JPS6221048Y2 - - Google Patents
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- JPS6221048Y2 JPS6221048Y2 JP12979480U JP12979480U JPS6221048Y2 JP S6221048 Y2 JPS6221048 Y2 JP S6221048Y2 JP 12979480 U JP12979480 U JP 12979480U JP 12979480 U JP12979480 U JP 12979480U JP S6221048 Y2 JPS6221048 Y2 JP S6221048Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- noise
- coaxial cable
- capacitive coupling
- lsi
- circuit
- Prior art date
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- Expired
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- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 24
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 24
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 24
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はノイズ・シミユレータの改良に関する
ものである。
ものである。
第1図は従来のノイズ・シミユレータの原理を
説明するための電気回路図である。すなわち従来
のノイズ・シミユレータは測定せらるべき電子機
器の交流電源にパルスを注入重畳し、それによつ
て該電子機器が誤動作をおこすかどうかの限界時
に交流電源に注入したパルス電圧すなわちノイ
ズ・マージンを求める方法によつていた。
説明するための電気回路図である。すなわち従来
のノイズ・シミユレータは測定せらるべき電子機
器の交流電源にパルスを注入重畳し、それによつ
て該電子機器が誤動作をおこすかどうかの限界時
に交流電源に注入したパルス電圧すなわちノイ
ズ・マージンを求める方法によつていた。
勿論、この方法によつて、電子機器のノイズ・
マージンを測定することは可能ではあるが、該電
子機器に使用されている多数のICまたはLSIの中
のいづれが誤動作するかを見出すことがむづかし
く、ただ単に電子機器が誤動作するか、しないか
の判定にしか役に立たなかつた。
マージンを測定することは可能ではあるが、該電
子機器に使用されている多数のICまたはLSIの中
のいづれが誤動作するかを見出すことがむづかし
く、ただ単に電子機器が誤動作するか、しないか
の判定にしか役に立たなかつた。
したがつて、交流電源よりパルスを注入した
際、誤つた動作をするICまたはLSIを発見するの
に、多大の労力と時間が必要であり、そのため何
らかの手段方法が開発されることが望まれてい
た。
際、誤つた動作をするICまたはLSIを発見するの
に、多大の労力と時間が必要であり、そのため何
らかの手段方法が開発されることが望まれてい
た。
以下、従来のノイズ・シミユレータの構成を示
す第1図を用いて詳細説明する。すなわち高圧パ
ルス発生回路1で発生されたパルスは、同軸ケー
ブル6を介してパルス注入回路2に導かれ、該回
路において単相交流100V、あるいは3相交流
200Vなどの交流電源3に重畳注入され、さらに
出力用同軸ケーブル7により被試験体5の電子機
器に導かれる如く構成されている。
す第1図を用いて詳細説明する。すなわち高圧パ
ルス発生回路1で発生されたパルスは、同軸ケー
ブル6を介してパルス注入回路2に導かれ、該回
路において単相交流100V、あるいは3相交流
200Vなどの交流電源3に重畳注入され、さらに
出力用同軸ケーブル7により被試験体5の電子機
器に導かれる如く構成されている。
しかしてこの際、ノイズフイルタ4により、パ
ルス発生回路1により発生したパルスが交流電源
3に逆流することを防止する如く回路を構成す
る。
ルス発生回路1により発生したパルスが交流電源
3に逆流することを防止する如く回路を構成す
る。
次に、パルス発生回路1の原理を第2図を用い
て説明する。すなはち、第2図の如く、同軸ケー
ブルなどから構成される遅延回路9を有し、該同
軸ケーブルの内部導体と外部導体間のキヤパシテ
イまたは、遅延回路に使用されているコンデンサ
を高圧電源10並びに高抵抗11によつて充電さ
せ、それをスイツチ12により放電することによ
つてパルスを発生させる。
て説明する。すなはち、第2図の如く、同軸ケー
ブルなどから構成される遅延回路9を有し、該同
軸ケーブルの内部導体と外部導体間のキヤパシテ
イまたは、遅延回路に使用されているコンデンサ
を高圧電源10並びに高抵抗11によつて充電さ
せ、それをスイツチ12により放電することによ
つてパルスを発生させる。
かくの如く、パルス発生回路1で発生されたパ
ルスは、たとえば遅延回路9が同軸ケーブルによ
り成り立つている場合には、該同軸ケーブル9の
長さを変化させるなどの方法により、遅延回路の
遅延時間を変化させて、出力パルスの幅を変化さ
せることができる。
ルスは、たとえば遅延回路9が同軸ケーブルによ
り成り立つている場合には、該同軸ケーブル9の
長さを変化させるなどの方法により、遅延回路の
遅延時間を変化させて、出力パルスの幅を変化さ
せることができる。
かくの如くにして得られたパルスは、前述のと
おり、パルス注入回路2で、50Hzあるいは60Hzの
交流電源に重畳されたる後、導軸ケーブル7を介
して被試験体5に加えられる。その場合、被試験
体5が正常に動作するか否かの限界のパルスの電
圧、すなわち、ノイズ・マージンを求め、該パル
ス電圧が規定値以上であるかどうかをチエツクす
るのが、従来から使用されてきたノイズ・シミユ
レータの原理である。
おり、パルス注入回路2で、50Hzあるいは60Hzの
交流電源に重畳されたる後、導軸ケーブル7を介
して被試験体5に加えられる。その場合、被試験
体5が正常に動作するか否かの限界のパルスの電
圧、すなわち、ノイズ・マージンを求め、該パル
ス電圧が規定値以上であるかどうかをチエツクす
るのが、従来から使用されてきたノイズ・シミユ
レータの原理である。
第1図において、点線で囲まれたパルス発生回
路1、パルス注入回路2、ノイズ・フイルタ4を
一体に組み上げたものが、通常ノイズ・シミユレ
ータ8という名称で呼ばれて使用されている。
路1、パルス注入回路2、ノイズ・フイルタ4を
一体に組み上げたものが、通常ノイズ・シミユレ
ータ8という名称で呼ばれて使用されている。
しかしながら、かくの如く構成したノイズ・シ
ミユレータ8では、交流電源3から侵入してくる
ノイズに対して、被試験体5の電子機器がノイズ
に強いか弱いかの判定は出来るが、反面、どの
IC又はLSIが誤動作して、そのために電子機器が
誤動作するかの判断には役に立たなかつた。
ミユレータ8では、交流電源3から侵入してくる
ノイズに対して、被試験体5の電子機器がノイズ
に強いか弱いかの判定は出来るが、反面、どの
IC又はLSIが誤動作して、そのために電子機器が
誤動作するかの判断には役に立たなかつた。
本考案は、かゝるノイズシミユレータの欠点を
改良すべくなされたもので、ノイズによつて誤動
作するIC又はLSIなどを発見するのに使用して便
利なノイズシミユレータを提供するにある。
改良すべくなされたもので、ノイズによつて誤動
作するIC又はLSIなどを発見するのに使用して便
利なノイズシミユレータを提供するにある。
即ち、本考案は、被試験体へ供給するパルスを
含む試験用信号を被試験体迄導出する出力用同軸
ケーブルを備えたノイズ・シミユレータにおい
て、該出力用同軸ケーブルの先端を抵抗で終端さ
せるとともに、該ケーブルの中心導体に、被試験
体のICやLSIに静電結合させるための静電結合用
端子を接続したことを特徴とし、これにより、ノ
イズに弱いICやLSIを発見できるようにしたもの
である。
含む試験用信号を被試験体迄導出する出力用同軸
ケーブルを備えたノイズ・シミユレータにおい
て、該出力用同軸ケーブルの先端を抵抗で終端さ
せるとともに、該ケーブルの中心導体に、被試験
体のICやLSIに静電結合させるための静電結合用
端子を接続したことを特徴とし、これにより、ノ
イズに弱いICやLSIを発見できるようにしたもの
である。
以下、その実施例の一例を第3図に示す。但
し、第3図中において、第1図および第2図に記
載されている構成素子と同じ記号の構成素子は、
第1図及び第2図の場合と全く同じ作用効果をも
たらすものとして適宜その説明を省略する。
し、第3図中において、第1図および第2図に記
載されている構成素子と同じ記号の構成素子は、
第1図及び第2図の場合と全く同じ作用効果をも
たらすものとして適宜その説明を省略する。
本考案の一実施例を示す第3図により、以下そ
の第一の実施例を説明するに、出力用同軸ケーブ
ル7を介して外部に取り出されたノイズ・シミユ
レータの出力は終端抵抗13に導かれる。
の第一の実施例を説明するに、出力用同軸ケーブ
ル7を介して外部に取り出されたノイズ・シミユ
レータの出力は終端抵抗13に導かれる。
しかして、該終端抵抗13の抵抗値としては、
出力用同軸ケーブル7のサージインピーダンス
Zoと必らずしも一致させる必要はない。
出力用同軸ケーブル7のサージインピーダンス
Zoと必らずしも一致させる必要はない。
しかしながら、終端抵抗13において反射を生
ずることなく、安定した測定値すなわちノイズ・
マージンを得るためには、終端抵抗値は出力用同
軸ケーブルのサージインピーダンスと等しく選定
するのが賢明なことは云うまでもない。
ずることなく、安定した測定値すなわちノイズ・
マージンを得るためには、終端抵抗値は出力用同
軸ケーブルのサージインピーダンスと等しく選定
するのが賢明なことは云うまでもない。
しかして、ノイズシミユレータ8から終端抵抗
13に到るまでの出力用同軸ケーブル7の中途に
結合用の穴14をあけ、該穴14を介して被試験
体5に使用されているICまたはLSIに静電結合さ
せるための静電結合用端子15と同軸ケーブルの
中心導体16とを接続する。
13に到るまでの出力用同軸ケーブル7の中途に
結合用の穴14をあけ、該穴14を介して被試験
体5に使用されているICまたはLSIに静電結合さ
せるための静電結合用端子15と同軸ケーブルの
中心導体16とを接続する。
以下、第4図及び第5図を用いて本考案にかゝ
る静電結合用端子15の具体的且つ詳細な構造を
説明する。
る静電結合用端子15の具体的且つ詳細な構造を
説明する。
しかして第4図及び第5図中、第3図に記載さ
れている構成素子と同じ記号の構成素子は第3図
の場合と全く同じ作用効果をもたらすものとして
適宣その説明を省略する。
れている構成素子と同じ記号の構成素子は第3図
の場合と全く同じ作用効果をもたらすものとして
適宣その説明を省略する。
すなわち、第4図においては、静電結合用端子
15はIC又はLSI等の半導体のパツケージ17を
周囲よりおゝい囲むが如き構造となすことを特徴
としている。
15はIC又はLSI等の半導体のパツケージ17を
周囲よりおゝい囲むが如き構造となすことを特徴
としている。
このようにすることにより、結合用端子15と
ICまたはLSIとを、静電的に結合させることが出
来るため、ノイズシミユレータ8のパルス出力を
直接IC又はLSIに注入することが可能となる。
ICまたはLSIとを、静電的に結合させることが出
来るため、ノイズシミユレータ8のパルス出力を
直接IC又はLSIに注入することが可能となる。
かくの如く注入されたパルスにより、個々の
ICまたはLSIが誤動作の始める限界のパルス電
圧、すなわちノイズ・マージンを求めることがで
きる。
ICまたはLSIが誤動作の始める限界のパルス電
圧、すなわちノイズ・マージンを求めることがで
きる。
しかして、静電結合用端子15は金属で構成さ
れているが、ICまたはLSI17にかぶせた場合、
ICまたはLSIのパツケージのピンを短絡しない如
く静電結合用端子15の内面は適宣絶縁しておか
ねばならぬこと云うまでもない。
れているが、ICまたはLSI17にかぶせた場合、
ICまたはLSIのパツケージのピンを短絡しない如
く静電結合用端子15の内面は適宣絶縁しておか
ねばならぬこと云うまでもない。
しかして、第4図の如き構造とすると静電結合
用端子15とICまたはLSIのパツケージの距離が
一定となるため、測定誤差も少なくなり確実なデ
ータを得ることができる利点がある。
用端子15とICまたはLSIのパツケージの距離が
一定となるため、測定誤差も少なくなり確実なデ
ータを得ることができる利点がある。
第5図は、本考案にかゝる、静電結合用端子1
5の第二の実施例を示す図面である。しかして、
静電結合用端子15の先端には静電結合用コンデ
ンサ(ただし図示せず)を接続し、該静電結合用
コンデンサを介して、ノイズ・シミユレータ8の
出力をICまたはLSIに注入する場合などに使用し
て便利である。
5の第二の実施例を示す図面である。しかして、
静電結合用端子15の先端には静電結合用コンデ
ンサ(ただし図示せず)を接続し、該静電結合用
コンデンサを介して、ノイズ・シミユレータ8の
出力をICまたはLSIに注入する場合などに使用し
て便利である。
以上述べたごとく、第4図又は第5図のいづれ
の静電結合用端子を使用するとしても、第3図に
示す如くプリント基板18に搭載されているすべ
てのICまたはLSI17のパツケージに、順々にパ
ルスを注入することにより、ノイズに弱いICま
たはLSIを発見することが可能となる。
の静電結合用端子を使用するとしても、第3図に
示す如くプリント基板18に搭載されているすべ
てのICまたはLSI17のパツケージに、順々にパ
ルスを注入することにより、ノイズに弱いICま
たはLSIを発見することが可能となる。
尚、以上の第3図の説明にあたつては、出力用
同軸ケーブル7の中途に、結合用穴14をあける
ごとく説明したが、穴の位置を出力用同軸ケーブ
ル7の先端に極めて近い箇所に、もうけてもよい
こというまでもない。
同軸ケーブル7の中途に、結合用穴14をあける
ごとく説明したが、穴の位置を出力用同軸ケーブ
ル7の先端に極めて近い箇所に、もうけてもよい
こというまでもない。
また、穴を省略し、出力用同軸ケーブル7の先
端に終端抵抗13を接続し、且つ出力用同軸ケー
ブル7の先端に直接、静電結合用端子15を付し
てもよいこというまでもない。
端に終端抵抗13を接続し、且つ出力用同軸ケー
ブル7の先端に直接、静電結合用端子15を付し
てもよいこというまでもない。
尚、本考案は上記し且つ図面に示した実施例に
限定されることなく、その要旨を変更しない範囲
で、種々変形実施できること勿論である。
限定されることなく、その要旨を変更しない範囲
で、種々変形実施できること勿論である。
以上、本考案にかゝる静電結合用端子15を使
用したノイズ・シミユレータを使用すれば、ノイ
ズに弱いICまたはLSIの発見が極めて容易となる
ばかりでなく、発見されたノイズに弱いICまた
はLSIの回路をより安定なものと交換することに
より、電子機器全体のノイズ・マージンを向上さ
せることが可能となる。
用したノイズ・シミユレータを使用すれば、ノイ
ズに弱いICまたはLSIの発見が極めて容易となる
ばかりでなく、発見されたノイズに弱いICまた
はLSIの回路をより安定なものと交換することに
より、電子機器全体のノイズ・マージンを向上さ
せることが可能となる。
第1図は従来のノイズ・シミユレータのブロツ
ク図、第2図はパルス発生回路の原理図、第3図
は本考案にかかるノイズ・シミユレータの原理
図、第4図及び第5図は本考案に使用される静電
結合用端子の実施例を示す図である。 1……高圧発生回路、2……パルス注入回路、
3……交流電源、4……ノイズ・フイルタ、5…
…被試験体、6……同軸ケーブル、7……出力用
同軸ケーブル、8……ノイズシミユレータ、9…
…遅延回路、10……高圧電源、11……高抵
抗、12……スイツチ、13……終端抵抗、14
……結合用穴、15……静電結合用端子、16…
…出力用同軸ケーブルの中心導体、17……IC
またはLSIのパツケージ、18……プリント基
板。
ク図、第2図はパルス発生回路の原理図、第3図
は本考案にかかるノイズ・シミユレータの原理
図、第4図及び第5図は本考案に使用される静電
結合用端子の実施例を示す図である。 1……高圧発生回路、2……パルス注入回路、
3……交流電源、4……ノイズ・フイルタ、5…
…被試験体、6……同軸ケーブル、7……出力用
同軸ケーブル、8……ノイズシミユレータ、9…
…遅延回路、10……高圧電源、11……高抵
抗、12……スイツチ、13……終端抵抗、14
……結合用穴、15……静電結合用端子、16…
…出力用同軸ケーブルの中心導体、17……IC
またはLSIのパツケージ、18……プリント基
板。
Claims (1)
- 被試験体へ供給するパルスを含む試験用信号を
被試験体迄導出する出力用同軸ケーブルを備えた
ノイズ・シミユレータにおいて、該出力用同軸ケ
ーブルの先端を抵抗で終端させるとともに、該ケ
ーブルの中心導体に、被試験体のICやLSIに静電
結合させるための静電結合用端子を接続したこと
を特徴とし、これにより、ノイズに弱いICやLSI
を発見できるようにしたノイズ・シミユレータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12979480U JPS6221048Y2 (ja) | 1980-09-11 | 1980-09-11 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12979480U JPS6221048Y2 (ja) | 1980-09-11 | 1980-09-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5753711U JPS5753711U (ja) | 1982-03-29 |
JPS6221048Y2 true JPS6221048Y2 (ja) | 1987-05-28 |
Family
ID=29490124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12979480U Expired JPS6221048Y2 (ja) | 1980-09-11 | 1980-09-11 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6221048Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-09-11 JP JP12979480U patent/JPS6221048Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5753711U (ja) | 1982-03-29 |
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