JPH03101177A - 超伝導薄膜パターンの作成方法 - Google Patents

超伝導薄膜パターンの作成方法

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JPH03101177A
JPH03101177A JP1235628A JP23562889A JPH03101177A JP H03101177 A JPH03101177 A JP H03101177A JP 1235628 A JP1235628 A JP 1235628A JP 23562889 A JP23562889 A JP 23562889A JP H03101177 A JPH03101177 A JP H03101177A
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JP
Japan
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thin film
superconducting
pattern
layer
oxide
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JP1235628A
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English (en)
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Kyoichi Shibuya
渋谷 恭一
Shoichi Hashiguchi
正一 橋口
Hirotoshi Nagata
永田 裕俊
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Sumitomo Cement Co Ltd
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Sumitomo Cement Co Ltd
Research Development Corp of Japan
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Publication date
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

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  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、超伝導薄膜パターンの作成法に関する。特に
、超伝導薄膜を用いて、所望のパターンを形成する技術
であり、超伝導物質と非超伝導物質のパターンを、超伝
導物質を形成する際に両者を同時に作成することを可能
とする超伝導薄膜パ一 ターンの作成方法に関する。
[従来の技術及び発明が解決しようと4゛る問題点コ従
来の技術においては、基板上に超伝導物質薄膜を形成し
、所望パターンの超伝導薄膜を得るために、第2図に示
すように、基板1上の超伝導物質層2にマスク3を使用
して、エツチングし、マスク3を除去した後に、所望パ
ターンを得、次いで、その」二に非超伝導物質4を形成
し、超伝導物質2−非超伝導物質4のパター−一−ング
を得るものである。
然し乍ら、エツチングにより超伝導物質の一部を除くた
めに、超伝導物質の特性が劣化し、臨界温度の低下が生
しる。この原因は、エツチング中にパターンとして残る
部分の超伝導物質がエツチング剤により損傷を受けるた
めである。
即し、超伝導物質をパターニングするために、超伝導薄
膜パターンの表面に付着した状態で再熱処理すると、そ
れら不純物と酸化物超伝導膜が化学的に反応し、その超
伝導臨界温度、臨界電流等の超伝導特性を劣化させるこ
とがある。
本発明は、上記のような技術的課題を解決するために、
超伝導物質と非超伝導物質の接合したパターニングを超
伝導物質を形成する際に、非超伝導物質形成と同時に作
成4°ることのできる超伝導パターンの作成JJ法を提
供°4ることを目的に4る。また、本発明は、エツチン
グ剤等により、形成超伝導薄膜の劣化が生じ得ない超伝
導パターンの作成方法を提供することを目的にする。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、上記の技術的な課題の解決のために、基板上
に酸化物超伝導薄膜パターンを作成する方法において、
予め基板上に所望の酸化物超伝導物質を構成する一部の
元素の全量或いは部分量を欠落した組成の第一の薄膜パ
ターンを作成し、更にその上全面に、第一の薄膜パター
ンの物質組成との組成の総和が、所望の酸化物超伝導物
質を得るに、充分である組成を有し、然し乍ら、単独で
は、所望の超伝導物質薄膜を形成するには不充分である
組成である物質の第二の薄膜を形成した後に、熱処理を
行ない、第一の薄膜パターンの物質とそのパターン上の
部分及びその付近部分の第二の薄膜の物質との化学反応
により、所望超伝導物質の薄膜を形成させ、それ以外の
部分の第二の薄膜は、非超伝導物質の薄膜となることを
特徴と−4る前記超伝導薄膜パターンの作成−Jj法で
ある。
そして、本発明は、基板上に酸化物超伝導セラミックス
と非超伝導セラミックスが接合された超伝導薄膜パター
ンを作成する方法において、予め基板上に所望の酸化物
超伝導物質を構成する元素の一部を金属又は合金或いは
これらを組合わせた1種類以上の物質の薄膜層からなる
第一の薄膜を積層し、次いで、これを所望パターンに加
にし、更に加工によりパターン化した部分として残った
物質組成との総和が、所望の酸化物超伝導物質を得るに
、充分である組成を有する金属、合金又はその金属の酸
化物、塩化物、アセチル化合物、アルコール化合物或い
はこれらの組合わせからなる組成材料で、全面にわたり
、第二の薄膜を積層形成した後に、適当な雰囲気で熱処
理を行ない、前記の加工で形成したパターンの物質とそ
のパターンの上の部分及びその付近部分の第二の薄膜の
材料と化合することにより、所望超伝導物質の薄膜を形
成させ、それ以外の部分の積層薄膜は、非超伝導薄膜と
なり、パターン化された(超伝導)−(非超伝導)の接
合薄膜を作ることを特徴とする前記超伝導薄膜パターン
の作成方法である。
そして、その超伝導薄膜の材料として、LnBaICu
JOK系(LnはY、La、Nd。
Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、L
uのいずれかであり、■は、1.5〜3゜0であり、J
は2.5〜4.0であり、Kは5.0〜7.0の範囲で
ある)或いは、A MCa H−+ B @ Cu N
o 1(141)4M系(但し、Aは、Bi、Tl、(
D +、*−xP b iSb v) (但し、DはB
i、TIのいずれか或いはその組合わせであり、Xは0
.1〜1.1の範囲であり、Yは2゜0以下である)の
いずれか、或いはその組合わせであり、Bは、Ba、S
rのいずれか或いはその組合わせであり、Mは0.8〜
2.8の範囲である)のいずれか或いはこれらの組合わ
せであるこ7 とが好適である。また、その第一の超伝導薄膜パターン
の物質は、所望の超伝導薄膜を構成する元素の酸化物で
あることが好適である。そして、その第一の超伝導薄膜
パターンの物質は、所望の超伝導薄膜を構成する元素の
ハロゲン化物であるととが好適である。また、その第一
の超伝導薄膜パターンの物質は、所望の超伝導薄膜を構
成する元素のアセチル化物又はアルコール化合物である
ことが好適である。
本発明による超伝導薄膜パターンの作成法によると、超
伝導物質を構成する元素のうち適当なものを選んで、薄
膜層(多層或いは単一層)を形成し、これをエツチング
し、所望のパターンを得る。次いで、このパターニング
された全表面に対して、残された薄膜パターンの残され
た物質と化合して、超伝導性を示す組成の物質の薄膜を
全面にわたり形成する。このように形成された層状体を
熱処理すると、パターン部分の残された物質は、この薄
膜物質と化合して超伝導物質になり、それ以外の部分は
非超伝導物質となる。
特に、最後に形成すべき薄膜の構成元素、物質を適当に
選択し、この構成元素の酸化物が、絶縁層を形成すれば
、超伝導物質と絶縁物質の組合わせによる(超伝導物質
)−(絶縁物質)−(超伝導物質)の接合が可能である
本発明の超伝導膜パターン作成方法の説明のために、Y
BatCumOxを例にとると、予め基板上に所望の酸
化物超伝導物質即ちYBa*CuxO□を構成する一部
の元素即ち、YBatCusOxの構成元素のうち、銅
とバリウムの合金層を形成し、その合金層をエツチング
処理して、第一の薄膜パターンを作成し、更にその上全
面に、第一の薄膜パターンの物質組成との組成の総和が
、所望の酸化物超伝導物質を得るに、充分である組成を
有し、然し乍ら、単独では、所望の超伝導物質薄膜を形
成するには不充分である組成である物質即ち、ここでは
、Y B a * Cu s Oxのうちの金属イツト
リウムで、第二の薄膜を形成する。このような金属の積
層体を酸化雰囲気中で熱処理すると、第一の薄膜パター
ンの物質即ら、Y B a @ Cu s Oxのうち
のCu、Baの合金は、その薄膜パターン上の部分及び
その付近部分の第二の薄膜の物質即ちイットリウトと一
緒に酸化反応を起こし、YBa*Cu、O,組成の所望
超伝導物質の薄膜を形成する。そして、第一の薄膜パタ
ーン以外の部分の第二の薄膜即ちイットリウ11は、酸
化されて、酸化イツトリウム(yto、)の非超伝導物
質の薄膜が形成される。
以−ヒの説明において、第一薄膜をパターニングする方
法は、エツチングによって行なっているが、本発明にお
けるパターニングの方法としては、−船釣な方法、例え
ば、光リングラフィ技術を利用でき、また、スクリーン
印刷法或いは液体原料を用いるスプレー噴霧法等を利用
しても、第一薄膜パターンを形成することかでさる。
例えば、スクリーン印刷法を利用する場合、上記のよう
な元素、金属の塩化物或いはアセチル化物等の溶液化で
きる化合物により、ペーストを作り、そのペーストでス
クリーン印刷することで、バターニング形成をすること
ができる。
このようにパターニングされた第一薄膜の上に、第二の
薄膜を積層形成する。この積層形成する方法としては、
このパターニングされた上全面に、PVD法或いは化学
的気相蒸着法(CVD)を用いて、或いはスクリーン印
刷法或いは液体原料を用いるスプレー噴霧法により、行
なうことができる。
最後に、以」二のように作成した構造の積層薄膜に対し
て、制御された雰囲気で、特に、酸化雰囲気下で、熱処
理り°る。この熱処理には、電気炉、ガス炉、赤外線照
射等の方法を用いて、熱処理を行なう、この熱処理によ
り、所望酸化物超伝導物質が得られるように、第一の薄
膜と第二の薄膜の物質、材料が、化学反応、酸化反応が
進行する温度例えば、600℃〜1200℃の温度範囲
で、必要な時間及び雰囲気でアニール熱処理を行なうこ
とが好適である。
そのための熱処理は一回以上行ない得る。
ここにおいて、熱処理温度を600°C〜1200°C
の範囲にした理由は、この温J珪範囲において、酸化反
応及び超伝導酸化物生成反応が生しるためである。
また、本発明により作成される超伝導パターンの基板材
料としては、セラミックス材料、特に、MgO,Zr0
t、 イットリウl、部分安定化ジル=y−yンA (
Y S Z )、S r T i Os、MgF、、C
a F x、B a F r、S r F *を用いる
ことができる。
本発明によると、酸化物超伝導膜への直接の湿式処理工
程を経ていないから、超伝導膜の劣化を生じるこきがな
いため、再現性良く、超伝導特性のすぐれた超伝導膜パ
ターンの作成が可能となった。
更に、本発明の酸化物超伝導膜パターンの作成方法は、
例えば、酸化物超伝導アンテナパターン、プリント配線
等の寸法的な精密さ、緻密さを要求されない酸化物超伝
導膜パターンの作成に応用できる。
次に、本発明の超伝導薄膜パターンの作成方法を、具体
的に実施例により説明するが、本発明はそれらによって
限定されるものではない。
[実施例1] 第1図の工程説明のための模式断面図により、説明する
第1の工程として、蒸着法により、基板1の上に、第1
層として鋼とバリウ11の合金の層2を形成し、その上
に第2層として、金属鋼の層3を形成し、その上にマス
ク4を施しく第1図(υ参照)、第2の工程として、こ
れを1・7チングして、所望のパターンを得る(パター
ニングする)(即ち、第1図(り参照)。
次いで、第3の工程として、マスク4を除去し、第1図
0)に示すような断面を得る。そして、第4の工程とし
て、蒸着法(CVD)により、金属イツトリウム薄膜層
5を全面に形成する(第1図(荀参照)。
第5の工程として、これを酸素中850〜900℃で熱
処理すると、金属イットリウノ、層5と薄膜′層2.3
とが反応し、そのエツチングして残したパターン部分で
は、超伝導薄膜(YBa*Cu5Oy)履体6を形成す
る(第1図(9参照)、そして、それ以外の部分の金属
イットリウ11は、酸化イツトノウ*(YmO)履体7
となり、11超伝導層となる。
従って、この方法では、超伝導薄膜6に対して、エツチ
ングすることがなく、超伝導物質に対して、エツチング
による損傷を与えることがない。
[未inス] 第3図の工程説明のための模式断面図により、説明する
第1の工程として、スパッタリング法により、基板1の
一ヒに、第1層としてストロンチウム鋼(SrCu)の
合金の層2を形成し、その上に第2層として、カルシウ
ム鋼酸化物(Caucuss)層3を形成し、第3層と
して、鉛(Pb)金属層4を積層し、その上にマスク5
を施しく第3図■参照)、第2の二「程として、これを
エツチングして、所望のパターンを得る(即ち、第3図
■参照)。
次いで、第3の工程として、マスク5を除去し、第3図
(3)に示1−ような断面を得る。そして、第4の二[
程として、蒸着法(CVD)により、金属ビスマス薄膜
層6を全面に積層形成する(第3図(荀参照)。
第5の工程として、この多層構造物を酸素中800〜9
00℃で熱処理すると、金属ビスマス6と各薄膜層2.
3.4の物質とが反応し、そのパターンの部分では、超
伝導薄膜 (Bi+ 、 5Pbs 、 *Sr* 、 gcat
 、 ecunoa )層8を形成する。
(第3図(9参照)、そして、それ以外の部分の金属ビ
スマスは、酸化ビスマス(Bi*Os)層7となる。
[来m*3] 第4図の断面図による工程図で説明する。
第1の工程として、スパッタリング法により、基板1の
上に、第1層としてタリウム銅(TjICu)の合金の
層2を形成し、その」二に第2層として、バリウム鋼酸
化物(BaCuO)層3を形成し、その上にマスク4を
施しく第4図(1)参照)、第2の工程として、これを
エツチングして、パターニングされた。(即し、第4図
■参照)。
次いで、第3の工程として、マスク4を除去し、第4図
(3)示すような断面を得た。そして、第4の工程とし
て、蒸着法により、金属カルシウド薄膜層5を全面に形
成した(第4図(荀参照)。
第5の工程として、これを800〜1000℃4で酸素
中で熱処理した。金属カルシウム層5と薄膜2.3の物
質とが反応し、そのパターン部分では、超伝導薄膜(T
IJaaCalC1ljO+ * )層6を形成した。
(第4図(9参照)、そして、それ以外の部分の金属カ
ルシウムは、非超伝導物質(Cab)層7となる。
[実施例4] 第5図のE[程順による断面図で説明する。
第1の工程として、スパッタリング法により、5rTi
On基板1の上に、第1層として、金属ビスマス(Bi
)の層2を形成し、その上に第2層として、ストロンチ
ウム鋼酸化物(S r C,uO)層3を形成し、その
上にマスク4を施した(第5図(1)参照)、第2の工
程として、これをエツチングして、パターニングした(
即ち、第5図(り参照)。
次いC1第3の工程として、マスク4を除去し、第5図
(3)に示すような断面を得た。そして、第4の工程と
して、蒸着法により、金属カルシウム薄膜層5を全面に
形成した(第5図(荀参照)。
第5の工程として、これを酸素中800〜900°Cで
熱処理すると、金属カルシウム5と薄膜物質2.3とが
反応し、所望パターン部分では、超伝導薄膜6 (B 
i *S r 、、lc a *、*Cu *Om)を
形成[る(第5図(!19参照)、そして、それ以外の
部分は基板(SrTiOs)との反応により非超伝導物
ff(CaTiO,)体7となり、超伝導物質と非超伝
導物質との接合体を作成できる。
「火J1聾」−] 第6図の工程順の断面図により説明する。
第1の工程として、基板1の上に、第1層として塩化鋼
(CuCffi−)の層2を形成し、その上に第2層と
して、塩化バリウム(BaC1*)層3を、各々の溶液
を用いる印刷技術により、第6図(1)に示すような断
面を有する所望パターンを得た0次に、酸素中で600
〜800°Cで熱処理−゛ると、第6図(りの断面図に
示゛4バリウl、94Nl化物(BaCuO)によるパ
ターンが得られた。 次に、印刷法により、その全面に
わたり、塩化イツトリウム(YCffi、)による薄膜
5を積層形成した(第6図0)参照)。
更にこれを最初900〜1000℃で窒素雰囲気で、次
いで、酸素雰囲気で熱処理を行なう、すると、第6図(
旬に示すような、所望パターンの上には、酸化物超伝導
履体(YBalCusOy)6が形成され、それ以外の
部分には、非超伝導物質即ち酸化イツトリウム(Y、O
,)JFJ7が形成されて、超伝導薄膜パターンが得ら
れた。
[!uu2!U] 第7図の工程順の断面図により説明する。
第1の工程として、基板1の上に、第1層として酢酸鋼
(Cu(CHsCOtL)層2を、その上に第2層とし
て、酢酸バリウム( B a (CHs CO*L )層3を印刷技術により
パタニング形成し、(第7図(1)参照)、次に、熱処
理すると、バリウム鋼酸化物に変換し、第7図■に示す
ような断面のバリウム鋼酸化物によるパターン4を得た
次いで、更に、この全面に塩化イツトリウム(YCff
i、)層5を積層形成した。(第5図(3)参照)、更
にこれを最初900〜1000″Cで窒素雰囲気で、次
いで、酸素雰囲気で熱処理を行った。(第5図(4)参
照)、すると、所望パターンの上には、酸化物超伝導体
(Y B a *Cu 5oy) 6が形成され、それ
以外の部分には、非超伝導物質即ら酸化イツトリウム(
Y*0s)7が形成きれて、超伝導−非超伝導の接合薄
膜パターンが得られた。
[実施例7] 第8図の工程順の断面図により説明する。
第1の1−程とし゛C1スパッタリング法に、Lす、基
板1の上に、第1Mとしてカルシラノ、・スト【Jンチ
ウム合金(CaSr)の層2を形成し、その」二にマス
ク3を施しく第8図(1)参照)、第2の1:程として
、これをエツチングして、パター;−ングした。(即ち
、第8図(り参照)。
次いで、第3の工程として、マスク3を除去し、第8図
0)に示すような断面を得る。そし゛C1第4の工程と
して、蒸着法により、この」二に、金属ビスマス(Bi
)層4と金属鋼(Cu)の層5を積層した(第8図(4
)参照)。次に、これを、酸素気流中で熱処理した。す
ると、第8図(9に示されるように、パターンの−Fに
は、酸化物超伝導物質(B i zs r t、gc 
a e、sc u sOs)履体6が形成され、それ以
外の部分には、ビスマス鋼酸化物(B+Cu0)層7が
形成された。
以1:のようにして本発明のノj法で作成される超伝導
薄膜パターンに対して、種々の試験を行なった。
[試験例1:電気抵抗率測定] 従来法によりYBaxCusOx超伝導薄膜をエツチン
グ剤として1%燐酸溶液を用いて、湿式加工で作成した
超伝導パターン(100μm×50μm)と、本発明に
より作成した超伝導パターンについて、電気抵抗率を測
定した結果を第9図のグラフに示す。
このグラフから、従来法では、湿式エツチングのときに
、燐酸水溶液とYBa * Cu s O□薄膜との反
応により、超伝導特性が劣化し、Tc、zt*o= 2
6 Kであった。一方、本発明による超伝導薄膜パター
ンでは、薄膜形成後に、湿式エツチングの工程を含まな
いため、Tc特性の劣化は見られず、空気中850℃、
30分間で、酸素中で徐冷する熱処理条件では、TC2
□。=66Kが得られた。そして、臨界温度を更に向上
きせるには、熱処理条件を適正化すると可能である。
本発明フj法によりMgO基板上に作成した第1表に示
す組成のBi系超超伝導薄膜パターンついて、X線回折
観察と臨界温度測定した結果を第1表に示す。使用した
超伝導薄膜パターンは、5011 mX 1100I1
で、膜厚1μmで、最終的に第1表に示すような薄膜組
成になるように、調整し、超伝導パターンでは、熱処理
した後に、主に、(Bi、Pb)*5rnCatCus
Ox或いは(Bi、 Pb)*5rtCaCutOxの
相が、最終的にB1しか堆積されていないパターン以外
の部分では、BitOnが生成していることが、X線回
折で確認できた。
[試験例3:X線回折と抵抗率の測定]す 本発明による作成した T l 、Ba rc a sCu ao v超伝導薄
膜パターンについて、X線回折及″び抵抗率の温度変化
を、第10図及び第11図に示す。
第1表 *但し、(2212)は、(Bi、 Pb> *Sr*
CaCu*Oxのものである。
(2223)は、(Bi、 Pb) tsrmcaxc
usoxのものである。
3 4− [試験例4:二次イオン 量 析] 本発明により、S r T i Os基板上に作成した
Ba系の原料組成でB1*Srl、sca*、@Cut
Oxの超伝導パターンを分析した。
この作成した超伝導パターンは、(2212)相が主に
生成され、臨界温度は80にであり、TC,Z!10は
、73にであった。このパターン部分について、X線回
折観察の結果を第12図に示す、更に、超伝導パターン
とそれ以外の部分について、二次イオン質量分析(SI
MS)を測定した、その結果を第13図に示す。
パターン以外の部分では、Caが基板中に深く拡散し、
基板中のTiと反応しており、X線回折から、Ca T
 i Os、Ca aT i so rakいうCa−
Ti−0化合物が生成されたことが確認できた。
[試 例5:SEM写真] 本発明により作成したYBa*Cu5Ox薄膜のパター
ン及びパターン以外の部分について、走査型電子顕微鏡
写真をとった。その結果を第14図に示す、パターン部
分は、厚さ5μm程度の厚膜であるために、熱処理によ
り、第14図に示すように、結晶粒成長が十分に進んだ
が、結晶の配向度は低いものであった。臨界温度は92
にで、Tc、z**oは83にであった。
[試験例6:熱処理条件と臨   ] 更に、熱処理を、熱処理温度と時間を変えながら行ない
、その結果得た超伝導薄膜パターンについて、Tc、。
□1、Tc、z□。の臨界温度及びJc(77Kにおけ
る)臨界電流を測定した。その結果を第2表に示す、試
験片は、実施例6で製造したものである。
可A犬 [試験例7:熱処理条件と電気抵抗率]実施例7で作成
したと同様にして、熱処理条件800°C130分間で
作成した超伝導薄膜パターンについで、パターン部分と
パターン以外の部分について、低温での抵抗率を測定し
た結果を、第15図に示す、実線は、パターン部分の抵
抗率の変化を示し、点線は、パターン以外の部分の抵抗
率の変化を示す。
次に、Bi系の原料組成りi*Srt 、 5ca0.
 acusoxについで、種々の熱処理温度で得た超伝
導パターンについて、抵抗率を測定した結果を第16図
に示す。
ここで試験形成した超伝導パターン部分では、X線回折
測定により、(2212)相が生成されていることが確
認された。また、パターン以外の部分は、Bi、Cuを
主成分としているが、抵抗率は、第15図の点線で示さ
れるように、高い抵抗率を有し、半導体的特性を示すこ
とが明らかにきれた。
7 8 [発明の効果コ 本発明による超伝導薄膜パターンの作成方法により、次
のような顕著な技術的効果が得られた。
第1に、(超伝導)−(非超伝導)の接合からなる酸化
物超伝導膜パターンを単純な工程で作成できる作成方法
を提供できる。
第2に、更に、本発明による作成方法では、酸化物超伝
導膜の形成以後は、湿式処理の工程を必要としない超伝
導薄膜パターンを作成できる方法を提供4−る。
第3に、更に、本発明の超伝導膜パターンの作成方法は
、酸化物超伝導膜アンプリパターン、ブノント配線等の
酸化物超伝導薄膜パターンの作成方法として応用できる
技術を提供する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による酸化物超伝導薄膜パターンを作
成する工程をその順に示す模式断面図である。 第2図は、従来法による超伝導薄膜パターンの作成方法
を示す模式断面図である。 第3.4.5.6.7及び8図は、本発明による他の具
体例の酸化物超伝導薄膜パターンを作成する工程をその
順に示す模式断面図である。 第9図は、本発明による超伝導薄膜パターン及び従来法
によるパターンの電気抵抗を測定した結果を示すグラフ
である。 第10図は、本発明による超伝導薄膜パターン部分のX
線回折測定した結果を示′16第11図は、本発明によ
り作成された各熱処理条件に対する超伝導パターンの電
気抵抗率の変化を測定した結果を示すグラフである。 第12図は、本発明により作成された超伝導パターンの
X線回折図である。 第13図A、Bは、各々本発明により作成される超伝導
パターンとそのパターン以外の部分について、2次イオ
ン質量分析した結果を示す。 第14図A、Bは、各々本発明により作成きれた超伝導
パターン及びパターン以外の部分の粒子構造を示す走査
型電子顕微鏡写真である。 第15図は、本発明により作成された超伝導パターン及
びパターン以外の部分の抵抗率の低温温度変化を示すグ
ラフである。 第16図は、本発明により作成された各熱処理条件に対
する超伝導パターンの抵抗率の変化を測定した結果を承
りグラフである。 [主要部分の符号の説明] 1 、、、、、、基板 2. 3 、、、、、、薄膜層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に酸化物超伝導薄膜パターンを作成する方法
    において、 予め基板上に所望の酸化物超伝導物質を構成する一部の
    元素の全量或いは部分量を欠落した組成の第一の薄膜パ
    ターンを作成し、更にその上全面に、第一の薄膜パター
    ンの物質組成との組成の総和が、所望の酸化物超伝導物
    質を得るに、充分である組成を有し、然し乍ら、単独で
    は、所望の超伝導物質薄膜を形成するには不充分である
    組成である物質の第二の薄膜を形成した後に、熱処理を
    行ない、第一の薄膜パターンの物質とそのパターン上の
    部分及びその付近部分の第二の薄膜の物質との化学反応
    により、所望超伝導物質の薄膜を形成させ、それ以外の
    部分の第二の薄膜は、非超伝導物質の薄膜となることを
    特徴とする前記超伝導薄膜パターンの作成方法。 2、基板上に酸化物超伝導セラミックスと非超伝導セラ
    ミックスが接合された超伝導薄膜パターンを作成する方
    法において、 予め基板上に所望の酸化物超伝導物質を構成する元素の
    一部を金属又は合金或いはこれらの組合わせた1種類以
    上の物質の薄膜層からなる第一の薄膜を積層し、次いで
    、これを所望パターンに加工し、更に加工によりパター
    ン化した部分として残った物質組成との総和が、所望の
    酸化物超伝導物質を得るに、充分である組成を有する金
    属、合金又はその金属の酸化物、塩化物、アセチル化合
    物、アルコール化合物或いはこれらの組合わせからなる
    組成材料で、全面にわたり、第二の薄膜を積層形成した
    後に、適当な雰囲気で熱処理を行ない、前記の加工で形
    成したパターンの物質とそのパターンの上の部分及びそ
    の付近部分の第二の薄膜の材料と化合することにより、
    所望超伝導物質の薄膜を形成させ、それ以外の部分の積
    層薄膜は、非超伝導薄膜となり、パターン化された(超
    伝導)−(非超伝導)の接合薄膜を作ることを特徴とす
    る前記超伝導薄膜パターンの作成方法。 3、前記超伝導薄膜の材料として、 LnBa_ICu_JO_K系(LnはY、La、Nd
    、Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、
    Luのいずれかであり、Iは、1.5〜3.0であり、
    Jは2.5〜4.0であり、Kは、5.0〜7.0の範
    囲である)或いは A_MCa_N_−_1B_2Cu_NO_2_(_N
    _+_2_)_+_M系(但し、Aは、Bi、Tl、(
    D_1_._9_−_XPb_XSb_Y)(但し、D
    はBi、Tlのいずれか或いはその組合わせであり、X
    は0.1〜1.1の範囲であり、Yは2.0以下である
    )のいずれか、或いはその組合わせであり、Bは、Ba
    、Srのいずれか或いはその組合わせであり、Mは0.
    8〜2.8の範囲である)のいずれか或いはこれらの組
    合わせである請求項1或いは2に記載の超伝導薄膜パタ
    ーンの作成方法。 4、前記の第一の超伝導薄膜パターンの物質は、所望の
    超伝導薄膜を構成する元素の酸化物であることを特徴と
    する請求項1或いは2に記載の超伝導薄膜パターンの作
    成方法。 5、前記の第一の超伝導薄膜パターンの物質は、所望の
    超伝導薄膜を構成する元素のハロゲン化物であることを
    特徴とする請求項1或いは2に記載の超伝導薄膜パター
    ンの作成方法。 6、前記の第一の超伝導薄膜パターンの物質は、所望の
    超伝導薄膜を構成する元素のアセチル化物又はアルコー
    ル化合物であることを特徴とする請求項1或いは2に記
    載の超伝導薄膜パターンの作成方法。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63279528A (ja) * 1987-05-11 1988-11-16 Toshiba Corp 超電導体装置の製造方法
JPS63281321A (ja) * 1987-05-14 1988-11-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 酸化物超伝導材料の線材化方法
JPS63291485A (ja) * 1987-05-25 1988-11-29 Fujikura Ltd 酸化物超電導回路の製造方法
JPS63298921A (ja) * 1987-05-28 1988-12-06 Toshiba Corp 超電導線材の製造方法

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