JPH0270151A - 故障診断装置 - Google Patents
故障診断装置Info
- Publication number
- JPH0270151A JPH0270151A JP63221437A JP22143788A JPH0270151A JP H0270151 A JPH0270151 A JP H0270151A JP 63221437 A JP63221437 A JP 63221437A JP 22143788 A JP22143788 A JP 22143788A JP H0270151 A JPH0270151 A JP H0270151A
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- JP
- Japan
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- circuit
- output
- error correction
- test signal
- comparison
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- Pending
Links
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 21
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 abstract description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 4
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 abstract description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 7
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高速情報伝送システムにおける故障診断装置
に関する。
に関する。
従来、画像信号をディジタル伝送するようなディジタル
情報伝送システムの送受信装置において故障した場合に
は、熟練したサービス・マンが信号を各ブロック毎にト
レースしながら観察して、故障箇所を推測するという方
法が取られており、診断測定器の性能及び取り扱いに大
きく左右され、故障診断には高度の知識を必要としてい
た。また、ビット・レートが著しく高いので、ロジック
・アナライザなどによる観測は困難を窮め、タイミング
などの観測は実質的に不可能である。
情報伝送システムの送受信装置において故障した場合に
は、熟練したサービス・マンが信号を各ブロック毎にト
レースしながら観察して、故障箇所を推測するという方
法が取られており、診断測定器の性能及び取り扱いに大
きく左右され、故障診断には高度の知識を必要としてい
た。また、ビット・レートが著しく高いので、ロジック
・アナライザなどによる観測は困難を窮め、タイミング
などの観測は実質的に不可能である。
故障診断の際には、信号波形を観測し、そのタイングを
測定し比較する作業が必要であるが、高速動作させてい
るので、波形の観測はおろか、それらのタイミングの測
定も困難である。また、データ列の判読も人の記憶に頼
るには限界があり、非常に熟練したサービス・マンでも
困難を窮めた。
測定し比較する作業が必要であるが、高速動作させてい
るので、波形の観測はおろか、それらのタイミングの測
定も困難である。また、データ列の判読も人の記憶に頼
るには限界があり、非常に熟練したサービス・マンでも
困難を窮めた。
即ち、原信号、例えば、各々２０Ｍ！ｌｚの帯域のＲｌ
Ｇ、Ｂ信号を４８．６ＭＨｚでサンプリングした信号を
処理する系で観測される信号は高速であり、波形列のデ
ータを読み取ったり、ナノ秒単位でジッタ量を測定する
ことは非常に難しい。
Ｇ、Ｂ信号を４８．６ＭＨｚでサンプリングした信号を
処理する系で観測される信号は高速であり、波形列のデ
ータを読み取ったり、ナノ秒単位でジッタ量を測定する
ことは非常に難しい。
そこで本発明は、このような高速の情報伝送システムの
故障診断に適した故障診断装置を提示することを目的と
する。
故障診断に適した故障診断装置を提示することを目的と
する。
本発明に係る故障診断装置は、高速情報伝送システムに
おいて、故障を診断するための装置であって、疑似伝送
信号を発生する疑似伝送信号発生手段と、当該疑似伝送
信号に対する当該高速情報伝送システムの適当な伝送処
理段階での正常出力と同じ信号を発生する比較データ発
生手段と、当該疑似伝送信号に対する当該伝送処理段階
の出力を、当該比較データ発生手段の出力と比較する比
較手段とからなることを特徴とする。
おいて、故障を診断するための装置であって、疑似伝送
信号を発生する疑似伝送信号発生手段と、当該疑似伝送
信号に対する当該高速情報伝送システムの適当な伝送処
理段階での正常出力と同じ信号を発生する比較データ発
生手段と、当該疑似伝送信号に対する当該伝送処理段階
の出力を、当該比較データ発生手段の出力と比較する比
較手段とからなることを特徴とする。
上記比較手段により、適当な伝送処理段階における故障
の有無を簡単に知ることができる。従って、適当な伝送
処理段階毎に比較データ発生手段及び比較手段を設ける
ことにより、故障発生箇所をより具体的に特定できる。
の有無を簡単に知ることができる。従って、適当な伝送
処理段階毎に比較データ発生手段及び比較手段を設ける
ことにより、故障発生箇所をより具体的に特定できる。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例を組み込んだ送受信装置の構
成ブロック図を示す。１０は送信しようとする情報信号
、例えば画像信号をディジタル化するＡ／Ｄ変換器、１
２は相関性を利用して圧縮符号化する圧縮符号化回路、
１４は誤り訂正符号を付加する誤り訂正符号化回路、１
６は伝送路に接続する送信端子、１８は伝送路に接続す
る受信端子、２０は誤り訂正符号に従い誤り訂正を行う
誤り訂正回路、２２は圧縮符号化回路１２の圧縮処理と
は逆の伸長処理を行う伸長回路、２４は伸長回路２２の
ディジタル出力をアナログ化するＤ／Ａ変換器である。
成ブロック図を示す。１０は送信しようとする情報信号
、例えば画像信号をディジタル化するＡ／Ｄ変換器、１
２は相関性を利用して圧縮符号化する圧縮符号化回路、
１４は誤り訂正符号を付加する誤り訂正符号化回路、１
６は伝送路に接続する送信端子、１８は伝送路に接続す
る受信端子、２０は誤り訂正符号に従い誤り訂正を行う
誤り訂正回路、２２は圧縮符号化回路１２の圧縮処理と
は逆の伸長処理を行う伸長回路、２４は伸長回路２２の
ディジタル出力をアナログ化するＤ／Ａ変換器である。
これらの回路における処理自体は、公知である。
また、自己診断機能のために、以下の回路が付加されて
いる。２６は自己診断のためのテスト信号を発生するテ
スト信号発生回路、２８は送信端子１６と受信端子１８
との間を直結するバイパス回路、３０．３２，３４．３
６はテスト信号発生回路２６が発生するテスト信号に対
して、それぞれ、圧縮符号化回路１２、誤り訂正符号化
回路１４、誤り訂正回路２０、及び伸長回路２２が出力
すべきビット・パターンと同じビット・パターンを出力
するメモリ、３Ｂ、４０，４２．４４は当該圧縮符号化
回路１２、誤り訂正符号化回路１４、誤り訂正回路２０
、及び伸長回路２２の出力ビット・パターンと、当該メ
モリ３０，３２．３４゜３６の出力ビット・パターンと
を比較する比較回路である。メモリ３０，３２．３４．
３６は例えば、リード・オンリ・メモリからなる。
いる。２６は自己診断のためのテスト信号を発生するテ
スト信号発生回路、２８は送信端子１６と受信端子１８
との間を直結するバイパス回路、３０．３２，３４．３
６はテスト信号発生回路２６が発生するテスト信号に対
して、それぞれ、圧縮符号化回路１２、誤り訂正符号化
回路１４、誤り訂正回路２０、及び伸長回路２２が出力
すべきビット・パターンと同じビット・パターンを出力
するメモリ、３Ｂ、４０，４２．４４は当該圧縮符号化
回路１２、誤り訂正符号化回路１４、誤り訂正回路２０
、及び伸長回路２２の出力ビット・パターンと、当該メ
モリ３０，３２．３４゜３６の出力ビット・パターンと
を比較する比較回路である。メモリ３０，３２．３４．
３６は例えば、リード・オンリ・メモリからなる。
上記構成において、自己診断機能を作動させると、バイ
パス回路２８により、誤り訂正符号化回路１４の出力が
そのまま誤り訂正回路２０に印加され、また、水平同期
パルスＨＤに応じて、テスト信号発生回路２６がテスト
信号を発生し、メモリ３０，３２，３４．３６はそれぞ
れは保持するビット・データを出力する。比較回路３８
．４０゜４２．４４は２つのビット・パターン列を比較
し、比較結果を出力する。メモリ３０，３２．３４３６
は、対応する回路１２，１４，２０．２２が正常である
場合に、テスト信号に対して出力するビ・ノド・パター
ンと同じビット・パターンを出ノｊするから、比較回路
３８．４０，４２．４４の比較結果により、どの回路部
分で故障又は異常が発生しているかを知ることができる
。
パス回路２８により、誤り訂正符号化回路１４の出力が
そのまま誤り訂正回路２０に印加され、また、水平同期
パルスＨＤに応じて、テスト信号発生回路２６がテスト
信号を発生し、メモリ３０，３２，３４．３６はそれぞ
れは保持するビット・データを出力する。比較回路３８
．４０゜４２．４４は２つのビット・パターン列を比較
し、比較結果を出力する。メモリ３０，３２．３４３６
は、対応する回路１２，１４，２０．２２が正常である
場合に、テスト信号に対して出力するビ・ノド・パター
ンと同じビット・パターンを出ノｊするから、比較回路
３８．４０，４２．４４の比較結果により、どの回路部
分で故障又は異常が発生しているかを知ることができる
。
上記構成では、テスト信号発生回路２６は常にに一定の
テスト信号を発生し、メモリ３０，３２３４．３６は一
定のビット・データを出力するが、テスト信号発生回路
２６が複数種のテスト信号を発生可能であり、メモリ３
０，３２，３４．３６には、それぞれ対応するビット・
パターンのデータを記憶させておき、テスト信号発生回
路２６の発生するテスト信号に応じて、メモリ３０．３
２゜３４．３６の出カビノド・パターンを選択するよう
にしてもよい。
テスト信号を発生し、メモリ３０，３２３４．３６は一
定のビット・データを出力するが、テスト信号発生回路
２６が複数種のテスト信号を発生可能であり、メモリ３
０，３２，３４．３６には、それぞれ対応するビット・
パターンのデータを記憶させておき、テスト信号発生回
路２６の発生するテスト信号に応じて、メモリ３０．３
２゜３４．３６の出カビノド・パターンを選択するよう
にしてもよい。
また、メモリ３０，３２，３４．３６をランダム・アク
セス・メモリで構成して外部から書き換え可能とし、テ
スト信号発生回路２６が保持するテスト信号もランダム
・アクセス・メモリにより書き換え可能とし、外部から
テスト信号パターンを変更できるようにしてもよい。こ
の場合には、例えば、フロッピー・ディスクにテスト信
号及び、メモリ３０，３２．３４．３６の記憶データを
保存しておき、故障診断の際に、テスト信号発生回路２
６及びメモリ３０，３２．３４．３６にロードすればよ
い。このようにすると、新しい診断機能をソフト的に組
み込むことが可能になる。更には、複数種のテスト結果
を組み合わせて判断することにより、より正確に故障箇
所を判定できるようになる。
セス・メモリで構成して外部から書き換え可能とし、テ
スト信号発生回路２６が保持するテスト信号もランダム
・アクセス・メモリにより書き換え可能とし、外部から
テスト信号パターンを変更できるようにしてもよい。こ
の場合には、例えば、フロッピー・ディスクにテスト信
号及び、メモリ３０，３２．３４．３６の記憶データを
保存しておき、故障診断の際に、テスト信号発生回路２
６及びメモリ３０，３２．３４．３６にロードすればよ
い。このようにすると、新しい診断機能をソフト的に組
み込むことが可能になる。更には、複数種のテスト結果
を組み合わせて判断することにより、より正確に故障箇
所を判定できるようになる。
以上の説明から容易に理解できるように、本発明によれ
ば、特に教育されたサービス・マン又は熟練したサービ
ス・マンでなくとも、故障診断を的確に行うことができ
る。また、信号処理のどの段階で故障が発生しているか
が分かるので、故障箇所も短時間で特定できる。
ば、特に教育されたサービス・マン又は熟練したサービ
ス・マンでなくとも、故障診断を的確に行うことができ
る。また、信号処理のどの段階で故障が発生しているか
が分かるので、故障箇所も短時間で特定できる。
第１図は本発明の一実施例の構成ブロック図である。
１０・−Ａ／Ｄ変換器 １２−圧縮符号化回路 １４〜
誤り訂正符号化回路 １６−送信端子 １８受信端子
２〇−誤り訂正回路 ２２−伸長回路 ２４・−Ｄ／Ａ
変換器 ２６−テスト信号発生回路 ２８−バイパス回
路 ３０．３２．３４３６−メモリ ３８，４０，４２
．４４・−比較回路 １．ソ くニー７′
誤り訂正符号化回路 １６−送信端子 １８受信端子
２〇−誤り訂正回路 ２２−伸長回路 ２４・−Ｄ／Ａ
変換器 ２６−テスト信号発生回路 ２８−バイパス回
路 ３０．３２．３４３６−メモリ ３８，４０，４２
．４４・−比較回路 １．ソ くニー７′
Claims (1)
- 高速情報伝送システムにおいて、故障を診断するための
装置であって、疑似伝送信号を発生する疑似伝送信号発
生手段と、当該疑似伝送信号に対する当該高速情報伝送
システムの適当な伝送処理段階での正常出力と同じ信号
を発生する比較データ発生手段と、当該疑似伝送信号に
対する当該伝送処理段階の出力を、当該比較データ発生
手段の出力と比較する比較手段とからなることを特徴と
する故障診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63221437A JPH0270151A (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | 故障診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63221437A JPH0270151A (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | 故障診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0270151A true JPH0270151A (ja) | 1990-03-09 |
Family
ID=16766728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63221437A Pending JPH0270151A (ja) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | 故障診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0270151A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007174135A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Nec Corp | 通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 |
-
1988
- 1988-09-06 JP JP63221437A patent/JPH0270151A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007174135A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Nec Corp | 通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 |
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