JPH0241554Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0241554Y2 JPH0241554Y2 JP331384U JP331384U JPH0241554Y2 JP H0241554 Y2 JPH0241554 Y2 JP H0241554Y2 JP 331384 U JP331384 U JP 331384U JP 331384 U JP331384 U JP 331384U JP H0241554 Y2 JPH0241554 Y2 JP H0241554Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arms
- leaf spring
- test piece
- displacement
- displacement detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000009661 fatigue test Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、材料試験において負荷される応力に
より試験片に生じるひずみ変位を検出する変位検
出器に関する。
より試験片に生じるひずみ変位を検出する変位検
出器に関する。
材料試験機に取付けた試験片を加熱するととも
に静的または動的応力を加える高温疲労試験にお
いて、この試験片に生ずるひずみ変位を検出する
変位検出器は、従来第１図および第２図に示すよ
うに構成されていた。
に静的または動的応力を加える高温疲労試験にお
いて、この試験片に生ずるひずみ変位を検出する
変位検出器は、従来第１図および第２図に示すよ
うに構成されていた。
まず、この従来の変位検出器を第１図および第
２図により説明する。
２図により説明する。
加熱炉１内には図示しない材料試験機に取付け
られた試験片２が配設されており、この試験片２
の標点距離に対向するように加熱炉１の周壁３に
は上下一対の案内孔４Ａ，４Ｂが形成され、各案
内孔４Ａ，４Ｂを介して耐熱材からなる一対のア
ーム５Ａ，５Ｂが加熱炉１内に挿入されている。
前記両アーム５Ａ，５Ｂ間には所定レバー比を得
るように支点をなす板ばね６が介装されており、
両アーム５Ａ，５Ｂの基端部にはインダクテイ
ブ、ストレンゲージなどの検出部７が設けられて
いる。前記の各アーム５Ａ，５Ｂには横方向の一
対のピン８，８が突設されており、各アーム５
Ａ，５Ｂの両側に位置するように配設された保持
具９およびピン８，８間にそれぞれ圧縮コイルば
ね１０，１０が介装され、両アーム５Ａ，５Ｂの
刃形先端が前記試験片２に圧接するようになつて
いる。
られた試験片２が配設されており、この試験片２
の標点距離に対向するように加熱炉１の周壁３に
は上下一対の案内孔４Ａ，４Ｂが形成され、各案
内孔４Ａ，４Ｂを介して耐熱材からなる一対のア
ーム５Ａ，５Ｂが加熱炉１内に挿入されている。
前記両アーム５Ａ，５Ｂ間には所定レバー比を得
るように支点をなす板ばね６が介装されており、
両アーム５Ａ，５Ｂの基端部にはインダクテイ
ブ、ストレンゲージなどの検出部７が設けられて
いる。前記の各アーム５Ａ，５Ｂには横方向の一
対のピン８，８が突設されており、各アーム５
Ａ，５Ｂの両側に位置するように配設された保持
具９およびピン８，８間にそれぞれ圧縮コイルば
ね１０，１０が介装され、両アーム５Ａ，５Ｂの
刃形先端が前記試験片２に圧接するようになつて
いる。
前述した構成によれば、図示しない材料試験機
から第１図における矢印方向の引張応力が加えら
れて試験片２に変位が生じると、この変位は上部
アーム５Ａ及び下部アーム５Ｂへ伝達され、板ば
ね６を支点とするレバー比で検出部７が前記矢印
と逆方向に変位して変位信号を出力する。
から第１図における矢印方向の引張応力が加えら
れて試験片２に変位が生じると、この変位は上部
アーム５Ａ及び下部アーム５Ｂへ伝達され、板ば
ね６を支点とするレバー比で検出部７が前記矢印
と逆方向に変位して変位信号を出力する。
しかしながら、このような従来の変位検出器
は、支点用板ばね６、保持具９およびコイルばね
１０，１０をそれぞれ必要とする複雑な構成なの
で、試験片２に対する変位検出器の取付け調整が
面倒であり、この取付け不備が変位検出不安定と
なり、試験データ不良による再試験など試験能率
の低下を招来するおそれがあつた。
は、支点用板ばね６、保持具９およびコイルばね
１０，１０をそれぞれ必要とする複雑な構成なの
で、試験片２に対する変位検出器の取付け調整が
面倒であり、この取付け不備が変位検出不安定と
なり、試験データ不良による再試験など試験能率
の低下を招来するおそれがあつた。
本考案は、このような従来のものにおける欠点
を除去し、簡単な構成にして取付け調整を容易に
し、安定した変位検出精度を得ることのできる変
位検出器を提供することを目的としてなされたも
ので、支点用板ばねを両アームの上下方向に延在
し、この板ばねが両アームを試験片に圧接する方
向に付勢するように板ばねの上下端部を支持し、
支持用板ばねがアームの試験片への圧接用ばねを
兼ねるようにしたものである。
を除去し、簡単な構成にして取付け調整を容易に
し、安定した変位検出精度を得ることのできる変
位検出器を提供することを目的としてなされたも
ので、支点用板ばねを両アームの上下方向に延在
し、この板ばねが両アームを試験片に圧接する方
向に付勢するように板ばねの上下端部を支持し、
支持用板ばねがアームの試験片への圧接用ばねを
兼ねるようにしたものである。
以下、本考案を図面に示す実施例により説明す
る。なお、前述した従来のものと同一の構成につ
いては、図面中に同一の符号を付し、その説明は
省略する。
る。なお、前述した従来のものと同一の構成につ
いては、図面中に同一の符号を付し、その説明は
省略する。
第３図は本考案の実施例を示すものであり、加
熱炉１の周壁３には、案内孔１２Ａ，１２Ｂの形
成された取付板１１が突設されており、この取付
板１１には、両案内孔１２Ａ，１２Ｂの上下位置
に一対のボルト１３Ａ，１３Ｂが突設されてい
る。一方、上部アーム１４Ａおよび下部アーム１
４Ｂの先端にはアーム１４Ａ，１４Ｂより小径の
石英棒などからなる耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂが
着脱し得るように突設されており、各耐熱アーム
１５Ａ，１５Ｂの刃形先端が案内孔１２Ａ，１２
Ｂを介して加熱炉１内に挿入され試験片２に当接
するようになつている。前記両耐熱アーム１５
Ａ，１５Ｂの外周には図示しないねじが形成され
ており、このねじにはナツト１６Ａ，１６Ｂが螺
着されるようになつている。なお、前記アーム１
４Ａ，１４Ｂおよび耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂの
長さの比はアーム１４Ａ，１４Ｂおよび耐熱アー
ム１５Ａ，１５Ｂの接続部位を支点として所定の
レバー比をなすように選定されている。
熱炉１の周壁３には、案内孔１２Ａ，１２Ｂの形
成された取付板１１が突設されており、この取付
板１１には、両案内孔１２Ａ，１２Ｂの上下位置
に一対のボルト１３Ａ，１３Ｂが突設されてい
る。一方、上部アーム１４Ａおよび下部アーム１
４Ｂの先端にはアーム１４Ａ，１４Ｂより小径の
石英棒などからなる耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂが
着脱し得るように突設されており、各耐熱アーム
１５Ａ，１５Ｂの刃形先端が案内孔１２Ａ，１２
Ｂを介して加熱炉１内に挿入され試験片２に当接
するようになつている。前記両耐熱アーム１５
Ａ，１５Ｂの外周には図示しないねじが形成され
ており、このねじにはナツト１６Ａ，１６Ｂが螺
着されるようになつている。なお、前記アーム１
４Ａ，１４Ｂおよび耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂの
長さの比はアーム１４Ａ，１４Ｂおよび耐熱アー
ム１５Ａ，１５Ｂの接続部位を支点として所定の
レバー比をなすように選定されている。
前記両アーム１４Ａ，１４Ｂの支点をなす板ば
ね１７は第４図に詳示されており、この板ばね１
７は、前記耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂが挿通され
る一対の円形開口１８Ａ，１８Ｂを有している。
また、前記板ばね１７の上下方向両端部には前記
ボルト１３Ａ，１３Ｂが挿通される一対の開口１
９Ａ，１９Ｂが形成されており、両開口１９Ａ，
１９Ｂはボルト１３Ａ，１３Ｂとの位置決めをし
やすくするため上下方向に長く形成されている。
さらに、前記板ばね１７には両開口１８Ａ，１８
Ｂを囲繞するように３つの開口２０Ａ，２１，２
０Ｂが形成されており、板ばね１７を撓みやすく
している。
ね１７は第４図に詳示されており、この板ばね１
７は、前記耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂが挿通され
る一対の円形開口１８Ａ，１８Ｂを有している。
また、前記板ばね１７の上下方向両端部には前記
ボルト１３Ａ，１３Ｂが挿通される一対の開口１
９Ａ，１９Ｂが形成されており、両開口１９Ａ，
１９Ｂはボルト１３Ａ，１３Ｂとの位置決めをし
やすくするため上下方向に長く形成されている。
さらに、前記板ばね１７には両開口１８Ａ，１８
Ｂを囲繞するように３つの開口２０Ａ，２１，２
０Ｂが形成されており、板ばね１７を撓みやすく
している。
なお、基端側の前記下部アーム１４Ｂには、こ
のアーム１４Ｂおよび上部アーム１４Ａ間の所定
距離以上の近接を防止するストツパ２２が突設さ
れており、試験片２に対する変位検出器の着脱
時、過大変位が生じる場合に検出部７および板ば
ね１７を保護するようになつている。
のアーム１４Ｂおよび上部アーム１４Ａ間の所定
距離以上の近接を防止するストツパ２２が突設さ
れており、試験片２に対する変位検出器の着脱
時、過大変位が生じる場合に検出部７および板ば
ね１７を保護するようになつている。
つぎに、前述した実施例の作用について説明す
る。
る。
まず、両耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂのナツト１
６Ａ，１６Ｂを外しておき、板ばね１７の両円形
開口１８Ａ，１８Ｂに耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂ
を挿通し、ナツト１６Ａ，１６Ｂを両耐熱アーム
１５Ａ，１５Ｂに螺着して板ばね１７をナツト１
６Ａ，１６Ｂおよびアーム１４Ａ，１４Ｂの端面
間で狭持する。その後、両アーム１４Ａ，１４Ｂ
と一体化された板ばね１７の両開口１９Ａ，１９
Ｂに、１つのナツト２３のみが螺合されている取
付板１１のボルト１３Ａ，１３Ｂが挿通されるよ
うに耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂを加熱炉１の案内
孔に挿入するようにして板ばね１７を取付板１１
に近接せしめる。そして、一対のナツト２３，２
３により板ばね１７を挾持するようにして板ばね
１７をボルト１３Ａ，１３Ｂに固定するのである
が、その際、板ばね１７が両耐熱アーム１５Ａ，
１５Ｂを試験片２に圧接する方向に付勢するよう
に一対のナツト２３，２３を調節してボルト１３
Ａ，１３Ｂの軸方向における板ばね１７の位置を
規制する。
６Ａ，１６Ｂを外しておき、板ばね１７の両円形
開口１８Ａ，１８Ｂに耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂ
を挿通し、ナツト１６Ａ，１６Ｂを両耐熱アーム
１５Ａ，１５Ｂに螺着して板ばね１７をナツト１
６Ａ，１６Ｂおよびアーム１４Ａ，１４Ｂの端面
間で狭持する。その後、両アーム１４Ａ，１４Ｂ
と一体化された板ばね１７の両開口１９Ａ，１９
Ｂに、１つのナツト２３のみが螺合されている取
付板１１のボルト１３Ａ，１３Ｂが挿通されるよ
うに耐熱アーム１５Ａ，１５Ｂを加熱炉１の案内
孔に挿入するようにして板ばね１７を取付板１１
に近接せしめる。そして、一対のナツト２３，２
３により板ばね１７を挾持するようにして板ばね
１７をボルト１３Ａ，１３Ｂに固定するのである
が、その際、板ばね１７が両耐熱アーム１５Ａ，
１５Ｂを試験片２に圧接する方向に付勢するよう
に一対のナツト２３，２３を調節してボルト１３
Ａ，１３Ｂの軸方向における板ばね１７の位置を
規制する。
このように変位検出器を取付ければ、試験片２
に変位が生じると両アーム１４Ａ，１４Ｂがこの
試験片２の変位に応じて板ばね１７を支点として
傾斜し、検出部７から変位信号が出力され図示し
ない制御装置へ出力される。
に変位が生じると両アーム１４Ａ，１４Ｂがこの
試験片２の変位に応じて板ばね１７を支点として
傾斜し、検出部７から変位信号が出力され図示し
ない制御装置へ出力される。
前述したように本実施例によれば、両アーム１
４Ａ，１４Ｂの支点および両アーム１４Ａ，１４
Ｂを試験片２方向に押圧するばねを単一の板ばね
１７により構成したので、簡単な構成となり、安
定した変位検出精度を得ることができる。
４Ａ，１４Ｂの支点および両アーム１４Ａ，１４
Ｂを試験片２方向に押圧するばねを単一の板ばね
１７により構成したので、簡単な構成となり、安
定した変位検出精度を得ることができる。
以上説明したように、本考案に係る変位検出器
は、平行に配置された上部アームおよび下部アー
ム間に所定のレバー比を得るように板ばねよりな
る支点を設け、これらの両アームの先端を試験片
に圧接し後端に設けた検出部で変位検出を得るよ
うにしたものにおいて、前記板ばねを前記両アー
ムの上下方向に延在し、この板ばねが両アームを
試験片に圧接する方向に付勢するように板ばねの
上下端部を支持したので、簡単な構成にして取付
け調整を容易にし、安定した変位検出精度を得る
ことができるという優れた効果を奏する。
は、平行に配置された上部アームおよび下部アー
ム間に所定のレバー比を得るように板ばねよりな
る支点を設け、これらの両アームの先端を試験片
に圧接し後端に設けた検出部で変位検出を得るよ
うにしたものにおいて、前記板ばねを前記両アー
ムの上下方向に延在し、この板ばねが両アームを
試験片に圧接する方向に付勢するように板ばねの
上下端部を支持したので、簡単な構成にして取付
け調整を容易にし、安定した変位検出精度を得る
ことができるという優れた効果を奏する。
第１図は従来の変位検出器を示す正面図、第２
図は第１図の一部断面平面図、第３図は本考案に
係る変位検出器の実施例を示す正面図、第４図は
第３図の板ばねの正面図である。 １……加熱炉、２……試験片、５Ａ，５Ｂ，１
４Ａ，１４Ｂ……アーム、６，１７……板ばね、
７……検出部、１０……圧縮コイルばね、１１…
…取付板、１３Ａ，１３Ｂ……ボルト、１５Ａ，
１５Ｂ……耐熱アーム、２２……ストツパ。
図は第１図の一部断面平面図、第３図は本考案に
係る変位検出器の実施例を示す正面図、第４図は
第３図の板ばねの正面図である。 １……加熱炉、２……試験片、５Ａ，５Ｂ，１
４Ａ，１４Ｂ……アーム、６，１７……板ばね、
７……検出部、１０……圧縮コイルばね、１１…
…取付板、１３Ａ，１３Ｂ……ボルト、１５Ａ，
１５Ｂ……耐熱アーム、２２……ストツパ。
Claims (1)
- 平行に配置された上部アームおよび下部アーム
間に所定のレバー比を得るように板ばねよりなる
支点を設け、これらの両アームの先端を試験片に
圧接し後端に設けた検出部で変位検出を得るよう
にした変位検出器において、前記板ばねを前記両
アームの上下方向に延在し、この板ばねが両アー
ムを試験片に圧接する方向に付勢するように板ば
ねの上下端部を支持したことを特徴とする変位検
出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP331384U JPS60114941U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 変位検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP331384U JPS60114941U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 変位検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114941U JPS60114941U (ja) | 1985-08-03 |
| JPH0241554Y2 true JPH0241554Y2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=30477820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP331384U Granted JPS60114941U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | 変位検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60114941U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7397793B2 (ja) * | 2017-12-01 | 2023-12-13 | エムティーエス システムズ コーポレイション | 伸び計構造体 |
-
1984
- 1984-01-13 JP JP331384U patent/JPS60114941U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60114941U (ja) | 1985-08-03 |
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