JPH0249541B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0249541B2 JPH0249541B2 JP59263564A JP26356484A JPH0249541B2 JP H0249541 B2 JPH0249541 B2 JP H0249541B2 JP 59263564 A JP59263564 A JP 59263564A JP 26356484 A JP26356484 A JP 26356484A JP H0249541 B2 JPH0249541 B2 JP H0249541B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- case
- electrode
- plate
- metal base
- external electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/049—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body the other leads being perpendicular to the base
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置に関し、特に電子機器
などに使用される電力用半導体モジユールの小形
化、高密度化に関するものである。
などに使用される電力用半導体モジユールの小形
化、高密度化に関するものである。
近年、電子機器の発展は著しく、その小形軽量
化が急速に進んでいる。これらの基をなくすの
は、半導体装置の小形化及び信頼性の向上であ
る。この中でも特にこの種半導体装置の、トラン
ジスタの高耐圧化、同電流化に伴う電力用半導体
装置への応用が活発になつており、小形軽量化を
図つた電力用半導体モジユールの分野へのトラン
ジスタの適用も多くなつてきている。
化が急速に進んでいる。これらの基をなくすの
は、半導体装置の小形化及び信頼性の向上であ
る。この中でも特にこの種半導体装置の、トラン
ジスタの高耐圧化、同電流化に伴う電力用半導体
装置への応用が活発になつており、小形軽量化を
図つた電力用半導体モジユールの分野へのトラン
ジスタの適用も多くなつてきている。
第4図は従来のよく知られているトランジスタ
モジユールの回路を示し、図中太線で示した部分
は主回路部分に相当し、これらは大電流を流す必
要がある箇所である。Q1,Q2は電力用ダーリ
ントントランジスタ、B1,B2は該電力用トラ
ンジスタQ1,Q2のベース入力端子、Cはトラ
ンジスタQ1のコレクタ電極端子、CEはトラン
ジスタQ1のエミツタ電極端子であり、トランジ
スタQ2のコレクタ電極端子である。Eはトラン
ジスタQ2のエミツタ電極端子である。
モジユールの回路を示し、図中太線で示した部分
は主回路部分に相当し、これらは大電流を流す必
要がある箇所である。Q1,Q2は電力用ダーリ
ントントランジスタ、B1,B2は該電力用トラ
ンジスタQ1,Q2のベース入力端子、Cはトラ
ンジスタQ1のコレクタ電極端子、CEはトラン
ジスタQ1のエミツタ電極端子であり、トランジ
スタQ2のコレクタ電極端子である。Eはトラン
ジスタQ2のエミツタ電極端子である。
第5図は従来の半導体装置、即ちトランジスタ
モジユールの組立途中の平面図であり、金属ベー
ス板1上にアルミナ材などからなる絶縁基板(セ
ラミツク基板)2を、その上に銅電極板3を、そ
の上にはモリブデン板6に予めハンダ付けしたト
ランジスタチツプ7と銅ブロツク8に予めハンダ
付けしたダイオードチツプ9及び絶縁基板(端子
用セラミツク基板)4,5を載せその上に外部電
極端子10〜12と、予めスピードアツプダイオ
ード15をハンダ付けした外部電極端子13,1
4を同時にハンダ付けする。
モジユールの組立途中の平面図であり、金属ベー
ス板1上にアルミナ材などからなる絶縁基板(セ
ラミツク基板)2を、その上に銅電極板3を、そ
の上にはモリブデン板6に予めハンダ付けしたト
ランジスタチツプ7と銅ブロツク8に予めハンダ
付けしたダイオードチツプ9及び絶縁基板(端子
用セラミツク基板)4,5を載せその上に外部電
極端子10〜12と、予めスピードアツプダイオ
ード15をハンダ付けした外部電極端子13,1
4を同時にハンダ付けする。
その後、アルミニウムワイヤによりアルミニウ
ム超音波ボンデイング(図示せず)を行ない、第
6図のように外部電極端子10〜14を垂直に曲
げる。その後第7図bの側面図のように金属ベー
ス板1にケース16を接着剤で接着し、オーブン
の中に入れキユアをした後、シリコンゲルをアル
ミニウムワイヤがかくれるまで入れキユアを行な
う。その後エポキシ樹脂を入れ第7図aに示すフ
タ17をかぶせてキユアを行なう。
ム超音波ボンデイング(図示せず)を行ない、第
6図のように外部電極端子10〜14を垂直に曲
げる。その後第7図bの側面図のように金属ベー
ス板1にケース16を接着剤で接着し、オーブン
の中に入れキユアをした後、シリコンゲルをアル
ミニウムワイヤがかくれるまで入れキユアを行な
う。その後エポキシ樹脂を入れ第7図aに示すフ
タ17をかぶせてキユアを行なう。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかるに従来の装置は、外部電極端子10〜1
4をハンダ付けする場合においては外部電極端子
10〜14の位置決めに治具を必要としたり、ア
ルミニウムワイヤボンデイング後外部電極端子1
0〜14を垂直に曲げる場合、アルミニウムワイ
ヤがあるため非常に曲げにくく、またケース接
着、フタ取付け等組立てにおいて多くの工数を必
要とする等の欠点があつた。
4をハンダ付けする場合においては外部電極端子
10〜14の位置決めに治具を必要としたり、ア
ルミニウムワイヤボンデイング後外部電極端子1
0〜14を垂直に曲げる場合、アルミニウムワイ
ヤがあるため非常に曲げにくく、またケース接
着、フタ取付け等組立てにおいて多くの工数を必
要とする等の欠点があつた。
この発明は上記の従来の欠点を解消するために
なされたもので、外部電極端子の位置決めを容易
にでき、さらには組立工数を減少できる半導体装
置を得ることを目的とするものである。
なされたもので、外部電極端子の位置決めを容易
にでき、さらには組立工数を減少できる半導体装
置を得ることを目的とするものである。
この発明に係る半導体装置は、その上に順次絶
縁基板、電極板、及びモリブデン板にハンダ付け
された半導体チツプがハンダ付けされた金属ベー
ス板と、下方から外部電極端子がインサートされ
たケースとを備え、該ケースを上記金属ベース板
にはめ込み両者間に樹脂を封止してなるものであ
る。
縁基板、電極板、及びモリブデン板にハンダ付け
された半導体チツプがハンダ付けされた金属ベー
ス板と、下方から外部電極端子がインサートされ
たケースとを備え、該ケースを上記金属ベース板
にはめ込み両者間に樹脂を封止してなるものであ
る。
この発明においては、上記金属ベース板に上記
ケースをはめ込むことにより自動的に外部電極端
子の位置決めができるから、組立において多くの
治具を必要とせず、またケース、金属ベース板、
外部電極端子が一体化されているから、組立工数
を大幅に減少できる。
ケースをはめ込むことにより自動的に外部電極端
子の位置決めができるから、組立において多くの
治具を必要とせず、またケース、金属ベース板、
外部電極端子が一体化されているから、組立工数
を大幅に減少できる。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第1図は本発明の一実施例による半導体装置の
外部電極インサートケースの斜視図、第2図はこ
れと一体化して形成された金属ベース板の斜視
図、第3図aは上記外部電極インサートケースの
平面図、第3図bはその側面図である。
外部電極インサートケースの斜視図、第2図はこ
れと一体化して形成された金属ベース板の斜視
図、第3図aは上記外部電極インサートケースの
平面図、第3図bはその側面図である。
第1図において、18は外部電極インサートケ
ース、10〜14は該ケース18に取付けられた
外部電極端子であり、各々コレクタ電極、コレク
タ・第一エミツタ電極、第2エミツタ電極、第1
ベース電極、第2ベース電極となつており、これ
らは上記ケース18の下方からこれに垂直にイン
サートされて成形されている。19は最終組立時
にゲル及び樹脂を注入する注入口である。
ース、10〜14は該ケース18に取付けられた
外部電極端子であり、各々コレクタ電極、コレク
タ・第一エミツタ電極、第2エミツタ電極、第1
ベース電極、第2ベース電極となつており、これ
らは上記ケース18の下方からこれに垂直にイン
サートされて成形されている。19は最終組立時
にゲル及び樹脂を注入する注入口である。
第2図において、第5,6図と同一符号は同一
又は相当部分を示し、10cはコレクタ電極、1
1cはコレクタ電極、11eは第1エミツタ電
極、12eは第2エミツタ電極、13bは第1ベ
ース電極、14bは第2ベース電極である。
又は相当部分を示し、10cはコレクタ電極、1
1cはコレクタ電極、11eは第1エミツタ電
極、12eは第2エミツタ電極、13bは第1ベ
ース電極、14bは第2ベース電極である。
次に、上記半導体装置の組立てについて説明す
る。第2図はトランジスタモジユールの場合を示
し、金属ベース板1上の絶縁基板2を置く位置に
は、予めフラツクス入りハンダ板又はクリーム状
のハンダをハンダ印刷しておく。絶縁基板2にも
同様にその上の銅電極板3を置く位置には、予め
ハンダを付けておく。さらに銅電極板3も同様に
端子用セラミツク基板4,5、モリブデン板6、
銅ブロツク8及びコレクタ電極10c,11cを
置く位置には予めハンダを付けておく。なお、ト
ランジスタチツプ7はモリブデン板6に、ダイオ
ードチツプ9は銅ブロツク8に予めそれぞれ水素
炉により高温ハンダでハンダ付けしておく。端子
用セラミツク基板4,5には、第1エミツタ電極
11e、第2エミツタ電極12e、第1ベース電
極13b及び第2ベース電極14bを置く位置に
予めハンダを付けておく。なお、第1ベース電極
13b、第2ベース電極14bには、予め中温ハ
ンダによりスピードアツプダイオードチツプ15
を付けておく。
る。第2図はトランジスタモジユールの場合を示
し、金属ベース板1上の絶縁基板2を置く位置に
は、予めフラツクス入りハンダ板又はクリーム状
のハンダをハンダ印刷しておく。絶縁基板2にも
同様にその上の銅電極板3を置く位置には、予め
ハンダを付けておく。さらに銅電極板3も同様に
端子用セラミツク基板4,5、モリブデン板6、
銅ブロツク8及びコレクタ電極10c,11cを
置く位置には予めハンダを付けておく。なお、ト
ランジスタチツプ7はモリブデン板6に、ダイオ
ードチツプ9は銅ブロツク8に予めそれぞれ水素
炉により高温ハンダでハンダ付けしておく。端子
用セラミツク基板4,5には、第1エミツタ電極
11e、第2エミツタ電極12e、第1ベース電
極13b及び第2ベース電極14bを置く位置に
予めハンダを付けておく。なお、第1ベース電極
13b、第2ベース電極14bには、予め中温ハ
ンダによりスピードアツプダイオードチツプ15
を付けておく。
上記のように予め低温のフラツクス入りハンダ
板又は低温クリームハンダをハンダ印刷したもの
を第2図のように載せてホツトプレート又はリフ
ロー炉に流してハンダ付けをする。そしてその
後、外部電極インサートケース18の金属ベース
板1の周辺に相当する所を接着剤をコートし外部
電極端子10〜14の先端に低温のクリームハン
ダをデイスペンサーを使用しハンダ塗布を行な
い、第2図において組立てたものの上に第1図の
ケースをかぶせてホツトプレート上で数分間置
き、外部電極のハンダ付けとケースの接着を行な
う。その後、第3図aのゲル注入口19よりデイ
スペンサーによりゲルを注入しキユアを行なう。
次にデイスペンサーによりエポキシ樹脂を注入し
てキユアを行なう。
板又は低温クリームハンダをハンダ印刷したもの
を第2図のように載せてホツトプレート又はリフ
ロー炉に流してハンダ付けをする。そしてその
後、外部電極インサートケース18の金属ベース
板1の周辺に相当する所を接着剤をコートし外部
電極端子10〜14の先端に低温のクリームハン
ダをデイスペンサーを使用しハンダ塗布を行な
い、第2図において組立てたものの上に第1図の
ケースをかぶせてホツトプレート上で数分間置
き、外部電極のハンダ付けとケースの接着を行な
う。その後、第3図aのゲル注入口19よりデイ
スペンサーによりゲルを注入しキユアを行なう。
次にデイスペンサーによりエポキシ樹脂を注入し
てキユアを行なう。
このように本実施例を装置では、下方から外部
電極端子がインサートされたケースと金属ベース
板を一体化するようにしたので、金属ベース板に
ケースをはめ込むことにより外部電極端子の位置
決めを治具によらず自動的にでき、また上記端子
はケースと垂直にインサートされているので、該
端子を曲げる必要がなく、さらにケースと金属ベ
ース板が一体化しているため大幅に組立工数を減
少できる。
電極端子がインサートされたケースと金属ベース
板を一体化するようにしたので、金属ベース板に
ケースをはめ込むことにより外部電極端子の位置
決めを治具によらず自動的にでき、また上記端子
はケースと垂直にインサートされているので、該
端子を曲げる必要がなく、さらにケースと金属ベ
ース板が一体化しているため大幅に組立工数を減
少できる。
なお、上記実施例ではトランジスタモジユール
の場合を説明したが、ダイオードモジユール、サ
イリスタモジユール、そしてそれらの混合モジユ
ールを組立てる場合においても上記実施例で用い
た外部電極インサートケースを用いることができ
るのはいうまでもない。
の場合を説明したが、ダイオードモジユール、サ
イリスタモジユール、そしてそれらの混合モジユ
ールを組立てる場合においても上記実施例で用い
た外部電極インサートケースを用いることができ
るのはいうまでもない。
以上のように、この発明によれば、下方から外
部電極端子がインサートされたケースと金属ベー
ス板を一体化して半導体装置を形成するようにし
たので、ケース接着、フタ取付け、端子曲げ等の
組立工数を減少でき、また組立時における複雑な
治工具等を必要としないため、安価にモジユール
が製作できる効果がある。
部電極端子がインサートされたケースと金属ベー
ス板を一体化して半導体装置を形成するようにし
たので、ケース接着、フタ取付け、端子曲げ等の
組立工数を減少でき、また組立時における複雑な
治工具等を必要としないため、安価にモジユール
が製作できる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置
のケースの斜視図、第2図は本実施例装置の金属
ベース板の斜視図、第3図aは上記ケースの平面
図、第3図bはその側面図、第4図は本半導体装
置に使用したトランジスタモジユールの回路図、
第5図は従来の半導体装置の組立途中の平面図、
第6図はその斜視図、第7図a,bは従来装置の
フタ、ケースの各々の側面図である。 1……金属ベース板、2……絶縁基板、3……
銅電極板、6……モリブデン板、7……半導体チ
ツプ、10〜14……外部電極端子、18……ケ
ース。なお図中同一符号は同一又は相当部分を示
す。
のケースの斜視図、第2図は本実施例装置の金属
ベース板の斜視図、第3図aは上記ケースの平面
図、第3図bはその側面図、第4図は本半導体装
置に使用したトランジスタモジユールの回路図、
第5図は従来の半導体装置の組立途中の平面図、
第6図はその斜視図、第7図a,bは従来装置の
フタ、ケースの各々の側面図である。 1……金属ベース板、2……絶縁基板、3……
銅電極板、6……モリブデン板、7……半導体チ
ツプ、10〜14……外部電極端子、18……ケ
ース。なお図中同一符号は同一又は相当部分を示
す。
Claims (1)
- 1 その上に絶縁基板がハンダ付けされ、該絶縁
基板上に電極板がハンダ付けされ、該電極板上に
モリブデン板にハンダ付けされた半導体チツプが
ハンダ付けされた金属ベース板と、下方から外部
電極端子がインサートされたケースとを備え、上
記ケースを上記金属ベース板にはめ込み両者間に
樹脂を封止してなることを特徴とする半導体装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59263564A JPS61140158A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59263564A JPS61140158A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61140158A JPS61140158A (ja) | 1986-06-27 |
JPH0249541B2 true JPH0249541B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=17391295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59263564A Granted JPS61140158A (ja) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61140158A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01179440A (ja) * | 1988-01-07 | 1989-07-17 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
-
1984
- 1984-12-12 JP JP59263564A patent/JPS61140158A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61140158A (ja) | 1986-06-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH07240497A (ja) | パワー半導体モジュールおよびそれに使用する絶縁金属基板 | |
US4970576A (en) | Power semiconductor module and method for producing the module | |
JPS62202548A (ja) | 半導体装置 | |
JPH07153907A (ja) | 電力用半導体モジュール | |
JPH0249541B2 (ja) | ||
JPS60157243A (ja) | 半導体装置 | |
JP3619708B2 (ja) | パワー半導体モジュール | |
JPH0661372A (ja) | ハイブリッドic | |
KR100244826B1 (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
JPH0278265A (ja) | リードフレームおよびそのリードフレームを使用した複合半導体装置 | |
JPH05226575A (ja) | 半導体装置 | |
JP7322369B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2975782B2 (ja) | 混成集積回路装置およびこれに用いるケース材 | |
JP2721790B2 (ja) | 半導体装置の封止方法 | |
JP2879503B2 (ja) | 面実装型電子回路装置 | |
JPS615535A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0122260Y2 (ja) | ||
JPH02154457A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0458189B2 (ja) | ||
JPS63250164A (ja) | ハイパワ−用混成集積回路基板とその集積回路 | |
JPH0340440A (ja) | 樹脂封止型混成集積回路及びその製造方法 | |
JPH0451488Y2 (ja) | ||
JP2539144Y2 (ja) | 半導体モジュール | |
JPH0442942Y2 (ja) | ||
JPH06291433A (ja) | 混成集積回路 |