JPH0275556U - - Google Patents

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JPH0275556U
JPH0275556U JP15445088U JP15445088U JPH0275556U JP H0275556 U JPH0275556 U JP H0275556U JP 15445088 U JP15445088 U JP 15445088U JP 15445088 U JP15445088 U JP 15445088U JP H0275556 U JPH0275556 U JP H0275556U
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JP
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cross
sample
section
ions
atoms
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の概略図、第2図は
一実施例によつて断面を露出させた状態の試料の
斜視図である。 なお図面に用いた符号において、11……イオ
ン源、13……イオンビーム、24……試料、2
5……二次電子検出器、である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 電界によつて気体をイオン化させてビームとす
    るイオン源と、 試料から放出された原子、イオンまたは電子の
    うちの少なくとも一つを検出する検出手段とを夫
    夫具備し、 前記ビームの照射で前記試料をエツチングして
    この試料の断面を露出させ、 前記断面に更に前記ビームを照射してこの断面
    から前記原子、イオンまたは電子のうちの少なく
    とも一つを放出させ、 前記検出手段の検出結果から前記断面の形状を
    観察する様にした試料観察装置。
JP15445088U 1988-11-28 1988-11-28 Pending JPH0275556U (ja)

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