JPH0275556U - - Google Patents
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- JPH0275556U JPH0275556U JP15445088U JP15445088U JPH0275556U JP H0275556 U JPH0275556 U JP H0275556U JP 15445088 U JP15445088 U JP 15445088U JP 15445088 U JP15445088 U JP 15445088U JP H0275556 U JPH0275556 U JP H0275556U
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- JP
- Japan
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- cross
- sample
- section
- ions
- atoms
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例の概略図、第2図は
一実施例によつて断面を露出させた状態の試料の
斜視図である。 なお図面に用いた符号において、11……イオ
ン源、13……イオンビーム、24……試料、2
5……二次電子検出器、である。
一実施例によつて断面を露出させた状態の試料の
斜視図である。 なお図面に用いた符号において、11……イオ
ン源、13……イオンビーム、24……試料、2
5……二次電子検出器、である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 電界によつて気体をイオン化させてビームとす
るイオン源と、 試料から放出された原子、イオンまたは電子の
うちの少なくとも一つを検出する検出手段とを夫
夫具備し、 前記ビームの照射で前記試料をエツチングして
この試料の断面を露出させ、 前記断面に更に前記ビームを照射してこの断面
から前記原子、イオンまたは電子のうちの少なく
とも一つを放出させ、 前記検出手段の検出結果から前記断面の形状を
観察する様にした試料観察装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15445088U JPH0275556U (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15445088U JPH0275556U (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0275556U true JPH0275556U (ja) | 1990-06-08 |
Family
ID=31431189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15445088U Pending JPH0275556U (ja) | 1988-11-28 | 1988-11-28 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0275556U (ja) |
-
1988
- 1988-11-28 JP JP15445088U patent/JPH0275556U/ja active Pending
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