去時に対応する半導体レー
ザ２８０１の光量が制御されるようになっている。高周
波重畳スイッチ信号１８１２は、高周波重畳回路１８０
２に入力され、半導体レーザ２８０１の戻り光によるノ
イズが低減される。再生光量制御回路ｌ８０１、記録・
消去光量制御回路１８０３、高周波数重畳回路１８０２
の各出力信号１８１４、１８１５、および１８１６は、
加算回路１８０５で加算され、半導体レーザ駆動電流１
２１０が半導体レーザ２８０１に入力される。半導体レ
ーザ２８０１の光量（光強度）は、光ヘッド１２０３内
の光検出器１８０６によってその光強度に応じて変化す
る電気信号に変換され、光量モニター回路１８０４を介
して光量モニター信号１８１３がコントローラ１２０８
　（同図中には図示しない）へ伝送されるようになって
いる。コントローラ１２０８では、光量モニター信号１
８１３に基づいて、上記３つの制御信号１８１０、１８
１Ｌおよびｌ８１２が出力される。つまり、半導体レー
ザ２８０１の光強度（光Ｍ）が再生時と、記録・消去時
とで適切な強度になるように制御される。なお、高周波
重畳回路１８０２の出力信号１８１６は再生時にのみ加
算回路１８０５へ出力されるようになっている。

第１４図、および第１５図に基づいて、第１３図におけ
る情報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に
説明する。

第１４図（ｂ）に示すように、情報の記録・消去時には
高周波重畳スイッチ信号１８１２は、データ部１７０３
　（同図（ａ）参照）においてローレベル（０）になり
、それ以外ではハイレベル（１）になる。即ち、ＭＯ（
データ）部３００２内のデータ部ｌ７０３において高周
波重畳をオフし、データ部ｌ７０３以外ではオンするよ
うになっている。これに伴って、同図（ｃ）に示すよう
に、変調データｌ３１０はデータ部１７０３において光
磁気記録される。この時、同図（ｄ）に示すように、半
導体レーザ２８０ｌの光量レベル（光強度）１９１０は
データ部１７０３で高レベルになり、それ以外では低レ
ベルになる。つまり、プリフォーマット部３００３内の
セクタマーク部ｌ７０１からセクタ同期タイミングを検
出し、ＩＤ部１７０２からアドレス（番地）情報等を読
み出して、所定のアドレス（番地）を確認しながら、Ｍ
Ｏ（データ）部３００２において情報が記録・消去され
る。

一方、情報再生時には、第１５図（ｂ）に示すように、
ブリフォーマット部３００３、およびＭＯ（データ）部
３００２のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号１
８１２はハイレベル（１）である。また、同図（Ｃ）に
示すように、変調デ−タ１　３　１　０はローレベル（
０）である。さらに、同図（ｄ）に示すように、光量レ
ベル１９１０は低レベルである。つまり、ブリフォーマ
ット部３００３　（同図（ａ）を参照）内のセクタマー
ク部１７０１からセクタ同期タイミングを検出し、ＩＤ
部１７０２からアドレス（番地）情報等を読み出して、
所定のアドレス（番地）を逐次確認しながら、今度はＭ
Ｏ（データ）部３００２から記録された情報が再生され
る。

次に、第１６図ないし第１９図に基づいて第ｌＯ図に示
したタイξング発生回路１５０ｌ、およびコントロール
回路１５０２の動作について以下に説明する。

第１６図はタイミング発生回路１５０１の構或を示すブ
ロック図であり、信号処理回路１４０１（同図中に図示
しない）から出力されたセクタマーク信号１４ｌ１はタ
イミング発生回路１５０ｌ内のセクタマーク検出回路２
１０ｌに入力される。同回路２１０１は、セクタマーク
検出信号２１１０を出力する。セクタマーク検出回路２
１０１では、セクタマークの有無が検出される。セクタ
マーク検出信号２１１０は、カウンタ２１０２、タイマ
ー回路２１０４、判定回路２１０６へそれぞれ伝送され
る。カウンタ２１０２、およびタイマー回路２１０４の
出力信号２１１１、および２１１２は、それぞれスイッ
チ回路２１０３に入力され、同回路２１０３でどちらか
一方が選択された後に基準タイミング信号１５１０とし
て出力される。また、同信号１５１０は、データ部発生
回路２１０７にも入力され、これに基づいてデータ部発
生信号２１１６が出力される。タイマー回路２１０４か
らは、別の出力信号２１１３がウインドウ発生回路２１
０５へ伝送される。同回路２１０５の出力信号であるウ
ィンドウ信号２１１４は、判定回路２１０６へ入力され
る。判定回路２１０６では、ウィンドウ信号２ｌ１４と
セクタマーク検出信号２１１０とから、タイ４ング判定
信号２ｌ１５が出力される。同判定信号２１１５により
、スイッチ回路２１０３では、カウンタ２１０２の出力
信号２１１１とタイマー回路２１０４の出力信号２１１
２のどちらか一方が選択される。

基準タイミング信号１５１０、データ部発生信号２１１
６、およびタイミング判定信号２１１５は、それぞれコ
ントロール回路１５０２　（第１０図参照）へ伝送され
る。コントロール回路ｌ５０２は、これらのタイ逅ング
発生回路１５０ｌから出力される各種信号と、再生デー
タ１２１２とに基づいて、前述した各種制御信号１２１
３を記録回路１２０６、および再生回路１２０７　（第
７図参照）へ伝送し、情報の記録・再生・消去の各制御
をおこなうようになっている。

第１７図に基づいて第１６図に示したセクタマーク検出
回路２１０１について以下に説明する。

信号処理回路１４０１　（同図中には図示しない）から
出力されたセクタマーク信号ｌ４１１は、カウンタ回路
２２０１を構戒するカウンタ１〜９の各入力へ伝送され
る。カウンタ１〜９の各出力信号２２１１〜２２１９は
、判定回路２２０２へそれぞれ伝送され、この結果に基
づいてセクタマーク検出信号２ｌ１０が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路２１０ｌは、セクタマ
ーク部１７０１　（第１３図参照）を検出し、セクタ単
位の記録・再生・消去の各動作をおこなうのに必要な同
期タイミングを得る回路である。

第１８図に基づいて上記のカウンタ１〜９の動作を以下
に説明する。セクタマーク部１７０ｌのパターンの一例
として、同図（ｂ）に示すようなマーク、および非マー
クから構威されるものを示す。この例では、同図（ａ）
に示すように、マーク長、および非マーク長の比が５：
３：３：７：３：３：３：３：５の順序になるようにマ
ークが刻み込まれている。このセクタマークのパターン
には、第１２図に示したデータの変調方式とは全く異な
るものが用いられている。したがって、情報データとは
分離して検出できるようになっている。このマーク、お
よび非マークのパターンを再生して得られるセクタマー
ク信号１４１１は、同図（Ｃ）に示すように、マークの
部分でローレベル（０）、非マークの部分でハイレベル
（１）となる２値信号に変換される。このセクタマーク
信号１４１１がカウンタ１〜９にそれぞれ入力されると
、ますカウンタ１は、マーク長５の長さに対応するカウ
ンタクロック２３ｌＯの数をカウントする。カウンタク
ロック２３１０は、同図（ｄ）で示すように、セクタマ
ーク信号１４１１よりも高い周波数を有している．そし
て、このカウント数が所定範囲内であれば最初のマーク
（マーク長５）が正確に検出されたことになる。続いて
、カウンタ２において同様に非マーク長３の長さの非マ
ークが検出される．このように順次セクタマーク部１７
０１のマーク、および非マークが検出され、最後にマー
ク長５の長さをカウンタ９が検出する。このようにして
得られた９個の、マークまたは非マークの検出信号２２
１１〜２２１９が判定回路２２０２へ伝送される。そし
て、この９個の検出結果のうち、全て、またはその一部
がセクタマーク部ｌ７０１のパターンと一致しているか
否かが判定されるとともに、マーク・非マークの順序が
判定される。この結果、セクタマーク部であると判定さ
れた場合のみ、セクタマーク検出信ｌ　ｔ　ｉ　ｏがロ
ーレベル（０）になる。従って、この信号２１１０はセ
クタ単位の同期タイ湾ングとして使用することができる
。

第１９図に基づいてタイミング発生回路１５０ｌの各部
の波形を以下に説明する。

同図（ｂ）に示すように、セクタマーク検出信号２１１
０はブリフォーマット部３００３内のセクタマーク部１
７０１　（．同図中（ａ）に示す）を検出するとローレ
ベルになる。同検出信号２１１０の立ち下がりエッジが
セクタの同期タイミングになる。同図（Ｃ）に示すよう
に、カウンタ２１０２は、同検出信号２１１０の立ち下
がりエッジから所定カウント後にカウンタ出力信号２１
１１をローレベルにする。一方、タイマー回路２１０４
のカウント数は、上記カウンタ２１０２のカウント数を
加えて１つのセクタ長分だけカウント数が大きい。従っ
て、同図（ｄ）に示すように、タイマ回路２１０４の出
力であるタイマ回路出力信号２ｌ１２の立ち下がりエッ
ジは、次のセクタの信号２１１１の立ち下がりエッジと
タイミングがほぼ一致する。また、同図（ｅ）に示すよ
うに、ウインドウ発生回路２１０５の出力信号２１１４
は、セクタマーク検出信号２１１０の立ち下がりエッジ
を基準に、次のセクタにおけるセクタマーク検出信号２
１１０の立ち下がりエッジ付近で所定のウインドウ幅を
もってローレベルになるようになっている。判定回路２
１０６の出力信号であるタイ藁ング判定信号２１１５は
、ウインドウ発生回路２１０５の出力信号２１ｌ４がロ
ーレベルの時に、セククマーク検出信号２１１０の立ち
下がりエッジが存在すれば、同図（ｆ）中の実線で示す
ように、ハイレベルになるようになっている。

一方、セクタマーク検出信号２１１０の立ち下がりエッ
ジが存在しなければローレベルになるようになっている
（同図（ｆ）中の破線で示す）。従って、タイミング判
定信号２１１５は、セクタマークの検出が所定の範囲で
検出できたか、あるいは検出ミスであったかを判定する
信号になる。スイッチ回路２１０３においては、セクタ
マークの検出ができた場合には信号２１１１が選択され
、そうでなく検出ごスである場合には信号２１１２が選
択されるようになっている。この結果、同図（ｇ．）に
示すように、基準タイミング信号１５１０はセクタマー
クの検出ξスが発生してもそのタイミング信号を確実に
出力できる。即ち、上記に示したようにひとつ前のセク
タのタイミングに基づいて補正をおこなうことができる
。このようにして得られた基準タイミング信号１５１０
は、データ部発生回路２１０７へ伝送される。同回路２
１０７はカウンタの一種であり、その出力であるデータ
部発生信号２１１６はデータ部１７０３でローレベルに
なる．（同図（ｈ）を参照）つまり、データ部発生信号
２ｌ１６は、プリフォーマット部３００３とＭＯ（デー
タ）部３００２とを判別する信号として利用できる。こ
のようにして得られた基準タイミング信号１　５　１　
０，タイミング判定信号２１１５、およびデータ部発生
信号２１１６は、第１１図に示したコントロール回路１
５０２へ伝送される。同回路１５０２では、これらの信
号に基づいて前述の各種制御信号１２ｌ３が生威される
。

次に、第２０図ないし第２２図に基づいて、第９図に示
した信号処理回路■４０１の動作について以下に説明す
る。

光磁気ディスクｌ２０１から再生された再生信号１２１
１　（再生信号Ｓ１、Ｓ２）は、信号処理回路１４０１
内のバッファアンプ２５０１に入力される。その出力信
号２５１０は、ＭＯ波形処理部２５０２とプリフォーマ
ット波形処理部２５０３とへ伝送される。これらの回路
からは、ＭＯ（データ）部３００２とブリフォーマット
部３００３とのマーク、および非マークに対応した２値
化信号２５１１、２５１２がそれぞれ出力される。

これらの２値化信号２５１１、２５１２はデータ同期部
２５０４に入力され、データ同期部２５０４内のＰ　Ｌ
　Ｌ　（Ｐｈａｓｅ　Ｌｏｃｋｅｄ　Ｌｏｏｐ　）にお
いて、クロックと同期した同期データ１４１０が出力さ
れ、復調回路１４０２　（同図中には図示しない）へ伝
送される。また、ブリフォーマット波形処理部２５０３
ではセクタマーク信号ｌ４１１が生或され、タイミング
発生回路１５０１へ伝送される。信号処理コントロール
部２５０５では、信号処理回路１４０１内の各部間の各
種制御信号２５１４〜２５１７が入出力される。また、
第１０図に示したコントローラ１２０８との間で各種制
御信号１２１３が入出力される。

第２１図および第２２図は、信号処理回路１４０１の各
部の波形を示す図である。第１１図（ｂ）、および同図
（Ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はＭＯ波形処
理部２５０２において差動されてＭＯ（データ）部３０
０２の情報のみが分離され、さらに２値化され、ＭＯＺ
値化信号２５１１が生或される（同図（ｄ）を参照）。

また、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマット波形処理
部２５０３において加算されてブリフォーマット部３０
０３の情報のみが分離され、さらに２値化されて、ＩＤ
２値化信号２５１２とセクタマーク信号１４１１が得ら
れる（同図（ｅ）、および同図（ｇ）を参照）．再生信
号Ｓ１、Ｓ２の差動および加算によってＭＯ（データ）
部３００２とブリフォーマット部３００３が分離できる
理由は、第２９図に示したように、再生信号Ｓ１、Ｓ２
の極性がＭＯ（データ）部３００２では逆であり、ブリ
フォーマット部３００３においては同じだからである．
Ｍ０２値化信号２５１１とＩＤ２値化信号２５ｌ２とは
、同図（ｆ）に示すように、それぞれデータ同期部２５
０４におい゛てクロックと同期した同期データ２５１３
に変換される。

第２２図は、第２１図の波形を詳細に説明する図である
。変調データ１３１０　（第２２図（ａ）を参照）に基
づいて記録されたマーク、および非マークはレーザスポ
ット２７０１の照射によって再生される（同図（ｂ）を
参照）。同図（Ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２
はマークの中心でピークになる信号である。ＭＯ２値化
信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２は、このピ
ーク位置を検出した信号であり、その立ち上がりエッジ
がピーク位置と一致している（同図（ｄ）を参照）。デ
ータ同期部２５０４内のＰＬＬにおいて、ＭＯ２値化信
号２５１１または！Ｄ２値化信号２５１２から同期クロ
ックを生威し、このクロックと同期させて同期データ２
５１３を得ている。同図（ｅ）に示すように、同期デー
タ２５ｌ３は変調データ１３１０を忠実に再生したデー
タとなる。

次に、本実施例におけるプリフォーマット波形処理部２
５０３内のＡＧＣアンプについて、第１図ないし第６図
に基づいて以下に説明する。

まず第１図に基づいて、プリフォーマット波形処理部２
５０３の動作を説明する。以下、バッファアンプから出
力された再生信号を３１’　、Ｓ２’と称する。再生信
号Ｓｔ’、３２゜はオートゲインコントロール部として
の加算ＶＣＡ（電圧制御アンプ）１０１に入力され、極
性の異なるＭＯ（データ）部３００２の信号は除かれる
。そして、極性の同じブリフォーマット部３００３の信
号のみが分離され、出力される。加算ＶＣＡＩＯＩの出
力信号１１４は、クランブ回路１０７とローバスフィル
ター１０２の両方に人力される。

クランプ回路１０７では入力信号のＤＣ戒分が除かれる
とともに、信号の上限または下限が所定の電圧にクラン
プされるようになっている。クランプ回路１０７の出力
信号１２０はコンパレータ１０８で基準電圧と大小比較
することにより、２値化され、セクタマーク信号１４１
１として第１７図のタイミング発生回路１５０１に送ら
れる。

一方、ローパスフィルタ１０２に入力された加算ＶＣＡ
１１９の出力信号１１４は、ここで高周波ノイズが除去
され、イコライザ１０３と微分ゼロクロス検出回路１０
９へ送られる。イコライザ１０３は高域の周波数が強調
される増幅度特性になっているため、凹凸マークが接近
して存在したときに生じる高域の周波数或分を持つ再生
信号の重なりが分離される。イコライザ１０３の出力信
号１１７はリミッタ１０４（制限手段）に入力され、セ
クタマーク部１７０１の信号振幅がＩＤ部ｌ７０２の信
号振幅と同じ程度になるようにセクタマーク部１７０ｌ
の信号振幅のみが制限される。

リミッタ−１０４の出力信号１１７はクランプ回路１０
５に入力され、ＤＣ或分が除かれるとともに、信号の上
限または下限が所定の電圧にクランブされる。クランプ
回路１０５の出力信号１１８はＡＧＣ電圧発生部１０６
とゲート発生回路１１２に入力される。ＡＧＣ電圧発生
部１０６ではクランブ回路１０５の出力信号１１８に応
じてＡＧＣ電圧１１９が生戒され、このＡＧＣ電圧１１
９によって加算ＶＣＡＩＯＩの増幅度が自動的に制御さ
れる。一方、微分ゼロクロス検出回路１０９に入力され
たローバスフィルタ１０２の出力信号１１５は、微分回
路（図示しない）を介してゼロクロスが検出され、ＩＤ
ゼロクロス信号１１０として出力される。このＩＤゼロ
クロス｛１１１０、およびゲート発生回路１１２で生威
されたＩＤゲート信号１ｌ３からＩＤ２値化信号が得ら
れる．第２図は、第１図におけるローパスフィルタ１０
２の一興体例を示すものである。

ローパスフィルター１０２は抵抗２０１、２０２、２０
３、コンデンサ２０４、２０５、コイル２０６、２０７
で構戒され、加算ＶＣＡＩＯＩ（７）出力信号中に含ま
れる高周波数のノイズを除去するために設けられている
。ローパスフィルター１０２の出力信号は、抵抗２０８
、２０９、コンデンサ２１０、２１１から成るハイパス
フィルターによってイコライザ１０３と微分ゼロクロス
回路１０９にＡＣ結合される。

第３図は、第１図におけるリミッター回路１０４の一具
体例を示すものである。

リミッター回路１０４は２つのリミッタ−３０１・３０
２を有する。リミッタ−３０１は、ＮＰＮトランジスタ
３０３、抵抗３０４、３０５、ツェナーダイオード３０
６から構威され、リミッタ−３０２は、ＰＮＰ　｝ラン
ジスタ３０７、抵抗３０８、３０９、ツエナーダイオー
ド３１０から構威される。イコライザ１０３からは互い
に逆極性の２つの出力信号１１６が差動出力される。こ
れらの出力信号１１６はりミッタ−３０１、３０２に入
力され、リミッタ−３０１では信号振幅の上限がグラン
ドに対してツェナー電圧以上には上がらないように、り
よツタ−３０２では信号振幅の下限がツユナーダイオー
ド３１０の印加電源電圧に対してツェナー電圧以下には
下がらないように、それぞれ振幅制限が行われる。

第４図は、第１図におけるＡＧＣ電圧発生部１０６の一
具体例を示すものである。

クランブ回路１０５の出力信号１１８は、コンバレータ
４０１の反転入力端子に入力され、非反転入力端子に印
加されている基準電圧■。と大小比較される。出力信号
１１８の振幅が基準電圧■。

を越える場合、コンバレータ４０１の出力がハイレベル
となり、トランジスタ４０２はＯＮするので、コンデン
サ４０６は充電抵抗４０４を介して電源■。によって充
電され、コンデンサ４０６の両端の電圧が大きくなる。

このときの充電時定数は、充電抵抗４０４とコンデンサ
４０６によって決まる。こうして得られたコンデンサ４
０６の両端の電圧が増幅度制御用のＡＧＣ電圧１１９と
して加算ＶＣＡＩ　０　１に送られ、加算ＶＣＡＩＯＩ
の増幅度が下げられる。一方、出力信号１１８の振幅が
基準電圧ｖ０を越えない場合、コンパレータ４０１の出
力がローレベルとなり、トランジスタ４０２はＯＦＦす
るので、コンデンサ４０６に蓄えられた電荷は放電抵抗
４０５を介して放電され、コンデンサ４０６の両端の電
圧が小さくなる．このときの放電時定数は、放電抵抗４
０５とコンデンサ４０６によって決まる。こうして得ら
れたコンデンサ４０６の両端の電圧が増幅度制御用ｆ７
）ＡＧＣ電圧１１９として加算型ＶＣＡ１０１に送られ
、加算ＶＣＡＩＯＩの増幅度が上げられる。

第５図は、ＡＧＣ電圧発生部１０６前段に制限手段とし
てのりξツター回路１０４を設けたことによるＡＧＣ電
圧への影響を示すものである。

すなわち、リミッター回路のない場合、ＡＧＣ電圧は、
同図（ｂ）に示すように、ブリフォーマット部３００３
の再生信号中、大振幅領域であるセクタマーク部１７０
１の大きい振幅３８０１　（同図（ａ）を参照）に応答
して、大きい電圧になっている。そして、放電時定数が
有限であるため小振幅領域であるＩＤ部１７０２におい
てもＡＧＣ電圧はなお大きく、ＩＤ部１７０２に応答し
た値まで下がっていない。したがって、ＩＤ部１７０２
の信号に対して充分な増幅度が得られない。

一方、ＡＧＣ電圧発生部１０６前段にリミッタ一回路１
０４を設けた場合、プリフォーマット部３００３の再生
信号中、セクタマーク部１７０１の振幅３８０１’　は
りミッター回路１０４でＩＤ部１７０２の振幅３８０２
と同程度となるように制限されているので（同図（Ｃ）
を参照），ＡＧＣ電圧は、同図（ｄ）に示すように、Ｉ
Ｄ部１７０２の振幅にも応答するようになる。したがっ
てＩＤ部１７０２の信号に対して適切な増幅度が得られ
る。

第６図は、第１図のブリフォーマット波形処理部内の各
部における波形を示している。

同図（ａ）は、セクタフォーマットを示し、同図（ｂ）
は、再生信号Ｓ１、またはＳ２のセクタマーク部１７０
１の信号振幅３８０１とＩＤ部の信号振幅３８０　１を
示している。光（磁気）メモリにおける再生信号は、磁
気メモリ等の再生信号とは異なり、ＤＣ或分を持つ。つ
まり、再生パルスは上下両方向にではなく、片側にのみ
生じる。

このためにセクタマーク部の信号振幅３８０１はＩＤ部
の信号振幅３８０２に対して、片側にのみ大きくなって
いる。同図（ｃ）は、り壽ツター回路１０４の入力信号
１１６を示している。リミッター回路１０４前段に設け
られたＡＣ結合の過渡応答によって、図のような波形と
なっている。

同図（ｄ）は、リミッター回路１０４の出力信号１１７
を示しており、セクタマーク部１７０１の信号振幅はＩ
Ｄ部１７０２の信号振幅と同程度となるように制限され
ている。この図から、セクタマーク部１７０１の信号振
幅の制限は片側に対してのみ行えばよいこと、およびＡ
Ｃ結合の過渡応答を利用することによって、効果的にセ
クタマーク部１７０１の信号振幅のみを制限できること
がわかる。なお、ＡＣ結合の過渡応答時定数は、再生情
報に影響がないように、できる限り小さくすることが望
ましい。また、過渡応答時定数が小さ過ぎると、セクタ
ーマーク部１７０１の信号振幅制限が充分行われず、セ
クターマーク部１７０ｌの後部の振幅が残存することに
なる。逆に大き過ぎると、ＩＤ部１７０２の信号振幅を
制限してしまうことになる。したがって、セクターマー
ク部１７０１の信号振幅だけが制限を受けるように過渡
応答時定数を設定することが望ましい。同図（ｅ）は、
ＡＧＣ，つまり、加算ＶＣＡＩＯＩによる増幅度の調整
が作動中におけるクランブ回路１０５の出力信号１１８
を示している。

第３３図（ｄ）の従来のＡＧＣアンプの出力信号と比較
すると、セクタマーク部１７０１の信号振幅による影響
が軽減され、ＩＤ部１７０２の信号振幅に応答して、Ａ
ＧＣが作動していることがわかる。したがって、所定の
ＩＤ部１７０２の信号振幅を得ることができ、アドレス
情報を再生できるようになるとともに、所望のセクタ３
００４を検出できるようになる。

なお、リミッター回路１０４に代えて、セクタマーク部
１７０１の信号の期間だけ、サンプルホールド回路等の
ホールド手段でＡＧＣ電圧をホールドするようにしても
よい。そうすればセクタマーク部１７０１の信号振幅に
応答して増幅度が影響されることはない。この場合、上
記のホールド手段が、セクタマーク部１７０ｌの再生時
における加算ＶＣＡＩ　０　１の増幅度の低下を抑制す
る制限手段となる。セクタマーク部１７０１の信号の期
間の検出は、例えば、第１６図のセクタマーク検出回路
２１０１によって行えばよい。

又、セクタマーク部１７０１の検出は、例えば、再生信
号中にパルス群が存在するか否かに基づいて、記録済の
情報が存在するか否かを検出するパルス群検出回路を使
用し、このパルス群検出回路で予め凹凸により情報の記
録されているブリフォーマット部３００３を検出し、プ
リフォーマット部３００３における先頭部分がセクタマ
ーク部１７０１であると判定するようにしても良い。

又、上記制限手段以外に、ＡＧＣアンプの時定数（例え
ば、ＡＧＣ電圧発生部１０６中のコンデンサ４０６）を
セクタマーク部１７０１の期間よりも充分大きくすれば
、ＡＧＣがセクタマーク部ｌ７０１の信号振幅に応答し
なくなる。ただしＡＧＣの応答速度が遅くなるので、速
い振幅変動には追従しにくくなる。こうすれば、わずか
な影響は受けるものの、プリフォーマット部の大半を占
めるＩＤ部１７０２の信号振幅に応答するようになり、
これも増幅度の低下を制限する制限手段とすることがで
きる。

又、上記実施例ではｒＤ部ｌ７０２の信号振幅に対して
ＡＧＣが応答するようにした例を示したが、セクタマー
ク部１７０１に対するＡＧＣとしては、専用にＡＧＣア
ンプを配置すれば、セクタマーク部１７０１の信号振幅
にも応答できることは言うまでもない。

なお、上記の実施例では、光磁気ディスクについて説明
したが、再生専用型の光ディスク等にも応用できる。

〔発明の効果〕

本発明に係る情報記録再生装置は、以上のように、情報
の再生を行う再生回路内に、再生信号振幅に応じて再生
信号を増幅するオートゲインコントロール部を備え、再
生信号振幅の異なる２種類似上の領域を有する記録媒体
から情報を再生する情報記録再生装置において、記録媒
体における再生信号振幅の大きい領域の再生時に上記オ
ートゲインコントロール部の増幅度の低下を制限する制
限手段を設けた構威である。

上記の構戒により、記録媒体における再生信号振幅の大
きい領域の再生時に、オートゲイソコントロール部の増
幅度の低下を制限する制限手段を設けたので、大振幅信
号直後の小振幅信号に対しても、所定の増幅度が得られ
る。したがって、小振幅信号も再生できる。

【図面の簡単な説明】 第１図ないし第６図は、本発明の一実施例を示すもので
ある。 第１図は、ブリフォーマット波形処理部の構或を示すブ
ロック図である。 第２図は、ローバスフィルタの回路構或を示す図である
。 第３図は、リミッター回路の回路構或を示す図である。 第４図は、ＡＧＣ電圧発生部の回路構戒を示す図である
。 第５図は、ＡＧＣ電圧の波形を従来例との比較において
示す図である。 第６図は、第ｌ図のブリフォーマット波形処理部内の各
部の波形を示す図である。 第７図ないし第２２図は、本発明に係る光磁気メモリ装
置の構威を説明するためのものである。 第７図は、光磁気メモリ装置の構或を示すブロック図で
ある。 第８図は、記録回路の構成を示すブロック図である。 第９図は、再生回路の構或を示すブロック図である。 第１０図は、コントローラの構威を示すブロック図であ
る。 第１１図は、記録情報の変調方式の一例として、２．７
変調方式を説明した図である。 第１２図は、セクタのフォーマットを示す図である． 第１３図は、半導体レーザ駆動回路の構或を示す図であ
る。 第１４図、および第１５図は、第１３図における情報の
記録・消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ
駆動回路の各部の波形を示す図である。 第１６図は、タイ稟ング発生回路の構戒を示すブロック
図である。 第１７図は、セクタマーク検出回路の構或を示すブロッ
ク図である。 第１８図は、第１７図を構或するカウンタの動作を模式
的に説明した図である。 第１９図は、タイξング発生回路の各部の波形を示す図
である。 第２０図は、信号処理回路の構或を示すブロック図であ
る。 第２ｌ図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である
。 第２２図は、第２１図をさらに詳しく説明した図で、Ｍ
Ｏ（データ）部およびブリフォーマット部のマークから
２値化データの生或過程を説明する図である。 第２３図ないし第３３図は従来例を示す図である。 第２３図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光
磁気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明す
る図である。 第２４図は、光磁気ディスクの再生動作を示す図である
。 第２５図、および第２６図は、光磁気ディスク上におけ
るプリフォーマット部とＭＯ（データ）部との関係を示
す図である。 第２７図は、再生時の光学系の要部の構或を示すブロッ
ク図である。 第２８図および第２９図は、ＭＯ（データ）部、および
ブリフォーマット部における再生信号Ｓ１、Ｓ２のそれ
ぞれの極性についての説明図である。 第３０図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイ
ミング発生回路との関係を示す図である。 第３１図は、ブリフォーマット波形処理部の構戒を示す
ブロック図である。 第３２図は、マーク形状と再生信号の振幅との対応を示
す図である。 第３３図は、第３１図のブリフォーマット波形処理部内
の各部の波形を示す図である。 １０１は加算ＶＣＡ　（オートゲインコントロール部）
、１０４はりξツター回路（制限手段）、１２０１は光
磁気ディスク（記録媒体）、１７０１はブリフォーマッ
ト部（大振幅領域）、１７０２はＭＯ（データ）部（小
振幅領域）である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、情報の再生を行う再生回路内に、再生信号振幅に応
   じて再生信号を増幅するオートゲインコントロール部を
   備え、再生信号振幅の異なる２種類似上の領域を有する
   記録媒体から情報を再生する情報記録再生装置において
   、 記録媒体における再生信号振幅の大きい領域の再生時に
   上記オートゲインコントロール部の増幅度の低下を制限
   する制限手段を設けたことを特徴とする情報記録再生装
   置。