JPH08122498A - 多層膜反射鏡 - Google Patents

多層膜反射鏡

Info

Publication number
JPH08122498A
JPH08122498A JP6257101A JP25710194A JPH08122498A JP H08122498 A JPH08122498 A JP H08122498A JP 6257101 A JP6257101 A JP 6257101A JP 25710194 A JP25710194 A JP 25710194A JP H08122498 A JPH08122498 A JP H08122498A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflectance
multilayer film
layer
wavelength
multilayer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6257101A
Other languages
English (en)
Inventor
Wakana Wasa
若菜 和佐
Katsuhiko Murakami
勝彦 村上
Tetsuya Oshino
哲也 押野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP6257101A priority Critical patent/JPH08122498A/ja
Publication of JPH08122498A publication Critical patent/JPH08122498A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Filters (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 軟X線領域において、特に波長284.2 Åの鉄
の輝線スペクトル(Fe XV )に対して、高い反射率と波
長分解能を有する多層膜反射鏡を提供すること。 【構成】 軟X線領域での屈折率と真空の屈折率との差
が小さい物質の第1層(3)と大きい物質の第2層
(2)とを基板(1)上に交互に積層してなる多層膜反
射鏡において、前記屈折率の差が小さい物質として、A
l、Si、またはMgを用い、前記屈折率の差が大きい
物質として、B、La、またはSrを用いたことを特徴
とする多層膜反射鏡。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、軟X線領域で用いられ
る多層膜反射鏡、特にX線望遠鏡に好適な多層膜反射鏡
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線領域における物質の複素屈折率は、
n=1−δ−ik (δ、k:実数、kはX線の吸収を
示す)で表され、δ、kともに1に比べて非常に小さ
い。そのため、X線領域では可視光領域のような屈折を
利用したレンズは使用できない。そこで、反射を利用し
た光学系が用いられる。しかし、全反射臨界角θc (波
長100 Åで20゜程度以下)よりも垂直に近い入射角では
反射率が非常に小さいので、界面の振幅反射率がなるべ
く高い物質の組み合わせを何層も積層することにより、
反射面を多数(例えば数百層も)設けて、それぞれの反
射波の位相が合うように、光学干渉理論に基づいて各層
の厚さを調整した多層膜反射鏡が用いられる。
【0003】より具体的に説明すれば、多層膜反射鏡
は、使用するX線波長における屈折率と真空の屈折率
(=1)との差が小さい物質層(第1層)と、差の大き
い物質層(第2層)とを交互に多数積層することによっ
て得られる。その代表例として、W(タングステン)/
C(炭素)、Mo(モリブデン)/C(炭素)などの組
み合わせが従来から知られており、スパッタリング、真
空蒸着、CVD(Chemical Vapor Deposition )などの
薄膜形成技術によって形成されている。
【0004】多層膜反射鏡は、X線を垂直に反射するこ
とも可能なので、全反射を利用した斜入射光学系よりも
収差の小さい光学系を構成することができる。また、多
層膜反射鏡は、ブラッグの式:2dsinθ=mλ
(d:多層膜の周期長、θ:斜入射角、λ:X線の波
長、m:正の整数)を満たすときのみX線を強く反射す
るので、波長選択性を有する。なお、dは前記屈折率の
差が小さい物質層と差が大きい物質層を各1層ずつ積層
した積層体の層厚(膜厚)に相当する。
【0005】近年、X線望遠鏡を宇宙空間に設置して天
体のX線像を観測する、いわゆるX線天文学分野の研究
が盛んに行われるようになった。我国でも、これまでに
「ようこう」、「あすか」と名付けられた人工衛星にX
線望遠鏡が搭載され、太陽等の天体からのX線の観測が
行われている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの人工
衛星に搭載されたX線望遠鏡は、全反射を利用した斜入
射光学系によるものであり、斜入射光学系には、波長選
択性がないことと、収差が大きいために解像力が悪いと
いう問題点があった。例えば、太陽フレアで生成される
高温プラズマやコロナの観測においては、ある特定の温
度領域の画像を得ることが望まれており、そのために多
層膜反射鏡を用いたX線望遠鏡が開発されつつある。
【0007】観測対象の温度は、そこから発生するX線
の波長により知ることができるので、多層膜光学系によ
り特定波長のX線のみの画像を観測すれば、特定の温度
部分のみを抽出して観測することができることになる。
具体的には、鉄の輝線スペクトル(Fe XV )の284.2 Å
の波長が重要である。この波長は、200 万度の温度に相
当する。
【0008】このような用途に使用する多層膜反射鏡に
は一般に、垂直入射で30%程度以上の反射率と20程
度以上の波長分解能が好ましい値として要求される。波
長分解能とは、波長に対する反射率のカーブを描いた際
のピーク波長をλ、ピークの半値幅をΔλとしてλ/Δ
λで定義される量である。多層膜反射鏡の反射率と波長
分解能は、いずれも積層回数(積層数)を増やすと増加
するが、ある積層数に到達すると、それ以上は増加しな
くなり飽和する。これは、多層膜を構成する物質の吸収
のために基板近傍の層が反射に寄与しなくなるためであ
る。
【0009】多層膜の周期長(d)は、使用波長と光学
系に依存する入射角が決まれば、前記ブラッグの式によ
り決まってしまうが、この場合でも多層膜の周期長に対
する重原子層(前記屈折率の差が大きい物質の層)の層
厚比(Γ)又は各層(第1層と第2層)の層厚比には自
由度がある。Γに対する反射率と波長分解能の振る舞い
は異なっており、図2に示すように反射率は上に凸、波
長分解能は下に凸の各曲線を描く。したがって、適切な
Γの値を選択することによって、反射率と波長分解能と
を両立させた多層膜反射鏡を得ることができる。
【0010】しかしながら、前記従来の材料層からなる
多層膜反射鏡では、軟X線領域において、充分な反射率
と波長分解能が得られないという問題点があった。例え
ば、従来から知られているMo/C多層膜では、図2に
示すように、波長分解能は10程度、反射率は25%程
度の低い値しか得ることができない。本発明は、このよ
うな問題点に鑑みてなされたものであり、軟X線領域に
おいて、特に波長284.2 Åの鉄の輝線スペクトル(Fe X
V )に対して、高い反射率と波長分解能を有する多層膜
反射鏡を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は第一
に「軟X線領域での屈折率と真空の屈折率との差が小さ
い物質の第1層と大きい物質の第2層とを基板上に交互
に積層してなる多層膜反射鏡において、前記屈折率の差
が小さい物質として、Al、Si、またはMgを用い、
前記屈折率の差が大きい物質として、B、La、または
Srを用いたことを特徴とする多層膜反射鏡(請求項
1)」を提供する。
【0012】また、本発明は第二に「前記積層の回数を
反射率が飽和する値にしたことを特徴とする請求項1記
載の多層膜反射鏡(請求項2)」を提供する。また、本
発明は第三に「前記第1層と前記第2層を1層ずつ積層
した積層体の層厚に相当する前記積層の周期長、及び前
記第1層と前記第2層との層厚比を反射率の中心波長が
284.2 Åまたは略284.2 Åになる値の組み合わせにした
ことを特徴とする請求項1または2記載の多層膜反射鏡
(請求項3)」を提供する。
【0013】
【作用】多層膜反射鏡の反射率と波長分解能を高めるた
めには、使用する材料の選択が最も重要である。波長分
解能は、反射率が飽和するまでは多層膜の積層回数(積
層数)に比例して増加するので、これを高めるためには
多数の層を積層しても反射率が飽和しないように、吸収
の小さい物質の組み合わせを用いるのが良い。即ち、複
素屈折率n=1−δ−ikの虚部k(物質の吸収の大き
さを表す量)の値が小さい物質を用いるのが良い。
【0014】一方、高い反射率を得るためには、各界面
での反射率が高くなるような材料を用いるのが良い。垂
直入射の場合における多層膜界面での振幅反射率rは、
フレネルの式より、多層膜を構成する二つの物質の屈折
率をそれぞれn1 、n2 として次式で与えられる。 r=(n2 −n1 )/(n2 +n1 ) ={(δ12+i(k1-k2 )}/{(δ12+i(k1+k2 )} ここではkの小さい物質(吸収が小さい物質)を用いる
ので、δ》kとなり、前式は次式のように近似すること
ができる。
【0015】r=(δ12)/(δ12) 従って、多層膜界面での反射率を高くするためには、δ
の差の大きい物質の組み合わせを用いるのが良い。そこ
で、前記2条件(kが小さい物質、δの差の大きい物質
の組み合わせ)を考慮して、多数の物質の組み合わせを
検討した結果、(前記屈折率の差が小さい物質/前記屈
折率の差が大きい物質)の組み合わせとして、Alと
B、La、又はSrの各組み合わせ、SiとB、L
a、又はSrの各組み合わせ、MgとB、La、又は
Srの各組み合わせ、が軟X線領域において、特に波長
284.2Åの鉄の輝線スペクトル(Fe XV )に対して、高
い反射率と波長分解能を有する多層膜反射鏡を作製する
上で好ましいことが判った。
【0016】そして、このなかでも後記の実施例にかか
る組み合わせが特に好ましいことが判った。また、多層
膜反射鏡の反射率と波長分解能の両方を高めるために
は、反射率の値が飽和するまで積層回数を多くすること
が好ましい。さらに、多層膜反射鏡の反射率の中心波長
を284.2 Åまたは略284.2 Åにするために、積層の周期
長と前記層厚比の各値の組み合わせを選択することが好
ましい。
【0017】図2は本発明にかかる組み合わせのB/A
l多層膜(周期長152 Å、積層数50ペア)と従来から知
られている組み合わせのMo/C多層膜(周期長152
Å、積層数50ペア)の反射率(R)と波長分解能(λ/
Δλ)をΓに対して描いた曲線(計算値)を示す。Mo
/C多層膜では、Γ0.2 のときに反射率25%、波長分
解能10となり、いずれも充分ではない。しかし、本発
明にかかるB/Al多層膜を用いるとΓ0.2 のときに反
射率36%、波長分解能28となり、Γ0.3 のときに反
射率42%、波長分解能18となるので、X線望遠鏡に
用いる多層膜反射鏡として充分な性能を得ることができ
る。
【0018】なお、計算値のみならず実際に作製した各
多層膜の実測値においても、Mo/C多層膜(周期長15
2 Å、積層数50ペア)では、X線望遠鏡に用いる多層膜
反射鏡として充分な反射率及び波長分解能が得られなか
った(反射率15%、波長分解能9)。一方、本発明に
かかる多層膜(一例、B/Al、周期長152 Å、積層数
50ペア)を用いると、計算値のみならず実測値において
も、X線望遠鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射
率及び波長分解能が得られた(反射率29%、波長分解
能27)。
【0019】以下、実施例により本発明をさらに詳しく
説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもの
ではない。
【0020】
【実施例1】本実施例では、重原子層としてB、軽原子
層としてAlを用いた。基板1には鏡面研磨した合成石
英を用いた。BとAlの各ターゲットを用いてイオンビ
ームスパッタリングにより、基板1上にB層2とAl層
3とを交互に積層して多層膜を作製した。B/Al多層
膜の周期長は152 Å、Γは0.2 、積層数は50ペアとし
た。図1に、その断面図を示す(図中では多層膜の層数
は実際よりも少なく描いてある)。
【0021】本実施例にかかるB/Al多層膜(周期長
152 Å、積層数50ペア)の反射率(R)を波長(単位
Å)に対して描いた曲線(計算値)を図3に示す。波長
284.2Åにおける反射率は約36%であり、波長分解能
は約28である。また、作製した多層膜の垂直入射の軟
X線反射率を放射光を用いて実測したところ、X線望遠
鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射率及び波長分
解能が得られた(反射率29%、波長分解能27)。
【0022】
【実施例2】本実施例では、重原子層としてB、軽原子
層としてSiを用いた。基板1には鏡面研磨した合成石
英を用いた。BとSiの各ターゲットを用いてイオンビ
ームスパッタリングにより、基板1上にB層2とSi層
3とを交互に積層して多層膜を作製した。B/Si多層
膜の周期長は153 Å、Γは0.3 、積層数は50ペアとし
た。
【0023】本実施例にかかるB/Si多層膜(周期長
153 Å、積層数50ペア)の反射率(R)を波長(単位
Å)に対して描いた曲線(計算値)を図4に示す。波長
284.2Åにおける反射率は約31%であり、波長分解能
は約21である。また、作製した多層膜の垂直入射の軟
X線反射率を放射光を用いて実測したところ、X線望遠
鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射率及び波長分
解能が得られた(反射率26%、波長分解能22)。
【0024】
【実施例3】本実施例では、重原子層としてB、軽原子
層としてMgを用いた。基板1には鏡面研磨した合成石
英を用いた。BとMgの各ターゲットを用いてイオンビ
ームスパッタリングにより、基板1上にB層2とMg層
3とを交互に積層して多層膜を作製した。B/Mg多層
膜の周期長は144 Å、Γは0.2 、積層数は50ペアとし
た。
【0025】本実施例にかかるB/Mg多層膜(周期長
144 Å、積層数50ペア)の反射率(R)を波長(単位
Å)に対して描いた曲線(計算値)を図5に示す。波長
284.2Åにおける反射率は約60%であり、波長分解能
は約22である。また、作製した多層膜の垂直入射の軟
X線反射率を放射光を用いて実測したところ、X線望遠
鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射率及び波長分
解能が得られた(反射率48%、波長分解能23)。
【0026】
【実施例4】本実施例では、重原子層としてLa、軽原
子層としてMgを用いた。基板1には鏡面研磨した合成
石英を用いた。LaとMgの各ターゲットを用いてイオ
ンビームスパッタリングにより、基板1上にLa層2と
Mg層3とを交互に積層して多層膜を作製した。La/
Mg多層膜の周期長は143 Å、Γは0.2 、積層数は50
ペアとした。
【0027】本実施例にかかるLa/Mg多層膜(周期
長143 Å、積層数50ペア)の反射率(R)を波長(単位
Å)に対して描いた曲線(計算値)を図6に示す。波長
284.2 Åにおける反射率は約50%であり、波長分解能
は約28である。また、作製した多層膜の垂直入射の軟
X線反射率を放射光を用いて実測したところ、X線望遠
鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射率及び波長分
解能が得られた(反射率41%、波長分解能29)。
【0028】
【実施例5】本実施例では、重原子層としてSr、軽原
子層としてMgを用いた。基板1には鏡面研磨した合成
石英を用いた。SrとMgの各ターゲットを用いてイオ
ンビームスパッタリングにより、基板1上にSr層2と
Mg層3とを交互に積層して多層膜を作製した。Sr/
Mg多層膜の周期長は143 Å、Γは0.2 、積層数は50
ペアとした。
【0029】本実施例にかかるSr/Mg多層膜(周期
長143 Å、積層数50ペア)の反射率(R)を波長(単位
Å)に対して描いた曲線(計算値)を図7に示す。波長
284.2 Åにおける反射率は約47%であり、波長分解能
は約30である。また、作製した多層膜の垂直入射の軟
X線反射率を放射光を用いて実測したところ、X線望遠
鏡に用いる多層膜反射鏡として充分な反射率及び波長分
解能が得られた(反射率38%、波長分解能31)。
【0030】以上の実施例1〜5では、積層の回数を多
層膜反射鏡の反射率が飽和する値(50ペア)とし、ま
た反射率の中心波長が284.2 Åまたは略284.2 Åになる
ように、積層の周期長と各層厚比の各値の組み合わせを
選択した。
【0031】
【発明の効果】以上のように本発明にかかる多層膜反射
鏡は、軟X線領域において、特に太陽からのX線観測に
おいて重要な波長284.2 Åの鉄の輝線スペクトル(Fe X
V )に対して、高い反射率と高い波長分解能の両方を有
する。従って、本発明にかかる多層膜反射鏡をX線望遠
鏡に用いると、その性能を著しく向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明にかかる多層膜反射鏡(一例)の概
略断面図である。
【図2】は、本発明にかかる多層膜反射鏡(一例、B/
Al)と従来の多層膜反射鏡(一例、Mo/Si)の反
射率と波長分解能を比較した図である。
【図3】は、実施例1のB/Al多層膜の軟X線領域に
おける反射率(計算値)を示す図である。
【図4】は、実施例2のB/Si多層膜の軟X線領域に
おける反射率(計算値)を示す図である。
【図5】は、実施例3のB/Mg多層膜の軟X線領域に
おける反射率(計算値)を示す図である。
【図6】は、実施例4のLa/Mg多層膜の軟X線領域
における反射率(計算値)を示す図である。
【図7】は、実施例5のSr/Mg多層膜の軟X線領域
における反射率(計算値)を示す図である。
【主要部分の符号の説明】
1・・・基板 2・・・重原子層(軟X線領域での屈折率と真空の屈折
率との差が大きい物質の層) 3・・・軽原子層(軟X線領域での屈折率と真空の屈折
率との差が小さい物質の層) 以 上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軟X線領域での屈折率と真空の屈折率と
    の差が小さい物質の第1層と大きい物質の第2層とを基
    板上に交互に積層してなる多層膜反射鏡において、 前記屈折率の差が小さい物質として、Al、Si、また
    はMgを用い、前記屈折率の差が大きい物質として、
    B、La、またはSrを用いたことを特徴とする多層膜
    反射鏡。
  2. 【請求項2】 前記積層の回数を反射率が飽和する値に
    したことを特徴とする請求項1記載の多層膜反射鏡。
  3. 【請求項3】 前記第1層と前記第2層を1層ずつ積層
    した積層体の層厚に相当する前記積層の周期長、及び前
    記第1層と前記第2層との層厚比を反射率の中心波長が
    284.2 Åまたは略284.2 Åになる値の組み合わせにした
    ことを特徴とする請求項1または2記載の多層膜反射
    鏡。
JP6257101A 1994-10-21 1994-10-21 多層膜反射鏡 Pending JPH08122498A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6257101A JPH08122498A (ja) 1994-10-21 1994-10-21 多層膜反射鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6257101A JPH08122498A (ja) 1994-10-21 1994-10-21 多層膜反射鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08122498A true JPH08122498A (ja) 1996-05-17

Family

ID=17301753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6257101A Pending JPH08122498A (ja) 1994-10-21 1994-10-21 多層膜反射鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08122498A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008041382A1 (fr) 2006-09-29 2008-04-10 The University Of Tokyo Film réfléchissant multicouche optique, film d'ensemble de microparticules métalliques et procédé de fabrication de celui-ci

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008041382A1 (fr) 2006-09-29 2008-04-10 The University Of Tokyo Film réfléchissant multicouche optique, film d'ensemble de microparticules métalliques et procédé de fabrication de celui-ci
US7955662B2 (en) 2006-09-29 2011-06-07 The University Of Tokyo Optical multilayer reflective film, and aligned metal particle film and manufacturing process therefor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6643353B2 (en) Protective layer for multilayers exposed to x-rays
US5239566A (en) Multi-layered mirror
JP2007163614A (ja) 多層膜ミラー
US5619382A (en) Reflection type imaging optical system
Lee Uniform and graded multilayers as x-ray optical elements
JPH0534500A (ja) X線多層膜反射鏡
JPH08122498A (ja) 多層膜反射鏡
JPH08122496A (ja) 多層膜反射鏡
US5086443A (en) Background-reducing x-ray multilayer mirror
JP4461652B2 (ja) 多層膜反射鏡及び多層膜反射鏡の製造方法
JPH08122497A (ja) 多層膜反射鏡
JPH06174897A (ja) 多層膜x線ミラーおよび多層膜x線光学系
JPH09113697A (ja) 多層膜反射鏡
US20020089739A1 (en) Wide band normal incident telescope
JPH1054903A (ja) 多層膜反射鏡
JPH08248194A (ja) 多層膜反射鏡
JPH09243811A (ja) 多層膜反射鏡
Catura et al. Calculated performance of a Wolter Type I x-ray telescope coated by multilayers
JP2000089010A (ja) 多層膜反射鏡
JPH1123796A (ja) 多層膜x線反射鏡
Lindblom et al. Performance of the Multi-Spectral Solar Telescope Array IV: the soft x-ray and extreme ultraviolet filters
JPH075297A (ja) X線多層膜反射鏡
JPH0580200A (ja) 軟x線多層膜反射鏡及びこれを用いた光学系
JPH0256000A (ja) 軟x線顕微鏡用多層膜反射鏡
Catura et al. Calculated performance of a Wolter type I X-ray telescope coated by multilayers

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20031224