JPH0254858A - イオンビーム中性化装置 - Google Patents
イオンビーム中性化装置Info
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- JPH0254858A JPH0254858A JP63206106A JP20610688A JPH0254858A JP H0254858 A JPH0254858 A JP H0254858A JP 63206106 A JP63206106 A JP 63206106A JP 20610688 A JP20610688 A JP 20610688A JP H0254858 A JPH0254858 A JP H0254858A
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- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 title 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 claims description 16
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- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 abstract description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 29
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 9
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 4
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、真空プラズマ中から引き出されビームを形
成して走行するイオンがターゲットであるウェーハに打
ち込まれるイオン注入装置に用いられ、前記ビーム (
以下イオンビームと記す)に電子を供給して電子雲を形
成させ、ウェーハに注入されるイオンによる正電荷の帯
電によるウェーハ絶縁膜の絶縁破壊を防止するイオンビ
ーム中性化!1iIFに関する。
成して走行するイオンがターゲットであるウェーハに打
ち込まれるイオン注入装置に用いられ、前記ビーム (
以下イオンビームと記す)に電子を供給して電子雲を形
成させ、ウェーハに注入されるイオンによる正電荷の帯
電によるウェーハ絶縁膜の絶縁破壊を防止するイオンビ
ーム中性化!1iIFに関する。
従来のイオンビーム中性化装置は、例えば第4図に示さ
れるように、図示されない真空プラズマ中から引き出さ
れたイオンが形成するイオンビーム5の両側方に配され
た。熱電子を発生するWフィラメント7と、このWフィ
ラメント7を取り囲んでその直接灼熱輻射と電子衝撃と
からウェーハ3を守る金属遮蔽壁16と、この金属遮蔽
壁16に絶縁物17を介して接する金属壁19とを用い
て形成され、外部の加速電源12.阻止電源15からそ
れぞれ接地電位に対し金属遮蔽壁16に例えば−50(
V)。
れるように、図示されない真空プラズマ中から引き出さ
れたイオンが形成するイオンビーム5の両側方に配され
た。熱電子を発生するWフィラメント7と、このWフィ
ラメント7を取り囲んでその直接灼熱輻射と電子衝撃と
からウェーハ3を守る金属遮蔽壁16と、この金属遮蔽
壁16に絶縁物17を介して接する金属壁19とを用い
て形成され、外部の加速電源12.阻止電源15からそ
れぞれ接地電位に対し金属遮蔽壁16に例えば−50(
V)。
Wフィラメント7に−60ないし−100(V〕の電位
を与えるとともに金属壁19に図示されない電源から−
200(V)の電位を与えることにより、Wフィラメン
ト7から放出された熱電子をイオンビ−ム5に向かって
ほぼこれと垂直の方向に加速してイオンビームに供給し
、電子雲を形成していたく特開昭53−136798号
公報参照)〔発明が解決しようとする課題〕 このような従来のイオンビーム中性化装置における問題
点は次の通りである。すなわち、従来装置においては、
電子雲が形成される場所は、イオンビームに向かって加
速される熱電子が形成する電子線とイオンビームとが交
差する場所であり、イオンビーム中性化装置すなわちい
わゆる電子銃の対面側である。を予震の形成場所はウェ
ーハに近ければ近いほどウェーハ絶縁膜の絶縁破壊防止
効果が大きいので、電子銃も可能なかぎりウェーハ近く
に配するのが望ましい、しかし前述のような構成の中性
化装置では構造的にウェーハへの接近度が制約をうけ、
また接近させえたとしても次のような障害が生じる。
を与えるとともに金属壁19に図示されない電源から−
200(V)の電位を与えることにより、Wフィラメン
ト7から放出された熱電子をイオンビ−ム5に向かって
ほぼこれと垂直の方向に加速してイオンビームに供給し
、電子雲を形成していたく特開昭53−136798号
公報参照)〔発明が解決しようとする課題〕 このような従来のイオンビーム中性化装置における問題
点は次の通りである。すなわち、従来装置においては、
電子雲が形成される場所は、イオンビームに向かって加
速される熱電子が形成する電子線とイオンビームとが交
差する場所であり、イオンビーム中性化装置すなわちい
わゆる電子銃の対面側である。を予震の形成場所はウェ
ーハに近ければ近いほどウェーハ絶縁膜の絶縁破壊防止
効果が大きいので、電子銃も可能なかぎりウェーハ近く
に配するのが望ましい、しかし前述のような構成の中性
化装置では構造的にウェーハへの接近度が制約をうけ、
また接近させえたとしても次のような障害が生じる。
(11熱フイラメントは赤熱されており、熱フイラメン
ト近傍の電極構造物も、熱フィラメントからの輻射熱を
受けて昇温しており、この結果、構造物自体が2次的輻
射熱源となり、熱フィラメントおよび構造物から発生す
る蒸発原子、吸蔵ガスなどによってウェーハ表面が汚染
される。
ト近傍の電極構造物も、熱フィラメントからの輻射熱を
受けて昇温しており、この結果、構造物自体が2次的輻
射熱源となり、熱フィラメントおよび構造物から発生す
る蒸発原子、吸蔵ガスなどによってウェーハ表面が汚染
される。
(2)輻射熱によりウェーハ表面のレジストが溶けてし
まう。
まう。
この発明の目的は、ターゲットであるウェーハ表面を汚
染したり、ウェーハを加熱したりすることなく、ウェー
ハに近いイオンビーム上の部位に電子雲を形成させるこ
とのできるイオンビーム中性化装置を提供することであ
る。
染したり、ウェーハを加熱したりすることなく、ウェー
ハに近いイオンビーム上の部位に電子雲を形成させるこ
とのできるイオンビーム中性化装置を提供することであ
る。
上記課題を解決するために、この発明によれば、イオン
ビーム中性化装置を、イオンビームの側方に配され該イ
オンビームに向かう方向に電子ビームを発生する電子銃
と、この電子銃の電子放出端に配され電子銃から発射さ
れた電子ビームの方向を曲げる静を偏向器とを用いて構
成し、電子銃から発射された電子ビームの方向をターゲ
ット方向へ曲げることによりターゲット近傍に電子雲を
形成させるものとする。
ビーム中性化装置を、イオンビームの側方に配され該イ
オンビームに向かう方向に電子ビームを発生する電子銃
と、この電子銃の電子放出端に配され電子銃から発射さ
れた電子ビームの方向を曲げる静を偏向器とを用いて構
成し、電子銃から発射された電子ビームの方向をターゲ
ット方向へ曲げることによりターゲット近傍に電子雲を
形成させるものとする。
静電偏向器は本来、入射された電子やイオンの進行方向
の変化からその運動エネルギを解析するための装置であ
り、静電偏向器を構成する。平行に対向する1対の電極
板が平行状態を保ちつつ湾曲している場合には、一定範
囲のエネルギを持つものだけが軌道を曲げられて偏向器
を通過することができる。イオンビーム中性化に用いる
電子線の運動エネルギは一定(例えば350eV)であ
るから、この運動エネルギに対応して偏向器の運転条件
を設定すれば、電子線は偏向器内で所望の軌道に沿って
曲がり、偏向器から射出された電子がイオンビームのウ
ェーハ近傍の部位に供給され、ウェーハ近傍に電子雲を
形成させることができる。
の変化からその運動エネルギを解析するための装置であ
り、静電偏向器を構成する。平行に対向する1対の電極
板が平行状態を保ちつつ湾曲している場合には、一定範
囲のエネルギを持つものだけが軌道を曲げられて偏向器
を通過することができる。イオンビーム中性化に用いる
電子線の運動エネルギは一定(例えば350eV)であ
るから、この運動エネルギに対応して偏向器の運転条件
を設定すれば、電子線は偏向器内で所望の軌道に沿って
曲がり、偏向器から射出された電子がイオンビームのウ
ェーハ近傍の部位に供給され、ウェーハ近傍に電子雲を
形成させることができる。
第1図に本発明によるイオンビーム中性化装置構成の一
実施例を示す、イオン注入装置の真空容器1内には、真
空容器外の図示されない駆動モータにより回転軸4を介
して高速で回転駆動されるとともに図の上下方向に回転
軸4とともに低速で並進運動するディスク2の面に、イ
オン注入のターゲットであるウェーハ3が周方向に間隔
をおいて複数固定され、図示されない真空プラズマ中か
ら引き出されウェーハ3に向かって走行するイオンが形
成するイオンビーム5をパルス状に横切うせることによ
りウェーハ3にイオンが注入される。
実施例を示す、イオン注入装置の真空容器1内には、真
空容器外の図示されない駆動モータにより回転軸4を介
して高速で回転駆動されるとともに図の上下方向に回転
軸4とともに低速で並進運動するディスク2の面に、イ
オン注入のターゲットであるウェーハ3が周方向に間隔
をおいて複数固定され、図示されない真空プラズマ中か
ら引き出されウェーハ3に向かって走行するイオンが形
成するイオンビーム5をパルス状に横切うせることによ
りウェーハ3にイオンが注入される。
このイオンビーム5に沿う真空容器の壁には、本発明に
よるイオンビーム中性化装置すなわち電子銃赳を収容す
るための、イオンビーム5側が開放された筒状の容器1
aが形成され、この容器1aの内側に、前記電子銃赳を
構成する、熱電子を発生するフィラメント7と熱電子の
容器la側への移動を阻止する阻止tffi8と熱電子
をイオンビームへ向かって引き出す引出し電極9と、引
出し電極9のイオンビーム側に配され引出し電極9から
イオンビームへ向かって射出される電子ビームの方向を
曲げる。平行に湾曲した偏向電極to、itからなる偏
向器括とが収容されている。
よるイオンビーム中性化装置すなわち電子銃赳を収容す
るための、イオンビーム5側が開放された筒状の容器1
aが形成され、この容器1aの内側に、前記電子銃赳を
構成する、熱電子を発生するフィラメント7と熱電子の
容器la側への移動を阻止する阻止tffi8と熱電子
をイオンビームへ向かって引き出す引出し電極9と、引
出し電極9のイオンビーム側に配され引出し電極9から
イオンビームへ向かって射出される電子ビームの方向を
曲げる。平行に湾曲した偏向電極to、itからなる偏
向器括とが収容されている。
第2図に、電子銃を構成する各電極の電位配置を示す、
フィラメント7と阻止電極8とは同電位に接続されると
ともに真空容器外部の加速電il[12から接地電位よ
り負の電位(−Vf)が与えられ、また、引出し電8i
9には引出し電St3から接地電位より正の電位(V、
)が与えられている。従って、フィラメント7から放出
された熱電子はΔvl−y a + V t +例えば
ΔVl −650(V)により加速され、引出し電極9
からイオンビーム5の方向へ約200■Aの電子ビーム
が射出される。一方、偏向器用を構成する偏向電極IO
と11との間には電源14の出力電圧(Vd)が印加さ
れるとともに、この両偏向t F!a to、 ttの
間に分圧抵抗器を接続してその中点を引出し電極9に接
続している。従って偏向器tilo、11にはそれぞれ
引出し電極9の電位より正側にVd/2だけ高い電位と
、負側にVd/2だけ低い電位が与えられている。ここ
で、Vdは次式:%式%(11 を満足するように設定され、これにより、引出し電極9
から射出される電子ビームが偏向器用を通過することが
できる。ここで、R1,R1はそれぞれ偏向電極10.
11の対向面の曲率半径である0例えば、R+” 3
cm、 R1−5cs、 V t =350 Vに固定
したとき、Vd=350 X 2 x l n5/3−
343 Vに設定すれば電子ビームが偏向電極の円弧の
長さに関係なく偏向器を通過することができる。
フィラメント7と阻止電極8とは同電位に接続されると
ともに真空容器外部の加速電il[12から接地電位よ
り負の電位(−Vf)が与えられ、また、引出し電8i
9には引出し電St3から接地電位より正の電位(V、
)が与えられている。従って、フィラメント7から放出
された熱電子はΔvl−y a + V t +例えば
ΔVl −650(V)により加速され、引出し電極9
からイオンビーム5の方向へ約200■Aの電子ビーム
が射出される。一方、偏向器用を構成する偏向電極IO
と11との間には電源14の出力電圧(Vd)が印加さ
れるとともに、この両偏向t F!a to、 ttの
間に分圧抵抗器を接続してその中点を引出し電極9に接
続している。従って偏向器tilo、11にはそれぞれ
引出し電極9の電位より正側にVd/2だけ高い電位と
、負側にVd/2だけ低い電位が与えられている。ここ
で、Vdは次式:%式%(11 を満足するように設定され、これにより、引出し電極9
から射出される電子ビームが偏向器用を通過することが
できる。ここで、R1,R1はそれぞれ偏向電極10.
11の対向面の曲率半径である0例えば、R+” 3
cm、 R1−5cs、 V t =350 Vに固定
したとき、Vd=350 X 2 x l n5/3−
343 Vに設定すれば電子ビームが偏向電極の円弧の
長さに関係なく偏向器を通過することができる。
静電偏向器は、本来、第3図に示すように、偏向角度す
なわち入射方向と射出方向とのなす角度、すなわち偏向
器の入射面と射出面とのなす角度が127度で使用され
ている。そして、この127度偏向器の各電極と電子銃
の各電極との電位が上述の数値例のように与えられた場
合、この127度の範囲を通過することのできる電子ビ
ームの入射点における最大集束角度は、電子ビームが偏
向器の入射面に垂直に入射するとして入射面への垂線に
対し11度である。すなわち、入射面における電子ビー
ムの集束角度が11度以下であれば、電子ビームは入射
後、入射時の集束角度を狭めながら少なくとも127
Itまでは次の集束点を作ることなく偏向器内を1jl
i!する。このことはまた、入射される電子ビームが平
行ビームの場合には、入射角が11度以下であれば、電
子ビームは偏向角度127度の偏向器を遭遇できること
を意味する。
なわち入射方向と射出方向とのなす角度、すなわち偏向
器の入射面と射出面とのなす角度が127度で使用され
ている。そして、この127度偏向器の各電極と電子銃
の各電極との電位が上述の数値例のように与えられた場
合、この127度の範囲を通過することのできる電子ビ
ームの入射点における最大集束角度は、電子ビームが偏
向器の入射面に垂直に入射するとして入射面への垂線に
対し11度である。すなわち、入射面における電子ビー
ムの集束角度が11度以下であれば、電子ビームは入射
後、入射時の集束角度を狭めながら少なくとも127
Itまでは次の集束点を作ることなく偏向器内を1jl
i!する。このことはまた、入射される電子ビームが平
行ビームの場合には、入射角が11度以下であれば、電
子ビームは偏向角度127度の偏向器を遭遇できること
を意味する。
しかし、本発明のように、イオンビームに電子を供給す
る場合には、電子ビームの集束点をイオンビーム上に作
る必要はなく、電子ビームがウェーハ近傍に到達すれば
十分目的が達せられるから、偏向電極to、11の円弧
の長さをたとえば60度程度相当とし、この角度で電子
ビームが射出されたときに電子ビームがウェーハ近傍に
到達するようにする。
る場合には、電子ビームの集束点をイオンビーム上に作
る必要はなく、電子ビームがウェーハ近傍に到達すれば
十分目的が達せられるから、偏向電極to、11の円弧
の長さをたとえば60度程度相当とし、この角度で電子
ビームが射出されたときに電子ビームがウェーハ近傍に
到達するようにする。
以上に述べたように、本発明によれば、イオンビーム中
性化装置を、イオンビームの側方に配され該イオンビー
ムに向かう方向に電子ビームを発生する電子銃と、この
電子銃の電子放出端に配され電子銃から発射された電子
ビームの方向を曲げる静電偏向器とを用いて構成し、電
子銃から発射された電子ビームの方向をターゲット方向
へ曲げることによりターゲット近傍に′;子予震形成さ
せるようにしたので、高温に加熱さ′、る熱フィラメン
トや構造物を有する電子銃をウェーハから離れた位置に
設置することが可能となり、熱フィラメントや構造物か
ら発生する蒸発原子や吸蔵ガスなどによるウェーハの汚
染や、熱フィラメントあるいは構造物からの熱輻射によ
るウェーハ表面のレジスト溶解などの障害を伴うことな
く、ウェーハvA縁膜の絶縁破壊防止効果の大きい、ウ
ェーハ上に帯電する正電荷の中和が可能となる。さらに
、本発明の装置構成において、電子銃の電極を冷却構造
にすれば、ウェーハの汚染やウェーハ表面のレジスト溶
解などの障害をさらに軽減することができる。
性化装置を、イオンビームの側方に配され該イオンビー
ムに向かう方向に電子ビームを発生する電子銃と、この
電子銃の電子放出端に配され電子銃から発射された電子
ビームの方向を曲げる静電偏向器とを用いて構成し、電
子銃から発射された電子ビームの方向をターゲット方向
へ曲げることによりターゲット近傍に′;子予震形成さ
せるようにしたので、高温に加熱さ′、る熱フィラメン
トや構造物を有する電子銃をウェーハから離れた位置に
設置することが可能となり、熱フィラメントや構造物か
ら発生する蒸発原子や吸蔵ガスなどによるウェーハの汚
染や、熱フィラメントあるいは構造物からの熱輻射によ
るウェーハ表面のレジスト溶解などの障害を伴うことな
く、ウェーハvA縁膜の絶縁破壊防止効果の大きい、ウ
ェーハ上に帯電する正電荷の中和が可能となる。さらに
、本発明の装置構成において、電子銃の電極を冷却構造
にすれば、ウェーハの汚染やウェーハ表面のレジスト溶
解などの障害をさらに軽減することができる。
第1図は本発明によるイオンビーム中性化装置構成の一
実施例を示すイオン注入装置要部の説明断面図、第2図
は第1図に示すイオンビーム中性化装置を構成する各電
極の電位配置を示す接続図、第3図は本発明における静
電偏向器の作用を説明する線図、第4図は従来のイオン
ビーム中性化装置の構成例を示す縦断面図である。 1:真空容器、3:ウェーハ、5:イオンビーム、6:
電子ビーム、7:フィラメント、8:阻止電極、9:引
出し電極、10,11:偏向電極、銭:偏向器(静電偏
向器)、銭:電子銃。 第1図 第2図
実施例を示すイオン注入装置要部の説明断面図、第2図
は第1図に示すイオンビーム中性化装置を構成する各電
極の電位配置を示す接続図、第3図は本発明における静
電偏向器の作用を説明する線図、第4図は従来のイオン
ビーム中性化装置の構成例を示す縦断面図である。 1:真空容器、3:ウェーハ、5:イオンビーム、6:
電子ビーム、7:フィラメント、8:阻止電極、9:引
出し電極、10,11:偏向電極、銭:偏向器(静電偏
向器)、銭:電子銃。 第1図 第2図
Claims (1)
- 1)真空プラズマ中から引き出されターゲットに向かっ
て走行するイオンが形成するイオンビームに電子を供給
し、ターゲット上に帯電するイオンの正電荷を中和する
イオンビーム中性化装置において、前記イオンビームの
側方に配され該イオンビームに向かう方向に電子ビーム
を発生する電子銃と、この電子銃の電子放出端に配され
電子銃から発射された電子ビームの方向を曲げる静電偏
向器とを備え、電子銃から発射された電子ビームの方向
をターゲット方向へ曲げることによりターゲット近傍に
電子雲を形成させることを特徴とするイオンビーム中性
化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63206106A JPH0254858A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | イオンビーム中性化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63206106A JPH0254858A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | イオンビーム中性化装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0254858A true JPH0254858A (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=16517901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63206106A Pending JPH0254858A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | イオンビーム中性化装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0254858A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0473847A (ja) * | 1990-07-12 | 1992-03-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子照射装置 |
CN108242379A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 无锡中微掩模电子有限公司 | 一种环形电子枪 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5690434A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-22 | Hitachi Ltd | Optical information reproducing device |
JPS57199903A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detector |
JPS5826331A (ja) * | 1981-08-11 | 1983-02-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光学ヘツド |
JPS59152543A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-08-31 | Toshiba Corp | 光学式デイスクレコ−ド再生装置 |
JPS618745A (ja) * | 1984-06-20 | 1986-01-16 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式情報再生装置 |
-
1988
- 1988-08-19 JP JP63206106A patent/JPH0254858A/ja active Pending
Patent Citations (5)
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CN108242379A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 无锡中微掩模电子有限公司 | 一种环形电子枪 |
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