JPH0247554A - ポゴピン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＩＣの電気特性試験装置（以下テスタと記す）
に関し、信号伝達用の接触子として使用されているポゴ
ピンに関する。

〔従来の技術〕

従来、この種のポゴピンは、単に接触子の役割しか持た
ず、受動素子を内蔵するものは無かった。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のポゴピンは抵抗値がほとんど０Ωとなっ
ているが、ＩＣの電気的特性試験、特に負荷回路を必要
とする試験の際には、ＩＣの出力ビン→負荷：抵抗→ポ
ゴピン→リレー→プルアップ用電源と回路が接続される
ので、負荷：抵抗は別個にＩＣの試験用ボードに実装し
なければならないという欠点がある。

本発明の目的は前記課題を解決したポゴピンを提供する
ことにある。

〔発明の従来技術に対する相違点〕

上述した従来の接触抵抗が０Ωのポゴピンに対し、本発
明はポゴピン自体に抵抗をもたせることにより、ＩＣの
試験用ボードに実装していた抵抗を不要にするという相
違点を有する。

〔課題を解決するための手段〕

前記目的を達成するため、本発明に係るポゴピンにおい
ては、信号伝達用の接触子として使用するポゴピンの本
体に、抵抗、コンデンサ等の受動素子を内蔵したもので
ある。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図により説明する。

（実施例１） 第１図は本発明の実施例１を示す断面図である。

図において、本発明に係るポゴピンはシリンダ１と、所
定の抵抗値をもちシリンダ１内に摺動可能に内装された
ピストン２と、該ピストン２を付勢するスプリング３と
、ピストン２の上端に取付けられた接触用端子４とを有
する。

第２図は本発明の抵抗を有するポゴピンＰを負荷回路を
必要とするＩＣの電気的特性試験の際に使用した場合の
回路図である。

被測定ＩＣ５のビンは抵抗を有するポゴピンＰの接触用
端子４に接続され（この場合、ポゴピン自体か負荷の役
割をする）、リレー６を介してプルアップ用電源７に接
続され、負荷回路を形成する。

本発明によれば、ポゴピンＰ自体が抵抗値を有するため
、ＩＣの試験用ボードに抵抗を実装する必要がない。

（実施例２） 第３図は本発明の実施例２を示す図である。

本実施例はシリンダ８と、シリンダ８内を可動する接触
子９と、接触子９に反力を与えるスプリング１０と、コ
ンデンサとしての機能をもつピストン１１とからなる。

コンデンサとしてのピストン１１とスプリング１０とは
絶縁されており、グラウンドに接続されている０回路的
には電源１２はポゴピンのシリンダ８、接触子９を通し
て被測定ＩＣＩの電源ビンに接続される。

この際、シリンダ８に接続される電源１２はポゴピン内
にコンデンサ１１を通してグラウンドに接続されている
ため、平滑されノイズ成分を除去されるという利点があ
る。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、ＩＣを負荷状態で測定す
る際にＩＣの試験用ボードに実装していた負荷抵抗等の
受動素子をポゴピンに組み込むため、ＩＣの試験用ボー
ドに実装していた抵抗を省略できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例１を示す断面図、第２図は本発
明の抵抗を有するポゴピンをＩＣを負荷状態で測定する
場合に使用した回路図、第３図は本発明の実施例２に係
るコンデンサを有するポゴピンをＩＣの電気的特性試験
時において被測定ＩＣの電源用回路に用いた場合の回路
図である。 １．８・・・シリンダ　　　２．１１・・・ピストン３
．１０・・・スプリング　　４．９・・・接触用端子特
許出願人　　九州日本電気株式会社 代　理　人　　弁理士菅野　　中 ３°ズ７°リシク゛。 第２図 丁 πＴ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）信号伝達用の接触子として使用するポゴピンの本
   体に、抵抗、コンデンサ等の受動素子を内蔵したことを
   特徴とするポゴピン。