JPH0626835Y2 - 伸び計 - Google Patents
伸び計Info
- Publication number
- JPH0626835Y2 JPH0626835Y2 JP11787087U JP11787087U JPH0626835Y2 JP H0626835 Y2 JPH0626835 Y2 JP H0626835Y2 JP 11787087 U JP11787087 U JP 11787087U JP 11787087 U JP11787087 U JP 11787087U JP H0626835 Y2 JPH0626835 Y2 JP H0626835Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- detection lever
- test piece
- detection
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は材料試験に使用される伸び計に関する。
［従来の技術］ 一般に材料試験に使用される伸び計は、一対の検出レバ
ーを試験片に装着して、試験片の伸縮に伴う検出レバー
の相対変位をこれらの検出レバーの間に取付けられたト
ランスデューサによって検出するタイプのものが多く使
用されている。
ーを試験片に装着して、試験片の伸縮に伴う検出レバー
の相対変位をこれらの検出レバーの間に取付けられたト
ランスデューサによって検出するタイプのものが多く使
用されている。
材料の疲労試験では、試験片の伸縮が例えば千万回も繰
返され、これを短時間で行うために試験片の伸縮繰返し
は２０００〜３０００ｃｐｍの周波数で行われる。この
ような高周波数の伸縮を検出するためには、変位計は、
内部摩擦を低減して高周波数の伸縮に良好に追従するこ
とが必要となる。実公昭５８−５２０７号公報には、こ
のような疲労試験に適した変位計が開示されており、こ
れは、第３図に示したように支持部材１に夫々取付けら
れ変位検出レバー２とローラ３とが試験片Ａに圧接さ
れ、同様に支持部材４に夫々取付けられた変位検出レバ
ー５とローラ６とが試験片Ａに圧接されている。両支持
部材１と４は、案内軸受の代りに図示を省略したガイド
とガイドローラとによって案内されている。
返され、これを短時間で行うために試験片の伸縮繰返し
は２０００〜３０００ｃｐｍの周波数で行われる。この
ような高周波数の伸縮を検出するためには、変位計は、
内部摩擦を低減して高周波数の伸縮に良好に追従するこ
とが必要となる。実公昭５８−５２０７号公報には、こ
のような疲労試験に適した変位計が開示されており、こ
れは、第３図に示したように支持部材１に夫々取付けら
れ変位検出レバー２とローラ３とが試験片Ａに圧接さ
れ、同様に支持部材４に夫々取付けられた変位検出レバ
ー５とローラ６とが試験片Ａに圧接されている。両支持
部材１と４は、案内軸受の代りに図示を省略したガイド
とガイドローラとによって案内されている。
この変位計は、検出レバー２、５に加えてローラ３、６
も試験片Ａに当接しているので、変位計の軸方向への首
振り運動がなくなりトランスデューサが常に正常に作動
すると共に、両支持部材１と４がガイドとガイドローラ
とによる線接触であるから摩擦が小さく伸縮周波数が高
くなっても、高周波数の伸縮にも十分に追従することが
できる。
も試験片Ａに当接しているので、変位計の軸方向への首
振り運動がなくなりトランスデューサが常に正常に作動
すると共に、両支持部材１と４がガイドとガイドローラ
とによる線接触であるから摩擦が小さく伸縮周波数が高
くなっても、高周波数の伸縮にも十分に追従することが
できる。
［考案が解決しようとする問題点］ ところが、上述の変位計は、第３図に破線で示したよう
に試験片Ａが引張りにより細径化すると、ローラ３、６
が試験片Ａに非接触となり不安定化しトランスデューサ
の正常な作動が損なわれてしまう。更には、試験片の形
状によってはローラ３、６が使用できないという問題も
あった。
に試験片Ａが引張りにより細径化すると、ローラ３、６
が試験片Ａに非接触となり不安定化しトランスデューサ
の正常な作動が損なわれてしまう。更には、試験片の形
状によってはローラ３、６が使用できないという問題も
あった。
そこで、本考案の目的は試験片の形状にかかわりなく試
験片の伸縮への追従性が良く、トランスデューサが常に
正常に作動する伸び計を提供することにある。
験片の伸縮への追従性が良く、トランスデューサが常に
正常に作動する伸び計を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］ この目的を達成するために、本考案は、試験片を先端部
で挟み弾性力により試験片上に装着される第１検出レバ
ーと；この第１検出レバーから所定の間隔を隔てて配置
され、上記試験片を先端部で挟み弾性力により試験片上
に取付けられる第２検出レバーと；これらの第１及び第
２検出レバー間に取付けられ両者間の相対変位を検出す
るトランスデューサとを具備する伸び計において、基部
が上記第１検出レバー先端部に固定され、自由端が上記
第２検出レバーの方に延在した第１支持体と；基部が上
記第２検出レバーの後端部に固定され、自由端が上記第
１検出レバーの方に延在した第２支持体と；上記第１支
持体の基部と上記第２支持体の自由端との間に取付けら
れ両者を弾性接続する第１板バネ部材と；上記第２支持
体の基礎部と上記第１支持体の自由端との間に取付けら
れ両者を弾性接続する第２板バネ部材と；上記第１及び
第２検出レバーの間に取付けられ両者間の間隔を定める
標点距離ゲージとを具備することを特徴とするものであ
る。
で挟み弾性力により試験片上に装着される第１検出レバ
ーと；この第１検出レバーから所定の間隔を隔てて配置
され、上記試験片を先端部で挟み弾性力により試験片上
に取付けられる第２検出レバーと；これらの第１及び第
２検出レバー間に取付けられ両者間の相対変位を検出す
るトランスデューサとを具備する伸び計において、基部
が上記第１検出レバー先端部に固定され、自由端が上記
第２検出レバーの方に延在した第１支持体と；基部が上
記第２検出レバーの後端部に固定され、自由端が上記第
１検出レバーの方に延在した第２支持体と；上記第１支
持体の基部と上記第２支持体の自由端との間に取付けら
れ両者を弾性接続する第１板バネ部材と；上記第２支持
体の基礎部と上記第１支持体の自由端との間に取付けら
れ両者を弾性接続する第２板バネ部材と；上記第１及び
第２検出レバーの間に取付けられ両者間の間隔を定める
標点距離ゲージとを具備することを特徴とするものであ
る。
［作用］ 第１及び第２検出レバーは、第１及び第２板バネによっ
て、試験片の軸方向即ち検出レバーが互いに接近および
離隔する方向には比較的自由に変位可能であるが、上記
軸方向に垂直な方向への相対変位は実質的に制限される
ように、弾性接続されている。従って、第１及び第２検
出レバーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、第１
及び第２検出レバーは、試験片が高周波数で伸縮を繰返
えされてもこれに追従して変位することができると共に
試験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることな
くトランスデューサを常に正常に作動させることができ
る。
て、試験片の軸方向即ち検出レバーが互いに接近および
離隔する方向には比較的自由に変位可能であるが、上記
軸方向に垂直な方向への相対変位は実質的に制限される
ように、弾性接続されている。従って、第１及び第２検
出レバーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、第１
及び第２検出レバーは、試験片が高周波数で伸縮を繰返
えされてもこれに追従して変位することができると共に
試験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることな
くトランスデューサを常に正常に作動させることができ
る。
［実施例］ 以下本考案による伸び計の一実施例を第１図及び第２図
を参照して説明する。
を参照して説明する。
第１及び第２検出レバー１０、１１は、試験片Ａの軸方
向に互いに離間して配置され、夫々先端部にナイフエッ
ジ１２、１３を有する。両検出レバー１０、１１の先端
部にはアーム１０ａ，１１ａが形成され、これらのアー
ム１０ａ，１１ａの先端には締付ネジ１４、１５が取付
けられ、これらの締付ネジ１４、１５は、ナイフエッジ
１２、１３に対向するナイフエッジ１６、１７を有し、
これらのナイフエッジ１６、１７は、図示を省略したバ
ネによって試験片Ａの方に付勢されている。
向に互いに離間して配置され、夫々先端部にナイフエッ
ジ１２、１３を有する。両検出レバー１０、１１の先端
部にはアーム１０ａ，１１ａが形成され、これらのアー
ム１０ａ，１１ａの先端には締付ネジ１４、１５が取付
けられ、これらの締付ネジ１４、１５は、ナイフエッジ
１２、１３に対向するナイフエッジ１６、１７を有し、
これらのナイフエッジ１６、１７は、図示を省略したバ
ネによって試験片Ａの方に付勢されている。
第１検出レバー１０の先端部には第１支持棒１８がネジ
１９によって固着され、この第１支持棒１８は両端がレ
バー１０から突出するようにレバー１０を横切るように
取付けられている。一方、第２検出レバー１１の後端部
上面には第２支持棒２０がネジ２１によって第１支持具
１８と全く同様に固着されている。第１支持棒１８の両
端には夫々支柱２２、２２が両検出レバー１０と１１の
間に位置するようにネジ２３、２３によって固着されて
いる。同様に第２支持棒２０の両端にも夫々支柱２４、
２４がネジ２５、２５によって固着されている。これら
の第１支持棒１８と第１支柱２２、２２とは第１支持体
を構成し、第２支持棒２０と第２支柱２４、２４とは第
２支持体を構成する。
１９によって固着され、この第１支持棒１８は両端がレ
バー１０から突出するようにレバー１０を横切るように
取付けられている。一方、第２検出レバー１１の後端部
上面には第２支持棒２０がネジ２１によって第１支持具
１８と全く同様に固着されている。第１支持棒１８の両
端には夫々支柱２２、２２が両検出レバー１０と１１の
間に位置するようにネジ２３、２３によって固着されて
いる。同様に第２支持棒２０の両端にも夫々支柱２４、
２４がネジ２５、２５によって固着されている。これら
の第１支持棒１８と第１支柱２２、２２とは第１支持体
を構成し、第２支持棒２０と第２支柱２４、２４とは第
２支持体を構成する。
第１支持棒１８と第１支柱２２、２２との間には夫々第
１板バネ２６、２６の一端が固着され、これらの第１板
バネ２６、２６の他端は第２支柱２４、２４の自由端に
ネジ２７、２７によって固着されている。同様に第２支
持棒２０と第２支柱２４、２４との間には夫々第２板バ
ネ２８、２８の一端が固着され、これらの第２板バネ２
８、２８の他端は第１支柱２２、２２の自由端にネジ２
９、２９によって固着されている。これらの第１及び第
２支持棒１８と２０は互いに同一形状であり、同様に第
１及び第２支柱２２、２４、板バネ２６、２８も夫々互
いに同一形状である。従って、第１及び第２板バネ２
６、２８は互いに平行である。
１板バネ２６、２６の一端が固着され、これらの第１板
バネ２６、２６の他端は第２支柱２４、２４の自由端に
ネジ２７、２７によって固着されている。同様に第２支
持棒２０と第２支柱２４、２４との間には夫々第２板バ
ネ２８、２８の一端が固着され、これらの第２板バネ２
８、２８の他端は第１支柱２２、２２の自由端にネジ２
９、２９によって固着されている。これらの第１及び第
２支持棒１８と２０は互いに同一形状であり、同様に第
１及び第２支柱２２、２４、板バネ２６、２８も夫々互
いに同一形状である。従って、第１及び第２板バネ２
６、２８は互いに平行である。
第１検出レバー１０には標点距離ゲージ３０が止めねじ
３１によって固着され、この標点距離ゲージ３０の他端
はその開放孔３２において止めネジ３３によって第２検
出レバー１１に固定されている。また誘導型トランスデ
ューサはコイル部３４と鉄芯部３５とから構成され、こ
のコイル部３４は第１検出レバー１０に取付けられ、鉄
芯部３５は第２検出レバー１１に取付けられている。
３１によって固着され、この標点距離ゲージ３０の他端
はその開放孔３２において止めネジ３３によって第２検
出レバー１１に固定されている。また誘導型トランスデ
ューサはコイル部３４と鉄芯部３５とから構成され、こ
のコイル部３４は第１検出レバー１０に取付けられ、鉄
芯部３５は第２検出レバー１１に取付けられている。
次にこの実施例の作用を説明する。
図示のように、両検出レバー１０と１１との間隔を標点
距離ゲージ３０によって所定の値に定めた状態で、ナイ
フエッジ１２、１３と締付ネジ１４、１５とによって検
出レバー１０、１１を試験片Ａに取付ける。この後、止
めネジ３３を緩めて検出レバー１０、１１を相対変位可
能な状態にして、試験片Ａに荷重を加え試験を開始す
る。
距離ゲージ３０によって所定の値に定めた状態で、ナイ
フエッジ１２、１３と締付ネジ１４、１５とによって検
出レバー１０、１１を試験片Ａに取付ける。この後、止
めネジ３３を緩めて検出レバー１０、１１を相対変位可
能な状態にして、試験片Ａに荷重を加え試験を開始す
る。
検出レバー１０と１１は、第１及び第２板バネ２６、２
８によって弾性接続されているが、試験片Ａの軸方向即
ち検出レバーが互いに接近および離隔する方向には自由
に変位可能であるので、試験片Ａの伸縮に応じて上記軸
方向に相対変位し、トランスデューサ３４、３５はこの
相対変位を検出し電気信号に変換する。このように、検
出レバー１０と１１は、案内軸受によってではなく板バ
ネ２６、２８によって連結されているため、第１及び第
２検出レバーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、
第１及び第２検出レバー１０、１１は、試験片が高周波
数で伸縮を繰返えされてもこれに追従して変位すること
ができる。
８によって弾性接続されているが、試験片Ａの軸方向即
ち検出レバーが互いに接近および離隔する方向には自由
に変位可能であるので、試験片Ａの伸縮に応じて上記軸
方向に相対変位し、トランスデューサ３４、３５はこの
相対変位を検出し電気信号に変換する。このように、検
出レバー１０と１１は、案内軸受によってではなく板バ
ネ２６、２８によって連結されているため、第１及び第
２検出レバーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、
第１及び第２検出レバー１０、１１は、試験片が高周波
数で伸縮を繰返えされてもこれに追従して変位すること
ができる。
また、検出レバー１０と１１は、第１及び第２板バネ２
６、２８によって上記軸方向に垂直な方向への相対変位
は実質的に制限されるように弾性接続されているので、
試験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることな
くトランスデューサを正常に作動させることができる。
６、２８によって上記軸方向に垂直な方向への相対変位
は実質的に制限されるように弾性接続されているので、
試験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることな
くトランスデューサを正常に作動させることができる。
［考案の効果］ 以上の説明から明らかなように、本考案によれば第１及
び第２検出レバーは、第１及び第２板バネによって、試
験片の軸方向には比較的自由に変位可能であるが上記軸
方向には垂直な方向への相対変位は実質的に制限される
ように、弾性接続されているため、第１及び第２検出レ
バーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、第１及び
第２検出レバーは、試験片が高周波数で伸縮を繰返えさ
れてもこれに追従して変位することができると共に、試
験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることなく
トランスデューサを正常に作動させることができる。ま
た、つづみ形ローラが不要であるので、異形棒鋼などい
かなる形状の試験片に対しても使用することができる。
び第２検出レバーは、第１及び第２板バネによって、試
験片の軸方向には比較的自由に変位可能であるが上記軸
方向には垂直な方向への相対変位は実質的に制限される
ように、弾性接続されているため、第１及び第２検出レ
バーの相対変位時の摩擦は非常に小さくなり、第１及び
第２検出レバーは、試験片が高周波数で伸縮を繰返えさ
れてもこれに追従して変位することができると共に、試
験片に常に圧接され、つづみ形ローラを用いることなく
トランスデューサを正常に作動させることができる。ま
た、つづみ形ローラが不要であるので、異形棒鋼などい
かなる形状の試験片に対しても使用することができる。
第１図は本考案による伸び計の一実施例を示した正面
図、第２図は上記実施例を一部破断して示した平面図、
第３図は従来の伸び計を示した概略図である。 １０……第１検出レバー、１１……第２検出レバー、１
８……第１支持棒、２０……第２支持棒、２２……第１
支柱、２４……第２支柱、１８、２２……第１支持体、
２０、２４……第２支持体、２６……第１板バネ、２８
……第２板バネ、３０……標点距離ゲージ、３４、３５
……トランスデューサ、Ａ……試験片。
図、第２図は上記実施例を一部破断して示した平面図、
第３図は従来の伸び計を示した概略図である。 １０……第１検出レバー、１１……第２検出レバー、１
８……第１支持棒、２０……第２支持棒、２２……第１
支柱、２４……第２支柱、１８、２２……第１支持体、
２０、２４……第２支持体、２６……第１板バネ、２８
……第２板バネ、３０……標点距離ゲージ、３４、３５
……トランスデューサ、Ａ……試験片。
Claims (2)
- 【請求項１】試験片を先端部で挟み弾性力により試験片
上に装着される第１検出レバーと；この第１検出レバー
から所定の間隔を隔てて配置され、上記試験片を先端部
で挟み弾性力により試験片上に取付けられる第２検出レ
バーと；これらの第１及び第２検出レバー間に取付けら
れ両者間の相対変位を検出するトランスデューサとを具
備する伸び計において、基部が上記第１検出レバー先端
部に固定され、自由端が上記第２検出レバーの方に延在
した第１支持体と；基部が上記第２検出レバーの後端部
に固定され、自由端が上記第１検出レバーの方に延在し
た第２支持体と；上記第１支持体の基部と上記第２支持
体の自由端との間に取付けられ両者を弾性接続する第１
板バネ部材と；上記第２支持体の基礎部と上記第１支持
体の自由端との間に取付けられ両者を弾性接続する第２
板バネ部材と；上記第１及び第２検出レバーの間に取付
けられ両者間の間隔を定める標点距離ゲージとを具備す
ることを特徴とする伸び計。 - 【請求項２】上記第１支持体は、上記第１検出レバー先
端部にこれを横切るように固定された第１支持棒と，こ
の第１支持棒の両端から上記第２検出レバーの方に夫々
突設された一対の第１支柱とから構成され；上記第２支
持体は、上記第２検出レバー後端部にこれを横切るよう
に固定された第２支持棒と，この第２支持棒の両端から
上記第１検出レバーの方に夫々突設された一対の第２支
柱とから構成され；上記第１板バネ部材は、上記一対の
第１支柱の下端と上記一対の第２支柱の自由端との間に
互いに平行となるように夫々取付けられた一対の板バネ
から構成され、上記第２板バネ部材は、上記一対の第２
支柱の下端と上記一対の第１支柱の自由端との間に互い
に平行となるように夫々取付けられた一対の板バネから
構成されていることを特徴とする実用新案登録請求の範
囲第１項記載の伸び計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11787087U JPH0626835Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 伸び計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11787087U JPH0626835Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 伸び計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6423651U JPS6423651U (ja) | 1989-02-08 |
| JPH0626835Y2 true JPH0626835Y2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=31361709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11787087U Expired - Lifetime JPH0626835Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 伸び計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0626835Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7397793B2 (ja) * | 2017-12-01 | 2023-12-13 | エムティーエス システムズ コーポレイション | 伸び計構造体 |
-
1987
- 1987-07-31 JP JP11787087U patent/JPH0626835Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6423651U (ja) | 1989-02-08 |
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