JPH028199Y2 - - Google Patents
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- JPH028199Y2 JPH028199Y2 JP1980076088U JP7608880U JPH028199Y2 JP H028199 Y2 JPH028199 Y2 JP H028199Y2 JP 1980076088 U JP1980076088 U JP 1980076088U JP 7608880 U JP7608880 U JP 7608880U JP H028199 Y2 JPH028199 Y2 JP H028199Y2
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- JP
- Japan
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- electron beam
- rays
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980076088U JPH028199Y2 (en:Method) | 1980-05-30 | 1980-05-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980076088U JPH028199Y2 (en:Method) | 1980-05-30 | 1980-05-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57653U JPS57653U (en:Method) | 1982-01-05 |
| JPH028199Y2 true JPH028199Y2 (en:Method) | 1990-02-27 |
Family
ID=29438745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980076088U Expired JPH028199Y2 (en:Method) | 1980-05-30 | 1980-05-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH028199Y2 (en:Method) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54109897A (en) * | 1978-02-16 | 1979-08-28 | Jeol Ltd | Specimen analytical apparatus in scanning electron microscope or the like |
-
1980
- 1980-05-30 JP JP1980076088U patent/JPH028199Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57653U (en:Method) | 1982-01-05 |
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