JPH0273516A - 磁気ディスク - Google Patents
磁気ディスクInfo
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- JPH0273516A JPH0273516A JP22444188A JP22444188A JPH0273516A JP H0273516 A JPH0273516 A JP H0273516A JP 22444188 A JP22444188 A JP 22444188A JP 22444188 A JP22444188 A JP 22444188A JP H0273516 A JPH0273516 A JP H0273516A
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- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- magnetic disk
- magnetic
- magnetic head
- roughening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスクに係り、特にその基板面又は基板
面上に設けられた下地膜面上に面粗し加工を行なった磁
気ディスクに関する。
面上に設けられた下地膜面上に面粗し加工を行なった磁
気ディスクに関する。
従来、磁気ディスク、特にスパッタディスク、メツキデ
ィスク等のいわゆる薄膜磁気ディスクは。
ィスク等のいわゆる薄膜磁気ディスクは。
通常の磁気ディスクに比べ表面粗さがより微細になって
いる。このため磁気ディスク上で磁気ヘッドを停止させ
た時、磁気ヘッドが吸着した水分や潤滑剤により磁気デ
ィスクに吸着することが知られている。
いる。このため磁気ディスク上で磁気ヘッドを停止させ
た時、磁気ヘッドが吸着した水分や潤滑剤により磁気デ
ィスクに吸着することが知られている。
そのため、磁気ディスクの基板面又は基板面上に設けら
れた下地膜面上に電磁気特性を劣化させない程度に、基
板の円周方向に同心円状の微細な面相し加工、いわゆる
テクスチャ加工を施し、微細な凹凸を形成し、磁気ディ
スクの吸着を軽減すると共に、場合によっては磁気ディ
スクの磁性膜の磁気異方性を円周方向に付与していた。
れた下地膜面上に電磁気特性を劣化させない程度に、基
板の円周方向に同心円状の微細な面相し加工、いわゆる
テクスチャ加工を施し、微細な凹凸を形成し、磁気ディ
スクの吸着を軽減すると共に、場合によっては磁気ディ
スクの磁性膜の磁気異方性を円周方向に付与していた。
従来、この加工法として、研摩剤をテープに固定保持し
た研摩テープを用い、上記基板を回転させながら研摩テ
ープを基板に押し付は加工することが行なわれていた。
た研摩テープを用い、上記基板を回転させながら研摩テ
ープを基板に押し付は加工することが行なわれていた。
そのためテクスチャ加工痕(溝)の方向としては、−数
的にほぼ磁気ヘッドの走行方向(ディスクとの相対的な
移動方向)と一致する方向すなわち円周方向に、同心円
状に施されていた。なお、これに関連するものとしては
特開昭61−51619が挙げられる。
的にほぼ磁気ヘッドの走行方向(ディスクとの相対的な
移動方向)と一致する方向すなわち円周方向に、同心円
状に施されていた。なお、これに関連するものとしては
特開昭61−51619が挙げられる。
上記従来技術は、磁気ヘッドと磁気ディスクとの耐摺動
性については十分配慮されておらず、塵埃等によって摺
動が生じるという問題があった。
性については十分配慮されておらず、塵埃等によって摺
動が生じるという問題があった。
すなわち、耐摺動性を損う要因の一つとして、塵埃に起
因するものが挙げられる。磁気ヘッドと磁気ディスクが
収納されたデータエンクロージャ内の塵埃を軽減しても
、清浄化には一定の限界がある0m埃が磁気ヘッドと磁
気ディスクの間に侵入して、磁気ヘッドのスライダーに
付着すると、スライダーのどの位置に付着したかにより
結果は異なるが、多くの場合磁気ヘッドの浮上量を低下
させる。そのため、浮上マージンを減じ、磁気ヘッドと
磁気ディスクとの接触、摺動を引き起こし易くなるとい
う問題があった。
因するものが挙げられる。磁気ヘッドと磁気ディスクが
収納されたデータエンクロージャ内の塵埃を軽減しても
、清浄化には一定の限界がある0m埃が磁気ヘッドと磁
気ディスクの間に侵入して、磁気ヘッドのスライダーに
付着すると、スライダーのどの位置に付着したかにより
結果は異なるが、多くの場合磁気ヘッドの浮上量を低下
させる。そのため、浮上マージンを減じ、磁気ヘッドと
磁気ディスクとの接触、摺動を引き起こし易くなるとい
う問題があった。
一方、磁気ディスクの表面の平均面粗さと磁気ヘッドス
ライダ−面の汚れ付着物量との間には第2図に示すよう
な相関関係がある。汚れ付着物量は、スライダー表面を
微小面積に分割して各部分の付着物を測定して計算する
0図にみられるように、ヘッドスライダ−の汚れ付着物
量は、磁気ディスク表面の平均粗さを大にすることによ
り軽減できる。これは磁気ディスク表面の面粗さが大で
あると付着物がかき落とされるためと考えられる。
ライダ−面の汚れ付着物量との間には第2図に示すよう
な相関関係がある。汚れ付着物量は、スライダー表面を
微小面積に分割して各部分の付着物を測定して計算する
0図にみられるように、ヘッドスライダ−の汚れ付着物
量は、磁気ディスク表面の平均粗さを大にすることによ
り軽減できる。これは磁気ディスク表面の面粗さが大で
あると付着物がかき落とされるためと考えられる。
ところが、磁気ディスク表面の面粗さを大とすることは
、磁気ヘッドと磁気ディスクの接触確率を高めることに
なり、磁気ヘッドの浮上マージンを確保するためには好
ましいことではない。
、磁気ヘッドと磁気ディスクの接触確率を高めることに
なり、磁気ヘッドの浮上マージンを確保するためには好
ましいことではない。
本発明の目的は、磁気ディスクの表面粗さを大とするこ
となく、磁気ヘッドの汚れ付着物量を減少させて、耐摺
動特性の高めた磁気ディスクを提供することにある。
となく、磁気ヘッドの汚れ付着物量を減少させて、耐摺
動特性の高めた磁気ディスクを提供することにある。
上記目的は、基板面又は基板面上に設けられた下地膜面
上に面粗し加工痕を有し、該基板又は下地膜上に磁気記
録膜を有する磁気ディスクにおいて、上記加工痕の方向
が基板の円周方向と3度以上異なることを特徴とする磁
気ディスクによって達成される。
上に面粗し加工痕を有し、該基板又は下地膜上に磁気記
録膜を有する磁気ディスクにおいて、上記加工痕の方向
が基板の円周方向と3度以上異なることを特徴とする磁
気ディスクによって達成される。
上記面粗し加工痕は、磁気ディスク表面の平均面粗さと
関係する。上記面粗し加工痕の方向が基板の円周方向、
すなわち磁気ヘッドの移動方向と3度以上異なるときは
、前述の付着物のかき落としと類似の効果が生ずるので
はないかと考えられる。
関係する。上記面粗し加工痕の方向が基板の円周方向、
すなわち磁気ヘッドの移動方向と3度以上異なるときは
、前述の付着物のかき落としと類似の効果が生ずるので
はないかと考えられる。
第1図に本発明の一実施例の磁気ディスクの基板の部分
断面図、平面図、その部分拡大図を示す。
断面図、平面図、その部分拡大図を示す。
本実施例はスパッタ、メツキ等で磁性膜を形成するいわ
ゆる薄膜ディスクに関する。
ゆる薄膜ディスクに関する。
外径130mm、内径40mm、厚さ1 、9nuiの
アルミニウム基板上に、無電解メツキ法でN1−Pメツ
キを15μm程度の厚みに施した後、ポリッシングによ
りRa5nm程度の膜面とする。この基板を5Orρm
で回転させながら、2インチ幅のポリエチレンベースフ
ィルム上に平均粒径約6μmのホワイトアルミナの砥粒
を結着させた研摩テープを一定力で基板に押し付け、基
板の半径方向に速さ800+u+/minで送りなから
テクスチャ加工を行なう。この時R30mmで基板の円
周方向、すなわち磁気ヘッドの走行方向と約5度の角度
を有する加工痕が形成される。なお、基板の回転数N
(prm)と研摩テープの移動速度V (mm/ m1
n)を変えることにより、テクスチャ加工痕の方向と基
板の円周方向とがなす角度(θ)を種々変更した基板を
製造することができた。
アルミニウム基板上に、無電解メツキ法でN1−Pメツ
キを15μm程度の厚みに施した後、ポリッシングによ
りRa5nm程度の膜面とする。この基板を5Orρm
で回転させながら、2インチ幅のポリエチレンベースフ
ィルム上に平均粒径約6μmのホワイトアルミナの砥粒
を結着させた研摩テープを一定力で基板に押し付け、基
板の半径方向に速さ800+u+/minで送りなから
テクスチャ加工を行なう。この時R30mmで基板の円
周方向、すなわち磁気ヘッドの走行方向と約5度の角度
を有する加工痕が形成される。なお、基板の回転数N
(prm)と研摩テープの移動速度V (mm/ m1
n)を変えることにより、テクスチャ加工痕の方向と基
板の円周方向とがなす角度(θ)を種々変更した基板を
製造することができた。
これら種々の基板上に、それぞれDCスパッタリング法
により、基板温度150℃、Ar圧10mTorr、
DC投入電力5W/an”でCr下地膜を200nmの
厚さに形成した。さらに同条件でCoo、 。
により、基板温度150℃、Ar圧10mTorr、
DC投入電力5W/an”でCr下地膜を200nmの
厚さに形成した。さらに同条件でCoo、 。
N i、 、 、の合金ターゲットを用いて厚さ40n
mの磁性膜を形成し、その上に同条件でカーボン保護膜
を形成し、デイツプ法で潤滑剤を塗布して磁気ディスク
を得た。
mの磁性膜を形成し、その上に同条件でカーボン保護膜
を形成し、デイツプ法で潤滑剤を塗布して磁気ディスク
を得た。
上記種々の値のθの磁気ディスクについて、それぞれク
ラス104の環境下で200時間磁気ヘッドの浮上テス
トを行ない、磁気ヘッドの汚れ付着量を測定した。その
結果を第3図に示す。なお、上記環境は加速テストの環
境である。第3図に示されるように、上記θを3度以上
、好ましくは5度以上とすることにより、磁気ヘットの
汚れ付着量を減することができた。なお、0は15度以
下であることが好ましい。また円周方向の磁気異方性の
制御効果を減じることなく、摺動信頼性を高めることが
できた。
ラス104の環境下で200時間磁気ヘッドの浮上テス
トを行ない、磁気ヘッドの汚れ付着量を測定した。その
結果を第3図に示す。なお、上記環境は加速テストの環
境である。第3図に示されるように、上記θを3度以上
、好ましくは5度以上とすることにより、磁気ヘットの
汚れ付着量を減することができた。なお、0は15度以
下であることが好ましい。また円周方向の磁気異方性の
制御効果を減じることなく、摺動信頼性を高めることが
できた。
本発明によれば、磁気ヘッドの汚れ付着物量を軽減でき
るので、磁気ディスクの耐摺動性の高めることができた
。
るので、磁気ディスクの耐摺動性の高めることができた
。
第11mは1本発明の一実施例の磁気ディスクの基板の
部分断面図、平面図、その部分拡大図、第2図及び第3
図は本発明を説明するための図である。 1・・・アルミサブストレート 2・・・N1−Pメツキ 3・・・ヘッド走行方向 4・・・テクスチャ加工痕 代理人弁理士 中 村 純之助 第
部分断面図、平面図、その部分拡大図、第2図及び第3
図は本発明を説明するための図である。 1・・・アルミサブストレート 2・・・N1−Pメツキ 3・・・ヘッド走行方向 4・・・テクスチャ加工痕 代理人弁理士 中 村 純之助 第
Claims (1)
- 1、基板面又は基板面上に設けられた下地膜面上に面粗
し加工痕を有し、該基板又は下地膜上に磁気記録膜を有
する磁気ディスクにおいて、上記加工痕の方向が基板の
円周方向と3度以上異なることを特徴とする磁気ディス
ク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22444188A JPH0273516A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22444188A JPH0273516A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 磁気ディスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0273516A true JPH0273516A (ja) | 1990-03-13 |
Family
ID=16813821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22444188A Pending JPH0273516A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 磁気ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0273516A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5478622A (en) * | 1991-05-16 | 1995-12-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic disk |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP22444188A patent/JPH0273516A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5478622A (en) * | 1991-05-16 | 1995-12-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic disk |
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