JPS5917376B2 - 試験片変形量測定装置 - Google Patents
試験片変形量測定装置Info
- Publication number
- JPS5917376B2 JPS5917376B2 JP12117181A JP12117181A JPS5917376B2 JP S5917376 B2 JPS5917376 B2 JP S5917376B2 JP 12117181 A JP12117181 A JP 12117181A JP 12117181 A JP12117181 A JP 12117181A JP S5917376 B2 JPS5917376 B2 JP S5917376B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- leaf spring
- amount
- deformation
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/022—Environment of the test
- G01N2203/0222—Temperature
- G01N2203/0226—High temperature; Heating means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は特に高圧または高温下における材料試験に使
用するに適した試験片変形量測定装置に関するものであ
る。
用するに適した試験片変形量測定装置に関するものであ
る。
密封された高圧高温容器の内部に試験片を配置し、これ
に引張り荷重などの試験荷重を与えると、高圧高温下に
おいて材料試験を行なうことができる。
に引張り荷重などの試験荷重を与えると、高圧高温下に
おいて材料試験を行なうことができる。
この場合、試験片の変形量の測定には、普通は、試験片
の変形量を一旦高圧高温容器の外部に機械的に取出し、
これを適当な測定装置によつて電気的に測定する方式か
取られている。しかしながら、試験片の変形量を高圧高
温容器の外部に取： 出すと、その取出し部材の変形な
どによつて誤差が生じ、測定精度が低いという問題があ
る。この発明は、高圧高温容器などの内部において試験
片の変形量を直接電気的に測定することができるように
し、測定精度を高めることを目的とし０ てなされたも
のである。この発明は、一対のスタンドを試験片の一対
の標点位置に固定し、ひずみゲージを付着させた板ばね
を予荷重によつて予めたわませた状態で各スタンド間に
介装し、試験片が変形する際の各スタ５ ンドの相対的
移動方向と板ばねのたわみが緩和および除去される方向
が同一の方向になるようにしたものである。
の変形量を一旦高圧高温容器の外部に機械的に取出し、
これを適当な測定装置によつて電気的に測定する方式か
取られている。しかしながら、試験片の変形量を高圧高
温容器の外部に取： 出すと、その取出し部材の変形な
どによつて誤差が生じ、測定精度が低いという問題があ
る。この発明は、高圧高温容器などの内部において試験
片の変形量を直接電気的に測定することができるように
し、測定精度を高めることを目的とし０ てなされたも
のである。この発明は、一対のスタンドを試験片の一対
の標点位置に固定し、ひずみゲージを付着させた板ばね
を予荷重によつて予めたわませた状態で各スタンド間に
介装し、試験片が変形する際の各スタ５ ンドの相対的
移動方向と板ばねのたわみが緩和および除去される方向
が同一の方向になるようにしたものである。
したがつて、試験片が変形すると、それに追随して各ス
タンドが相対的に移動し、板ばねが緩和および除去され
、板ばねのひずみ量が’０ 変化する。ひずみゲージは
板ばねのひずみ量を検出する。これによつて、試験片の
変形量が測定される。板ばねはそのたわみが完全に除去
されるまで各スタンド間に保持され、たわみが完全に除
去されるとスタンドから分離する。その後は、さら５
に試験片が変形しても、板ばねおよびひずみゲージはそ
の影響を受けない。したがつて、試験片が大きく変形し
たときのひずみゲージの損傷を避けることができ、高温
高圧容器などの内部においても安全に試験片の変形量を
測定することができるｉ０ものである。以下、この発明
の実施例を図面について説明する。
タンドが相対的に移動し、板ばねが緩和および除去され
、板ばねのひずみ量が’０ 変化する。ひずみゲージは
板ばねのひずみ量を検出する。これによつて、試験片の
変形量が測定される。板ばねはそのたわみが完全に除去
されるまで各スタンド間に保持され、たわみが完全に除
去されるとスタンドから分離する。その後は、さら５
に試験片が変形しても、板ばねおよびひずみゲージはそ
の影響を受けない。したがつて、試験片が大きく変形し
たときのひずみゲージの損傷を避けることができ、高温
高圧容器などの内部においても安全に試験片の変形量を
測定することができるｉ０ものである。以下、この発明
の実施例を図面について説明する。
図において、試験片１は密封された高温高圧容器の内部
に配置されている。
に配置されている。
この実施例では、切■５ 欠２を設けた試験片１に、切
欠２の両側から引張荷重を与え、試験片１を開口変位さ
せ、切欠２から亀裂３を生じさせる試験にこの発明が使
用されている。試験片変形量測定装置は、板ばね４を有
し、高圧高温容器の内部において試験片１の変形量、す
なわち開口変位量を電気的に測定する。試験片１の一対
の標点位置は切欠２の両側に設定され、各標点位置にそ
れぞれスタンド５，６が固定されている。上側のスタン
ド５は、Ｌ字形状のもので、下側のスタンド６を越えて
その下方にのびている。板ばね４は、引張荷重軸に平行
に配置され、その一端は上側のスタンド５の先端に取り
付けられている。板ばね４の他端には、横方向にのびる
係合片７が取り付けられている。下側のスタンド６には
、調節ねじ８ばねじ合わされている。板ばね４はあらか
じめたわまされており、その復元力によつて係合片７と
調節ねじ８の間にピン９が挟みつけられている。すなわ
ち、調節ねじ８によつて板ばね４に予荷重が与えられ、
板ばね４はその予荷重によつて予めたわまされ、各スタ
ンド５，６間に介装されているものである。試験片１が
変形する際の各スタンド５，６の相対的移動方向と板ば
ね４のたわみが緩和および除去される方向は同一の方向
である。ピン９と係合片７、調節ねじ８は、それぞれ接
触しているだけであり、板ばね４のたわみを除去すると
、分離させることができる。ピン９は、試験荷重軸に平
行に配置され、上側のスタンド５の貫通孔に挿入されて
いる。板ばね４には、耐高温高圧シールがほどこされた
抵抗線ひずみゲージ１０が付着されている。ひずみゲー
ジ１０は、抵抗線によつて板ばね４のひずみ量を電気的
に検出し、これをリード線１１によつて高圧容器の外部
に取り出すことができる。第２図はひずみゲージ１０の
側面図である。ひずみゲージ１０の抵抗線はカプセル１
２によつて密封被覆され、耐高温高圧シールはこのカプ
セル１２にほどこされている。ひずみゲージ１０を板ば
ね４に付着するには、例えばカプセル１２を数個所で板
ばね４にスポツト溶接すればよい。前記のように構成さ
れた試験片変形量測定装置において、試験片１に切欠２
の両側から引張荷重を与えると、試験片１が開口変位し
、上側のスタンド５は上方に変位する。下側のスタンド
６は、下方に変位する。したがつて、板ばね４のたわみ
が緩和され、そのひずみ量は変化する。抵抗線ひずみゲ
ージ１０は、板ばね４のむずみ量を電気的に検出する。
これがリード線１１から取り出され、試験片１の変形量
、すなわち開口変位量が測定される。ピン９は、係合片
７および調節ねじ８に対し横方向に揺動し、係合片７が
調節ねじ８に対し横方向に変位することを可能にする。
したがつて、スタンド５，６の変位が板ばね４に円滑に
、かつ的確に伝達され、試験片１の変形量が正確に測定
される。試験片１の変形量の測定は板ばね４のたわみが
完全に除去されるまで行われる。
欠２の両側から引張荷重を与え、試験片１を開口変位さ
せ、切欠２から亀裂３を生じさせる試験にこの発明が使
用されている。試験片変形量測定装置は、板ばね４を有
し、高圧高温容器の内部において試験片１の変形量、す
なわち開口変位量を電気的に測定する。試験片１の一対
の標点位置は切欠２の両側に設定され、各標点位置にそ
れぞれスタンド５，６が固定されている。上側のスタン
ド５は、Ｌ字形状のもので、下側のスタンド６を越えて
その下方にのびている。板ばね４は、引張荷重軸に平行
に配置され、その一端は上側のスタンド５の先端に取り
付けられている。板ばね４の他端には、横方向にのびる
係合片７が取り付けられている。下側のスタンド６には
、調節ねじ８ばねじ合わされている。板ばね４はあらか
じめたわまされており、その復元力によつて係合片７と
調節ねじ８の間にピン９が挟みつけられている。すなわ
ち、調節ねじ８によつて板ばね４に予荷重が与えられ、
板ばね４はその予荷重によつて予めたわまされ、各スタ
ンド５，６間に介装されているものである。試験片１が
変形する際の各スタンド５，６の相対的移動方向と板ば
ね４のたわみが緩和および除去される方向は同一の方向
である。ピン９と係合片７、調節ねじ８は、それぞれ接
触しているだけであり、板ばね４のたわみを除去すると
、分離させることができる。ピン９は、試験荷重軸に平
行に配置され、上側のスタンド５の貫通孔に挿入されて
いる。板ばね４には、耐高温高圧シールがほどこされた
抵抗線ひずみゲージ１０が付着されている。ひずみゲー
ジ１０は、抵抗線によつて板ばね４のひずみ量を電気的
に検出し、これをリード線１１によつて高圧容器の外部
に取り出すことができる。第２図はひずみゲージ１０の
側面図である。ひずみゲージ１０の抵抗線はカプセル１
２によつて密封被覆され、耐高温高圧シールはこのカプ
セル１２にほどこされている。ひずみゲージ１０を板ば
ね４に付着するには、例えばカプセル１２を数個所で板
ばね４にスポツト溶接すればよい。前記のように構成さ
れた試験片変形量測定装置において、試験片１に切欠２
の両側から引張荷重を与えると、試験片１が開口変位し
、上側のスタンド５は上方に変位する。下側のスタンド
６は、下方に変位する。したがつて、板ばね４のたわみ
が緩和され、そのひずみ量は変化する。抵抗線ひずみゲ
ージ１０は、板ばね４のむずみ量を電気的に検出する。
これがリード線１１から取り出され、試験片１の変形量
、すなわち開口変位量が測定される。ピン９は、係合片
７および調節ねじ８に対し横方向に揺動し、係合片７が
調節ねじ８に対し横方向に変位することを可能にする。
したがつて、スタンド５，６の変位が板ばね４に円滑に
、かつ的確に伝達され、試験片１の変形量が正確に測定
される。試験片１の変形量の測定は板ばね４のたわみが
完全に除去されるまで行われる。
板ばね４のたわみが完全に除去されると、係合片７がピ
ン９から離れ、板ばね４の他端は下側のスタンド６から
分離される。その後は、さらに試験片１が変形しても、
板ばね４、ひずみゲージ１０はその影響を受けない。し
たがつて、ひずみゲージ１０の損傷を回避することがで
きる。ピン７は、係合片７から解放され、落下する。さ
らにこの実施例ではピン９の両端は鉛筆の芯のように円
錐状にとがらしておき、それが係合片７および調節ねじ
８に当接するときには先端で点接触となる。
ン９から離れ、板ばね４の他端は下側のスタンド６から
分離される。その後は、さらに試験片１が変形しても、
板ばね４、ひずみゲージ１０はその影響を受けない。し
たがつて、ひずみゲージ１０の損傷を回避することがで
きる。ピン７は、係合片７から解放され、落下する。さ
らにこの実施例ではピン９の両端は鉛筆の芯のように円
錐状にとがらしておき、それが係合片７および調節ねじ
８に当接するときには先端で点接触となる。
さらに、係合片７および調節ねじ８に当接する部分は多
少空隙ができるような凹形状のくぼみが形成されている
。
少空隙ができるような凹形状のくぼみが形成されている
。
従つて、試験片１の破断変位にともなつて、ピン９が若
干傾斜するようなことがあつても、点接触状態は維持さ
れるので試験片１１の変位量とピン９の変位量とは正確
に対応する。なお前記実施例では、板ばね４の片面にひ
ずみゲージ１０を貼りつけた場合について説明したが、
板ばね４の両面にひずみゲージを貼りつけてもよい。
干傾斜するようなことがあつても、点接触状態は維持さ
れるので試験片１１の変位量とピン９の変位量とは正確
に対応する。なお前記実施例では、板ばね４の片面にひ
ずみゲージ１０を貼りつけた場合について説明したが、
板ばね４の両面にひずみゲージを貼りつけてもよい。
なお、この発明は普通の引張試験、圧縮試験などに使用
することもできる。
することもできる。
以上説明したように、この発明は、板ばねを予めたわま
せた状態で一対のスタンド間に介装し、試験片の変形に
追随して板ばねのたわみか緩和および除去されるように
したから、ひずみゲージによつて板ばねのひずみ量を検
出し、試験片の変形量を測定することができる。
せた状態で一対のスタンド間に介装し、試験片の変形に
追随して板ばねのたわみか緩和および除去されるように
したから、ひずみゲージによつて板ばねのひずみ量を検
出し、試験片の変形量を測定することができる。
板ばねのたわみが完全に除去された後、板ばねがスタン
ドから分離され、ひずみゲージの損傷は回避される。し
たがつて、高温高圧容器の内部においても、試験片の変
形量を電気的に測定することを可能にし、従来のこの種
の測定精度を高めることができるものである。
ドから分離され、ひずみゲージの損傷は回避される。し
たがつて、高温高圧容器の内部においても、試験片の変
形量を電気的に測定することを可能にし、従来のこの種
の測定精度を高めることができるものである。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は第
１図のひずみゲージを示す側面図である。 １・・・・・・試験片、４・・・・・・板ばね、５，６
・・・・・・スタンド、７・・・・・・ピン。
１図のひずみゲージを示す側面図である。 １・・・・・・試験片、４・・・・・・板ばね、５，６
・・・・・・スタンド、７・・・・・・ピン。
Claims (1)
- １ 試験片の一対の標点位置にそれぞれ固定される一対
のスタンドと、予荷重によつて予めたわまされた状態で
前記各スタンド間に介装される板ばねと、前記板ばねに
付着されたひずみゲージからなり、前記試験片が変形す
る際の前記各スタンドの相対的移動方向と前記板ばねの
たわみが緩和および除去される方向が同一の方向になる
ように前記板ばねが前記各スタンド間に介装されている
ことを特徴とする試験片変形量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12117181A JPS5917376B2 (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 試験片変形量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12117181A JPS5917376B2 (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 試験片変形量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821540A JPS5821540A (ja) | 1983-02-08 |
| JPS5917376B2 true JPS5917376B2 (ja) | 1984-04-20 |
Family
ID=14804597
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12117181A Expired JPS5917376B2 (ja) | 1981-07-31 | 1981-07-31 | 試験片変形量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5917376B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0685972B2 (ja) * | 1984-10-12 | 1994-11-02 | 富士重工業株式会社 | スプラインピ−スの冷間塑性加工方法 |
| JP2007315853A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 歪測定装置 |
| DE102007024694A1 (de) * | 2007-05-25 | 2008-11-27 | Areva Np Gmbh | Vorrichtung, Messanordnung und Verfahren zur Messung von langsam ablaufenden Bewegungen eines Probenstücks |
| DE102007051519B4 (de) * | 2007-10-19 | 2013-04-11 | Technische Universität Bergakademie Freiberg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Werkstoffkenngrößen an Messobjekten während der Behandlung in Druckbehältern |
-
1981
- 1981-07-31 JP JP12117181A patent/JPS5917376B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5821540A (ja) | 1983-02-08 |
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