JPH067284Y2 - 材料試験機における試験片直径変位検出装置 - Google Patents

材料試験機における試験片直径変位検出装置

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JPH067284Y2
JPH067284Y2 JP1986011535U JP1153586U JPH067284Y2 JP H067284 Y2 JPH067284 Y2 JP H067284Y2 JP 1986011535 U JP1986011535 U JP 1986011535U JP 1153586 U JP1153586 U JP 1153586U JP H067284 Y2 JPH067284 Y2 JP H067284Y2
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修一 原口
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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
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Description

【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本考案は材料試験機における試験片の径方向変位を測定
する直径変位検出装置に関するものである。
B.従来の技術 試験片の径方向の変位を測定する直径変位検出装置にお
いては、通常、試験片の周囲に複数の変位計が設けら
れ、各変位計と接続された接触子(検出部材)のそれぞ
れを所定の接触圧力で試験片の外周面に当接させてい
る。しかして、試験片の径方向の変位により各接触子が
変位すると各変位計からその変位に相応した出力が得ら
れる。ここで、変位計はその軸芯、例えば差動トランス
であれば鉄心の軸芯が試験片の軸芯を通過するようにし
て変位計架台にボルト等により固着されている。
C.考案が解決しようとする問題点 しかしながら、従来の直径変位検出装置においては、試
験片を交換する度毎に変位計架台から変位計を取り外し
て接触子を試験片から離さねばならず煩雑であった。ま
た、試験片を交換した後に、接触子の試験片に対する当
接位置を調整する作業、すなわち、接触子の軸芯が試験
片の軸芯を通過するように調整する必要があった。
本考案の目的は、このような従来の問題点を解消し、試
験片交換時に変位計を取り外す必要のない直径変位検出
装置を提出することにある。
D.問題点を解決するための手段 本考案による試験片直径変位検出装置は、つぎのように
構成される。すなわち、変位計に連接される検出部材は
その長さを調節できるよう接触子が着脱可能に接続され
る構造であり、かつ試験片に対しては常時付勢される構
造であって検出部材は試験片に対し確実に当接される。
また、変位計の保持枠は架台に対して検出部材が回動可
能でかつ所定位置に固定支持されるものであり、直径検
出のセット時には検出部材の軸芯が試験片軸芯を通過す
るよう構成される。
E.実施例 第1図〜第3図は本考案の一実施例を示し、第1図は平
面図、第2図は正面図、第3図は第2図のIII−III線断
面図である。
1は変位計取付架台であり、第3図からわかるように逆
T字状の基部1aと、その基部1aにソケットボルト2
で固着された座板部1bとを有し、基部1aが試験機本
体3にボルト4で固着されている。座板部1b上には変
位計ホルダ5が設けられ、その中央貫通孔5aに変位計
本体6が挿入され、ホルダ5のすり割部5bを貫通する
ボルト7を座板部1bに螺合することにより変位計本体
6がホルダ5に取付けられるとともにホルダ5が変位計
取付架台1に固定支持される。複数のボルト7とは反対
側に1本の支点ピン8が設けられている。この支点ピン
8はホルダ5と所定のはめ合いで嵌合され、また、座板
部1bとも一部の範囲で所定のはめ合いで嵌合されると
ともに先端部が座板部1bに螺合されている。
変位計本体6の鉄心6aの一端には案内棒9が接続さ
れ、他端には接触子10(検出部材)の取付棒11が接
続されている。案内棒9と取付棒11は軸受12で支持
され、その軸受12は軸受ホルダ13に装着されてい
る。そして、軸受ホルダ13は2本の案内棒14により
その位置が固定されている。そして、案内棒9にはばね
受け15が螺合され、ばね受け15と軸受12との間に
圧縮ばね16が介装され、これにより取付棒11が図示
左方、換言すると試験片TP側へ付勢される。
取付棒11の先端には孔11aがあけられ、その孔11
aに石英棒から成る接触子10が嵌め込まれている。そ
して、取付棒11先端のねじ部11bに螺合された締付
けナット17を締付けることにより接触子10が取付棒
11に緊締される。このような接続手段を設けるのは、
試験片の径の大きさが異なる場合に、長さの異なる接触
子を着脱可能に取り換えできるためである。したがって
この接続手段と前記付勢手段とによって接触子の試験片
への当接が確実となる。その接触子10の先端10aは
ラッパ状に形成されて試験片TPと接触する当接面10
bは円形とされていて、その表面は試験片TPとの摩擦
力を小さくするため滑らかに形成されている。またその
直径は、試験片TPが径方向へ変位する際に同時に生ず
る軸方向の変位より大きくされている。
このように構成された直径変位検出装置は支点ピン8を
中心にして座板部1bに対して回動できる。すなわち、
第1図および第2図の状態は接触子10がばね16によ
る付勢力の作用で試験片TPの外周面に当接した試験位
置にあるが、ボルト7を外し支点ピン8を緩めると、ホ
ルダ5は支点ピン8を中心にして回動可能となる。
しかして、試験片TPを交換するには、ボルト7を外し
てピン8を緩め、接触子10をばね16に抗して押込み
ながらホルダ5を第1図において矢印方向へ回動する。
試験片交換作業に支障のない退避位置までホルダ5を回
動させてピン8を締め、ホルダ5の位置を固定する。そ
の状態で試験片TPを交換し、その後、ピン8を緩めて
ホルダ5を反対方向へ回動する。ホルダ5の外側壁が座
板部1bの外側壁と一致した位置でピン8を締めるとと
もにボルト7を締付けてホルダ5の位置を固定すると、
変位計6の軸芯、すなわち接触子10の軸芯が試験片T
Pの保持方向の軸芯を横断して通過することになり、試
験片TPの直径方向の変位を正確に測定できる。
この種の直径変位検出装置を用いて試験片TPの直径方
向変位を測定する際、一般には試験片TPの周囲に3つ
の検出装置を放射状に配設して測定を行なうが、いずれ
の検出装置もその高さが同一となるようにセットされて
直径変位がそれぞれ測定される。本考案は特にこのよう
に複数個の検出装置を使用する場合に、変位計そのもの
を取外す必要がないので作業効率が極めてよくなる。
なお、ホルダ5の形状、架台1の形状等は本実施例に何
ら限定されない。また、ホルダ5の試験位置へのセット
を、ホルダ5と座板部1bの外形を合わせることにより
行なったが、試験位置の目印となるマークをホルダ5と
座板部1bとに設け、それらマークが合致した位置を試
験位置としたり、試験位置でホルダ5の一方向への回動
を抑止するガイド板を設けることが可能で、これら保持
枠の架台に対する所定位置での固定支持には種々の形態
が使用可能である。また、接触子先端10aの当接面1
0bを円形平面としたが、円形に限られない。この場
合、当接面10bにおける試験片軸方向の長さは、試験
片TPの軸方向変位よりも大きくしておく必要がある。
F.考案の効果 本考案は以上のように構成したから試験片の交換作業の
効率が向上するとともに試験片に対する変位検出装置の
セットの効率が向上する。また、試験片の交換毎に変位
計を試験機架台から取外し,取外ける必要がなく、変位
検出装置セットの再現性が確保できるとともに、各試験
片に対して同じ測定箇所に接触子等の検出部材を当接で
き、また、変位計に連接される検出部材はその長さを調
節できるよう接触子が着脱可能に接続される構造である
から、試験片に対して常時付勢される構造と相俟って検
出部材は試験片に対し確実かつその軸芯を通過するべく
当接することができ、以って、試験の信頼性が向上す
る。
【図面の簡単な説明】 第1図〜第3図は本考案の一実施例を示す図であって、
第1図は平面図、第2図はその側面図、第3図は第2図
のIII−III線断面図である。 1:架台、3:試験機基台 5:ホルダ、6:変位計 8:支点ピン、9:案内棒 10:接触子、10b:当接面 15:ばね受け、16:ばね TP:試験片

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】鉄心の変位量を電気信号に変換し出力する
    変位計と、この鉄心に連接され先端が材料試験機に保持
    された試験片の外周面に当接して試験片の直径変位を前
    記鉄心に伝える検出部材と、前記変位計を保持する保持
    枠を架台に対し検出部材を回動可能にして支持する支持
    手段と、前記保持枠側と検出部材側との間に介装され検
    出部材を試験片側に付勢する付勢手段とを備え、前記検
    出部材は試験片に当接する接触子とこの接触子を鉄心に
    取り付ける取付棒とこの接触子と取付棒を着脱可能に接
    続する接続手段からなり、かつ前記保持枠が架台に対し
    所定の位置に固定されたとき検出部材の軸芯は試験片の
    軸芯を通過するように設定されていることを特徴とする
    材料試験機における試験片直径変位検出装置。
JP1986011535U 1986-01-28 1986-01-28 材料試験機における試験片直径変位検出装置 Expired - Lifetime JPH067284Y2 (ja)

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JP1986011535U JPH067284Y2 (ja) 1986-01-28 1986-01-28 材料試験機における試験片直径変位検出装置

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62123503U JPS62123503U (ja) 1987-08-05
JPH067284Y2 true JPH067284Y2 (ja) 1994-02-23

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ID=30798841

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5283760U (ja) * 1975-12-17 1977-06-22

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JPS62123503U (ja) 1987-08-05

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