JPH03105790A - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置Info
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- JPH03105790A JPH03105790A JP1241822A JP24182289A JPH03105790A JP H03105790 A JPH03105790 A JP H03105790A JP 1241822 A JP1241822 A JP 1241822A JP 24182289 A JP24182289 A JP 24182289A JP H03105790 A JPH03105790 A JP H03105790A
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- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 6
- 101000741396 Chlamydia muridarum (strain MoPn / Nigg) Probable oxidoreductase TC_0900 Proteins 0.000 abstract description 11
- 101000741399 Chlamydia pneumoniae Probable oxidoreductase CPn_0761/CP_1111/CPj0761/CpB0789 Proteins 0.000 abstract description 11
- 101000741400 Chlamydia trachomatis (strain D/UW-3/Cx) Probable oxidoreductase CT_610 Proteins 0.000 abstract description 11
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
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- Dram (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
半導体メモリ装置、特に、制御手段から所定のサイクル
・タイムで更新および供給されるアドレス情報に基づい
てチップ内の所定のアドレスから記憶データを読み出す
ランダム・アクセス型のメモリに関し、 コラムアドレス信号のみが変化した場合のデータ読み出
し時における無駄な時間消費を無くし、ひいては高速動
作に寄与させることを目的とし、前記アドレス情報のう
ちのロウアドレスに応答し、該ロウアドレスの少なくと
も1ピットが変化したことを検出した時にセットされて
状態信号を出力し、所定時間経過後にリセットされて該
状態信号の出力を停止する手段を具備し、前記所定時間
は選択アドレスに対応する記憶データが出力端子に読み
出されるまでに要する時間に設定され、前記状態信号は
前記制御手段に対し前記アドレス情報の更新を停止させ
るために供されるよう構戊する。
・タイムで更新および供給されるアドレス情報に基づい
てチップ内の所定のアドレスから記憶データを読み出す
ランダム・アクセス型のメモリに関し、 コラムアドレス信号のみが変化した場合のデータ読み出
し時における無駄な時間消費を無くし、ひいては高速動
作に寄与させることを目的とし、前記アドレス情報のう
ちのロウアドレスに応答し、該ロウアドレスの少なくと
も1ピットが変化したことを検出した時にセットされて
状態信号を出力し、所定時間経過後にリセットされて該
状態信号の出力を停止する手段を具備し、前記所定時間
は選択アドレスに対応する記憶データが出力端子に読み
出されるまでに要する時間に設定され、前記状態信号は
前記制御手段に対し前記アドレス情報の更新を停止させ
るために供されるよう構戊する。
本発明は、半導体メモリ装置に関し、特に、制御手段(
例えばメモリシステム内のCPU)から所定のサイクル
・タイムで更新および供給されるアドレス情報に基づい
てチップ内の所定のアドレスから記憶データを読み出す
ランダム・アクセス型のメモリに関する。
例えばメモリシステム内のCPU)から所定のサイクル
・タイムで更新および供給されるアドレス情報に基づい
てチップ内の所定のアドレスから記憶データを読み出す
ランダム・アクセス型のメモリに関する。
ランダム・アクセス型のメモリとして、例えばスタティ
ック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)を例に
とって説明する。
ック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)を例に
とって説明する。
第4図には従来形の一例としてのSRAMの構成が示さ
れる。
れる。
同図において、複数ビットのロウアドレス信号RADD
およびコラムアドレス信号CADDは、それぞれロウア
ドレス・バッファRABおよびコラムアドレス・バッフ
ァCABに入力され、複数対の相補信号R^,RAXお
よびCA, CAXが形或される。ロウアドレス相補信
号RA, RAXはロウデコーダRDに入力され、行選
択信号Xが形威される。一方、コラムアドレス相補信号
CA, CAXはコラムデコーダCDに入力され、列選
択信号Yが形戒される。記憶情報を保持するメモリセル
アレイMCは複数の行および列のマトリクスで構或され
、各交差部にはSRAMセル(第5図参照)が配置され
ている 行選択信号Xによって選択された行に属するセルの記憶
情報は、複数対のビット線BL, BLXに読み出され
、トランスファゲー}TRに送られる。トランスファゲ
ー}TRは、これらの複数対のビット線のうち、列選択
信号Yによって指定された1対のビット線を選択し、該
選択したビット線上のデータを対応するl対のデータパ
ス線DB, DBXに出力する。この出力されたデータ
は、さらに出力バッファOBによりセンスされて出力デ
ータD o u 丁 として出力される。なお、1Bは
入カバッファであり、アクティブ・ローの書き込み制御
信号WEXおよび人力データDI)1に基づきデータパ
ス線のレベルを所定レベルに強制して書き込みを行うた
めのものである。
およびコラムアドレス信号CADDは、それぞれロウア
ドレス・バッファRABおよびコラムアドレス・バッフ
ァCABに入力され、複数対の相補信号R^,RAXお
よびCA, CAXが形或される。ロウアドレス相補信
号RA, RAXはロウデコーダRDに入力され、行選
択信号Xが形威される。一方、コラムアドレス相補信号
CA, CAXはコラムデコーダCDに入力され、列選
択信号Yが形戒される。記憶情報を保持するメモリセル
アレイMCは複数の行および列のマトリクスで構或され
、各交差部にはSRAMセル(第5図参照)が配置され
ている 行選択信号Xによって選択された行に属するセルの記憶
情報は、複数対のビット線BL, BLXに読み出され
、トランスファゲー}TRに送られる。トランスファゲ
ー}TRは、これらの複数対のビット線のうち、列選択
信号Yによって指定された1対のビット線を選択し、該
選択したビット線上のデータを対応するl対のデータパ
ス線DB, DBXに出力する。この出力されたデータ
は、さらに出力バッファOBによりセンスされて出力デ
ータD o u 丁 として出力される。なお、1Bは
入カバッファであり、アクティブ・ローの書き込み制御
信号WEXおよび人力データDI)1に基づきデータパ
ス線のレベルを所定レベルに強制して書き込みを行うた
めのものである。
第5図には、上述したSRAMのメモリセルとその周辺
の回路構戊が示される。
の回路構戊が示される。
ここでは、SRAMセルは、1対のドライバ用トランジ
スタQl, Q2とそれに対応する1対の負荷素子Rl
,R2からなるフリップフロップと、該フリップフロッ
プの1対の出力ノードNl, N2と相補ビット線BL
, BLXの間にそれぞれ接続されたトランスファゲー
ト用トランジスタQ3, Q4とから構戊されている。
スタQl, Q2とそれに対応する1対の負荷素子Rl
,R2からなるフリップフロップと、該フリップフロッ
プの1対の出力ノードNl, N2と相補ビット線BL
, BLXの間にそれぞれ接続されたトランスファゲー
ト用トランジスタQ3, Q4とから構戊されている。
また、R3、R4はそれぞれビット線BL, BLXの
負荷素子、Q5,Q5はそれぞれビット線BL, BL
Xとデータパス線DB, DBXo間を接続するための
トランジスタを示し、該トランジスタはコラムデコーダ
CDの出力Yの論理レベルに応じてオン・オフされる。
負荷素子、Q5,Q5はそれぞれビット線BL, BL
Xとデータパス線DB, DBXo間を接続するための
トランジスタを示し、該トランジスタはコラムデコーダ
CDの出力Yの論理レベルに応じてオン・オフされる。
ロウデコーダRDおよびコラムデコーダCDは、一般的
に図のように多入力ノア(NOR)回路によって構戒さ
れる。
に図のように多入力ノア(NOR)回路によって構戒さ
れる。
以上に説明したSRAMにおいて、マトリクス構或され
たメモリからの読み出し速度は、ロウアドレス信号RA
DDが変化した場合とコラムアドレス信号CADDが変
化した場合とで異なる。
たメモリからの読み出し速度は、ロウアドレス信号RA
DDが変化した場合とコラムアドレス信号CADDが変
化した場合とで異なる。
第6図はこの様子を図示したもので、(a) はロウア
ドレス信号RADDのみが変化した場合、(b)はコラ
ムアドレス信号CADDのみが変化した場合を示してい
る。
ドレス信号RADDのみが変化した場合、(b)はコラ
ムアドレス信号CADDのみが変化した場合を示してい
る。
まず、ロウアドレス信号RADDが変化した場合は、ア
ドレスの切り替わりによって前サイクルで選択されてい
た行選択線のレベルが立ち下がる(破線表示〉と共に、
新しく選択された行選択線のレベルが立ち上がる(実線
表示)。これを受けてビット線BL, BLXには、前
サイクルの読み出しデータに替わって新しいデータが読
み出されてくる。この時点では列選択線は既に選択され
ている(すなわち列選択信号Yのレベルは“H”レベル
である)から、データパス線DB, DBXにはビット
線の動きがほぼそのまま現れる。データパス線DB,
DBXに読み出されたデータは、出力バッファOBの動
作遅延時間後に波形或形されて出力される(Door)
。
ドレスの切り替わりによって前サイクルで選択されてい
た行選択線のレベルが立ち下がる(破線表示〉と共に、
新しく選択された行選択線のレベルが立ち上がる(実線
表示)。これを受けてビット線BL, BLXには、前
サイクルの読み出しデータに替わって新しいデータが読
み出されてくる。この時点では列選択線は既に選択され
ている(すなわち列選択信号Yのレベルは“H”レベル
である)から、データパス線DB, DBXにはビット
線の動きがほぼそのまま現れる。データパス線DB,
DBXに読み出されたデータは、出力バッファOBの動
作遅延時間後に波形或形されて出力される(Door)
。
一方、コラムアドレス信号CADDのみが変化した場合
は、アドレスが切り替わった時点では既にビット線BL
, BLXにはメモリセルからの読み出しデー夕が出力
されており、アドレスの変化に伴って新しい列選択線が
選択されてそのレベルが立ち上がる(実線表示〉と、ビ
ット線BL, BLXのレベルがデータパス線DB.
DBXに転送される。データパス線に読み出されたデー
タは、同様に出力バッファOBの動作遅延時間後に波形
戒形されて出力される。
は、アドレスが切り替わった時点では既にビット線BL
, BLXにはメモリセルからの読み出しデー夕が出力
されており、アドレスの変化に伴って新しい列選択線が
選択されてそのレベルが立ち上がる(実線表示〉と、ビ
ット線BL, BLXのレベルがデータパス線DB.
DBXに転送される。データパス線に読み出されたデー
タは、同様に出力バッファOBの動作遅延時間後に波形
戒形されて出力される。
上記2つの動作モードにおける読み出し速度を比較する
と、行選択線Xには多数のメモリセルのトランスファゲ
ート(第5図のトランジスタQ3,Q4)が負荷容量と
して付加されるが、列選択線Yにはビット線とデータパ
ス線の間に介挿されている2つのコラム・トランスファ
ゲート(同図のトランジスタQ5,ロ6〉が付加されて
いるのみである。
と、行選択線Xには多数のメモリセルのトランスファゲ
ート(第5図のトランジスタQ3,Q4)が負荷容量と
して付加されるが、列選択線Yにはビット線とデータパ
ス線の間に介挿されている2つのコラム・トランスファ
ゲート(同図のトランジスタQ5,ロ6〉が付加されて
いるのみである。
従って、行選択線に関する動作の方が列選択線のそれよ
りも遅くなる。
りも遅くなる。
また、ロウアドレス信号RADDの変化を受けてセル情
報を読み出す場合は、メモリセルはビット線とデータパ
ス線の容量を共に駆動しなければならないのに対し、コ
ラムアドレス信号CADDのみの変化を受けてセル情報
を読み出す場合には、セルの情報は既にビット線に読み
出されている〈すなわちビット線負荷容量は既に駆動済
みである〉ため、実質的にはデータパス線の容量のみを
駆動すればよいことになる。
報を読み出す場合は、メモリセルはビット線とデータパ
ス線の容量を共に駆動しなければならないのに対し、コ
ラムアドレス信号CADDのみの変化を受けてセル情報
を読み出す場合には、セルの情報は既にビット線に読み
出されている〈すなわちビット線負荷容量は既に駆動済
みである〉ため、実質的にはデータパス線の容量のみを
駆動すればよいことになる。
従って、ロウアドレス信号R^0ロが変化した場合の読
み出しに要する時間(tACRとする)は、コラムアド
レス信号CADDのみが変化した場合の読み出しに要す
る時間(tACCとする)に比して必然的に長くなり、
一般にはtACRはtACCの1.5倍〜2倍である。
み出しに要する時間(tACRとする)は、コラムアド
レス信号CADDのみが変化した場合の読み出しに要す
る時間(tACCとする)に比して必然的に長くなり、
一般にはtACRはtACCの1.5倍〜2倍である。
ところで一般のメモリシステムでは、サイクル・タイム
はメモリの最大アクセス時間を見込んで設定されるのが
普通であり、例えば上の例ではtACR以上に設定され
る。そのため、アドレスの変化がメモリのコラムアドレ
ス信号CADDのみに起こった場合には、(tACR
− tACC ’)に相当する時間は無駄に費やされる
ことになる。
はメモリの最大アクセス時間を見込んで設定されるのが
普通であり、例えば上の例ではtACR以上に設定され
る。そのため、アドレスの変化がメモリのコラムアドレ
ス信号CADDのみに起こった場合には、(tACR
− tACC ’)に相当する時間は無駄に費やされる
ことになる。
以上説明したように、従来技術においてはメモリのサイ
クル・タイムは一定に設定されているため、アドレスの
変化時にメモリの読み出しデータが既にビット線に出力
されている場合(すなわちメモリのコラムアドレス信号
CAロロのみが変化した場合)には無駄な時間を費やす
ことになる。
クル・タイムは一定に設定されているため、アドレスの
変化時にメモリの読み出しデータが既にビット線に出力
されている場合(すなわちメモリのコラムアドレス信号
CAロロのみが変化した場合)には無駄な時間を費やす
ことになる。
本発明は、かかる従来技術における課題に鑑み創作され
たもので、コラムアドレス信号のみが変化した場合のデ
ータ読み出し時における無駄な時間消費を無くし、ひい
ては高速動作に寄与させることができる半導体メモリ装
置を提供することを目的としている。
たもので、コラムアドレス信号のみが変化した場合のデ
ータ読み出し時における無駄な時間消費を無くし、ひい
ては高速動作に寄与させることができる半導体メモリ装
置を提供することを目的としている。
上述した従来技術の課題を解決するため、本発明によれ
ば、制御手段から所定のサイクル・タイムで更新および
供給されるアドレス情報に基づいてチップ内の所定のア
ドレスから記憶データを読み出す半導体メモリ装置であ
って、前記アドレス情報のうちのロウアドレスに応答し
、該ロウアドレスの少なくとも1ビットが変化したこと
を検出した時にセットされて状態信号を出力し、所定時
間経過後にリセットされて該状態信号の出力を停止する
手段を具備し、前記所定時間は選択アドレスに対応する
記憶データが出力端子に読み出されるまでに要する時間
に設定され、前記状態信号は前記制御手段に対し前記ア
ドレス情報の更新を停止させるために供されることを特
徴とする半導体メモリ装置が提供される。
ば、制御手段から所定のサイクル・タイムで更新および
供給されるアドレス情報に基づいてチップ内の所定のア
ドレスから記憶データを読み出す半導体メモリ装置であ
って、前記アドレス情報のうちのロウアドレスに応答し
、該ロウアドレスの少なくとも1ビットが変化したこと
を検出した時にセットされて状態信号を出力し、所定時
間経過後にリセットされて該状態信号の出力を停止する
手段を具備し、前記所定時間は選択アドレスに対応する
記憶データが出力端子に読み出されるまでに要する時間
に設定され、前記状態信号は前記制御手段に対し前記ア
ドレス情報の更新を停止させるために供されることを特
徴とする半導体メモリ装置が提供される。
上述した構戒によれば、ロウアドレスが変化してから選
択アドレスのデータが出力端子に読み出されるまでの期
間のみ状態信号が出力されるため、この状態信号を例え
ばピジー(BUSY)信号として制御手段(例えばメモ
リシステム内のCPU)にフィードバックすることによ
り、ロウアドレスが変化した場合のみ該CPUを一時停
止させ、アドレス情報の更新を停止させることができる
。通常のCPUのサイクル・タイムは前記tACC (
コラムアドレスのみが変化した場合のデータ読み出しに
要する時間)程度に設定することができるため、システ
ムの稼働効率の改善が図れる。
択アドレスのデータが出力端子に読み出されるまでの期
間のみ状態信号が出力されるため、この状態信号を例え
ばピジー(BUSY)信号として制御手段(例えばメモ
リシステム内のCPU)にフィードバックすることによ
り、ロウアドレスが変化した場合のみ該CPUを一時停
止させ、アドレス情報の更新を停止させることができる
。通常のCPUのサイクル・タイムは前記tACC (
コラムアドレスのみが変化した場合のデータ読み出しに
要する時間)程度に設定することができるため、システ
ムの稼働効率の改善が図れる。
なお、本発明の他の構或上の特徴および作用の詳細につ
いては、添付図面を参照しつつ以下に記述される実施例
を用いて説明する。
いては、添付図面を参照しつつ以下に記述される実施例
を用いて説明する。
第l図には本発明の一実施例としての半導体メモリ装置
の構或が示される。
の構或が示される。
本実施例のメモリはチップの形態を有し、例えばプリン
ト基板上にCPU (中央処理装置〉と共に搭載されて
システムの一部を構戊している。メモリの構戊としては
、従来例として示した第4図の構戒に加え、ロウアドレ
ス信号RA[lOの少なくとも1ビットの変化を検出す
るアドレス遷移検出回路ATOと、該検出に基づく出力
信号φSを所定時間だけ遅延させる遅延回路DLYと、
アドレス遷移検出回路ATDの出力信号φSに応答して
セットされ、遅延回路OLYの出力φRに応答してリセ
ットされるフリップフロップ(FF)FFとを追加して
いる。なお、CはCPUであって、システムバスSBを
介してメモリ・チップに対しアクセスのための制御信号
やアドレス信号を供給し、メモリを制御するためのもの
である。
ト基板上にCPU (中央処理装置〉と共に搭載されて
システムの一部を構戊している。メモリの構戊としては
、従来例として示した第4図の構戒に加え、ロウアドレ
ス信号RA[lOの少なくとも1ビットの変化を検出す
るアドレス遷移検出回路ATOと、該検出に基づく出力
信号φSを所定時間だけ遅延させる遅延回路DLYと、
アドレス遷移検出回路ATDの出力信号φSに応答して
セットされ、遅延回路OLYの出力φRに応答してリセ
ットされるフリップフロップ(FF)FFとを追加して
いる。なお、CはCPUであって、システムバスSBを
介してメモリ・チップに対しアクセスのための制御信号
やアドレス信号を供給し、メモリを制御するためのもの
である。
遅延回路DLYにおける遅延量は、ロウアドレス信号R
ADDの少なくとも1ビットが変化した時点から、アド
レスアクセスに基づきデータ出力が出力端子D。U7に
読み出されるまでに要する時間となるように予め設定さ
れている。また、フリップフロップFFの出力端子Qか
らはビジー信号BUSYXが出力され、システムバスS
Bを介して、CPU (中央処理装置〉Cに起動信号R
EADYとして供給される。このビジー信号eusyx
は、該フリップフロップがセットされた時に“L”レベ
ルに立ち下がり、リセットされた時に元の“H”レベル
に戻る。
ADDの少なくとも1ビットが変化した時点から、アド
レスアクセスに基づきデータ出力が出力端子D。U7に
読み出されるまでに要する時間となるように予め設定さ
れている。また、フリップフロップFFの出力端子Qか
らはビジー信号BUSYXが出力され、システムバスS
Bを介して、CPU (中央処理装置〉Cに起動信号R
EADYとして供給される。このビジー信号eusyx
は、該フリップフロップがセットされた時に“L”レベ
ルに立ち下がり、リセットされた時に元の“H”レベル
に戻る。
次に、第1図のメモリの読み出し動作について第2図を
参照しながら説明する。
参照しながら説明する。
第2図において、■はロウアドレス信号RADDおよび
コラムアドレス信号CAD[lが共に変化した場合、■
はロウアドレス信号RADDのみが変化した場合、そし
て、■はコラムアドレス信号CADDのみが変化した場
合を示している。
コラムアドレス信号CAD[lが共に変化した場合、■
はロウアドレス信号RADDのみが変化した場合、そし
て、■はコラムアドレス信号CADDのみが変化した場
合を示している。
■および■については、それぞれロウアドレス信号RA
DDが変化しているので、アドレス遷移検出回路ATO
はパルス信号φSを出力する。遅延回路DLYはこのパ
ルス信号φSを前述した所定時間だけ遅延させてパルス
信号φRを出力する。フリップフロップFFは、パルス
信号φSによりセットされてその出力(ビジー信号BU
SYX)を“L”レベルに立ち下げ、次いでパルス信号
φRによりリセットされて該ビジー信号BUSYXを元
の“H”レベルに戻す。
DDが変化しているので、アドレス遷移検出回路ATO
はパルス信号φSを出力する。遅延回路DLYはこのパ
ルス信号φSを前述した所定時間だけ遅延させてパルス
信号φRを出力する。フリップフロップFFは、パルス
信号φSによりセットされてその出力(ビジー信号BU
SYX)を“L”レベルに立ち下げ、次いでパルス信号
φRによりリセットされて該ビジー信号BUSYXを元
の“H”レベルに戻す。
一方、■については、ロウアドレス信号RAD[lは変
化しないため、ビジー信号BUSYXのレベルハ変化せ
ず、元の“H”レベルのままとなる。
化しないため、ビジー信号BUSYXのレベルハ変化せ
ず、元の“H”レベルのままとなる。
第3図は第1図のメモリを使用したCPUシステムの動
作タイミング図を示す。
作タイミング図を示す。
このCPUシステムのサイクル・タイム・すなわちシス
テム・クロックの周期は、該システムに使用しているメ
モリのtACC程度に設定しておく。
テム・クロックの周期は、該システムに使用しているメ
モリのtACC程度に設定しておく。
アドレス信号の変化がコラムアドレス信号CADDのみ
で起こった場合には、前述のように“L″レベルのビジ
ー信号BIISYXは出力されず、1サイクル・タイム
内でメモリ読み出し動作が完了する。
で起こった場合には、前述のように“L″レベルのビジ
ー信号BIISYXは出力されず、1サイクル・タイム
内でメモリ読み出し動作が完了する。
一方、ロウアドレス信号RADDに変化があった場合は
、ビジー信号BUSYX(C P U (7)起動信号
R[EADY)が“L″レベルに立ち下がり(図の■)
、それによってCPUは一時停止の状態となる。従って
、そのサイクルが終了してもCPUのアドレス出力情報
が変化することはなく、結果として、2サイクル・タイ
ム(′=−2tACC)に亘ってメモリは同一アドレス
が選択されることになる。
、ビジー信号BUSYX(C P U (7)起動信号
R[EADY)が“L″レベルに立ち下がり(図の■)
、それによってCPUは一時停止の状態となる。従って
、そのサイクルが終了してもCPUのアドレス出力情報
が変化することはなく、結果として、2サイクル・タイ
ム(′=−2tACC)に亘ってメモリは同一アドレス
が選択されることになる。
言い換えると、ロウアドレス信号RADロが変化した場
合のみ、メモリのサイクル・タイムが2倍に延長される
ことになる。
合のみ、メモリのサイクル・タイムが2倍に延長される
ことになる。
なお、CPUがメモリをアクセスする場合、メモリの連
続したアドレスを次々とアクセスすることが多い。これ
は、メモリがプログラムを記憶している場合でも、デー
タを記憶している場合でも同様である。例えばプログラ
ムの場合には、分岐命令が無い限りCPUはメモリをシ
ーケンシャルにアクセスして読み出しを行うし、データ
の場合にも或るデータはまとまったメモリ領域を確保し
て記憶されるのが普通であるから、シーケンシャルなア
クセスが行われる確立が高くなる。
続したアドレスを次々とアクセスすることが多い。これ
は、メモリがプログラムを記憶している場合でも、デー
タを記憶している場合でも同様である。例えばプログラ
ムの場合には、分岐命令が無い限りCPUはメモリをシ
ーケンシャルにアクセスして読み出しを行うし、データ
の場合にも或るデータはまとまったメモリ領域を確保し
て記憶されるのが普通であるから、シーケンシャルなア
クセスが行われる確立が高くなる。
従って、CPUの下位アドレスをメモリのコラムアドレ
スに対応させておけば、CPUがシーケンシャルなアク
セスを行った場合に、メモリのコラムアドレスのみが変
化することになる。つまり、ビジー信号B[ISYXは
“H”レベルを維持し、それによってCPUは停止する
ことなくアクセスを継続するため、規定の1サイクル・
タイム内でメモリ読み出し動作が完了する。これによっ
て高速動作が達或される。
スに対応させておけば、CPUがシーケンシャルなアク
セスを行った場合に、メモリのコラムアドレスのみが変
化することになる。つまり、ビジー信号B[ISYXは
“H”レベルを維持し、それによってCPUは停止する
ことなくアクセスを継続するため、規定の1サイクル・
タイム内でメモリ読み出し動作が完了する。これによっ
て高速動作が達或される。
以上説明したように本発明によれば、コラムアドレス信
号のみが変化した場合のデータ読み出し時において、従
来見られたような無駄な時間消費を無くすことができる
。そのため、低速メモリを使用した場合でも、メモリシ
ステムとしては高速メモリを使用した場合と同等の高速
性能を達或できる。
号のみが変化した場合のデータ読み出し時において、従
来見られたような無駄な時間消費を無くすことができる
。そのため、低速メモリを使用した場合でも、メモリシ
ステムとしては高速メモリを使用した場合と同等の高速
性能を達或できる。
第1図は本発明の一実施例としての半導体メモリ装置の
構戊を示すブロック図、 第2図は第1図のメモリの読み出し動作を説明するため
のタイミング図、 第3図は第l図のメモリを使用したCPUシステムの動
作タイミング図、 第4図は従来形の一例としてのSRAMの構戒を示すブ
ロック図、 第5図は第4図におけるーメモリセルおよびその周辺の
構或を示す回路図、 第6図(a)および(b)は第4図のメモリの読み出し
動作を示すタイミング図、 である。 (符号の説明) ATO・・・アドレス遷移検出回路、 DLY・・・遅延回路、 FF・・・フリップフロップ、 C・・・制御手段(CPU)、 RADD・・・ロウアドレス(信号〉、CADD・・・
コラムアドレス(信号)、BUSYX・・・状態信号(
ビジー信号)、tACR・・・ロウアドレス信号RAD
Dが変化した場合の読み出しに要する時間)、 tACC・・・コラムアドレス信号CADDのみが変化
した場合の読み出しに要する時間。
構戊を示すブロック図、 第2図は第1図のメモリの読み出し動作を説明するため
のタイミング図、 第3図は第l図のメモリを使用したCPUシステムの動
作タイミング図、 第4図は従来形の一例としてのSRAMの構戒を示すブ
ロック図、 第5図は第4図におけるーメモリセルおよびその周辺の
構或を示す回路図、 第6図(a)および(b)は第4図のメモリの読み出し
動作を示すタイミング図、 である。 (符号の説明) ATO・・・アドレス遷移検出回路、 DLY・・・遅延回路、 FF・・・フリップフロップ、 C・・・制御手段(CPU)、 RADD・・・ロウアドレス(信号〉、CADD・・・
コラムアドレス(信号)、BUSYX・・・状態信号(
ビジー信号)、tACR・・・ロウアドレス信号RAD
Dが変化した場合の読み出しに要する時間)、 tACC・・・コラムアドレス信号CADDのみが変化
した場合の読み出しに要する時間。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 制御手段(C)から所定のサイクル・タイムで更新およ
び供給されるアドレス情報に基づいてチップ内の所定の
アドレスから記憶データを読み出す半導体メモリ装置で
あって、 前記アドレス情報のうちのロウアドレス(RADD)に
応答し、該ロウアドレスの少なくとも1ビットが変化し
たことを検出した時にセットされて状態信号(BUSY
X)を出力し、所定時間(tACR)経過後にリセット
されて該状態信号の出力を停止する手段(ATD、DL
Y、FF)を具備し、 前記所定時間は選択アドレスに対応する記憶データが出
力端子に読み出されるまでに要する時間に設定され、前
記状態信号は前記制御手段に対し前記アドレス情報の更
新を停止させるために供されることを特徴とする半導体
メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1241822A JP2820157B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1241822A JP2820157B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体メモリ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03105790A true JPH03105790A (ja) | 1991-05-02 |
JP2820157B2 JP2820157B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=17080014
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1241822A Expired - Fee Related JP2820157B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2820157B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6813211B2 (en) | 2002-04-17 | 2004-11-02 | Renesas Technology Corp. | Fully hidden refresh dynamic random access memory |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP1241822A patent/JP2820157B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6813211B2 (en) | 2002-04-17 | 2004-11-02 | Renesas Technology Corp. | Fully hidden refresh dynamic random access memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2820157B2 (ja) | 1998-11-05 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |