JPH0249297A - 記憶装置 - Google Patents

記憶装置

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JPH0249297A
JPH0249297A JP63200781A JP20078188A JPH0249297A JP H0249297 A JPH0249297 A JP H0249297A JP 63200781 A JP63200781 A JP 63200781A JP 20078188 A JP20078188 A JP 20078188A JP H0249297 A JPH0249297 A JP H0249297A
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JP
Japan
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data
shift
circuit
row
shift register
Prior art date
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Pending
Application number
JP63200781A
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English (en)
Inventor
Setsushi Kamuro
節史 禿
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Publication of JPH0249297A publication Critical patent/JPH0249297A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は記憶装置に関し、特に、シリアルデータを扱う
分野において用いられる記憶装置に関する。
(従来の技術) 従来の記憶装置の一例として、典型的な読み出し専用メ
モリ(ROM )の概略ブロック図を第6図に示す。こ
のROMは多数のメモリセルを含むROMセル部611
行アドレスデコーダ625列アドレスデコーダ/センス
アンプ部63.及びアドレスバッファ65を備えている
。ROMセル部61は複数の行及び複数の列を有してお
り、ROM、セル部61内のメモリセルは行と列とを指
定することによって特定される。行アドレスデコーダ6
2は、アドレスバッファ65に入力されるアドレスへ〇
〜へ〇の一部分をデコードし、該アドレスによって指定
されている行を選択する。選択された行のデータはデー
タバス64上に読み出される。列アドレスデコーダ/セ
ンスアンプ部63は、アドレスへ。〜A、、の残りの部
分をデコードし、読み出されたデータの中から該アドレ
スによって指定されている列のデータを選択。
増幅し、データ出力線り。−D、に出力する。
第7図に、 ROM内蔵型マイクロコンピュータに内蔵
されているROMの一例の概略ブロック図を示す。この
ようなROMは通常、プログラムを格納するために用い
られる。第7図のROMの基本的構成は第6図に示した
ROMのそれと同様であるが、アドレスバッファは省略
されており1行アドレスデコーダ62及び列アドレスデ
コーダ/センスアンプ部63にはプログラムカウンタ6
6からアドレスが直接与えられる。
上で説明したROMに代表される従来の記憶装置は、詳
しくは、外部からアドレスを与えることによってメモリ
セル部(ROMセル部61)内の任意の位置に記憶され
ているデータを任意の時点で取り出すことができるラン
ダムアクセス型の記憶装置ということができる。
(発明が解決しようとする課題) このような記憶装置は様々なタイプのデータの記憶に用
いられるが、データの中には音楽や音声等の本質的にシ
リアルなデータも存在する。このようなデータを記憶す
る記憶装置においては、データはシリアルに読み出すこ
とができればよくランダムアクセスの機能は必要でない
。従来の記憶装置は、ランダムアクセスを実現するため
に行アドレスデコーダや列アドレスデコーダを備えてお
り、そのために回路構成が複雑になっている。
従って、従来の記憶装置は、シリアルデータを扱うとい
う用途では高価でありかつチップ面積も大きいという欠
点を有していた。
第8図は、第6図に示した従来のROMにおける行アド
レスデコーダ62のCMOS構成による回路例の一部を
示している。この回路は、  n−MOS )ランジス
タロ21゜〜621j及び叶MOSトランジスタ622
゜〜622.で構成されるNAND回路と2行選択バッ
ファ回路(インバータ)620とを有している。n−M
OSトランジスタ621□ (1=0+・・・、j)及
びp−MOS  )ランジスタロ22□(i=o、・・
・、j)のゲートには、アドレス^、又はπが印加され
る。n−MOS )ランジスタロ21゜〜621.の全
てのゲート電圧が「1」になると1行選沢信号札が1に
なり、h番目の行が選択される。第8図から分かるよう
に2行アドレスデコーダ62においてROMセル部61
の1行に付き必要なトランジスタ数は2(j+1)とな
る。即ち、アドレスのビット数が増加すると1行当りに
必要なトランジスタ数はそれに比例して増大する。行ア
ドレスデコーダの構成は他のタイプの記憶装置において
も同様である。このように、従来の記憶装置では、集積
度が高まるに従ってランダムアクセスを実現するための
回路が一層複雑になる。
本発明はこのような現状に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、ランダムアクセス機能は有し
ないが、製造コスト及びチップ面積が小さく、シリアル
データを扱う分野に適した記憶装置を提供することにあ
る。
(課題を解決するための手段) 本発明の記憶装置は、複数の行および複数の列を有する
メモリセル部と、シフト動作することによって該メモリ
セル部の行および列のいずれか一方を所定の順序で逐次
選択する選択手段とを備えており、そのことにより上記
目的が達成される。
(実施例) 以下に本発明を実施例について説明する。
本発明の一実施例であるROMの概略ブロック図を第1
図に示す。このROMは、 ROMセル部11行選択シ
フト回路2及び列選択回路/センスアンプ部3を備えて
いる。ROMセル部1は従来のROM (第6図)のR
OMセル部61と同様である。行選択シフト回路2は、
シフト動作を行うことによってROMセル部1の行を所
定の順序で逐次選択する。本実施例では行選択シフト回
路2のシフト動作は後に詳述するように外部から入力さ
れる制御信号に基づいて行われる。ROMセル部1の選
択された行のデータはデータ線の集まりであるデータバ
ス4上に読み出され2列選択回路/センスアンプ部3へ
転送される。列選択回路/センスアンプ部3は転送され
たデータの中から外部へ出力すべき列のデータを選択、
増幅し、データ出力線D0〜D、に出力する。
行選択シフト回路2は、シフトレジスタ、電荷転送素子
等のデータをシフトする機能を有するデバイスを利用し
て実現することができる。シフトレジスタを用いた行選
択シフト回路2の実施例を第2図に示す。この行選択シ
フト回路2の中心をなすのは、n個のシフトレジスタS
t?、〜SR,lが直列に接続されて構成されている回
路である。ここでnはROMセル部1の行の総数である
。各シフトレジスタの出力データ5Dt(i・1〜n)
はバッファ回路25.を介してROMセル部1の行選択
線(又はワード線)−3へ出力される。行選択線が「1
」になった行が選択される。シフトレジスタSR,〜S
R。
は全て同一の構成を有している。例えばシフトレジスタ
SRI は、2個のインバータ11L112と2個のM
OSスイッチ113.114とが交互に接続されて構成
されている。インバータ112の出力信号が次段のシフ
トレジスタSR2に入力される。
外部から入力される制御信号にはクロ・ンクφ1及びφ
2.スタート信号5TART並びにリセ・ント信号R3
Tがある。クロックφ、及びφ2はORゲート23及び
24をそれぞれ介して全てのシフトレジスタSR,−5
Rゎに入力される。これらのクロックφ1.φ2に応じ
てシフト動作が行われる。シフトレジスタSR,につい
て述べれば、クロックφ。
が「1」の時にMOSスイッチ113が導通し、入力デ
ータSDoがインバータ111に入力される。またクロ
ックφ2が「1」の時にMOSスイ・ンチ114が導通
し、インバータ111の出力がインバータ112によっ
て反転されて次段のシフトレジスタSR,への入力デー
タSD+になる。最終段のシフトレジスタSR,の出力
信号SD、はORゲート20及びANDゲート22を介
して初段のシフトレジスタSR+ に戻されており、シ
フトレジスタSR,−3RI、はループを形成している
。従って、クロックφ2.φ2が連続して入力されると
上記ループを同じデータが回り続ける。スタート信号5
TARTはORゲート20及び^NDゲート22を介し
て初段のシフトレジスタSRI に人力されている。リ
セット信号RSTはインバータ21及びANDゲート2
2を介して初段のシフトレジスタSR+に入力されてい
る。リセット信号R5Tはまた。
ORゲート23及び24にも入力されている。
上述した行選択シフト回路2の動作を第3図のタイミン
グチャートを参照しながら説明する。第3図に示すよう
に、クロックφ3.φ2としては2相クロツクが入力さ
れる。まず、リセ・ント信号RSTが「1」にされると
、シフトレジスタSR,への入力データSDoが「0」
になるとともに、 ORゲート23.24の出力φ1”
、φ2°が「1」になることによりシフトレジスタSR
,−5R,1の全てのMOSスイッチが導通ずるため、
全てのシフトレジスタSR〜SR,の出力データ5DI
−SD、は「0」となる。
このようにして行選択シフト回路2はリセット状態とな
る。リセット信号R5T  が「0」に戻されてリセッ
ト状態が解除された後に、スタート信号5TARTがク
ロックの1サイクルにわたって「l」にされると、この
データ「1」が初段のシフトレジスタSR+に取り込ま
れる。その後、クロ・ンクの1サイクル毎に上記データ
「1」が次段のシフトレジスタへシフトしてゆく。デー
タ「1」がシフトレジスタSR,からシフトレジスタS
R,,迄シフトして1サイクルが終了すると、データ「
1」は初段のシフトレジスタSRIへ戻される。従って
9次にリセット信号RSTが「1」にされるまでデータ
「1」が循環する。このようにして行選択シフト回路2
によりROMセル部1の行が順々にかつ繰返し選択され
る。
第3図に示した動作は行選択シフト回路2の動作の一例
である。2相クロツクは必須ではない。
クロックφ5.φ2の一方として1相クロ・ンクを印加
し、他方はその逆位相のクロ・ンクとしてもよい。また
、最終段のシフトレジスタSR,の出力データを初段の
シフトレジスタSRIに帰還させているが このように
する代わりに、1サイクルのシフトが開始する度に、ス
タート信号5TARTを「1」にすることによって初段
のシフトレジスタ51?、にデータ「1」を与えてもよ
い。
行選択シフト回路2の構成は第2図に示したものに限ら
れるものではない。第2図に図示した回路ではシフトレ
ジスタSR,〜5Rfiにダイナミック型シフトレジス
タが用いられているが、スタティック型シフトレジスタ
や中間的な擬似スタティック型シフトレジスタも勿論使
用することができる。
シフトレジスタをリセットする手段としては、上述した
手段を用いずにリセット端子の付いたシフトレジスタを
使用してもよい。
行選択シフト回路2に要求される機能は、−時にROM
セル部1の一行を選択できること及び選択する行をクロ
ック、同期信号等に従って順にシフトすることができる
ことである。よって1行選択シフト回路2はこのような
機能を有する他のデバイス、例えばCCD (Char
ge Coupled Device ) 。
BBD (Bucket Brigade Devic
e )等を含む電荷転送素子を用いて構成することもで
きる。
本実施例の行選択シフト回路2に必要なトランジスタ数
は、シフトレジスタ1段当り、即ちROMセル部1の1
行当り6個である( MOSスイッチ1個に付きトラン
ジスタ1個、インバータ1個に付きトランジスタ2個が
用いられる)。しかも、1行当りのトランジスタ数はR
OMセル部1の行数に無関係で一定である。従来のRO
Mにおいては前述したように一行当り21個(iはアド
レス線の数)のトランジスタが必要であった。アドレス
線の数は通常10程度であることを考えると1行選択の
ための回路は本実施例の行選択シフト回路2の方が大幅
に簡素化されている。
第4図に列選択回路/センスアンプ部3の一実施例を示
す。この実施例はシフト回路方式であり。
(k+1)個のプリセット機能付きシフトレジスタC3
R。
〜C3Rkが直列に接続されてシフト回路が構成されて
いる。ここで(k+ 1)はROMセル部1の列の数で
ある。シフトレジスタC5I?。〜C5Rkにはプリセ
ットデータPD、〜PDkがそれぞれ入力されている。
プリセットデータPD、〜PDkはプリセットパルスP
SPが入力された時に対応するシフトレジスタに設定さ
れる。上記シフト回路は2行選択シフト回路2の最終段
のシフトレジスタからの出力データSD。
を転送りロックとしてシフト動作する。データSD、l
が「1」になるとシフトレジスタC3Rr (f= 0
〜に−1)の内容が隣接するシフトレジスタC5R,。
1ヘシフトする。
シフトレジスタCSR,〜CSR,はその内容を列選択
信号00〜Ckとしてそれぞれ出力する。列選択信号0
0〜C6は、トランジスタ30゜〜30にのゲートにそ
れぞれ印加される。トランジスタ30.〜30.はRO
Mセル部1からのデータ線DL、〜DLk とセンスア
ンプ31との間にそれぞれ直列に介設されている。
列選択信号C+(i=o −k )が「1」になると、
トランジスタ30+が導通し、データ線OL、上のデー
タがデータ出力線DJ(j = 0〜m)に読み出され
る。本実施例では1列当り(m+1)本のデータ出力線
があり、トランジスタ30゜〜30k及びセンスアンプ
31を含む回路部分は各データ出力線DJ(j=0〜m
)ごとに設けられている。それらの回路部分は同一のシ
フトレジスタC5RO〜C5Rkによって制御される。
第4図の列選択回路/センスアンプ部3を備えたROM
は次のように動作させられる。まず、プリセットデータ
PD、〜PDkのいずれかのみを「l」にし、他を「0
」にしてプリセットパルスPSPを入力することにより
、動作開始時に選択すべきROMセル部1の列をシフト
レジスタC5R,〜C5Rkに予め設定する。次いで行
選択シフト回路2をスタートさせると9行選択動作が行
われ、プリセットされている列のデータが全ての行にわ
たって順に読み出される。行選択の1サイクルの終了時
に信号SD、が「1」になるので列選択回路/センスア
ンプ部3においてプリセットされた列の次の列が選択さ
れるようになる。従って次にこの列のデータが読み出さ
れる。このようにしてROMセル部1のデータがシリア
ルに読み出される。
シフトレジスタC3R,〜C3RkにデータPD、〜P
D。
をプリセットする手段を設けたことにより、所望の列の
データから読み出しを開始することができる。例えばR
OMセル部1に複数画分の音楽データが格納されており
、各画のデータはその先頭がいずれかの列の先頭に格納
されているものとする。
このような場合、再生したい曲の先頭が格納されている
列に対応するシフトレジスタに「1」をプリセットして
おくことにより、所望の曲を再生することができる。
第5図に列選択回路/センスアンプ部3の他の実施例を
示す。この例ではカウンタ/デコーダ方式で列選択信号
C0〜C1が得られている。即ち。
(d+1)個のフリップフロップFF、〜FF、で構成
されるカウンタの出力データ34.〜34dがデコーダ
DECでデコードされ2列選択信号00〜Ckの内の1
個の信号が「1」になる。列選択信号C0〜Ckが印加
されるトランジスタ30゜〜30.M及びセンスアンプ
31を含む回路部分は第4図に示した実施例のそれと同
様である。上記カウンタは行選択シフト回路2からの信
号SD、に従ってカウントアツプする。上記カウンタに
は、プリセット信号PSSを用いてプリセットデータP
SDO−PSD、をセットすることができる。
尚1以上では本発明をROMに適用した実施例について
のみ説明したが、 RAM等の他のタイプの記憶装置に
も本発明が適用できることは明らかである。
また、上述した実施例はROMセル部10行及び列の両
方を逐次選択する構成を有しているが2行又は列のいず
れか一方のみを逐次選択することとし、他方はランダム
に選択できるようにすることももちろん可能である。
(発明の効果) 本発明によれば、メモリセル部の行又は列を選択するた
めの回路に必要な素子数が少なく、従来の記憶装置に比
べ製造コスト及びチップ面積が大幅に削減された記憶装
置が提供される。本発明の記憶装置は行選択又は列選択
のためアドレスを外部から与えることなく動作させるこ
とができるため、外部にアドレスを発生するための回路
を設ける必要がない。このような記憶装置は行又は列に
対するランダムアクセスの機能はもたないが、音楽や音
声のようにシリアルに読み出せばよいデータを扱う場合
に非常に有用である。本発明の記憶装置を使用すること
により2例えば音声応答装置といった音声を再生する装
置等を低コストで製造することができる。
4、 ・・  の   なP′月 第1図は本発明の一実施例の概略ブロンク図。
第2図はその実施例における行選択シフト回路の一例の
回路図、第3図は上記行選択シフト回路の動作の一例を
示すタイミングチャート、第4図は上記実施例における
列選択回路/センスアンプ部の構成の一例を示す図、第
5図は上記列選択回路/センスアンプ部の構成の他の例
を示す図、第6図及び第7図は記憶装置の従来例の概略
ブロック図。
第8図は従来の記憶装置の行アドレスデコーダの一部を
示す回路図である。
1・・・ROMセル部、2・・・行選択シフト回路、3
・・・列選択回路/センスアンプ部 SR,〜SR,・
・・シフトレジスタ、  C5R,−CSR,・・・シ
フトレジスタ。
FP、−FFd・・・フリップフロップ、 DEC・・
・デコーダ。
PD、〜PD、t、  PSDo〜PSD、用プリセッ
トデータ。
PSP・・・プリセットパルス、 pss・・・プリセ
ット信号。
第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、複数の行および複数の列を有するメモリセル部と、
    シフト動作することによって該メモリセル部の行および
    列のいずれか一方を所定の順序で逐次選択する選択手段
    とを備えた記憶装置。
JP63200781A 1988-08-10 1988-08-10 記憶装置 Pending JPH0249297A (ja)

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JP63200781A JPH0249297A (ja) 1988-08-10 1988-08-10 記憶装置

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JP63200781A JPH0249297A (ja) 1988-08-10 1988-08-10 記憶装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04137294A (ja) * 1990-09-28 1992-05-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリのためのシリアル選択回路
JP2010186525A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Seiko Instruments Inc メモリ回路装置

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