JPH0267717A - 縮小投影型露光装置 - Google Patents

縮小投影型露光装置

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Publication number
JPH0267717A
JPH0267717A JP63220179A JP22017988A JPH0267717A JP H0267717 A JPH0267717 A JP H0267717A JP 63220179 A JP63220179 A JP 63220179A JP 22017988 A JP22017988 A JP 22017988A JP H0267717 A JPH0267717 A JP H0267717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
alignment
marks
detecting parts
lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63220179A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinsui Saruwatari
新水 猿渡
Satoshi Shiraishi
聡 白石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON DENKI FUAKUTORI ENG KK
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NIPPON DENKI FUAKUTORI ENG KK
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON DENKI FUAKUTORI ENG KK, NEC Kyushu Ltd filed Critical NIPPON DENKI FUAKUTORI ENG KK
Priority to JP63220179A priority Critical patent/JPH0267717A/ja
Publication of JPH0267717A publication Critical patent/JPH0267717A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体製造プロセス中のフォトレジスト塗布
後の目合わせ露光工程で使用される縮小投影型露光装置
(以下ステッパーという)に関する。
〔従来の技術〕
従来、ステッパーの信号検出部は、ウェハー上のアライ
メントマークに対してのみ検知しデータを取り込むもの
となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のステッパーは、信号検出部がウェハーの
アライメントマークに対する検知しか行っていないので
、ウェハー上のパターンやスクライブラインからの疑似
信号によってアライメントマークを誤検出することがあ
るという問題があった。
本発明の目的は、このような問題を解決し、アライメン
トマークの信号検出だけでなく、スクラブ線やパターン
に対応した信号検出を行なうことにより、位置検出の誤
りをなくした縮小投影型露光装置を提供することにある
〔課題を解決するための手段〕
本発明の構成は、レーザ光をウェハー上のアライメント
マークに照射し、このアライメントマークからの回折光
のを検出して前記ウェハーの位置決めを行なう縮小投影
型露光装置において、前記アライメントマークからの検
出信号と前記ウェハーの内部素子のスクラブラインから
の検出信号とを区別して検出する信号検出部をそれぞれ
設け、前記ウェハーの回路パターンおよびアライメント
マークの識別を可能としたことを特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。図にお
いて、1はレーザ管、2はウェハー10上にあるスクラ
イブライン、3はウェハー10上に設けた45°斜格子
を用いたアライメントマーク、4はハーフミラ−55は
アライメント信号検出部、6はスクラブラインパターン
信号検出部、7はアライメントコントロール部、8はX
Y移動台である。
レーザ管1から出射されたレーザ光はハーフミラ−4を
透過して、ウェハー10上のアライメントマーク3及び
スクラブライン2上へ照射され、これらからの回折光及
び反射光はハーフミラ−4により反射されてアライメン
ト信号検出部5及びスクラブラインパターン信号検出部
6に入射される。
この時、アライメントマーク3の回折光は、アライメン
トマーク3が45°の傾きを持つため、アライメントマ
ーク信号検出部5に入射する。また、スクラブライン2
においては、回折光が出すに反射光のみのため、アライ
メントマーク信号・検出部5とスクラブラインパターン
信号検出部6にそれぞれ入射され、アライメントコント
ロール部7でスクラブパターン信号検出部6と、アライ
メントマーク信号検出部5の両者を対比させる事でアラ
イメントマークとスクラブライン及びパターンの区別を
行なうことが出来る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、アライメントマーク信号
と、スクラブパターン信号とを比較検出しているので、
アライメントマークの誤検出を防止できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の模式的構成図である。 1・・・レーザ管、2・・・スクラブ線、3・・・アラ
イメントマーク、4・・・ハーフミラ−15・・・アラ
イメント信号検出部、6・・・スクラブパターン信号検
出部、7・・・アライメントコントロール部、8・・・
XY移動台、10・・・ウェハー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  レーザ光をウェハー上のアライメントマークに照射し
    、このアライメントマークからの回折光のを検出して前
    記ウェハーの位置決めを行なう縮小投影型露光装置にお
    いて、前記アライメントマークからの検出信号と前記ウ
    ェハーの内部素子のスクラブラインからの検出信号とを
    区別して検出する信号検出部をそれぞれ設け、前記ウェ
    ハーの回路パターンおよびアライメントマークの識別を
    可能としたことを特徴とする縮小投影型露光装置。
JP63220179A 1988-09-01 1988-09-01 縮小投影型露光装置 Pending JPH0267717A (ja)

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JP63220179A JPH0267717A (ja) 1988-09-01 1988-09-01 縮小投影型露光装置

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JPH0267717A true JPH0267717A (ja) 1990-03-07

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ID=16747122

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