JPH0283445A - 自動探傷装置 - Google Patents
自動探傷装置Info
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- JPH0283445A JPH0283445A JP23571688A JP23571688A JPH0283445A JP H0283445 A JPH0283445 A JP H0283445A JP 23571688 A JP23571688 A JP 23571688A JP 23571688 A JP23571688 A JP 23571688A JP H0283445 A JPH0283445 A JP H0283445A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光肌少旦力
[産業上の利用分野]
本発明は自動探傷装置、例えは目動磁粉探傷装置の、特
に光量の制御に関するものである。
に光量の制御に関するものである。
[従来の技術]
従来、金属加工物の機械加工時に生じる割れ及び偏等の
欠陥の検査は、磁粉探傷装置で行われていた。しかし、
その欠陥の判定は人の目に依存していたため、欠陥の見
落としや評価の客観性に欠ける等の問題があった。
欠陥の検査は、磁粉探傷装置で行われていた。しかし、
その欠陥の判定は人の目に依存していたため、欠陥の見
落としや評価の客観性に欠ける等の問題があった。
そこで、このような問題を解決するために、ストロボラ
ンプにより発光される紫外線を検査対象物に照射し、検
査対象物の表面に付着した磁粉の蛍光模様を工業用テレ
ビカメラを用いて撮影して、その画像データを基に様々
な解析を行う目動磁扮探傷装置が種々考案されている。
ンプにより発光される紫外線を検査対象物に照射し、検
査対象物の表面に付着した磁粉の蛍光模様を工業用テレ
ビカメラを用いて撮影して、その画像データを基に様々
な解析を行う目動磁扮探傷装置が種々考案されている。
そのような自動磁粉探傷装置で画像解析を行う場合、検
査対象物に照射される紫外線の量によって、テレビカメ
ラにより撮影される画像の全体の明るさが変わり、判定
結果に影響を及ぼすため、検査対象物に照射する紫外線
の量を一定にすることのできる磁扮探偏装置に関する考
案がなされている(実願昭63−39342号)。
査対象物に照射される紫外線の量によって、テレビカメ
ラにより撮影される画像の全体の明るさが変わり、判定
結果に影響を及ぼすため、検査対象物に照射する紫外線
の量を一定にすることのできる磁扮探偏装置に関する考
案がなされている(実願昭63−39342号)。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来の技術では、ストロボランプにより照射される
紫外線の量をモニターしておき、その照射量が所定の値
に達した時点でランプの発光を停止するものであるが、
ランプが劣化した場合、1回の発光でそのような所定の
光量に達しない場合が生ずる。又、ストロボランプでは
なく、連続発光光源により検査対象物を照射する場合で
あっても、光源の発光強度が経年使用により低下した場
合、照射時間が非常に長くなると、連続自動探傷システ
ムでは、検査能率が低下することになる。
紫外線の量をモニターしておき、その照射量が所定の値
に達した時点でランプの発光を停止するものであるが、
ランプが劣化した場合、1回の発光でそのような所定の
光量に達しない場合が生ずる。又、ストロボランプでは
なく、連続発光光源により検査対象物を照射する場合で
あっても、光源の発光強度が経年使用により低下した場
合、照射時間が非常に長くなると、連続自動探傷システ
ムでは、検査能率が低下することになる。
え匪辺講戒
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するために成された本発明では、検査対
象物に光を照射する光源と、検査対象物に照射される光
の強度を検出する光強度検出手段と、検出された光強度
を積分する積分手段と、その積分値と予め設定された基
準値とを比較し、積分値がその基準値に達したときに光
源からの発光を停止する光源制御手段とを備え、カメラ
により撮影される検査対象物表面の画像データを解析す
ることにより、検査対象物の探傷を行う自動探傷装置に
おいて、更に カメラへの大月光の量を制限する光通過量制限手段と、
光強度検出手段により検出された光強度のピーク値を検
出するピーク値検出手段と、上記積分値が基準値に達す
るまでの時間を検出する発光時間検出手段と、上記ピー
ク値が所定値以下になったとき、又は、上記積分時間が
所定値以上になったときに、光通過量制限手段の通過制
限を緩和する調整手段とを備えることを特徴とするもの
である。
象物に光を照射する光源と、検査対象物に照射される光
の強度を検出する光強度検出手段と、検出された光強度
を積分する積分手段と、その積分値と予め設定された基
準値とを比較し、積分値がその基準値に達したときに光
源からの発光を停止する光源制御手段とを備え、カメラ
により撮影される検査対象物表面の画像データを解析す
ることにより、検査対象物の探傷を行う自動探傷装置に
おいて、更に カメラへの大月光の量を制限する光通過量制限手段と、
光強度検出手段により検出された光強度のピーク値を検
出するピーク値検出手段と、上記積分値が基準値に達す
るまでの時間を検出する発光時間検出手段と、上記ピー
ク値が所定値以下になったとき、又は、上記積分時間が
所定値以上になったときに、光通過量制限手段の通過制
限を緩和する調整手段とを備えることを特徴とするもの
である。
[作用]
光源が発光を開始し、検査対象物に照射されると、その
光の強度は光強度検出手段により検出される。積分手段
は光強度検出手段により検出される照射光の強度を時間
積分してゆき、光源制御手段はその積分強度が所定の基
準値に達したときに光源からの発光を停止する。光源か
らの発光の停止は電気的に行っても良いし、機械的にシ
ャッター等を用いてもよい。カメラ(TVカメラあるい
は静止画カメラ)はその間検査対象物の像を撮影し続け
、上記発光が終了した時点で、カメラに接続された画像
解析装置等が、それまでに撮影した画像データを基に自
動探傷を行う。
光の強度は光強度検出手段により検出される。積分手段
は光強度検出手段により検出される照射光の強度を時間
積分してゆき、光源制御手段はその積分強度が所定の基
準値に達したときに光源からの発光を停止する。光源か
らの発光の停止は電気的に行っても良いし、機械的にシ
ャッター等を用いてもよい。カメラ(TVカメラあるい
は静止画カメラ)はその間検査対象物の像を撮影し続け
、上記発光が終了した時点で、カメラに接続された画像
解析装置等が、それまでに撮影した画像データを基に自
動探傷を行う。
上記検査を何回か繰り返すと、光源の経年劣化等により
、光源の発光強度が低下してくる。このとき、光強度検
出手段により検出される光強度のピークが低下する。そ
れと同時に、積分強度が上記基準値に達するまでの時間
も延びてくる。これらのいずれかの現象が現れ、それら
が所定の程度以上になったときに、調整手段は光通過量
制限手段の通過制限量を緩和する。光通過量制限手段と
は、例えば、カメラのレンズに設けられた紋りを指す。
、光源の発光強度が低下してくる。このとき、光強度検
出手段により検出される光強度のピークが低下する。そ
れと同時に、積分強度が上記基準値に達するまでの時間
も延びてくる。これらのいずれかの現象が現れ、それら
が所定の程度以上になったときに、調整手段は光通過量
制限手段の通過制限量を緩和する。光通過量制限手段と
は、例えば、カメラのレンズに設けられた紋りを指す。
しかし、この絞りは、カメラの前ではなく、光源の前に
置かれてもよい。又、機械的な絞りだけでなく、液晶等
の光通過量を調整することのできるものであれば何でも
よい。例えは、カメラの前の紋りを1段階開放すること
により、光源の発光強度が低くても、カメラに入射する
光の量は多くなるため、積分強度の基準値を低くするこ
とができ、発光時間を再び短くすることができる。光通
過量制限手段を光源の前に置いた場合には、積分強度の
基準値を変更する必要はなく、光強度検出手段で検出さ
れる光の強度が強くなることから、発光時間は自動的に
短縮される。
置かれてもよい。又、機械的な絞りだけでなく、液晶等
の光通過量を調整することのできるものであれば何でも
よい。例えは、カメラの前の紋りを1段階開放すること
により、光源の発光強度が低くても、カメラに入射する
光の量は多くなるため、積分強度の基準値を低くするこ
とができ、発光時間を再び短くすることができる。光通
過量制限手段を光源の前に置いた場合には、積分強度の
基準値を変更する必要はなく、光強度検出手段で検出さ
れる光の強度が強くなることから、発光時間は自動的に
短縮される。
なお、以上で述べた「光」には、可視光の他、紫外線や
赤外線等、検査に用いられる可能性のある非可視光も含
まれる。
赤外線等、検査に用いられる可能性のある非可視光も含
まれる。
[実施例]
本発明の実施例を第1図及び第2図により説明する。本
実施例の自動磁粉探傷装置は、第1図の全体構成図に示
す通り、磁粉)夜の付着した検査対象物10を2個の紫
外線ストロボランプ12.13で照射し、磁粉液の発す
る蛍光による画像をTVカメラ14で撮影して、画像解
析装置16で疵の自動判定を行うものである。
実施例の自動磁粉探傷装置は、第1図の全体構成図に示
す通り、磁粉)夜の付着した検査対象物10を2個の紫
外線ストロボランプ12.13で照射し、磁粉液の発す
る蛍光による画像をTVカメラ14で撮影して、画像解
析装置16で疵の自動判定を行うものである。
以下、本発明にかかわる光量の制御回路に関して説明を
行う。ストロボランプ12.13は放電制御回路1日に
備えられたコンデンサ(図示せず)に蓄えられた電気エ
ネルギにより紫外線の発光を行うものである。検査対象
物10が所定位置にセットされると、放電開始信号aが
放電制御回路1日に人力される。これにより、コンデン
サからランプ12.13への放電が開始され、ランプ1
2.13から紫外線の発光が開始されて、検査対象物1
0に照射される。
行う。ストロボランプ12.13は放電制御回路1日に
備えられたコンデンサ(図示せず)に蓄えられた電気エ
ネルギにより紫外線の発光を行うものである。検査対象
物10が所定位置にセットされると、放電開始信号aが
放電制御回路1日に人力される。これにより、コンデン
サからランプ12.13への放電が開始され、ランプ1
2.13から紫外線の発光が開始されて、検査対象物1
0に照射される。
検査対象物10の近くには、2個の光電変換素子20.
21が配置され、それに入射した紫外線の強度(これは
、検査対象物10に照射される紫外線の強度に比例する
)に応じた電流Iを出力する。その電流IはI/V変換
回路22で電圧■に変換され、更に、A/D変換回路2
4て微小時間n毎にデジタル強度りに変換されて、積分
回路26に人力される。積分回路26では、放電制御回
路18がランプ12.13への放電を開始したことを示
す発光開始信号すを受けた時点から、第2図に示すよう
に、光電変換素子20.21に入射する紫外線の強度の
時間積分を行い、その朗々の積分値(第2図の斜線の部
分の面積に相当)Σを比較回路2日に出力する。
21が配置され、それに入射した紫外線の強度(これは
、検査対象物10に照射される紫外線の強度に比例する
)に応じた電流Iを出力する。その電流IはI/V変換
回路22で電圧■に変換され、更に、A/D変換回路2
4て微小時間n毎にデジタル強度りに変換されて、積分
回路26に人力される。積分回路26では、放電制御回
路18がランプ12.13への放電を開始したことを示
す発光開始信号すを受けた時点から、第2図に示すよう
に、光電変換素子20.21に入射する紫外線の強度の
時間積分を行い、その朗々の積分値(第2図の斜線の部
分の面積に相当)Σを比較回路2日に出力する。
比較回路2日では、積分回路26から人力した積分値Σ
を基準データ発生回路30から人力する基準値Σ0と比
較し、Σ=Σ0となった時点(第2図の時間T)で、発
光終了信号Cを放電制御回路18に出力する。放電制御
回路1日はこれにより直ちにコンデンサに蓄えられた電
荷をバイパス放電させ、ランプ12.13の発光を停止
する。発光開始及び終了タイミングの信号dは放電制御
回路18から画像解析装置16へ出力され、画像解析装
置16では、その間TVカメラ14から人力された画像
データを基に、疵の自動検査を行う。
を基準データ発生回路30から人力する基準値Σ0と比
較し、Σ=Σ0となった時点(第2図の時間T)で、発
光終了信号Cを放電制御回路18に出力する。放電制御
回路1日はこれにより直ちにコンデンサに蓄えられた電
荷をバイパス放電させ、ランプ12.13の発光を停止
する。発光開始及び終了タイミングの信号dは放電制御
回路18から画像解析装置16へ出力され、画像解析装
置16では、その間TVカメラ14から人力された画像
データを基に、疵の自動検査を行う。
以上が通常の検査時の作用であるが、次に、長時間の使
用により、ランプ12.13の発光強度が低下した場合
の作用を述べる。A/D変換された強度ftn Dはピ
ーク値検出回路32にも人力される。このピーク値検出
回路32では、A/D変換回路24から人力される毎回
の強度値りの差をとることにより、光電変換素子20.
21に入射する紫外線のピーク値(第2図の値P)を検
出する。
用により、ランプ12.13の発光強度が低下した場合
の作用を述べる。A/D変換された強度ftn Dはピ
ーク値検出回路32にも人力される。このピーク値検出
回路32では、A/D変換回路24から人力される毎回
の強度値りの差をとることにより、光電変換素子20.
21に入射する紫外線のピーク値(第2図の値P)を検
出する。
このピーク値Pも比較回路2日に人力され、基準データ
発生回路30からそこに人力される参照値POと比較さ
れる。ここで、p<poとなったとき、比較回路2日か
らレンズ絞り制御回路34へ紋り変更信号eが出力され
る。又、前述の積分値Σが基準値Σ0に等しくなるまで
の時間Tも基準データ発生回路30から人力される参照
値TOと比較され、T>Toとなったときには、同様に
、レンズ絞り制御回路34へ紋り変更信号eが出力され
る。
発生回路30からそこに人力される参照値POと比較さ
れる。ここで、p<poとなったとき、比較回路2日か
らレンズ絞り制御回路34へ紋り変更信号eが出力され
る。又、前述の積分値Σが基準値Σ0に等しくなるまで
の時間Tも基準データ発生回路30から人力される参照
値TOと比較され、T>Toとなったときには、同様に
、レンズ絞り制御回路34へ紋り変更信号eが出力され
る。
レンズ絞り制御回路34では、紋り変更信号eを受けた
ときには、次回のランプ12.13の点灯開始前(発光
終了信号Cの後)に、TVカメラ14のレンズに設けら
れた絞り19を所定量だけ開放する。これにより、カメ
ラ14に入る光の量は増加し、ランプ12.13からの
発光強度が低くても、短い時間で同一の明るさの画像を
得ることができる。
ときには、次回のランプ12.13の点灯開始前(発光
終了信号Cの後)に、TVカメラ14のレンズに設けら
れた絞り19を所定量だけ開放する。これにより、カメ
ラ14に入る光の量は増加し、ランプ12.13からの
発光強度が低くても、短い時間で同一の明るさの画像を
得ることができる。
これに従い、レンズ絞り制御回路34から基準データ発
生回路30へ、基準値Σ0及びピーク値Pの参照(直P
Oを各々より低い値Σ1、Plへ変更するための信号f
を送り、次段階のレンズ絞り19の開放に対応させる。
生回路30へ、基準値Σ0及びピーク値Pの参照(直P
Oを各々より低い値Σ1、Plへ変更するための信号f
を送り、次段階のレンズ絞り19の開放に対応させる。
以上説明した通り、本実施例によると、ランプ12.1
3が経年劣化等によりその発光強度が低下した場合でも
、それに応じてTVカメラ14に設けられたレンズ絞り
19が自動的に1段開放され、TVカメラ14に取り入
れられる光の量は増加されるため、長時間ランプ12.
13を連続使用することができる。
3が経年劣化等によりその発光強度が低下した場合でも
、それに応じてTVカメラ14に設けられたレンズ絞り
19が自動的に1段開放され、TVカメラ14に取り入
れられる光の量は増加されるため、長時間ランプ12.
13を連続使用することができる。
上記実施例はあくまで本発明の理解のために具体的な一
例を示したものであり、本発明自体はこのような態様に
同等限定されることはなく、他の自動探傷装置に対して
も適用できることは、当業者であれは充分に理解し得る
ところである。
例を示したものであり、本発明自体はこのような態様に
同等限定されることはなく、他の自動探傷装置に対して
も適用できることは、当業者であれは充分に理解し得る
ところである。
え肌Ω効】
本発明に係る自動探傷装置では、発光強度のピークが低
くなった場合、又は、所定照射量を得るための発光時間
が長くなった場合、カメラへの入射光の量を制限する紋
り等の光通過制限を緩和する。これにより、発光時間(
積分時間)は再び短くすることができ、経年劣化したス
トロボランプでも引続き使用することができる。つまり
、晟初に発光強度の大きいランプを用意しておき、本発
明の方法により徐々に紋りを開けてゆくことにより、ラ
ンプを交換することなく多数の検査対象物の自動探傷検
査が連続して行えるようになる。又、連続発光光源の場
合には、発光時間が異常に長くなることがなく、連続目
動探傷検査の効率がよくなる。
くなった場合、又は、所定照射量を得るための発光時間
が長くなった場合、カメラへの入射光の量を制限する紋
り等の光通過制限を緩和する。これにより、発光時間(
積分時間)は再び短くすることができ、経年劣化したス
トロボランプでも引続き使用することができる。つまり
、晟初に発光強度の大きいランプを用意しておき、本発
明の方法により徐々に紋りを開けてゆくことにより、ラ
ンプを交換することなく多数の検査対象物の自動探傷検
査が連続して行えるようになる。又、連続発光光源の場
合には、発光時間が異常に長くなることがなく、連続目
動探傷検査の効率がよくなる。
第1図は本発明の実施例である自動磁粉探傷装置の構成
図、第2図は光電変換素子で検出する光強度の時間的変
化を示すグラフである。 10・・・検査対象物、 12.13・・・紫外線ストロボランプ、14・・・T
Vカメラ、 1日・・・放電制御回路、19・・
・レンズ絞り、 20.21・・・光電変換素子、 26・・・積分回路、 28・・・比較回路、
30・・・基準データ発生回路、 32・・・ピーク値検出回路、 34・・・レンズ絞り制御11回路
図、第2図は光電変換素子で検出する光強度の時間的変
化を示すグラフである。 10・・・検査対象物、 12.13・・・紫外線ストロボランプ、14・・・T
Vカメラ、 1日・・・放電制御回路、19・・
・レンズ絞り、 20.21・・・光電変換素子、 26・・・積分回路、 28・・・比較回路、
30・・・基準データ発生回路、 32・・・ピーク値検出回路、 34・・・レンズ絞り制御11回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 検査対象物に光を照射する光源と、 検査対象物に照射される光の強度を検出する光強度検出
手段と、 検出された光強度を積分する積分手段と、 該積分値と予め設定された基準値とを比較し、積分値が
該基準値に達したときに光源からの発光を停止する光源
制御手段と を備え、カメラにより撮影される検査対象物表面の画像
データを解析することにより、検査対象物の探傷を行う
自動探傷装置において、更にカメラへの入射光の量を制
限する光通過量制限手段と、 光強度検出手段により検出された光強度のピーク値を検
出するピーク値検出手段と、 該積分値が基準値に達するまでの時間を検出する発光時
間検出手段と、 該ピーク値が所定値以下になったとき、又は、該時間が
所定値以上になったときに、光通過量制限手段の通過制
限を緩和する調整手段と を備えることを特徴とする自動探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23571688A JPH0283445A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 自動探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23571688A JPH0283445A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 自動探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0283445A true JPH0283445A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16990170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23571688A Pending JPH0283445A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 自動探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0283445A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002298132A (ja) * | 2001-04-02 | 2002-10-11 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 撮像システム,撮像システム制御プログラムおよび電気部品装着システム |
JP2015025727A (ja) * | 2013-07-26 | 2015-02-05 | 三菱電機株式会社 | 路面撮像装置 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP23571688A patent/JPH0283445A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002298132A (ja) * | 2001-04-02 | 2002-10-11 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 撮像システム,撮像システム制御プログラムおよび電気部品装着システム |
JP2015025727A (ja) * | 2013-07-26 | 2015-02-05 | 三菱電機株式会社 | 路面撮像装置 |
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