JPH0311149B2 - - Google Patents

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JPH0311149B2
JPH0311149B2 JP56054950A JP5495081A JPH0311149B2 JP H0311149 B2 JPH0311149 B2 JP H0311149B2 JP 56054950 A JP56054950 A JP 56054950A JP 5495081 A JP5495081 A JP 5495081A JP H0311149 B2 JPH0311149 B2 JP H0311149B2
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JP
Japan
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data
voltage
rows
output
circuit
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JP56054950A
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English (en)
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JPS5713865A (en
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Oo Raian Jon
Eru Kookari Josefu
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Ampex Corp
Original Assignee
Ampex Corp
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Publication date
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Publication of JPH0311149B2 publication Critical patent/JPH0311149B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/80Camera processing pipelines; Components thereof
    • H04N23/81Camera processing pipelines; Components thereof for suppressing or minimising disturbance in the image signal generation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Processing Of Color Television Signals (AREA)
  • Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はテレビジヨン画像における誤差の修整
に関するものであり、とくに、カメラ動作モード
で水平および垂直の補間を行いカメラヘツドに誤
差修整波形を与える誤差修整回路に関するもので
ある。 この種の誤差修整回路においては、カメラ設定
モードでテレビジヨン画像内の所定の誤差を測定
し、その測定した誤差を個々に記憶する種々のシ
ステムが利用されている。そして、つぎのカメラ
動作モードで、測定誤差に対応する誤差修整波形
を、カメラヘツド内の誤差修整システムを利用し
ていくつかの制御入力、走査偏向器などに加え、
画像内の所定の誤差を修整するようにしている。
このようなシステムでは、誤差測定回路が用いら
れている。誤差測定回路は一般にカメラヘツドか
ら遠く離れた位置に配置され、かつカメラ動作モ
ードで動作するようにされている。 また、このような修整装置は、一般にポテンシ
ヨンメータ、積分器、コンデンサなどのアナログ
装置を用いるものが主流をなしている。そして測
定された誤差はこれらの装置を用いて符号化、多
重化および複号化されている。一般にこの処理を
行うには非常に多くのアナログ回路を必要とし、
多くのシステムでは無視できないドリフトや安定
性の問題を生じている。また、カメラヘツド、す
なわち修整回路は通常測定回路から信号を連続し
て入力している。したがつて不都合が生じないよ
うにするためには上記アナログ装置を絶えず監視
し再調整する必要がある。 最近では誤差測定や修整システムの改良が進
み、外部設置型のデジタル測定回路が開発されて
いる。この測定回路は、設定モードで誤差測定信
号を自動的に発生し、その信号をデイジタル形式
に変換してカメラヘツドに内蔵されたデイジタル
誤差修整回路に出力する。測定された誤差データ
は差分サンプル値技法によつて変換され、デジタ
ル形式でカメラヘツド内に記憶される。この記憶
されたデータは、つぎのカメラ動作モードで誤差
測定回路とは別に誤差修整回路で用いられる。つ
ぎのカメラ動作モードでは修整回路が差分データ
をデジタル形式で読み出し、1の修整点から他の
修整点まで補間を行い、差分データの絶対値をと
つて、アナログの誤差電圧波形を発生し、これを
基底偏向波形に重畳して、たとえば水平および垂
直空間の誤差修整を行つている。同様にシエーデ
イング誤差修整においても信号を検索し、その信
号をアナログ信号に変えてビデオ処理回路に送る
ことによつて、シエーデイング誤差修整を行つて
いる。 しかし、このような誤差修整回路は回路全体が
複雑で、しかも空間誤差測定や修正回路には現在
要求されている精度に達していないものがある。 従来技術として述べたアナログ式の誤差測定や
デジタル式の誤差修正システムには、たとえば特
開昭56−158588号に記載されたものがある。 そこで、本発明は従来技術の欠点を克服し、水
平および垂直補間をデイジタル式に行つて、空間
およびシエーデイング修整用のビデオ修正信号を
発生する簡単で高精度のデイジタル誤差修整回路
を提供することにある。 このためにここで説明する2次元補間器の垂直
補間部は、ランダムアクセスメモリ(RAM)か
ら2組のワードを受け取る。この2組のワードは
現在修整を行つている走査線の上下にある修整マ
トリツクス行から出される修整データに対応す
る。この2組のデータから出されるワードはイン
ターリーブされる。すなわち上下行に含まれる一
連のワードは所定の順序で交互に配列され、イン
ターリープされたデータの流れに形成される。こ
のデータの流れは電圧波形とともに乗算D/A変
換器に入力される。一方の電圧波形は乗算D/A
変換器の乗算電圧入力に入力される。この電圧波
形は2つの電圧レベルをインターリーブして組み
合わせたもので、各電圧波形の値は上下の修整行
内で修整を行つている走査線の位置によつて決ま
る。この2つの電圧と2組のデータは適当に組み
合わされて処理され、順次インターリープされ
る。その結果、データ列が発生するが、その中か
らある電圧が一時的にストアされ、データ列の他
の電圧と加えられて、垂直出力であるデータ列を
発生する。このデータ列は修整している走査線の
上下にある行をそれぞれ重み付けして加えたもの
である。 垂直出力に関するデータ列は次の水平補間部に
送られる。垂直補間器から出力されたデータ列の
奇数番目と偶数番目の値はその接合部の加算点で
加えられ、その和に更に反転したビデオ修整出力
波形と直流オフセツト電圧が加えられる。後者の
オフセツト電圧は出力波形を調整するもので、例
えば+21/2から−21/2ボルトの範囲で設定され
る。その結果、加算点の出力電圧は現在の出力波
形と次の修整開始時点で入力されてくる波形との
差になる。この差電圧は個々にサンプルされ、出
力積分器に入力される。ここで使用されている出
力積分器は修整間隔と一致した時定数を有する。
この積分器は、今出力している電圧レベルからそ
の電圧+差電圧までの傾斜電圧を発生する。この
出力電圧はビデオ修整信号として用いられる。 第1図を参照すると、図示の補間回路10は垂
直(V)補間器(部)12と水平(H)補間器
(部)14とから構成され、後者の水平(H)補
間器(部)14はその入力がV補間器12の出力
に接続されている。この補間回路10には更に測
定した誤差データを8ビツトワード形式で記憶す
るランダムアクセスメモリ(RAM)16が備わ
つている。誤差データはカメラシステムの誤差測
定回路を用いて測定される。そして、測定された
誤差データは、それぞれカメラシステムのマルチ
プレクサ(図示せず)、マイクロプロセツサ制御
システム18並びにデータおよびアドレス入力バ
ス20,22を介してRAM16に記憶される。
また、図示のインターフエース回路24は、補間
回路10とマイクロプロセツサ制御システム18
との間で信号の授受を行わせるに必要な制御論理
タイミング/制御記号やアドレス等を発生する。
これらの例、すなわち誤差測定、マルチプレクサ
およびマイクロプロセツサ制御システム、並びに
これらと空間/シエーデイング誤差修整器
(SEC)回路との関係は前述の特開昭56−158588
号に記載されている。このうち、ここで述べる補
間回路10は基本的には前述のカメラシステムの
SEC回路部に相当する。 補間回路10は走査用のビデオ修整信号、すな
わち水平および垂直空間誤差修整信号、ならびに
黒/白シエーデイング修整信号を発生する。この
修整信号の発生に用いられるデータは、修整点を
16×16のマトリクス状に配列した配列から発生す
る。これらの修整点はテレビジヨン画像全体にわ
たつて水平および垂直方向に均等に分布されてい
るが、実際の有効画面では第2図に示すように13
×14の修整点配列が現れる。これらの点間では制
御波形が非常に滑らかに(線形に)変わる。上記
補間回路10の機能は、これらの修正点の間で水
平および垂直の補間を厳密に行つて波形を滑らか
にすることにある。182個(13×14)の修正点に
対応する誤差データは前述した誤差測定回路によ
り与えられる。そして、これらのデータも一般に
類似のサンプリング配列、すなわちテレビジヨン
の有効画面全体に均等分布させた13×14のブロツ
クに配列される。このような誤差修整回路は例え
ば特開昭57−13866号に記載されている。 VおよびH修整データの入力に伴つてそのアド
レス位置を指定するVおよびHアドレスが関連す
るインターフエース回路24、とりわけマイクロ
プロセツサ制御装置18の制御下にあるタイミン
グ発生器/回路30から出力される。このアドレ
スはデータ入力の際VおよびHアドレスバス2
6,28を介してRAM16にそれぞれロードさ
れる。一方、データはデータラツチ31を介して
RAM16にロードされる。データラツチ31は
リード線33に出されるRGB、HおよびVチヤ
ネル選択コマンドに従つてデータの行き先を決め
る。前述のRAM16はインターフエース回路2
4のタイミング発生器/回路30から制御リード
線32に出されるライトイネーブルおよびRAM
ストロープ信号に基づいてロードされる。Vアド
レスは図に示すように加算器34を介して入力さ
れる。この際加算器34はリード線36に出され
る上/下行選択コマンドに基づいて動作する。 RAM16の記憶内容は制御リード線32に出
力されるリードイナーブル信号に基づいて読み出
され、マルチプレクサバス40を介して乗算デイ
ジタル・アナログ(D/A)変換器38に入力さ
れる。このD/A変換器38の書込み制御入力は
リード線41に接続されている。 インターフエース回路24内にあるランプ発生
器42はリード線44に出される走査線クロツク
に基づいて水平周波数に関係した階段状の電圧を
発生する。この階段状の電圧はVローア電圧とし
て切換スイツチ46に供給され、又インバータ4
8および加算点50を介することでVアツパー電
圧としても供給される。加算点50の入力52に
は一定の直流電圧(たとえば2.5V)がバイアス
されている。そして、前述のスイツチ46にはリ
ード線36に出される下行選択コマンドに関係し
た250KHzのロツク信号に基づいてVローア入力
かVアツパー入力のいずれかを選択する手段が備
わつている。この場合、リード線36にロツク信
号が出されると、下の行(Vローア入力)を選択
する。スイツチ46の出力はリード線54を介し
てD/A変換器38の基準、すなわち乗数入力に
関係した電圧入力に入力される。 D/A変換器38の出力端の1つはサンプルホ
ールド(S/H)回路56を経由して抵抗加算点
58に接続され、もう1つは増幅器60の負入力
を介して抵抗加算点58に接続されている。増幅
器60の正入力はアースされている。一方、S/
H回路56はリード線62に出されるサンプル1
のパルス(250KHz)により動作するようにされ
ている。また、加算点58の他の入力にはリード
線64を介してVオフセツト電圧が印加される。
加算点58の出力は演算増幅器66に入力され、
ここでリード線68に出されるサンプル2のパル
スに基づいて短時間(250ns)にサンプルされる。
演算増幅器66は積分器70に接続され、この積
分器70の出力は補間回路10の出力72、すな
わち空間およびシエーデイング誤差修整を行うビ
デオ修整信号として用いられる。更に、出力72
の波形は反転して加算点58にフイードバツクさ
れる。 次いで、第3A図および第3B図を参照する
と、第1図の補間器10が概略的に示され、同じ
構成要素には同じ符号が付けられている。ここで
示すように、第1図のブロツク図は12個の同じ補
間回路で構成されている。これらは、大きく分け
ると、テレビジヨン画面の垂直(V)及び水平
(H)寸法の整合すなわち空間の誤差修整を行う
赤、緑および青(R,G,B)の補間回路と、黒
および白シエーデイングの誤差修整を行うRGB
補間回路である。したがつて第1図の補間回路1
0は6個の同じ整合補間回路、すなわちRH−7
4、RV76、GH78、GV80、BH82およ
びBV84、並びに6個の同じRGB白シエーデイ
ング(WS)および黒シエーデイング(BS)補間
回路、すなわちRWS86、RBS88、GWS9
0、GBS92、BWS94およびBBS96で構成
され、これらは第3A図および第3B図において
点線のブロツクで示されている。12個の回路は入
力されるデータおよび出力する修整信号が異なる
だけで、回路的には12チヤネル全て同じ構成であ
るから、ここでは説明を簡略化するため、緑
(主)水平空間誤差補間回路78のみ説明する。
シエーデイング補間回路に接続されたリード線9
5(第3B図参照)に出される合成ブランキング
信号は後のビデオ処理で黒クランプ回路に用いら
れる基準レベル信号である。 続いて第3A図および第3B図に基づいて説明
すると、最初の設定モードで空間およびシエーデ
イング誤差を測定し、その測定期間の間、測定デ
ータを前述の特開昭57−13866号に示すように16
×16の測定ブロツク(有効画像領域では13×14)
に配列するため、マイクロプロセツサ制御システ
ム18、データバス20次いでデータラツチ31
を介して緑水平(GH)チヤネルのRAM16に
入力する。データラツチ31は各リード線33に
出されるGHコマンドに従つてデータの行き先を
決める。RAM16は各制御リード線32に出力
されるライトイナーブルおよびRAMストロープ
信号、並びにチツプ選択CS−1,CS−2コマン
ドによりロードされる。この誤差データは各
RAMチツプ内で8ビツトのワード形式で記憶さ
れ、ある撮像管、すなわちGHチヤネル回路78
の緑撮像管で撮像した1フイールドの修整データ
に相当する。したがつて12チヤネルの各チヤンネ
ルにおいては8ビツトの形式を持つ整合およびシ
エーデイング修整データが256バイト分記憶され
る。 次のカメラ動作モードに移ると、V補間部(第
1図、符号12で示すもの)には、各RAM16
に記憶された2組のワードが入力される。この2
組のワードは画像のH空間誤差について測定した
誤差修整データである。従つて、これらのワード
は現在修整を行つている走査線の上下段にあた
る、修整マトリツクスの各行に記憶されている修
整データに対応する。第2図はその行列マトリツ
クスを示したもので、多数の修整データ点で構成
される各行間には17本の走査線がある。図にも示
したように、16×16の修整データ点の配列で記憶
されるが、このうち有効ビデオ画面には13×14の
みが現れるので、実際にはこのデータが使用され
る。そして、2組のデータに含まれるワードはイ
ンターリーブされる。すなわち、上の行の最初の
ワードが、つぎに上の行の2番目のワードが下の
行の最初のワードに続き、下の行の2番目のワー
ドが上の行の2番目のワードに続き、上の行の3
番目のワードが下の行の2番目のワードに続き、
下の行の3番目のワードが上の行の3番目のワー
ドに続き、以下同様にして全ての上下ワードがビ
デオの走査線に沿つて配列される。このインター
リーブ処理は第4A図、第4B図に示すインター
フエース回路24のタイミング発生器/回路3
0、すなわちH及びVアドレスを発生するカウン
タ98,100並びにラツチ回路102によつて
行われる。従つて2組のデータは多重化されたア
ドレスバス26,28を介してH及びVのアドレ
スを指定してRAM16から検索される。Vカウ
ンタ100から出力されるVアドレスは加算器3
4に入力され、ここで「1」または「0」が加算
される。加算器34が「0」を加算すると、Vア
ドレスは上の行(すなわち走査線の上の行)のデ
ータに対応し、「1」を加算すると、Vアドレス
は下の行(走査線の下の行)のデータに対応す
る。例えば、5行と6行の間を走査していると
き、加算器34がVアドレスに「0」を加算する
と、データ出力は5行に対応するデータとなる。
逆に「1」がVアドレスに加算されると、データ
は6行から出力される。この加算器34は250K
Hzのアツパー/ローアクロツク信号に同期してい
るので、全体として4マイクロ秒の周期で動作
し、最初の2マイクロ秒の間に「0」を、つぎの
2マイクロ秒の間に「1」を、交互に加算する。 HおよびVアドレスはアドレスマルチプレクサ
104を介してロードされ、アドレスバス26,
28に出力される。このロードはマイクロプロセ
ツサ制御装置18がRAM16に対し読出しまた
は書込みを行つていない間に行われる。データ修
整点と一致するHおよびVアドレスはそれぞれ多
重化アドレスバス26,28を介して12個の補間
回路74〜96(このうち、6個は空間、後の6
個はシエーデイング)に備える各RAM16のア
ドレスポートに入力される。アドレスバス28に
出力されるHアドレスはH走査周期に同期し、こ
れに対しアドレスバス26に出力されるVアドレ
スは17本の走査線に相当する周期、すなわち17本
の走査線ごとに同期している。従つてHおよびV
アドレスは各RAM16を介して12組の異なつた
データ列を発生する。 このようにして、データは前述したインターリ
ーブ方式で各RAM16毎にアクセスされる。す
なわち加算器34から出されるアドレスは各
RAMのデータから上下行のデータを交互にアセ
スする。インターリーブされたデータはD/A変
換器38にストローブされる。すなわち、データ
はチツプセレクト信号CS1およびCS2によつて
読出される。全てのRAM16に同時に加えられ
るチツプセレクト信号は500KHzの周波数である。
したがつてRAMの出力には2マイクロ秒ごとに
別のワードが現れる。この速度は加算器34が2
マイクロ秒ごとに上、下、上…の順にアドレスを
交互に変えるのと同じ速度である。従つて、2マ
イクロ秒ごとにデータは内部にラツチ回路を持つ
D/A変換器38にもストローブされる。 D/A変換器38には更にインターフエース回
路24のランプ発生回路42からリード線54に
出力されるV階段状電圧が入力される。そして、
D/A変換器38はデータをD/A変換した後、
その出力であるアナログ信号をV階段状電圧で掛
算し、そのデータワードと階段状電圧との積であ
るアナログ信号を出力する。 この階段状電圧の波形は、一対の電圧レベルを
インターリーブしたものである。そして各電圧レ
ベルは修整を行つている走査線の上下にある修整
行に関係し、その値は修整を行つている走査線の
位置によつて決まる。すなわちこの階段状電圧は
つぎの表に示すように、行間の走査位置に相当す
る重み係数を与える。
【表】 なおVアツパーとVローアを加えた電圧(重
み)は丁度2.5ボルトである。したがつて1組の
アナログの重みは、2行間にある0番から16番ま
での17本の走査線を走査している間、値が逆の関
係で変化する。たとえば第3行目と第4行目を考
えると、「上側の」第3行目に相当する重みは第
3行目の下側にある最初の走査線を走査している
とき、2.5ボルトであるが、第3行目の下側に向
けて17回走査している間に0ボルトまで減少す
る。「下側の」第4行目に相当する重みは第3行
目の下側にある最初の走査線を走査していると
き、0ボルトであるが、17本の走査線を走査して
いる間に2.5ボルトまで増加する。更に詳しく説
明すると、第3行目の下側にある第2番目の走査
線を走査し、次の第3番目の走査線を開始する
と、上側の第3行目の重みは若干小さくなり、下
側の第4行目の重みは若干大きくなる。その結
果、掛算に続いて加算を行うと、第3行目と第4
行目にあるデータの補間が行われる。 ところで、階段状の電圧は17段階でテレビジヨ
ンの走査線1本あたり1段階の割りで発生する。
したがつてラスタ走査においては垂直方向に不連
続となり、その積の出力も17レベルの階段状とな
る。この階段状の電圧はランプ発生器42により
発生される。第4B図に示すランプ発生器42は
カウンタ106およびD/A変換器108から構
成され、後者のD/A変換器108はインバータ
48を経由して加算点50に接続されている。そ
して加算点50には、2.5ボルトのオフセツト電
圧がインバータ48の出力側に接続されているリ
ード線52を介して印加されている。その結果生
じたVアツパーの重みは切換スイツチ46に入力
される。D/A変換器108の出力もVローアの
重みとしてスイツチ46に直接入力される。D/
A変換器108は走査線周波数で書込み動作が行
われるので、重みは1本の走査線全体について一
定である。そして次の走査線に移ると、次の段階
に進み、階段状にされたアツパーおよびローアの
電圧が変わる。スイツチ46も加算器34と同じ
周波数、すなわち250KHzで動作する。したがつ
て、上側の行のデータが乗算D/A変換器38に
現れると、すぐにVアツパーの階段状の重みも乗
算D/A変換器38に現れ、ここで掛算される。
同様に、下側の行のデータもVローアの階段状の
重みとともに乗算D/A変換器38に現れ、ここ
で掛算される。したがつて、乗算D/A変換器3
8に出力される電圧も、インターリープされたデ
ータ列になる。このデータ列は交互に切り換えら
れた電圧波形と乗算D/A変換器38の前の段階
でインターリープされたデータ列(RAM16か
らの)との積を順に並べたものに相当する。した
がつてデータ列は次のようになる。 (Vアツパー)×(上側のワード1)、(Vロー
ア)×(下側のワード1)、(Vアツパー)×(上側の
ワード2)、(Vローア)×(下側のワード2)、…
順になる。このデータ列は乗算D/A変換器38
の出力、すなわち増幅器60の出力に現れる。 つぎに、このデータ列のVアツパーとVローア
の項は加算点58で互いに加算される。この処理
を行うため、サンプル/ホールド回路56はデー
タ列内のVアツパーの項を連続して探知し、ホー
ルドする。そして各Vローアの項が加算点58に
達するとこれらの項は互いに加算される。したが
つてVアツパーの項がデータ列から抜き出され、
2マイクロ秒間遅延して4マイクロ秒毎に加算さ
れるので、次のようなデータ列が発生する。 (Vアツパー)×(上側のワード1)+(Vロー
ア)×(下側のワード1)、(Vアツパー)×(上側の
ワード2)+(Vローア)×(下側のワード2)、…
の順になる。 Tは、修整走査しようとしている上側の修整行
と下側の修整行に重みを付け、その和をとつたデ
ータ列である。そして各重みの値(上側および下
側の電圧に相当する)は上側と下側の修整行間で
修整している走査線の位置によつて決まる。した
がつて、この重み付けをする手順は、1の修整行
から次の修整行にかけて修整行間のデータ列が線
形に変化することを保証する。この最終的なデー
タ列は12個の補間回路74〜96の各セクシヨン
14から発生する。 加算点58で加算が行われる時点で、サンプル
2(68、第3B図参照)の信号がハイレベル状
態にされ、演算増幅器66にエミツタ電流が流れ
る。後者の演算増幅器66は高速のサンプルホー
ルド回路を持つ演算増幅器である。この演算増幅
器66は入力信号を250ナノ秒(ns)以下の速度
で取り込む。一方、リード線68には250ナノ秒
(ns)のパルス幅を持つサンプル2信号が出され
る。この信号で取り込まれた入力信号は、要求さ
れる4マイクロ秒間の間保持され、次の積分器7
0に出力される。積分器70は修整間隔に等しい
時定数を持ち、入力信号を4マイクロ秒間積分し
て、補間回路の出力端72にビデオ修整信号を発
生する。この修整信号は加算点58に戻され、フ
イードバツク信号として用いられる。 したがつて加算点58の出力は4マイクロ秒後
に出される信号レベルと現在出されている信号レ
ベルとの差になる。実際にはこの差信号が積分器
70に入力される。したがつて演算増幅器66で
サンプルされたものは、積分器70によつて積分
され、出力端72の出力も4マイクロ秒後にとる
べき値に変わる。 なお、この回路で用いられる抵抗は整合させて
おく必要がある。すなわち抵抗110および11
2は鋸歯成分が出力の修整信号に加わらないよう
に0.1%まで整合される。 タイミング発生器/回路30にはカメラシステ
ムから種々の同期信号、リセツト信号などと言つ
たクロツク信号が入力される。これらは第4A
図、第4B図でSEC書込み、1MHz、15.62KHz、
2MHz、SECクロツクおよびV駆動としてラベル
付けした信号で、リード線114および116を
介して入力される。種々の回路はこれらの信号に
よつて制御され、SECアドレスもカメラのラスタ
走査に同期して発生する。したがつてタイミング
発生器/回路30はこれらの信号に基づいて読出
し/書込みを行う低レベルの信号をリード線32
に出力するが、RAMが書込み動作を行つている
ときは通常高レベルにされる。またリード線41
に出力されるDAC書込み信号は乗算D/A変換
器38のラツチ回路に入力データをラツチさせる
信号である。しかし、RAMの出力データが変わ
り、DAC書込み信号が出されたとしてもすぐに
は書込みが行われず、ラツチに必要な間、たとえ
ばデータが安定するまで乗算D/A変換器38に
よつて無視される。リード線32に出力される
RAMストローブ信号は使用中のRAMに必要と
される信号でデユーテイサイクルを決める。また
リード線68に出されるS2の信号は1次のサン
プルホールド回路66、すなわち水平補間器用の
サンプル信号である。リード線62に出力される
S1の信号は乗算D/A変換器38の出力である
データ列からVアツパーの項をサンプルするサン
プル信号である。リード線118に出力されるウ
エイト信号はマイクロプロセツサ制御装置18に
加えられる信号である。各補間回路のRAMは一
定の時間毎にマイクロプロセツサ制御装置18に
よつて直接読み書きされるが、マイクロプロセツ
サは2MHzの信号で動いているので位相が異なる。
したがつてリード線118に出されるウエイト信
号はこの位相を合わせてメモリを直接アクセスす
るのに用いられる。 チツプ選択を行うCS信号はNORゲート120
を介して制御リード線32に出力される。この信
号は12個のチヤネルのうち特定のRAMを選択す
る信号である。そして各RAMはこの信号を用い
てマイクロプロセツサ制御装置18によりアクセ
スされる。CSBLUゲート120に入力され、
「1MHzによつて遅延された500KHz」と呼ばれる
信号もリード線122に出力される。この信号は
高レベル状態のときに全てのチツプ選択信号を低
レベルにし、12個全てのRAMに動作して各垂直
補間部に全てのデータを読み込む。デコーダ12
4はマイクロプロセツサ制御装置18からの入力
をゲート120に出力する。 一連のANDゲート126は各リード線33を
介して12個の各補間回路74〜96に備わつてい
るデータバスのラツチ31を制御するものであ
る。各ラツチ31は対に接続され、ANDゲート
126から出される論理信号が高レベルになると
それぞれの制御リード線を介して読み出しまたは
書込み動作を行う。デコーダ124は再度メモリ
のアドレスを解読し、それと一致するチツプ選択
信号をリード線32に出力する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の補間回路のブロツク図、第2
図は所定の修整点の配列からデータを取り出す状
態を示す説明図、第3A図、第3B図は水平およ
び垂直補間器の実施例を示す概略図、第4A図、
第4B図は第3A図、第3B図の補間回路の制
御/インターフエース回路を示す回路図である。 16……ランダムアクセスメモリ(RAM)、
18……マイクロプロセツサ制御装置、30……
タイミング発生器/回路、31……データラツ
チ、34……加算器、38……乗算デイジタル・
アナログ(D/A)変換器、42……ランプ発生
器、46……切換スイツチ、50……加算器、5
6……サンプルホールド回路、58……加算点、
104……マルチブレクサ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のデータ点からなる各行を所定の間隔に
    とり、かつ2行のデータ点から出されるデータ値
    に基づいて2行間を補間し、その補間出力を出力
    する回路において、該回路は、 走査線を挟む上下行の対応するデータ点からデ
    ータを引き出し2組のデータワードを発生させる
    手段と、 行から個々に出されるデータワードと行間の走
    査線位置によつて決まる電圧を掛算して電圧積の
    データ列を発生させる掛算手段と、 該電圧積のデータ列に所定の電圧を加算し、垂
    直方向に補間した最終データ列を発生させる加算
    手段と、 最終データ列の電圧間で傾斜電圧を発生させて
    補間出力を出力する水平補間手段とを含むことを
    特徴とする空間およびシエーデイング誤差修整シ
    ステム用2次元補間回路。 2 データ点を行に沿つて配列し、その行間を走
    査線で走査し、2次元配列されたデータ点のデー
    タ間を水平および垂直方向に補間して補間出力を
    出力する回路において、該回路は、アドレス指定
    に基づいて行のデータ点に対応するデータワード
    の個々の流れを発生させる記憶手段と、 補間を行う走査線の2行間における位置によつ
    て重み付けした電圧を発生するランプ発生手段
    と、 データワードの流れと重み付けした電圧を入力
    してアナログ電圧積のデータ列を発生する掛算手
    段と、 該掛算手段に接続され、個々の電圧積を加算し
    て重み付けした最終的なデータ列を発生する加算
    手段と、 該加算手段に接続され、該重み付けした電圧を
    現在の重み付けした電圧の値から次にとられるべ
    き重み付けした電圧の値まで傾斜させて補間出力
    を出力する手段とを含むことを特徴とする空間お
    よびシエーデイング誤差修整システム用2次元補
    間回路。
JP5495081A 1980-04-11 1981-04-11 Two-dimensional space inserting circuit for space and shading error correcting system Granted JPS5713865A (en)

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