JPH0262975A - プリント基板の検査方法およびその検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査方法およびその検査装置

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Publication number
JPH0262975A
JPH0262975A JP63215377A JP21537788A JPH0262975A JP H0262975 A JPH0262975 A JP H0262975A JP 63215377 A JP63215377 A JP 63215377A JP 21537788 A JP21537788 A JP 21537788A JP H0262975 A JPH0262975 A JP H0262975A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
circuit
short
pattern
probe
Prior art date
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Pending
Application number
JP63215377A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisaji Yoshida
久次 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
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Publication of JPH0262975A publication Critical patent/JPH0262975A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプリント基板上のパターン間で発生した短絡の
場所を探索する方法およびその検査装置に関するもので
ある。
[従来の技術] プリント基板の回路パターンに短絡があるがどうか検査
するのに、多品種の回路パターンを、ある限られた数だ
け製造するとき、それ用の特別な大型の検査装置を製造
することはプリント基板の製造コストを高くする結果と
なる。
そのため従来からこの検知方法として、目視方法か、ま
たはテスターを使用し、回路パターンを遠い方から徐々
にカットして検査して短絡個所を発見するいわゆるパタ
ーンカット方式によるものがあった。
[解決しようとする課8] しかし回路パターンの短絡を目視により検査することは
、個人差など不安定な要因があり、目の疲労などの問題
もあり、またパターンカット方式ではプリント基板の損
傷は避けられないものであった。
そこで本発明の目的は、個人差による検索の不安定さを
除き、またプリント基板の損傷を避けることのできるプ
リント基板の検査方法およびその装置を提供することに
ある。
[課題を解決するための手段] 本発明にかかる検査方法の特徴とするところは、絶縁性
基板上に形成してある複数の回路パターンの内、互いに
短絡している2つの回路パターン間に所定の周波数の交
流信号を供給し、上記交流信号によって発生する磁場を
磁場検出センサーにて追跡するところにある。
また本発明にかかる検査製置の特徴とするところは、所
定の周波数の交流信号を発生する交流信号発生回路の出
力端子に、絶縁性基板上に形成された回路パターンと接
続するための接続手段を接続し、上記交流信号によって
発生する磁場を検出する磁場検出センサーを具備した磁
場検出回路を設け、この検出回路は、上記周波数の信号
のみを選択して通し、上記磁場検出センサーが検出する
磁場変化を検出するものであり、さらに上記磁場検出回
路によって検出された磁場の強度を指示手段によって示
すように構成したところにある。
[実施例] 以下図面を参照して本発明の実施例に2いて説明する。
先ずプリント基板の検査装置から説明する。第1図にお
いて、収納ボックス1内には、所定の周波数例えば数K
11z程度の交流信号を発生する交流信号発生回路2が
設けてあり、この発生回路には、電流調整用の抵抗3が
接続してある。さらに抵抗3には、ペア線4,4aを介
して接続手段であるクリップ5.5aが設けてあり、こ
のクリップにより、交流信号発生回路2の出力端子と絶
縁性基板6a上に形成された複数の回路パターン7の内
、短絡を検知すべき2つの回路パターンとが接、続でき
るようになっている。したがってクリップ5を接続した
パターンとクリップ5aを接続したパターンの間に短絡
個所があると、発生回路2からの交流信号が短絡経路に
沿って流れ、これに沿って磁場が発生することになる。
またボックス1内には、フィルタ8と増幅回路9とから
なる磁場検出回路10が設けてあり、このフィルタには
、プリント基板6の回路パターン7に発生する磁場を検
出する磁場検出センサー(プローブ)11が同軸ケーブ
ル12を介して連結してある。ケーブル12は、それ自
身が磁場変化を拾わないようシールドが施されており、
このシールドはさらにプローブの金属筐体に接続されて
いる。またこのケーブル12は信号発生回路2から発生
する周波数の信号のみを選択して通すようになっている
ものであり、また同時にプローブ11との間のインビー
ダス整合も行なうようになっている。
また収納ボックス1内には、指示手段としての指針式の
メータ13が設けである。このメータ13には磁場検出
回路10の増幅回路9が接続してあり、プローブ11お
よび磁場検出回路10によって検出された磁場の強度を
表示するようになっている。
そこで本発明の検査方法について説明する。
先ずクリップ5.5aをプリント基板6の2つの回路パ
ターン7に接続させた後で、交流信号発生回路2から所
定の周波数の交流信号を供給する。
そこでプローブ11により回路パターン7に短絡個所が
あるかどうか追跡すると、この回路パターンに短絡がな
ければ、交流信号はパターン上を流れないのでプローブ
には磁場変化が検出されず、メータ13には何も変化は
ない。
しかしもし回路パターン7が短絡していると、短絡電流
に沿って磁場が発生しているため、プローブ11の追跡
によってこの磁場を検出し、この磁場の強度は磁場検出
回路10を介してメータ13に表示され、このプローブ
が位置している近傍の回路パターンが短絡していること
が判るのである。
またプローブ11によって磁場を検出し、この磁場に沿
って追跡していて、メータ13に表示される磁場の強度
が低くなると、それは短絡電流による磁場から離れてい
る方向つまり短絡している個所から離れていく方向、即
ち誤った方向に追跡していることを意味する。したがっ
て、常にこの磁場の強度をメータの表示で確認しながら
正規な方向にプローブで追跡していくことが可能である
また本発明によって短絡個所を発見した場合、プリント
基板製造用のマスキングされたマスクの方の短絡個所を
修正すれば、それによって短絡個所のない正規なプリン
ト基板を製造することができる。
第2図は本発明の他の実施例を示すものであって、指示
手段としてオシロスコープ13Aを採用したものである
。これはオシロスコープに表示される波形の変化によっ
て磁場の強度の変化を知ることができるものである。そ
の他の構成は、第1図示の実施例の構成と実質的に同一
であり、同一符号を付している。
また指示手段13としては、前記した指針式や波形表示
式の他に、報音によって磁場の強度の変化を知るように
することも可能である。この報音によって磁場の発生を
感知できるようにすると、プローブ11によって回路パ
ターン7を追跡している時、音の強弱によって磁場の強
度が確認できるため、指針式のようにプローブの他に同
時的に指示手段の表示面を見る必要がなく、つまり音を
聴取しながらプローブの先端のみを見ながら回路パター
ンを追跡できるので、その検知操作が便利である。
[効果] 本発明は以上の構成を有するものであるため、簡単かつ
確実にプリント基板の短絡個所を検索できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は検査装置の概略図、第2図は他の実施例を示す
概略図である。 2・・・交流信号発生回路、 5.5a・・・接続手段(クリップ)、6a・・・絶縁
性基板、 7・・・回路パターン、 10・・・磁場検出回路、 11・・・磁場検出センサー(プローブ)、13.13
A・・・指示手段。 以  上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁性基板上に形成してある複数の回路パターン
    の内、互いに短絡している2つの回路パターン間に所定
    の周波数の交流信号を供給し、上記交流信号によって発
    生する磁場を磁場検出センサーにて追跡する ことを特徴とするプリント基板の検査方法。
  2. (2)所定の周波数の交流信号を発生する交流信号発生
    回路と、 上記交流信号発生回路の出力端子と絶縁性基板上に形成
    された回路パターンとを接続する接続手段と、上記交流
    信号によって発生する磁場を検出する磁場検出センサー
    と、 上記周波数の信号のみを選択して通し、上記磁場検出セ
    ンサーが検出する磁場変化を検出する磁場検出回路と、 上記磁場検出回路に接続し磁場の強度を示す指示手段と を具備することを特徴とするプリント基板の検査装置。
  3. (3)請求項2において、上記指示手段は、指針式、波
    形表示式および報音式のいずれかであることを特徴とす
    るプリント基板の検査装置。
JP63215377A 1988-08-30 1988-08-30 プリント基板の検査方法およびその検査装置 Pending JPH0262975A (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50369A (ja) * 1973-03-09 1975-01-06
JPS56154678A (en) * 1980-04-30 1981-11-30 Fujitsu Ltd Inspection method for conductor pattern
JPS5899768A (ja) * 1981-12-09 1983-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板パタ−ン短絡箇所検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50369A (ja) * 1973-03-09 1975-01-06
JPS56154678A (en) * 1980-04-30 1981-11-30 Fujitsu Ltd Inspection method for conductor pattern
JPS5899768A (ja) * 1981-12-09 1983-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板パタ−ン短絡箇所検出装置

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