JPS63106055U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS63106055U JPS63106055U JP20145886U JP20145886U JPS63106055U JP S63106055 U JPS63106055 U JP S63106055U JP 20145886 U JP20145886 U JP 20145886U JP 20145886 U JP20145886 U JP 20145886U JP S63106055 U JPS63106055 U JP S63106055U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- mass spectrometer
- microchannel plate
- ion beam
- development
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
第１図は本考案による質量分析計の検出器の１
実施例を示す側面図、第２図はその正面図、第３
図はＭＣＰの２次電子増倍利得の特性を示す図、
第４図はＭＣＰの利得低下を検出する検出器を設
けた他の実施例を示す構成図、第５図は従来例を
示す図である。 １……ＭＣＰ、２……ＭＣＰ保持フレーム、３
……イオン・ビーム、４……駆動器、５……コレ
クタ、６……フレームガイド、７……イオン計数
器。
実施例を示す側面図、第２図はその正面図、第３
図はＭＣＰの２次電子増倍利得の特性を示す図、
第４図はＭＣＰの利得低下を検出する検出器を設
けた他の実施例を示す構成図、第５図は従来例を
示す図である。 １……ＭＣＰ、２……ＭＣＰ保持フレーム、３
……イオン・ビーム、４……駆動器、５……コレ
クタ、６……フレームガイド、７……イオン計数
器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 分析場によつて質量電荷比に応じて展開さ
れたイオン・ビームの展開面に沿つてマイクロチ
ヤンネルプレートを配置して検出するようにした
質量分析計の検出器において、前記マイクロチヤ
ンネルプレートを前記展開面内で前記イオン・ビ
ームの展開方向と交差する方向に移動させる移動
機構を設けたことを特徴とする質量分析計の検出
器。 (2) 前記マイクロチヤンネルプレートの２次電
子増倍利得の経時低下を電気的手段によつて検出
するようにした実用新案登録請求の範囲第１項記
載の質量分析計の検出器。 (3) 前記電気的手段による２次電子増倍利得の
経時低下の検出信号に基づき、前記マイクロチヤ
ンネルプレートを自動的に移動させるようにした
実用新案登録請求の範囲第２項記載の質量分析計
の検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20145886U JPH049726Y2 (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20145886U JPH049726Y2 (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63106055U true JPS63106055U (ja) | 1988-07-08 |
| JPH049726Y2 JPH049726Y2 (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=31164929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20145886U Expired JPH049726Y2 (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH049726Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008140723A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Horiba Ltd | 分析装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100390743B1 (ko) * | 2000-11-23 | 2003-07-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리를 이용한 실시간 데이터 누적 장치 및 그 제어방법 |
-
1986
- 1986-12-27 JP JP20145886U patent/JPH049726Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008140723A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Horiba Ltd | 分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049726Y2 (ja) | 1992-03-11 |
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