JPH0310253A - フォトマスクの処理方法 - Google Patents

フォトマスクの処理方法

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Publication number
JPH0310253A
JPH0310253A JP1144802A JP14480289A JPH0310253A JP H0310253 A JPH0310253 A JP H0310253A JP 1144802 A JP1144802 A JP 1144802A JP 14480289 A JP14480289 A JP 14480289A JP H0310253 A JPH0310253 A JP H0310253A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
photomask
photomasks
etching
liquid chemicals
Prior art date
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Pending
Application number
JP1144802A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Kawahara
正明 川原
Eiji Nishikata
西形 英治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1144802A priority Critical patent/JPH0310253A/ja
Publication of JPH0310253A publication Critical patent/JPH0310253A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は集積回路の製造に使用するフォトマスクの現像
・エツチングの処理方法に関し。
均一な現像・エツチングによるパターン寸法の精度の向
上を目的とし。
薬液が処理槽の下部より均一な層流となって上4昇して
(る循環式処理槽において、処理面を上側にして、複数
のフォトマスクを2間隔をあけて並列に傾斜保持し、且
つ2列の処理面側の端に、ダミープレー1・を間隔をあ
けて並列して傾斜保持することにより構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は集積回路の製造に使用するフォトマスクの現像
・エツチングの処理方法に関する。
近年、■C用パターン形成に使用するフォトマスクの精
度は、パターンの微細化と集積度の向上にともない、益
々要求が厳しくなっている。
このため、この要求にこたえる寸法精度の均−且つ微細
な現像・エツチングの処理方法を開発する必要がある。
〔従来の技術〕
第3図に従来例の説明図を示す。
図において214は処理槽、15は供給口、16は薬液
、17はオーバーフロー槽、18ば送液パイプ、〕9は
整流板520はマスクホルダー、21はフォトマスクで
ある。
現在、このフォトマスクの現像やエツチング処理は、薬
液中で行う浸漬方法が従来多く用いられてきた。
即ち、第3図に装置の模式断面図で示すように現像装置
の上部に処理槽14が設置され、下部の供給口15から
ポンプにより薬液16が循環供給され処理槽14の上部
壁面よりオーバーフロー槽17に流下し、送液パイプ1
8を通して再び処理槽14に還流する構造となっている
又、薬液16は処理の間、常時還流しており、流量の均
一性を保ち層流とするために、整流板19を処理槽の下
部に設けている。
しかし、常時循環しているために、薬液16の対流がマ
スクホルダー20内にセットされたフォトマスク21の
下部或いは上部で起こり2 フォトマスク21の処理面
を通過する薬液の量が処理面の各部で異なり、フォトマ
スク21の中央部に比べて、上下の現像の進み具合が速
くなり、パターンの仕上がり寸法が変わってくる。
〔発明が解決しようとする課題] 従って、従来の浸漬方法では、薬液の対流等により、パ
ターン寸法の精度が0.1μm、又はそれ以上の精度が
要求される状況では、目標基準値フォトマスク内のばら
つき、フオi・マスク間のばらつき、いずれにも対応で
きず、下層からの流量が均一になるようにしても、フォ
トマスクの上下の寸法に差がでてしまう。
本発明は、このフォトマスクの浸漬による薬液処理にお
いて、フォトマスクのセット方法の見直しを行い、均一
な現像・エツチングによるフォトマスクのパターン精度
の向上を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理説明図である。
図において、1はフォトマスク、2はフォトマスクの処
理面である。又、実線は薬液の流れを示し2点線は薬液
処理によるフォトマスク処理面の反応生成物の離脱を示
す。
第1図(a)に示すように、薬液中のフメトマスク1の
セットを現状の垂直設置から、処理面2を上側に向けて
、斜倒したセット方法に変更する。
このようにセットすると、下層から整流板等を通過して
2層流となって並列したフメトマスクとフォトマスクの
間に流入する。
薬液は処理面に直接当たらず、薬液の置換が円滑となり
、又薬液の反応による反応生成物の離脱も均−且つ速や
かに行われる。
実施例におけるフォトマスク内の上下の位置と現像速度
(パターン寸法に比例)の関係を第1図(C)に示す。
フォトマスクの上下各部で均一性が確保されている。
第1図(b)に従来の垂直設置の場合のフォトマスク内
の上下の位置と現像速度の関係を比較して示す。
〔作用〕
本発明では、従来のフォトマスクの垂直設置から、斜倒
設置に変更しており、薬液のフォトマスク面に対する作
用が現像・エツチング等の薬液処理中に均一に保たれる
と同時に、フォトマスクの処理面での薬液の置換や反応
生成物の離脱がより速やかに行われる。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例の模式説明図である。
図において、3は薬液、4はフォトマスク、5は処理槽
、6はオーバーフロー槽、7はポンプ8は送液パイプ、
9はフィルター、10はドレーン11は整流板、12は
マスクホルダー、13はダミープレートである。
22図(a)にフォトマスクの現像・エツチング等に使
用する薬液処理装置の模式断面図を示す。
処理装置は薬液3を満たし、槽中でフォトマスク4を処
理する処理槽5.薬液のオーツー−フロー槽6.薬液を
循環するためのポンプ7と送液バイプ8.薬液処理の反
応生成物等を濾過するフィルター9.薬液や洗浄水を排
出するドレーン10等から構成され、薬液3を層流にし
て、下方から処理槽に送り込むための整流板11が処理
槽5の底部に設置されている。
フォトマスク4を斜削して等しい間隔に前後並列してセ
ットするように作られたマスクボルダ−12に、5イン
チのフォトマスク4を8枚、処理面を上側に向けて並列
して入れる。その際に一番手前のフォトマスク8の前に
、ダミープレート13を1枚、同様にセットする。
フォトマスク4の処理面は現像の場合も、エツチングの
場合も、ガラス基板上に蒸着したクロム膜面にレジス°
ト膜が被覆されたものである。
ヱ 薬液処理の場合5循環用のポンプ碍を運転して薬液3を
処理槽5の底部の整流板11を通じて処理槽5内に送り
込む。
薬液3は層流となって、マスクボルダ−12の下面より
斜削並列したフォトマスク4とフォトマスク4の間を通
過し、処理槽5の上面からオーバフローして、オーバー
フロー槽6に流下し フィルター9で濾過されて、再び
処理層5の底部から還流する。
第2図(b)にフォトマスク4.ダミープレート13.
処理槽5.整流板11の関係を示す斜視図を示す。
ここで使用した整流板11は、第2図(C)に示すよう
に、パンチングプレートを使用し1層流効果を得るため
にプレートの孔の径は中心部がら周囲に向かって徐々に
大きくしである。
現像・エツチングが所定時間で終了したら、ドレーン1
0より薬液3を排出し、洗浄水を処理槽5に供給して5
洗浄を行って、薬液処理を終了する。
現像・エツチング等の薬液処理を行ったフォトマスクの
パターン精度は従来の方法に比べて5均−且つ精度の良
いものが得られた。
〔発明の効果〕
本発明により、フォトマスク内の上下の寸法差が±0.
2μmから±0.1μ川となった。
又、フォトマスク間の寸法差も殆ど無くなり均一なパタ
ーンが得られた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理説明図 第2図は本発明の一実施例の説明図。 第3図は従来例の説明図 である。 図において。 1はフォトマスク、  2は処理面 3は薬液、      4はフォトマスク5は処理槽、
     6はオーバーフロー槽。 7ばポンプ、     8は送液パイプ9はフィルター
   10はドレーン 11は整流板、12はマスクボルダ− 13はダミープレート (b) (C) 杢循B月の原理説明図 第 1 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 薬液が処理槽の下部より均一な層流となって上昇してく
    る循環式処理槽において、 処理面を上側にして、複数のフォトマスクを、間隔をあ
    けて並列に傾斜保持し、 且つ、列の処理面側の端に、ダミープレートを間隔をあ
    けて並列して傾斜保持することを特徴とするフォトマス
    クの処理方法。
JP1144802A 1989-06-07 1989-06-07 フォトマスクの処理方法 Pending JPH0310253A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05121392A (ja) * 1991-10-28 1993-05-18 Sharp Corp エツチング等の処理槽
JPH05304134A (ja) * 1992-04-27 1993-11-16 Sharp Corp ウエットエッチング方法及び装置
JP2015051882A (ja) * 2012-08-09 2015-03-19 日本電気硝子株式会社 強化ガラスの製造方法及び強化ガラス基板
WO2019181067A1 (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

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JP2015051882A (ja) * 2012-08-09 2015-03-19 日本電気硝子株式会社 強化ガラスの製造方法及び強化ガラス基板
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