JPH03107456A - 成膜装置 - Google Patents
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- JPH03107456A JPH03107456A JP1247322A JP24732289A JPH03107456A JP H03107456 A JPH03107456 A JP H03107456A JP 1247322 A JP1247322 A JP 1247322A JP 24732289 A JP24732289 A JP 24732289A JP H03107456 A JPH03107456 A JP H03107456A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/32174—Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/54—Controlling or regulating the coating process
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- H01J37/3299—Feedback systems
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- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/332—Coating
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、対向する二つの電極を有し、これに高周波電
力を供給して、成膜を行なう成膜装置に係り、特に、高
周波バイアススパッタ装置における、基板側、ターゲッ
ト側面電極に高周波電力を印加する高周波バイアススパ
ッタを行なう成膜装置に関する。
力を供給して、成膜を行なう成膜装置に係り、特に、高
周波バイアススパッタ装置における、基板側、ターゲッ
ト側面電極に高周波電力を印加する高周波バイアススパ
ッタを行なう成膜装置に関する。
[従来の技術]
従来の高周波(以下RFと略記する)バイアススパッタ
装置は、特開昭63−18071号公報に記載のように
、ターゲット側電極には電源がらRF電力がターゲット
バイアスとして印加され、一方、基板側電極には、電源
よりRF電力が基板バイアスとして印加される。両電極
に印加されるRF電力は、バイアススパッタを行なう際
、同時に印加する必要がある。
装置は、特開昭63−18071号公報に記載のように
、ターゲット側電極には電源がらRF電力がターゲット
バイアスとして印加され、一方、基板側電極には、電源
よりRF電力が基板バイアスとして印加される。両電極
に印加されるRF電力は、バイアススパッタを行なう際
、同時に印加する必要がある。
このようにして、ターゲット側にRF電力を印加すると
、ターゲット電極と基板電極の間にRF放電プラズマが
形成される。このプラズマは、移動度の差によりターゲ
ット側にイオンが多く集まるため、ターゲットとの間に
陰極暗部を形成し、ターゲット表面には負のバイアスが
誘起され、前面のイオンを電界の力によりターゲットに
衝突させ、スパッタを生ぜしめている。同様に、基板側
にもRF電力を印加すると、前記ターゲット同様、基板
表面もイオンの衝撃を受け、逆スパツタが行なわれる。
、ターゲット電極と基板電極の間にRF放電プラズマが
形成される。このプラズマは、移動度の差によりターゲ
ット側にイオンが多く集まるため、ターゲットとの間に
陰極暗部を形成し、ターゲット表面には負のバイアスが
誘起され、前面のイオンを電界の力によりターゲットに
衝突させ、スパッタを生ぜしめている。同様に、基板側
にもRF電力を印加すると、前記ターゲット同様、基板
表面もイオンの衝撃を受け、逆スパツタが行なわれる。
この際、両者のパワー等を調整することにより、バイア
ススパッタ時の両電極のプラズマの閉じ込め効率を改善
したり、段差部のある被成膜面の平坦化成膜を可能にし
たりすることができる。
ススパッタ時の両電極のプラズマの閉じ込め効率を改善
したり、段差部のある被成膜面の平坦化成膜を可能にし
たりすることができる。
また、両電極に印加されるRF電力は、両者の一3=
位相関係をある範囲に保つと、放電の安定性および効率
向上のために好ましい結果が得られることが経験的に知
られている。この点を考慮したと考えら九るものとして
は、例えば、基板側とターゲット側に同−RF電源より
電力を供給し、かつ、RF電力供給ケーブルについて、
一方の印加ケーブル長を適切に選択して使用する例など
が報告されている(例えば、IBM Technica
l DisclosureBulletine Vol
、14.1032 (1971)参照)。
向上のために好ましい結果が得られることが経験的に知
られている。この点を考慮したと考えら九るものとして
は、例えば、基板側とターゲット側に同−RF電源より
電力を供給し、かつ、RF電力供給ケーブルについて、
一方の印加ケーブル長を適切に選択して使用する例など
が報告されている(例えば、IBM Technica
l DisclosureBulletine Vol
、14.1032 (1971)参照)。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、上記従来の技術は、前述したように、ケーブ
ル長を調整して適切な位相関係を設定して、基板電極と
ターゲット電極とに同一電源からRF電力を供給しても
、成膜開始時や諸成膜条件パラメータの変動、経時変化
の影響により、両電極に印加さ九るRF位相のずれを生
じて、これに伴って放電が不安定になるという問題があ
った。
ル長を調整して適切な位相関係を設定して、基板電極と
ターゲット電極とに同一電源からRF電力を供給しても
、成膜開始時や諸成膜条件パラメータの変動、経時変化
の影響により、両電極に印加さ九るRF位相のずれを生
じて、これに伴って放電が不安定になるという問題があ
った。
このような放電の不安定性は、薄膜材等の高機能化に伴
い、成膜される薄膜に対し、より高度な特性が要求され
つつある状況で・は、特性に大きな4− 影響を与えるため、できる限り抑えら九るべきである。
い、成膜される薄膜に対し、より高度な特性が要求され
つつある状況で・は、特性に大きな4− 影響を与えるため、できる限り抑えら九るべきである。
そのため、放電特性は、他の諸管理値と共に一定値制御
が不可欠となっている。
が不可欠となっている。
こ九に対し、例えば、特開昭59−205477号公報
に開示されるように、高周波バイアススパッタリング装
置におけるターゲット電極と基板電極に、電気的位相を
変えて高周波電力を印加することにより、基板上に均一
な厚さの薄膜を形成させるものがある。
に開示されるように、高周波バイアススパッタリング装
置におけるターゲット電極と基板電極に、電気的位相を
変えて高周波電力を印加することにより、基板上に均一
な厚さの薄膜を形成させるものがある。
この装置は、高周波電源の高周波出力を、ターゲット電
極および位相調整器を経て基板電極に分割して印加して
いる。また、この装置は、両電極への各電力供給ライン
の途中に位相検出回路を置き、それらの出力信号が位相
差検出器で位相差に比例する電圧に変化され、両電極の
高周波電圧の位相差を一定に保持しながらスパッタリン
グ処理する構成となっている。
極および位相調整器を経て基板電極に分割して印加して
いる。また、この装置は、両電極への各電力供給ライン
の途中に位相検出回路を置き、それらの出力信号が位相
差検出器で位相差に比例する電圧に変化され、両電極の
高周波電圧の位相差を一定に保持しながらスパッタリン
グ処理する構成となっている。
この従来の装置は、両電極の高周波電圧の位相差を一定
に保持しようとする点で、それまでの技術に比し、考え
方としては優れている。
に保持しようとする点で、それまでの技術に比し、考え
方としては優れている。
しかし、この装置は、電力供給ラインの中間に位相検出
回路を設けているので、電力供給ラインのケーブルのイ
ンダクタンスやキャパシタンスの影響を受け、放電状態
の変動に応じた位相変化を正確には検出できないという
問題がある。そのため、印加電力の位相制御の精度が悪
く、放電の安定性を図ることは、困難である。従って、
より高特性の薄膜の形成には、まだ、性能が不十分であ
る。
回路を設けているので、電力供給ラインのケーブルのイ
ンダクタンスやキャパシタンスの影響を受け、放電状態
の変動に応じた位相変化を正確には検出できないという
問題がある。そのため、印加電力の位相制御の精度が悪
く、放電の安定性を図ることは、困難である。従って、
より高特性の薄膜の形成には、まだ、性能が不十分であ
る。
また、位相調整器が、電力供給ラインに送出される高周
波電力に対し、位相調整を行なう構成となっているため
、高電圧に対応した装置構成とする必要があり、装置が
大型化すると共に、高価となる欠点がある。
波電力に対し、位相調整を行なう構成となっているため
、高電圧に対応した装置構成とする必要があり、装置が
大型化すると共に、高価となる欠点がある。
本発明は、上記問題点を解決すべくなされたもので、そ
の目的は、放電状態の変動による印加RF雷電圧位相変
化を電カケープルのインダクタンスやキャパシタンスの
影響を受けずに検出できて、諸成膜条件パラメータの変
動、経時変化の影響に対応して精度よく位相制御を行な
うことができる成膜装置を提供することにある。
の目的は、放電状態の変動による印加RF雷電圧位相変
化を電カケープルのインダクタンスやキャパシタンスの
影響を受けずに検出できて、諸成膜条件パラメータの変
動、経時変化の影響に対応して精度よく位相制御を行な
うことができる成膜装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、上述した位相制御を、低い
電圧で行なえて、装置を小型化することができる高周波
電源装置を提供することにある。
電圧で行なえて、装置を小型化することができる高周波
電源装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的は、真空容器内に設けられた二つの対向する電
極にそれぞれ高周波電力を供給することにより放電状態
を生成して成膜を行う成膜装置において、前記放電状態
の変動量を前記各電極から検出する手段と、該検出結果
と予め定めた設定値との偏差に応じて、両電極に供給さ
れるRF電力の位相を相対的に変位させる手段とを備え
ることにより達成される。
極にそれぞれ高周波電力を供給することにより放電状態
を生成して成膜を行う成膜装置において、前記放電状態
の変動量を前記各電極から検出する手段と、該検出結果
と予め定めた設定値との偏差に応じて、両電極に供給さ
れるRF電力の位相を相対的に変位させる手段とを備え
ることにより達成される。
より具体的には、高周波の発振器と、該発振器の出力を
増幅して高周波電力を出力する第1および第2の増幅器
とを設け、前記第1または第2の増幅器のいずれかと発
振器の間に介在して発振器の出力の位相を変位させる位
相調整器と、前記対向する二つの電極ごとに配置されて
各々の電圧を検出するモニタセンサとを備え、前記位相
調整器− を、前記各モニタセンサの出力と予め定めた設定値とか
ら二つの電極に供給される高周波電力の位相関係のす九
を検出して、該ずれを小さくするように発振器の出力の
位相を変位させる機能を有する構成とすることにより達
成される。
増幅して高周波電力を出力する第1および第2の増幅器
とを設け、前記第1または第2の増幅器のいずれかと発
振器の間に介在して発振器の出力の位相を変位させる位
相調整器と、前記対向する二つの電極ごとに配置されて
各々の電圧を検出するモニタセンサとを備え、前記位相
調整器− を、前記各モニタセンサの出力と予め定めた設定値とか
ら二つの電極に供給される高周波電力の位相関係のす九
を検出して、該ずれを小さくするように発振器の出力の
位相を変位させる機能を有する構成とすることにより達
成される。
また、本発明の他の目的は、成膜装置の真空容器内に設
けられた二つの対向する電極にそれぞれ高周波電力を供
給して、放電状態を生成させて成膜を行わせる高周波電
源装置において、高周波の発振器と、該発振器の出力を
増幅して高周波電力を出力する第1および第2の増幅器
とを設け、前記第1または第2の増幅器のいずれかと発
振器の間に介在して、発振器の出力の位相を変位させる
位相調整器とを備えることにより達成される。
けられた二つの対向する電極にそれぞれ高周波電力を供
給して、放電状態を生成させて成膜を行わせる高周波電
源装置において、高周波の発振器と、該発振器の出力を
増幅して高周波電力を出力する第1および第2の増幅器
とを設け、前記第1または第2の増幅器のいずれかと発
振器の間に介在して、発振器の出力の位相を変位させる
位相調整器とを備えることにより達成される。
前記成膜装置において、予め定めた設定値として、成膜
の過程に応じて最適値を設定する機能を備えることが好
ましい。
の過程に応じて最適値を設定する機能を備えることが好
ましい。
本発明が好ましく適用さ九る成膜装置としては、二つの
対向電極の一方がターゲット電極であり、他方が基板電
極であって、高周波バイアススパン8− タリングを行う高周波バイアススパッタリング装置、二
つのターゲットを対向配置した対向ターゲット方式の高
周波スパッタリング装置が挙げられる。
対向電極の一方がターゲット電極であり、他方が基板電
極であって、高周波バイアススパン8− タリングを行う高周波バイアススパッタリング装置、二
つのターゲットを対向配置した対向ターゲット方式の高
周波スパッタリング装置が挙げられる。
本発明において、ターゲット電極と基板電極に印加され
るRF電源の周波数は同一が良い。通常の水晶発振器で
は、周波数は厳密には同一とならないため、1つの発振
器を共用することが必要である。
るRF電源の周波数は同一が良い。通常の水晶発振器で
は、周波数は厳密には同一とならないため、1つの発振
器を共用することが必要である。
また、共通の発振信号をそれぞれのRF電源の増幅器で
増幅する前に、一方の信号の位相を調整可能としておく
必要がある。特に、この位相調整は、増幅器から負荷へ
、および、負荷の放電状態により高周波回路のインピー
ダンスが変化しても、バイアス電位およびRFパワー自
動整合機能(オートチューニングという)と連動して位
相調整信号を出力するようにすることが好ましい。この
場合、一方の電源の位相のみを進みまたは遅れとなるよ
うにすればよい。
増幅する前に、一方の信号の位相を調整可能としておく
必要がある。特に、この位相調整は、増幅器から負荷へ
、および、負荷の放電状態により高周波回路のインピー
ダンスが変化しても、バイアス電位およびRFパワー自
動整合機能(オートチューニングという)と連動して位
相調整信号を出力するようにすることが好ましい。この
場合、一方の電源の位相のみを進みまたは遅れとなるよ
うにすればよい。
前記位相調整は、位相をケーブル長などで予め定められ
た遅相分のみ制御するのではなく1位相出力を連続的に
制御可能なポテンシオなどによる電圧(もしくは電流)
調整が好ましい。
た遅相分のみ制御するのではなく1位相出力を連続的に
制御可能なポテンシオなどによる電圧(もしくは電流)
調整が好ましい。
本発明は、各電極に印加されるRFの位相は、整合箱、
RFリード、接続部等で大きく異なるため、電極部より
直接モニタした信号をフィードバック信号として取り入
れる構成としている。
RFリード、接続部等で大きく異なるため、電極部より
直接モニタした信号をフィードバック信号として取り入
れる構成としている。
また、各モニタ信号の分圧回路等にも、放電インピーダ
ンスの変動の影響を受けるため、より精度を上げるには
、補正機能を設けることが好ましい。
ンスの変動の影響を受けるため、より精度を上げるには
、補正機能を設けることが好ましい。
さらに、これらを制御する位相調整器は、RF電源の発
振器と増幅器間に組み込ませて構成することができる。
振器と増幅器間に組み込ませて構成することができる。
以上のようにして、本発明は、成膜時のアウトガス等の
経時変化による放電プラズマの変動に対しても、また成
膜中のプロセスの変動に対しても各プロセス毎に制御中
心パラメータの変動量を切換えて一定となるよう、位相
制御を行なわせるようにしたものである。
経時変化による放電プラズマの変動に対しても、また成
膜中のプロセスの変動に対しても各プロセス毎に制御中
心パラメータの変動量を切換えて一定となるよう、位相
制御を行なわせるようにしたものである。
[作用]
本発明は、真空容器内に設けられた二つの対向する電極
にそれぞれ高周波電力を供給することにより生成される
放電状態を、例えば、モニタセンサを用いて、前記各電
極から検出することにより、高周波電力ラインの途中で
検出することに比べて、ケーブル等のインダクタンスな
どの影響を受けることなく、正確に検出することができ
る。
にそれぞれ高周波電力を供給することにより生成される
放電状態を、例えば、モニタセンサを用いて、前記各電
極から検出することにより、高周波電力ラインの途中で
検出することに比べて、ケーブル等のインダクタンスな
どの影響を受けることなく、正確に検出することができ
る。
また、該検出結果と予め定めた設定値との偏差に応じて
、両電極に供給されるRF電力の位相を相対的に変位さ
せて、偏差が0となるようにフィードバック制御するこ
とにより、放電状態の変動に対応して、連続的に位相制
御することができ、放電状態を安定に保持することがで
きる。しかも、前述したように、検出値が正確であるた
め、精度よく制御することができる。
、両電極に供給されるRF電力の位相を相対的に変位さ
せて、偏差が0となるようにフィードバック制御するこ
とにより、放電状態の変動に対応して、連続的に位相制
御することができ、放電状態を安定に保持することがで
きる。しかも、前述したように、検出値が正確であるた
め、精度よく制御することができる。
また、設定値を成膜の過程に応じて、最適に設定するこ
とにより、その過程ごとに、最適な制御を行える。
とにより、その過程ごとに、最適な制御を行える。
本発明によって得られる高周波電源は、高周波1−
の発振器と、該発振器の出力を増幅して高周波電力を出
力する第1および第2の増幅器とを設け、前記第1また
は第2の増幅器のいずれかと発振器の間に介在して、発
振器の出力の位相を変位させる位相調整器とを備えるこ
とにより、低い電圧で一位相調整を行うことができ、小
型化が可能となる。
力する第1および第2の増幅器とを設け、前記第1また
は第2の増幅器のいずれかと発振器の間に介在して、発
振器の出力の位相を変位させる位相調整器とを備えるこ
とにより、低い電圧で一位相調整を行うことができ、小
型化が可能となる。
[実施例]
以下、本発明の一実施例について、図面を参照して説明
する。
する。
本実施例は、RFバイアススパッタリング装置に適用し
た例である。
た例である。
本実施例のRFバイアススパッタリング装置は、スパッ
タリングを行なう真空容器1と、これにRF電力を供給
するRF電源14および15と、マツチングボックス1
8および19と、位相調整器10と、モニタセンサ20
および21とを備えて構成される。
タリングを行なう真空容器1と、これにRF電力を供給
するRF電源14および15と、マツチングボックス1
8および19と、位相調整器10と、モニタセンサ20
および21とを備えて構成される。
真空容器1には、成膜母材となるべきターゲツト材4を
搭載したターゲット電極2と、被成膜材となる基板5を
載置した基板電極3とが収納され2− ている。ターゲット電極2には、RF電源14よりRF
電力がマツチングボックス18を経て印加される。同じ
く、基板電極3にも、RF電源15よりRF電力がマツ
チングボックス19を経て印加される。
搭載したターゲット電極2と、被成膜材となる基板5を
載置した基板電極3とが収納され2− ている。ターゲット電極2には、RF電源14よりRF
電力がマツチングボックス18を経て印加される。同じ
く、基板電極3にも、RF電源15よりRF電力がマツ
チングボックス19を経て印加される。
RF電源14は、発振器11と、その発振出力を増幅し
て出力する増幅器12とを備えて構成される。また、R
F電源15は、増幅器13を備え、信号線17を介して
位相調整器10から送られる発振出力を増幅して出力す
る。
て出力する増幅器12とを備えて構成される。また、R
F電源15は、増幅器13を備え、信号線17を介して
位相調整器10から送られる発振出力を増幅して出力す
る。
モニタセンサ20および21は1例えば、LC素子にて
構成される。モニタセンサ20は、ターゲット電極2に
接続され、モニタセンサ21は、基板電極3に接続され
る。モニタセンサ20および21の出力は、モニタケー
ブル22.23を介して位相調整器10に入力される。
構成される。モニタセンサ20は、ターゲット電極2に
接続され、モニタセンサ21は、基板電極3に接続され
る。モニタセンサ20および21の出力は、モニタケー
ブル22.23を介して位相調整器10に入力される。
LC素子により構成したモニタセンサ20および21の
各々は、インダクタンスLにより高周波分をカットする
と共に、キャパシタンスCにより電極電圧を分圧して、
当該電極電位を出力する。
各々は、インダクタンスLにより高周波分をカットする
と共に、キャパシタンスCにより電極電圧を分圧して、
当該電極電位を出力する。
このようにして、印加されたRF電力により、基板電極
3と、ターゲット電極2との間の空間6には、RF放電
プラズマが誘起される。一般には、大電力が投入される
ターゲット側のスパッタ粒子が基板面に付着堆積し、成
膜が行なわれていく。
3と、ターゲット電極2との間の空間6には、RF放電
プラズマが誘起される。一般には、大電力が投入される
ターゲット側のスパッタ粒子が基板面に付着堆積し、成
膜が行なわれていく。
基板側のRFパワーは少ないため、同様に、表面は逆ス
パツタされ、削られていくが、堆積量の方が多いため、
成膜は進行していく。
パツタされ、削られていくが、堆積量の方が多いため、
成膜は進行していく。
ここで、基板側、ターゲット側のRF投入位相および周
波数を同一としても、RF電源発振周波数は多少ずれて
おり、また、RF回路や負荷条件で位相が途中で変化す
ることが判っている。そのため、一方の電源14の発振
器11の発振出力を共用する。発振出力は、二分されて
、その一方が、同−電源内の増幅器12に送られ、また
、他方が、信号線16を経て位相調整器10に入力させ
て、外部設定器24からの信号に一致するよう位相を変
えて、信号線17を経て、他方のRF電源15の増幅器
13に送られる。
波数を同一としても、RF電源発振周波数は多少ずれて
おり、また、RF回路や負荷条件で位相が途中で変化す
ることが判っている。そのため、一方の電源14の発振
器11の発振出力を共用する。発振出力は、二分されて
、その一方が、同−電源内の増幅器12に送られ、また
、他方が、信号線16を経て位相調整器10に入力させ
て、外部設定器24からの信号に一致するよう位相を変
えて、信号線17を経て、他方のRF電源15の増幅器
13に送られる。
このようにして、位相を調整されたRF高出力、15−
それぞれ電極に印加される。
この印加された電極部に、LC素子からなるモニタセン
サ20,21が取り付けであるので、電極における電気
的変動は、これらのセンサ20゜21により検出されて
、モニタケーブル22゜23を用いて、前述の位相調整
器10にフィードバック信号として取込まれる。
サ20,21が取り付けであるので、電極における電気
的変動は、これらのセンサ20゜21により検出されて
、モニタケーブル22゜23を用いて、前述の位相調整
器10にフィードバック信号として取込まれる。
位相調整器10では、モニタセンサ20,21の出力信
号を比較して位相差を検出し、この位相差と外部設定器
24で設定された値との偏差を求め、これによって、発
振器11の発振出力の位相を進相または遅延させて、前
述したように、RF電源15の増幅器13に送る。
号を比較して位相差を検出し、この位相差と外部設定器
24で設定された値との偏差を求め、これによって、発
振器11の発振出力の位相を進相または遅延させて、前
述したように、RF電源15の増幅器13に送る。
これによって、放電状態の変動がモニタセンサ20.2
1によって検出され、その変動量に応じて両電極に印加
されるRF電力の位相差が調整され、放電が続行される
。これを繰り返すことにより、放電状態の変動に応じて
生じる位相関係のずれが、自動的に修正される。
1によって検出され、その変動量に応じて両電極に印加
されるRF電力の位相差が調整され、放電が続行される
。これを繰り返すことにより、放電状態の変動に応じて
生じる位相関係のずれが、自動的に修正される。
ここで、位相関係のずれとは、一致している位16−
相がずれる場合のみならず、設定された位相差が変化す
ることをも含むものである。−船釣には、後者の場合が
多い。
ることをも含むものである。−船釣には、後者の場合が
多い。
前記実施例は、ターゲット電極2と基板電極3に印加す
るRF電圧の位相を設定値に保持するよう構成した例で
ある。この例では、外部設定器24の設定を変えること
により、位相関係を所望の値とすることができる。
るRF電圧の位相を設定値に保持するよう構成した例で
ある。この例では、外部設定器24の設定を変えること
により、位相関係を所望の値とすることができる。
また、成膜プロセスの途中で、バイアス電位や、印加電
力等を変更すると、両電極の最適な位相関係が異なるた
め、これらに対応した位相となるように、設定信号を変
更することが好ましい。従って、前記設定値を成膜プロ
セス中に変更できるように構成してもよい。
力等を変更すると、両電極の最適な位相関係が異なるた
め、これらに対応した位相となるように、設定信号を変
更することが好ましい。従って、前記設定値を成膜プロ
セス中に変更できるように構成してもよい。
例えば、RFバイアススパッタにおいては、そのスパッ
タプロセスが、クリーニング、ブリスパッタ、ノンバイ
アススパッタ、バイアススパッタのように順次変わって
いく場合に、その放電インピーダンス等の各種パラメー
タも、これに対応して変化する。従って、各段階で最適
な位相関係を設定できるように、このスパッタプロセス
の進行に合せて、最適位相差を予めプログラミングして
おいて、このプログラムに従って、設定するようにして
もよい。このプログラミングによる制御は、例えば、マ
イクロコンピュータによって行なうことができ、スパッ
タプロセスの制御と併せて実行させる構成とすることが
好ましい。
タプロセスが、クリーニング、ブリスパッタ、ノンバイ
アススパッタ、バイアススパッタのように順次変わって
いく場合に、その放電インピーダンス等の各種パラメー
タも、これに対応して変化する。従って、各段階で最適
な位相関係を設定できるように、このスパッタプロセス
の進行に合せて、最適位相差を予めプログラミングして
おいて、このプログラムに従って、設定するようにして
もよい。このプログラミングによる制御は、例えば、マ
イクロコンピュータによって行なうことができ、スパッ
タプロセスの制御と併せて実行させる構成とすることが
好ましい。
前述したように、本実施例では、ターゲット電極と基板
電極の位相関係を所望の値に設定でき、かつ、それを保
持できるので、最適、最高のバイアス電位となるように
位相の設定ができ、この結果、プラズマ閉じ込め効率を
向上させることが可能となる。なお、プラズマ閉じ込め
効率を向上させることにより、成膜レートを向上でき、
また、膜厚分布、結晶性等の膜の特性の改善にも効果が
ある。
電極の位相関係を所望の値に設定でき、かつ、それを保
持できるので、最適、最高のバイアス電位となるように
位相の設定ができ、この結果、プラズマ閉じ込め効率を
向上させることが可能となる。なお、プラズマ閉じ込め
効率を向上させることにより、成膜レートを向上でき、
また、膜厚分布、結晶性等の膜の特性の改善にも効果が
ある。
また、本実施例によれば、放電中のプラズマの変動を、
電極部に設けたモニタセンサの電位信号としてとらえる
ことができるので、電力供給ラインの途中に設ける場合
と異なり、ケーブルのインダクタンス等のインピーダン
スに影響されずに正確に検出できる。従って検出結果を
予め定めておいた関係に従い、RF位相の他、RFパワ
ー等での調整が精度よくでき、安定した成膜条件を得る
効果がある。
電極部に設けたモニタセンサの電位信号としてとらえる
ことができるので、電力供給ラインの途中に設ける場合
と異なり、ケーブルのインダクタンス等のインピーダン
スに影響されずに正確に検出できる。従って検出結果を
予め定めておいた関係に従い、RF位相の他、RFパワ
ー等での調整が精度よくでき、安定した成膜条件を得る
効果がある。
前述の実施例では、真空室1に電力を供給するRF電源
14.15と、位相調整器10を各々独立の装置として
いるが、これらをまとめて備えたRF電源装置として構
成することができる。この電源装置は、第1図に示すも
のと同一の要素を有して構成される。すなわち、一つの
発振器と、二つの増幅器と、一つの位相調整器(位相差
設定器を含む)とを備え、発振器の出力を二分して、方
を増幅器の一つに、他方を位相調整器を介して増幅器の
他の一つに各々入力させ、RF電力を出力する構成とす
ることができる。
14.15と、位相調整器10を各々独立の装置として
いるが、これらをまとめて備えたRF電源装置として構
成することができる。この電源装置は、第1図に示すも
のと同一の要素を有して構成される。すなわち、一つの
発振器と、二つの増幅器と、一つの位相調整器(位相差
設定器を含む)とを備え、発振器の出力を二分して、方
を増幅器の一つに、他方を位相調整器を介して増幅器の
他の一つに各々入力させ、RF電力を出力する構成とす
ることができる。
このような構成とすれば、低電圧の発振器出力について
位相調整処理が行なえるので、位相調整器を、小型で、
安価に製作することができる。その結果、電源装置自体
も小型化することができる。
位相調整処理が行なえるので、位相調整器を、小型で、
安価に製作することができる。その結果、電源装置自体
も小型化することができる。
ここで、前述した実施例およびRF電源装置の好適な位
相調整器の一実施例について、第2図を参照して説明す
る。
相調整器の一実施例について、第2図を参照して説明す
る。
本実施例の位相調整器10は、例えば、第2図に示すよ
うに、モニタケーブル22.23を介して入力されるモ
ニタセンサ20および21の出力の位相差を検出する位
相差検出器31と、ここで検出された位相差と外部設定
器24にて設定された設定値との偏差を増幅する差動増
幅器32と、発振器11の出力の位相を増幅された偏差
に対応してシフトさせる位相変位器30とを備えて構成
される。
うに、モニタケーブル22.23を介して入力されるモ
ニタセンサ20および21の出力の位相差を検出する位
相差検出器31と、ここで検出された位相差と外部設定
器24にて設定された設定値との偏差を増幅する差動増
幅器32と、発振器11の出力の位相を増幅された偏差
に対応してシフトさせる位相変位器30とを備えて構成
される。
ここで、外部設定器24は、位相調整器10の内部また
は外部のいずれに設けてもよい。また、前述したように
、マイクロコンピュータからの指令信号を設定信号とし
てもよい。
は外部のいずれに設けてもよい。また、前述したように
、マイクロコンピュータからの指令信号を設定信号とし
てもよい。
このように構成される位相調整器10は、先ず。
位相差検出器31により両電極の位相差検出を行ない、
検出結果と設定値との偏差を差動増幅器32により求め
1位相変位器30に入力する。そ19− して、位相変位器30により発振出力の位相を進相また
は遅延させて変位させる。そして、これを繰り返して、
検出結果が設定信号と一致するまでフィードバック制御
により自動調整する。
検出結果と設定値との偏差を差動増幅器32により求め
1位相変位器30に入力する。そ19− して、位相変位器30により発振出力の位相を進相また
は遅延させて変位させる。そして、これを繰り返して、
検出結果が設定信号と一致するまでフィードバック制御
により自動調整する。
なお、この位相調整器10には、二つの電極に設けたモ
ニタセンサからのモニタケーブル22および23を接続
する入力端子10a、10bと、発振器11からの発振
出力を接続する入力端子10cと、位相をシフトさせて
いないφ=Oの出力1を増幅器の一つに出力する出力端
子10dと、位相をφ=0〜±1806の範囲でシフト
させた出力2を増幅器の他の一つに出力する出力端子1
0eとを設けである。
ニタセンサからのモニタケーブル22および23を接続
する入力端子10a、10bと、発振器11からの発振
出力を接続する入力端子10cと、位相をシフトさせて
いないφ=Oの出力1を増幅器の一つに出力する出力端
子10dと、位相をφ=0〜±1806の範囲でシフト
させた出力2を増幅器の他の一つに出力する出力端子1
0eとを設けである。
前記実施例では、放電状態の変動量を各電極から検出す
る手段として、LC素子を用いたモニタセンサを用いる
例を示したが、勿論これに限定されない。例えば、両電
極の電圧を、各々高抵抗を用いて分圧し、それらの電圧
を一定周期でサンプリングし、さらにディジタル値にA
/D変換して、その結果を、マイクロコンピュータ等を
用いて比2〇− 較することにより位相差を検出する構成としてもよい。
る手段として、LC素子を用いたモニタセンサを用いる
例を示したが、勿論これに限定されない。例えば、両電
極の電圧を、各々高抵抗を用いて分圧し、それらの電圧
を一定周期でサンプリングし、さらにディジタル値にA
/D変換して、その結果を、マイクロコンピュータ等を
用いて比2〇− 較することにより位相差を検出する構成としてもよい。
また、前記実施例では、RFバイアススパッタリング装
置に適用した例を示すが、本実施例は。
置に適用した例を示すが、本実施例は。
これに限定されない。例えば、対向ターゲット方式のR
Fスパッタリング装置に適用することもできる。
Fスパッタリング装置に適用することもできる。
[発明の効果]
本発明によれば、放電状態の変動による成膜条件の変動
を、各々高周波電力が印加される二つの電極間の位相を
調整することで、制御可能であり、安定した条件の下で
の成膜が可能になるという効果がある。
を、各々高周波電力が印加される二つの電極間の位相を
調整することで、制御可能であり、安定した条件の下で
の成膜が可能になるという効果がある。
さらには、最適、最高のバイアス電位となるような定め
方も可能であり、プラズマ閉じ込め効率を向上させ、成
膜レート、膜厚分布等の特性も大きく改善できる効果も
ある。
方も可能であり、プラズマ閉じ込め効率を向上させ、成
膜レート、膜厚分布等の特性も大きく改善できる効果も
ある。
また、本発明によ九ば、低電圧で位相制御が行なえて、
小型化した高周波電源装置が実現できる。
小型化した高周波電源装置が実現できる。
第1図は本発明の成膜装置をRFバイアススパッタ装置
のRF系回路システムに適用した一実施例の構成を模式
的に示したブロック図、第2図は位相調整器の一実施例
の構成を示すブロック図である。 1・・・真空容器、2・・・ターゲット電極、3・・・
基板電極、10・・・位相調整器、11・・・発振器、
14゜15・・・RF電源、18,19・・・マツチン
グボックス、20.21・・・モニタセンサ、30・・
・位相変位器、31・・・位相差検出器、32・・・差
動増幅器。 12.13・・・増幅器
のRF系回路システムに適用した一実施例の構成を模式
的に示したブロック図、第2図は位相調整器の一実施例
の構成を示すブロック図である。 1・・・真空容器、2・・・ターゲット電極、3・・・
基板電極、10・・・位相調整器、11・・・発振器、
14゜15・・・RF電源、18,19・・・マツチン
グボックス、20.21・・・モニタセンサ、30・・
・位相変位器、31・・・位相差検出器、32・・・差
動増幅器。 12.13・・・増幅器
Claims (5)
- 1.真空容器内に設けられた二つの対向する電極にそれ
ぞれ高周波電力を供給することにより放電状態を生成し
て、成膜を行う成膜装置において、 前記放電状態の変動量を前記各電極から検出する手段と
、該検出結果と予め定めた設定値との偏差に応じて、両
電極に供給されるRF電力の位相を相対的に変位させる
手段とを備えることを特徴とする成膜装置。 - 2.真空容器内に設けられた二つの対向する電極にそれ
ぞれ高周波電力を供給することにより放電状態を生成し
て、成膜を行う成膜装置において、 高周波の発振器と、該発振器の出力を増幅して高周波電
力を出力する第1および第2の増幅器とを設け、前記第
1または第2の増幅器のいずれかと発振器の間に介在し
て、発振器の出力の位相を変位させる位相調整器と、前
記対向する二つの電極ごとに配置されて各々の電圧を検
出するモニタセンサとを備え、 前記位相調整器は、前記各モニタセンサの出力と予め定
めた設定値とから二つの電極に供給される高周波電力の
位相関係のずれを検出して、該ずれを小さくするように
発振器の出力の位相を連動して変位させる機能を有する
ことを特徴とする成膜装置。 - 3.成膜装置の真空容器内に設けられた二つの対向する
電極にそれぞれ高周波電力を供給して、放電状態を生成
させて成膜を行わせる高周波電源装置であって、 高周波の発振器と、該発振器の出力を増幅して高周波電
力を出力する第1および第2の増幅器とを設け、前記第
1または第2の増幅器のいずれかと発振器の間に介在し
て、発振器の出力の位相を変位させる位相調整器とを備
えることを特徴とする高周波電源装置。 - 4.前記予め定めた設定値として、成膜の過程に応じて
最適値を設定する機能を備えた、請求項1または2記載
の成膜装置。 - 5.二つの対向電極の一方がターゲット電極であり、他
方が基板電極であって、高周波バイアススパッタリング
を行うものである、請求項1、2または4記載の成膜装
置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1247322A JPH0747820B2 (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 成膜装置 |
DE4029984A DE4029984A1 (de) | 1989-09-22 | 1990-09-21 | Vorrichtung zur herstellung duenner schichten mit hochfrequenzenergie und spannungsversorgungseinheit dafuer |
US07/587,034 US5116482A (en) | 1989-09-22 | 1990-09-24 | Film forming system using high frequency power and power supply unit for the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1247322A JPH0747820B2 (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 成膜装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15571796A Division JP3209922B2 (ja) | 1996-06-17 | 1996-06-17 | 成膜装置および成膜方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03107456A true JPH03107456A (ja) | 1991-05-07 |
JPH0747820B2 JPH0747820B2 (ja) | 1995-05-24 |
Family
ID=17161676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1247322A Expired - Fee Related JPH0747820B2 (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 成膜装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5116482A (ja) |
JP (1) | JPH0747820B2 (ja) |
DE (1) | DE4029984A1 (ja) |
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WO2012090422A1 (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-05 | キヤノンアネルバ株式会社 | エピタキシャル膜形成方法、スパッタリング装置、半導体発光素子の製造方法、半導体発光素子、および照明装置 |
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