JPH0256000A - 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡 - Google Patents
軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡Info
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- JPH0256000A JPH0256000A JP63206277A JP20627788A JPH0256000A JP H0256000 A JPH0256000 A JP H0256000A JP 63206277 A JP63206277 A JP 63206277A JP 20627788 A JP20627788 A JP 20627788A JP H0256000 A JPH0256000 A JP H0256000A
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Landscapes
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、生体観察用の軟X線顕@鏡に用いられる多層
膜反射鏡に関するものである。
膜反射鏡に関するものである。
[従来の技術]
X線領域では、物質の屈折率はn−1−δ−4k(δ、
に:実数)と表わされ、δ、にともに1に比べて非常に
小さい。(屈折率の虚部にはX線の°吸収を表わす。)
そのため、可視光領域のような屈折を利用したレンズは
使用できない。
に:実数)と表わされ、δ、にともに1に比べて非常に
小さい。(屈折率の虚部にはX線の°吸収を表わす。)
そのため、可視光領域のような屈折を利用したレンズは
使用できない。
そこで反射を利用した光学系が用いられるが、全反射臨
界角θC(波長25人で5°程度以下)よりも垂直に近
い入射角では反射率が非常に小さいので、界面の振幅反
射率の高い物質の組合わせを何層も積層することにより
、反射面を多数(例λば数百層も)設けて、それぞれの
反射波の位相か合うように光学干渉理論に基づいて各層
の厚さを調整した多層膜反射鏡か用いられる。
界角θC(波長25人で5°程度以下)よりも垂直に近
い入射角では反射率が非常に小さいので、界面の振幅反
射率の高い物質の組合わせを何層も積層することにより
、反射面を多数(例λば数百層も)設けて、それぞれの
反射波の位相か合うように光学干渉理論に基づいて各層
の厚さを調整した多層膜反射鏡か用いられる。
より具体的に説明すれば、使用X線での屈折率と真空の
屈折率(=1)との差が小さい物質Aと、差の大きい物
質Bとを交互に積層することによって多層1漠反射鏡は
得られ、その代表例として、W(タングステン)/C(
炭素) 、 Mo(モリブデン) /Si(シリコン)
などの組合せか従来から知られており、スパッタリング
、真空蒸着、CVDなどの薄膜形成技術によって、形成
されていた。
屈折率(=1)との差が小さい物質Aと、差の大きい物
質Bとを交互に積層することによって多層1漠反射鏡は
得られ、その代表例として、W(タングステン)/C(
炭素) 、 Mo(モリブデン) /Si(シリコン)
などの組合せか従来から知られており、スパッタリング
、真空蒸着、CVDなどの薄膜形成技術によって、形成
されていた。
ところで、最近、X線の中でも軟X線(波長25人〜2
50 人)が特にン主目を浴びている。これは、軟X線
は現在主流の水銀ランプのg線(波長4360人)より
波長が短く、従って、IC(集積回路)製造の際の微細
パターンの縮小露光用光源として使用すると、■より微
細なパターンの焼付けが可能になることと、■従来の硬
X線(波長2.5Å以下)よりも波長が長いので、物質
への吸収率が高く、そのため、レジスト膜の焼付けが可
能となるからである。
50 人)が特にン主目を浴びている。これは、軟X線
は現在主流の水銀ランプのg線(波長4360人)より
波長が短く、従って、IC(集積回路)製造の際の微細
パターンの縮小露光用光源として使用すると、■より微
細なパターンの焼付けが可能になることと、■従来の硬
X線(波長2.5Å以下)よりも波長が長いので、物質
への吸収率が高く、そのため、レジスト膜の焼付けが可
能となるからである。
そして、軟X線用の多層膜反射鏡として、最近特開昭1
i3−88502号の発明が提案された。以下、この発
明を「基本発明」と言う。基本発明の目的は、耐熱性の
すぐれた反射鏡を提案することにあり、次のような内容
のものである。
i3−88502号の発明が提案された。以下、この発
明を「基本発明」と言う。基本発明の目的は、耐熱性の
すぐれた反射鏡を提案することにあり、次のような内容
のものである。
「軟X線・真空紫外線の高吸収層と低吸収層の交互層よ
りなる多層薄膜構造を有する軟X Pi!・真空紫外線
用多層膜反射鏡において、該高吸収層は遷移金属の単体
のうちの一種以上を主成分として有してなり、該低吸収
層はケイ素、ホウ素それぞれの炭化物、窒化物、酸化物
のうちの一種以上を主成分として有してなるもの。」 そして、基本発明の明細書の実施例には、波長124人
の軟X線に対する反射鏡が開示されており、そこでは高
吸収層(木明細書でいう物質Bの層に相当)としてfl
uを、低吸収層(同じく物質Aの層)として5in2を
用いたもの(実施例1)を筆頭に以下、 Ru/5iO2(実施例1) Ta/84C(実施例2) Iff/Si、N4(実施例3) の3つの実施例があげられている。
りなる多層薄膜構造を有する軟X Pi!・真空紫外線
用多層膜反射鏡において、該高吸収層は遷移金属の単体
のうちの一種以上を主成分として有してなり、該低吸収
層はケイ素、ホウ素それぞれの炭化物、窒化物、酸化物
のうちの一種以上を主成分として有してなるもの。」 そして、基本発明の明細書の実施例には、波長124人
の軟X線に対する反射鏡が開示されており、そこでは高
吸収層(木明細書でいう物質Bの層に相当)としてfl
uを、低吸収層(同じく物質Aの層)として5in2を
用いたもの(実施例1)を筆頭に以下、 Ru/5iO2(実施例1) Ta/84C(実施例2) Iff/Si、N4(実施例3) の3つの実施例があげられている。
ところで、一般に反射率は、波長及び入射角によって異
なるので、仮に実施例で用いられた波長124人を変え
ると、反射率が向上するか低下するか予ン!!11でき
ない。
なるので、仮に実施例で用いられた波長124人を変え
ると、反射率が向上するか低下するか予ン!!11でき
ない。
方、軟X線は、前述したIC製造用の露光光源としてだ
けでなく、他の意味ても注目を浴びている。それは、従
来の電子顕微鏡では死んだものしか観察できなかったの
を、軟X線を用いると、電子顕微鏡よりは劣るものの、
従来の光学顕微鏡よりも高い解像度で生体を観察できる
ようになるからである。
けでなく、他の意味ても注目を浴びている。それは、従
来の電子顕微鏡では死んだものしか観察できなかったの
を、軟X線を用いると、電子顕微鏡よりは劣るものの、
従来の光学顕微鏡よりも高い解像度で生体を観察できる
ようになるからである。
軟X線顕微鏡において、生体観察を行う場合に使用する
X線の波長は、第2図に示すようにタンパク質と水との
吸収係数の差の大きい領域、即ち酸素のに吸収端(23
人)と炭素のに吸収端(44人)の間の特定波長領域が
用いられる。(尚、なるへく厚い試料まで観察できるよ
う、吸収係数の小さい酸素の吸収端近傍の25人付近の
波長が好ましい。) そして、従来、軟X線顕微鏡用の多層膜反射鏡として、
W(タングステン)/C(炭素)やM。
X線の波長は、第2図に示すようにタンパク質と水との
吸収係数の差の大きい領域、即ち酸素のに吸収端(23
人)と炭素のに吸収端(44人)の間の特定波長領域が
用いられる。(尚、なるへく厚い試料まで観察できるよ
う、吸収係数の小さい酸素の吸収端近傍の25人付近の
波長が好ましい。) そして、従来、軟X線顕微鏡用の多層膜反射鏡として、
W(タングステン)/C(炭素)やM。
(モリブデン) /Si (シリコン)の組合せが知ら
れている。
れている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしなから、W/CやMo/Siを使用した従来の反
射鏡は、軟X P!顕微鏡用としては反射率が低いとい
う問題点があった。
射鏡は、軟X P!顕微鏡用としては反射率が低いとい
う問題点があった。
また、先に提案された基本発明の実施例に開示されたR
u/5i02やTa/B、CやHf/5i3N4を使用
した反射鏡も軟X線顕微鏡用として試用してみると、同
様に反射率が低いことが判明した。
u/5i02やTa/B、CやHf/5i3N4を使用
した反射鏡も軟X線顕微鏡用として試用してみると、同
様に反射率が低いことが判明した。
本発明の目的は、23人(酸素の吸収端)から44人(
炭素の吸収端)の間の特定波長領域の軟X KMを使用
する軟X線顕微鏡用として、反射率の高い多層反射鏡を
提供することにある。
炭素の吸収端)の間の特定波長領域の軟X KMを使用
する軟X線顕微鏡用として、反射率の高い多層反射鏡を
提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは、種々の物質の組合せについて鋭意研究の
結果、Ni/B20a及びNi/B2O3・5iO2混
合物の組合せが、軟X線顕微鏡用多層膜反射鏡として、
反射率が極めて高いことを見い出し、本発明を成すに至
った。
結果、Ni/B20a及びNi/B2O3・5iO2混
合物の組合せが、軟X線顕微鏡用多層膜反射鏡として、
反射率が極めて高いことを見い出し、本発明を成すに至
った。
よって、本発明は、酸素のに吸収端23人から炭素のに
吸収端44人までの特定波長領域内の軟X線を用いる軟
X線顕微鏡用多層膜反射鏡において、前記波長領域内に
おりる屈折率と真空の屈折率との差の小さい物質Aとし
て、酸化ホウ素又はそれと酸化ケイ素との混合物を用い
、差の大きい物質Bとして、ニッケルを用いたことを特
徴とする多層膜反射鏡を提供する。
吸収端44人までの特定波長領域内の軟X線を用いる軟
X線顕微鏡用多層膜反射鏡において、前記波長領域内に
おりる屈折率と真空の屈折率との差の小さい物質Aとし
て、酸化ホウ素又はそれと酸化ケイ素との混合物を用い
、差の大きい物質Bとして、ニッケルを用いたことを特
徴とする多層膜反射鏡を提供する。
[作用]
Ni、’B2O3の組合せについては、先の基本発明で
使用される組合わせの範鴫の一部に含まれるものの、具
体的な開示はなく、しかも軟X線顕微鏡についての開示
も示唆も全くない以上、本発明は少なくとも基本発明の
選択発明を構成するものである。
使用される組合わせの範鴫の一部に含まれるものの、具
体的な開示はなく、しかも軟X線顕微鏡についての開示
も示唆も全くない以上、本発明は少なくとも基本発明の
選択発明を構成するものである。
また、酸化ホウ素(8203)と酸化ケイ素(Si(h
)との比較では、前述したkの値が小さい分たけ前者の
方が反射率は高くなるが、酸化ホウ素(n2o3)は空
気中の水蒸気と反応して113803の結晶を析出する
性質があり、多層膜反射鏡の表面または界面の粗さを増
大させ反射率低下の原因となるので、耐湿性の要求され
る環境下で使用する場合は、これを防止するため酸化ケ
イ素(St(h)との混合物として用いると良い。両者
の混合割合については、B2O3を20%以上とするこ
とが反射率の点で好ましい。
)との比較では、前述したkの値が小さい分たけ前者の
方が反射率は高くなるが、酸化ホウ素(n2o3)は空
気中の水蒸気と反応して113803の結晶を析出する
性質があり、多層膜反射鏡の表面または界面の粗さを増
大させ反射率低下の原因となるので、耐湿性の要求され
る環境下で使用する場合は、これを防止するため酸化ケ
イ素(St(h)との混合物として用いると良い。両者
の混合割合については、B2O3を20%以上とするこ
とが反射率の点で好ましい。
また、本発明による多層膜反射鏡では、積層層数を20
0層程度とすることが反射率の点でよ°り望ましい。
0層程度とすることが反射率の点でよ°り望ましい。
[実施例]
〈実施例1〉
第1図に示すようにシリコン基板l上にrfマグネトロ
ンスパッタリング法により、1o人の厚さのニッケル層
2と20人のJ7さの酸化ホウ素層3を交互にそれぞれ
200層ずつ積層して軟X線顕微鏡用多層膜反射鏡を作
製した。ターゲット材料には、それぞれニッケル(N1
)と酸化ホウ素(8203)を用いて、スパッタリング
ガスには、ニッケル成膜時にはアルゴンを、酸化ホウ素
成膜時にはアルゴンと酸素の混合ガスを用いた。
ンスパッタリング法により、1o人の厚さのニッケル層
2と20人のJ7さの酸化ホウ素層3を交互にそれぞれ
200層ずつ積層して軟X線顕微鏡用多層膜反射鏡を作
製した。ターゲット材料には、それぞれニッケル(N1
)と酸化ホウ素(8203)を用いて、スパッタリング
ガスには、ニッケル成膜時にはアルゴンを、酸化ホウ素
成膜時にはアルゴンと酸素の混合ガスを用いた。
波長25人の軟X線で、この多層膜反射鏡の反射率を測
定したところ、第3図に示すような結果となり、最大反
射率は34%であった。
定したところ、第3図に示すような結果となり、最大反
射率は34%であった。
〈実施例2〉
実施例1と同様にシリコン基板上にrfマグネトロンス
パッタリング法により、10人の厚さのニッケル層と2
0人の厚さの酸化ホウ素と酸化ケイ素との混合物を交互
にそれぞれ200層ずつ積層して、軟X線顕微鏡用多層
膜反射鏡を作製した。ニッケル層の成膜は、ターゲット
材料にニッケル(Ni)を用い、スパッタリングガスに
はアルゴンを用いた。酸化ホウ素と酸化ケイ素の混合物
の成膜は、面積比1.1の酸化ホウ素(口。0.)と酸
化ケイ素(Si(h)の複合ターゲットを用い、スパッ
タリングガスには、アルゴンと酸素の混合ガスを用いた
。
パッタリング法により、10人の厚さのニッケル層と2
0人の厚さの酸化ホウ素と酸化ケイ素との混合物を交互
にそれぞれ200層ずつ積層して、軟X線顕微鏡用多層
膜反射鏡を作製した。ニッケル層の成膜は、ターゲット
材料にニッケル(Ni)を用い、スパッタリングガスに
はアルゴンを用いた。酸化ホウ素と酸化ケイ素の混合物
の成膜は、面積比1.1の酸化ホウ素(口。0.)と酸
化ケイ素(Si(h)の複合ターゲットを用い、スパッ
タリングガスには、アルゴンと酸素の混合ガスを用いた
。
波長25人の軟X線でこの多層膜反射鏡の反射率を測定
したところ、第4図に示すような結果となり、最大反射
率は31%であった。
したところ、第4図に示すような結果となり、最大反射
率は31%であった。
〈実施例3〉
実施例1と同様にして、ニッケル(Ni)と酸化ホウ素
(8203)を両者の膜厚比を変えて、それぞれ200
層積層し、反射率を調べた結果を第5図に示す。なお、
反射率の測定条件は波長λ=25人。
(8203)を両者の膜厚比を変えて、それぞれ200
層積層し、反射率を調べた結果を第5図に示す。なお、
反射率の測定条件は波長λ=25人。
入射角θ=65°である。
図において、横軸「は−周期のうちδの大きい物質(こ
こではNi)の厚さの割合を表わす、即ち、δの大ぎい
物質(Ni)の厚さをd3.δの小さい物質(口、03
)の厚さをd2.d=d、+d2とすれば、r=d、/
dである。なお、−周期の膜厚はd=30人とした。
こではNi)の厚さの割合を表わす、即ち、δの大ぎい
物質(Ni)の厚さをd3.δの小さい物質(口、03
)の厚さをd2.d=d、+d2とすれば、r=d、/
dである。なお、−周期の膜厚はd=30人とした。
図に示されるように、Ni/8203の組合せにおいて
は、r=0.3で最大反射率34*が得られた。
は、r=0.3で最大反射率34*が得られた。
次に、「=03となるようにNiと8203を積層し、
積層層数Nと反射率Rの関係を調へた結果ろ第6図に示
す。なお、−周期の膜厚d=30人、測定波長λ=25
人、入射角θ=65°である。
積層層数Nと反射率Rの関係を調へた結果ろ第6図に示
す。なお、−周期の膜厚d=30人、測定波長λ=25
人、入射角θ=65°である。
図かられかるように、積層数Nを増すとともに反射率R
は急激に増加していくが、積層数200以上では積層数
を増してb反射率はほとんど変化しなかった。
は急激に増加していくが、積層数200以上では積層数
を増してb反射率はほとんど変化しなかった。
〈実施例4〉
実施例3の場合と同様にして、ニッケル(Ni)と酸化
ケイ素(Si(h)の組合せについて、rと反射率の関
係を調べた結果(d=30人、λ=25人。
ケイ素(Si(h)の組合せについて、rと反射率の関
係を調べた結果(d=30人、λ=25人。
θ=65@)を第7図に示す。この組合せでは、「=0
.4付近で最大反射率31*が得られた。
.4付近で最大反射率31*が得られた。
また、Ni/8203(7)組合せにツいて、r”=0
.4テの積層層数Nと反射率の関係を調べた結果(d=
30人、λ=25人、θ=65° )を第8図に示す。
.4テの積層層数Nと反射率の関係を調べた結果(d=
30人、λ=25人、θ=65° )を第8図に示す。
この組合せにおいてもNi/B2O3の組合せの場合と
同様に、積層数200程度で反射率は飽和した。
同様に、積層数200程度で反射率は飽和した。
〈実施例5〉
ニッケル(Ni) /酸化ホウ素(B203)と酸化ケ
イ素(Si(h)の混合物の組合せにおいて、B2O3
と5i02の混合比を変化させた場合の反射率を調べた
結果を第9図に示す。なお、d=30人、λ=25人、
N=200. θ=65°、r=0.3である。
イ素(Si(h)の混合物の組合せにおいて、B2O3
と5i02の混合比を変化させた場合の反射率を調べた
結果を第9図に示す。なお、d=30人、λ=25人、
N=200. θ=65°、r=0.3である。
図に示されるように、B2O3の重量%を増加させてい
くに従って反射率は徐々に向上していき、B2O3の重
量%を20を以上とすれば、5i02だけの場合に比べ
て0.5%以上反射率を高くできる。
くに従って反射率は徐々に向上していき、B2O3の重
量%を20を以上とすれば、5i02だけの場合に比べ
て0.5%以上反射率を高くできる。
〈比較例1・・・基本発明の実施例1に相当〉実施例1
と同様にシリコン基板上に「fマグネトロンスパッタリ
ング法により、実施例3で述べたrを変化させて、ルテ
ニウム(Ru)層と酸化ケイ素(Si(h)層とを交互
にそれぞれ100層ずつ積層し、軟X線顕微鏡用多層膜
反射鏡を作製した°。なお、−周期の膜厚は上記実施例
と同様にd=30人とした。
と同様にシリコン基板上に「fマグネトロンスパッタリ
ング法により、実施例3で述べたrを変化させて、ルテ
ニウム(Ru)層と酸化ケイ素(Si(h)層とを交互
にそれぞれ100層ずつ積層し、軟X線顕微鏡用多層膜
反射鏡を作製した°。なお、−周期の膜厚は上記実施例
と同様にd=30人とした。
波長25人、入射角65°の軟X線で反射率を測定した
ところ、第10図に示すような結果となり、最大反射率
はr=0.3で1796であった。
ところ、第10図に示すような結果となり、最大反射率
はr=0.3で1796であった。
く比較例2・・・基本発明の実施例2に相当〉実施例1
と同様にシリコン基板上にrfマグネトロンスパッタリ
ング法により、rを変化させて(d=30人)、タルタ
ル(Ta)層と炭化化ホウ素(84C)とを交互にそれ
ぞれ100層積層することにより、軟X線顕微鏡用多層
膜反射鏡を作製した。
と同様にシリコン基板上にrfマグネトロンスパッタリ
ング法により、rを変化させて(d=30人)、タルタ
ル(Ta)層と炭化化ホウ素(84C)とを交互にそれ
ぞれ100層積層することにより、軟X線顕微鏡用多層
膜反射鏡を作製した。
波長25人、入射角65°の軟X線でこの反射鏡の反射
率を測定したところ、第11図に示すような結果となり
、最大反射率はr=0.4で10’lfであった。
率を測定したところ、第11図に示すような結果となり
、最大反射率はr=0.4で10’lfであった。
〈比較例3・・・基本発明の実施例3に相当〉実施例1
と同様にシリコン基板上にrfマグネトロンスパッタ゛
リング法により、「を変化させて(d=30人)、ハフ
ニウム(Hf)層と窒化ケイ素(SfsN4)層とを交
互にそれぞれ100層ずつ積層することにより、軟X線
顕微鏡用多層膜反射鏡を作製した。
と同様にシリコン基板上にrfマグネトロンスパッタ゛
リング法により、「を変化させて(d=30人)、ハフ
ニウム(Hf)層と窒化ケイ素(SfsN4)層とを交
互にそれぞれ100層ずつ積層することにより、軟X線
顕微鏡用多層膜反射鏡を作製した。
波長25人、入射角65°の軟X線でこの反射鏡の反射
率を測定したところ、第12図に示すような結果となり
、最大反射率はr = 0.3で9*であった。
率を測定したところ、第12図に示すような結果となり
、最大反射率はr = 0.3で9*であった。
〈比較例4〉
flu/5i02 、 Ta/84 C、Hf/Si3
N4の組合せについて、r =0.3 、 d =30
人の条件で積層数を変えて多層膜反射鏡を作製し、波長
25人、入射角65°の軟X線で反射率を測定した結果
を第13図に示す。
N4の組合せについて、r =0.3 、 d =30
人の条件で積層数を変えて多層膜反射鏡を作製し、波長
25人、入射角65°の軟X線で反射率を測定した結果
を第13図に示す。
これらの組合せにおいては、図°に示されるように、積
層数100を越えるとそれ以上層数を増しても反射率は
ほとんど変化しなかった。
層数100を越えるとそれ以上層数を増しても反射率は
ほとんど変化しなかった。
[発明の効果]
以上の様に、本発明によれば、生体観察に使用される軟
X線顕微鏡用反射鏡として、従来の組合わせでは得るこ
とのできない30零以上の高い反射率を、ベリリウムの
ような毒性を持つ物質を使用せずに、得ることができる
。このような高反射率の反射鏡が得られたことによって
、光学系の自由度が大きくなり、必要な光源の強度が小
さくて済むため、装置の小型化を図ることかできる。
X線顕微鏡用反射鏡として、従来の組合わせでは得るこ
とのできない30零以上の高い反射率を、ベリリウムの
ような毒性を持つ物質を使用せずに、得ることができる
。このような高反射率の反射鏡が得られたことによって
、光学系の自由度が大きくなり、必要な光源の強度が小
さくて済むため、装置の小型化を図ることかできる。
また、多層膜のX線の吸収が小さいことと、反射率が高
いため光源の強度が小さくて済むことから、X線の吸収
による温度上昇が小さくなり、耐久性が向上する。
いため光源の強度が小さくて済むことから、X線の吸収
による温度上昇が小さくなり、耐久性が向上する。
さらに、毒性のある物質を使用しないことは、製造作業
者の安全を確保するための特別な安全設備を不要とし、
製造コストを低減することができる。
者の安全を確保するための特別な安全設備を不要とし、
製造コストを低減することができる。
第1図は本発明によるX線用多層膜反射現を示す断面図
、 第2図は軟X線領域での水とタンパク質の吸収係数を示
す図、 第3図は二″ツケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡の反射率
を示す図、 第4図はニンケル/酸化ホウ素−酸化ケイ素多層膜反射
鏡の反射率を示す図、 第5図はニッケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡ビおける「
と反射率の関係を示す図、 第6図はニッケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡における層
数と反射率の関係を示す図、 第7図ニッケル/酸化ケイ素多層膜反射鏡における「と
反射率の関係を示す図、 第8図はニッケル/酸化ケイ素多層膜反射鏡における層
数と反射率の関係を示す図、 第9図はニッケル/酸化ホウ素−酸化ケイ素多層膜反射
鏡における酸化ホウ素の比率と反射率の1・・・酸化ホ
ウ素([1203) 2・・・ニッケル(Ni)層 3・・・シリコン(Si)基板
、 第2図は軟X線領域での水とタンパク質の吸収係数を示
す図、 第3図は二″ツケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡の反射率
を示す図、 第4図はニンケル/酸化ホウ素−酸化ケイ素多層膜反射
鏡の反射率を示す図、 第5図はニッケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡ビおける「
と反射率の関係を示す図、 第6図はニッケル/酸化ホウ素多層膜反射鏡における層
数と反射率の関係を示す図、 第7図ニッケル/酸化ケイ素多層膜反射鏡における「と
反射率の関係を示す図、 第8図はニッケル/酸化ケイ素多層膜反射鏡における層
数と反射率の関係を示す図、 第9図はニッケル/酸化ホウ素−酸化ケイ素多層膜反射
鏡における酸化ホウ素の比率と反射率の1・・・酸化ホ
ウ素([1203) 2・・・ニッケル(Ni)層 3・・・シリコン(Si)基板
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 酸素のK吸収端23Åから炭素のK吸収端44Åまでの
特定波長領域内の軟X線を用いる軟X線顕微鏡用多層膜
反射鏡において、 前記波長領域内における屈折率と真空の屈折率との差の
小さい物質Aとして、酸化ホウ素又はそれと酸化ケイ素
との混合物を用い、 差の大きい物質Bとして、ニッケルを用いたことを特徴
とする多層膜反射鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63206277A JPH0256000A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63206277A JPH0256000A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0256000A true JPH0256000A (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=16520656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63206277A Pending JPH0256000A (ja) | 1988-08-22 | 1988-08-22 | 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0256000A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03206999A (ja) * | 1990-01-10 | 1991-09-10 | Japan Aviation Electron Ind Ltd | 軟x線多層膜反射鏡 |
JPH08199342A (ja) * | 1995-01-19 | 1996-08-06 | Rikagaku Kenkyusho | 軟x線光学素子用多層膜構造 |
-
1988
- 1988-08-22 JP JP63206277A patent/JPH0256000A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03206999A (ja) * | 1990-01-10 | 1991-09-10 | Japan Aviation Electron Ind Ltd | 軟x線多層膜反射鏡 |
JPH08199342A (ja) * | 1995-01-19 | 1996-08-06 | Rikagaku Kenkyusho | 軟x線光学素子用多層膜構造 |
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