JPH0234071A - ポート・テスト装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は電子計算機、より詳細に言えば、入力／出力ポ
ート及びデータ・プロセッシング・システムのケーブル
をテストするための物理的に小型のテスト器具に間する
。

Ｂ、従来の技術 最近の中型のデータ・プロセッシング・システム及び主
フレーム相当の装置は、プロセッサ・ユニットそれ自身
から離隔した端末装置によって、１０単位以上のユーザ
、時には何面単位ものユーザに接続されている。この「
離隔」という述語は、ベースバンド・ケーブルを介して
直接に接続された端末装置についての数メートルから数
百メートルの距離から、電話線、またはサテライト・リ
ンク等の通信設備を介して接続された端末装置について
の数百キロメートル、または数千キロメートルの距離ま
でに亙る範囲を意味する。

端末装置及びそれらのプロセッシング・システムの闇の
付属装置は、故障を起し易い、それらは、配線とか、コ
ネクタのような本来あまり強靭でない素子を使用してい
る。配線はしばしば、地域的な設備内に構成された構造
を介して伸びており、検査することが困難である。付属
装置は、ユーザや、その他の非専門家によって、しばし
ば修正され、再配置される。

データ処理システムの入力／出力ポートをチエツクする
ことは、長尺で隠れたケーブルの両端の連続性をチエツ
クすることや、端末装置、または他のＩ１０装置、即ち
周辺装置を代替手段で、中央プロセッサに装着すること
や、多大な時間と努力を要する他の作業を含んでいるの
で、データ処理システムの入力／出力ポートをチエツク
することは、従来、困難なことであった。

Ｃ０発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、入力／出力ポート及びデータ・プロセ
ッシング・システムのケーブルをテストするための物理
的に小型のテスト器具を提供することにある。

Ｄ１問題点を解決するための手段 本発明は、ケーブルを、しばしばチエツクすることなく
、またその他の骨の折れる作業をすることなく、データ
処理分野の専門家ではない人によっても、データ処理シ
ステムの周辺装置を容易に行うことが出来る小型のテス
ターに関している。

本発明は、Ｉ１０装置をチエツクして、故障した装置を
正確に特定することが出来る物理的に小型で安価なテス
ターを提供する。

本発明のテスターは、データ・ケーブルに接続するため
のコネクタを含む手で握れるハウジングと、信号入力回
路と、ケーブルで転送されるデータの信号速度及び位相
に同期したクロックと、ケーブルのデータ・プロトコル
の成る種のビット・パターンを検出して、テスターの接
続点まで、システムの適正な動作を表示する信号を発生
するデコーダー回路と、そのような適正な動作をテスタ
ーの使用者に知らせるための少なくとる１つの表示手段
を含んでいる。

Ｅ、実施例 第４図は本発明の装置が適用されるデータ処理システム
の環境を示している０通常のデータ処理システム１００
は、少なくとも１台の処理ユニット、即ちエンジン１１
１を含む中央電子式コンプレックス（ＣＥＣ）１１０と
、オペレータにメツセージを表示し、且つオペレータか
らコマンドを受は取るコンソール端末装置と、周辺装置
のための制御装置を接続するための入力／出力パス、即
ちチャンネル１１３とを含んでいる。上述の制御装置は
通常、プロセッサ自身に含まれ、そして複数個のＩ１０
装置へのデータの転送、または複数個のＩ１０装置から
のデータの転送を監督する。

例えば、ストレージ制御装置１１４は複数個のディスク
装置（図示せず）を制御する。

他のタイプの制御装置は、複数個のワークステーション
端末装置へ、または複数個のワークステーション端末装
置からのデータの転送を監督するワークステーション制
御装置（ＷＳ制御装置）１１５である。このＷＳ制御装
置１１５は、ＣＥＣｌｌ０の中に物理的に装着して、パ
ス１１３に直接に接続することが出来るし、または、遠
隔地に設置して、参照数字１１６で示したように、通常
の通信制御装置によって、パス１１３に接続することも
出来る。

ディストリビューション・システム１２０は、ＷＳ制御
装置１１５へ、またはＷＳ制御装置１１５からのデータ
を配分する。各ＷＳ制御装置１１５は、複数個の入力／
出力ポートを監督し、各ポートは複数個のワークステー
ション端末装置を接続する能力がある０代表的な導入シ
ステムにおいて、ケーブル１２１は６対、または８対の
ワイヤを月並なケーブル・ファンアウト・ボックス１２
２に接続する。各ポートに対する１２３のような独立し
たケーブルはファンアウト・ボックス１２２から出発し
て、設置場所を通って、別々にそれらの通路に行く。こ
の例では、７台までのワークステーションをマルチドロ
ップ（多分岐）構成で１つのポートに装着することが出
来る。

ワークステーション１３０はＩＢＭ３１８０型端末装置
のような通常のデイスプレ一端末装置と、エミュレータ
・カード１３３を含む１８Ｍパーソナル・コンピュータ
ＰＳ／２のようなインテリジェント端末装置、または１
８Ｍ３８１２型プリンタのような印字装置１３４を含ん
でいる。最後の端末装置はライン１２３に生じる反射を
避けるための成端インピーダンス１２５を持っている。

各端末装置１３０内の内部配線１３５は、各端末装置と
関連した２つのコネクタ１３６を結合し、そしてインピ
ーダンスのミスマツチを発生することなく端末回路への
ケーブル信号を方路する。コンソール１１２は、プロセ
ッサ１１１に直接に接続する代りに、ＷＳ制御装置１１
５を通してシステムに接続された１３１、または１３２
のような指定されたワークステーションであってもよい
。

第２図及び第３図は、本発明に従ったポート・テスター
を示す。長円形の円筒状ハウジング、即ちケース２１０
は、手で容易に握れるような寸法にされており、図示の
実施例では、約２７センチメードルの高さと、基底部２
１１が、約６．５センチメートル×４センチメートルの
寸法にされている。ケースはＡＢＳ樹脂のような耐磨耗
性が高い合成樹脂製であるのが好ましい。これは、通常
の嵌め合わせ式の構造で、簡単で安価に製造することが
出来る。

電気コネクタ２２０は、ハウジング２１０の上面に設け
られた、雌型をねじ込むための外側にねじ溝を持つ標準
的なツイン同軸ケーブル用コネクタ２２１を含んでいる
（ツイン同軸ケーブルは、絶縁体と柔軟な導体シールド
で取り巻かれた２本のバランスされた信号導体を有して
おり、そのシールドはこのコネクタの外殻に電気的に接
続されている）。内側にねじ溝を持つ雌型のコネクタ２
２２は、ハウジングの上面２１２を通って伸びている短
いツイン同軸ケーブルの部分２２３に装着されている。

このケーブル部分は可撓性のプラスチック・クリップ２
１３によってハウジング上に止められており、このプラ
スチック・クリップ２１３は、ハウジングに対して容易
に、ケーブル部分を取り外したり、または、取り付ける
ことが出来るものである。また、このクリップは独立し
た別個のものにすることが出来るが、ハウジングと一体
的に形成されているのが好ましい、　ハウジング２１０
の背面２１４にある標準的な電話用ＲＪ−１１型ジャッ
ク２２５は、連結プラグを有する電話用撚線のベアー（
ｔｅｌｅｐｈｏｎｅ　ｔｗｉｓｔｅｄ−ｐａｔｒ−Ｔ　
ＴＰ）であるデータ・ケーブルを受は入れる（撚線のへ
アーのラインは、外部信号源からのノイズの導入を少な
くするために、相互に撚られ、シールドされていない２
本の信号線を持っている。）。

標準的なＲＪ−１１プラグは、ハウジング２１０中に伸
びる短い電話型のハンド・セット・コードに接続されて
いる。第２図に示されているように、ハウジング２１０
の底部にある窪み２１５は、コード２２７をプラグ２２
６に巻きつけて、これらを収納する空間として利用する
。

制御及び指示部２３０は、テスター２００を握っている
時にも、指示部が容易に見ることが出来るように配置さ
れている。３位置のテスト選択スイッチ２３１は、ハウ
ジングの前面２１６の容易に見える位置に設けられてい
る。このテスターを右手で握った時、一方の側面に設け
られた「テスト」押しボタン２３２は、自然に左手の親
指の所に来る。それと同時に、表示灯は目で見える場所
にある。緑色の発光ダイオード（ＬＥＤ　）２３３と黄
色のＬ；ＥＤ２３４は種々のテスト結果を表示する。

システム１００をチエツクするために、ポート・テスタ
ー２００ｔ！：使用する前に、選択スイッチ２３１を第
２図に示したマーク「０」に移動することによって、テ
スターの自己テストを行う、緑色及び黄色のＬＥＤ２３
３及び２３４の両方が、２乃至３秒間、点灯すれば、テ
スター２０′０は正しく機能していることを示している
。この選択スイッチがこの位置にある時、このテスター
は全てのコネクタ２２０が内部回路から遮断されるので
、テスターの使用者は、何時でもこのテスターを自己テ
ストすることが出来る。

第４図に示したケーブル１２３の１つに接続されたワー
クステーションが故障した時、システム・コンソール１
１２にエラー・コードが表示される。

例えば、ＩＢＭシステム／３６型のプロセッサにおいて
、システム・リファレンス・コードがメツセージと共に
、コンソールのデイスプレー・スクリーンに表示される
。テスターの使用者は、使用者自身の問題分析及び解決
（ＰＡＲ）プロシージャに従うよう選択することが出来
る０本発明のポート・テスタを実際のの回路のテストに
使用する時、先づ最初に、ファン・アウト・ボックス１
２２にある故障したポートのケーブル１２３を取外して
、ポート・テスターに設けられた相当するコネクタ２３
０（ツイン型同軸用、即ちＴＴＰの雄型、または雌型）
をファンアウト・ボックスのコネクタに接続する。ツイ
ン同軸ケーブルの場合は、ポート・テスターの選択スイ
ッチ２３１を位置「１」に移動し、ＴＴＰ配線の場合に
対しては、選択スイッチを位置「２」に移動する。テス
ト・ボタン２３１を押し、そして、そのボタンを少なく
とも２０秒間押し続ける（即ち、ポートに接続されてい
るすべての端末装置が制御装置１１５によってボールさ
れるまでの時間）０次に示されたようなＬＥＤの表示を
読み取る。

緑色　黄色 オン　オン オン　オフ 状態 自己テストは適正に行われた。

システムはＣＥＣｌｌ０とボー ト・テスターの接続されてい 所までの間で適正に動作して る。

位相反転エラー。データ・ケー プル１２３の２本の導体を相互 に交換する。

オフ　オン オフ　オフ　　システムはＣＥＣｌｌ０とケーブル１２
３上のテスターの位置 との間で故障している。

若し、両方のＬＥＤが点灯したならば、ケーブル１２３
をファンアウト・ボックス１２２に再接続する。次に、
端末装置１３１のこのケーブルの部分の他の端部の接続
を外し、そして、この端末装置のコネクタ１２４にポー
ト・テスターを接続する。故障を発見するまで、このケ
ーブルの部分の各端部でこのテストを繰り返す。

より複雑なチエツクに対しては、システム１００自身に
間するインストラクション・ブック、またはオンライン
解説書を準備することが出来る。

第１図は、ポート・テスターの回路４００を示す、成端
装置４１０は、通常の方法でコネクタ２２０のインピー
ダンス整合を与えるので、テスターは信号反射を第４図
のケーブル１２３に発生しない。ツイン同軸コネクタ２
２１及び２２２は、ツイン同軸ラインの特性インピーダ
ンスを持つバランを有する成端装置４１１に接続されて
いる。

ＴＴＰコネクタ２２５及び２２６は、両方とも同様に、
このラインのインピーダンスに対して選択されたパラン
を持つ成端装置に接続されており、との成端装置は通常
の低域濾波器を含んでいる。

信号入力回路４２０は、ＴＷＸ入力装置４２１、または
ＴＴＰ入力装置４２２によって、コネクタ２２０からの
生の信号から、適正な電圧を持つ新鮮なデータ信号入力
に変換し、そして後続するディジタル回路に対して波形
を整形する。これは、第４図の１３１のように、ワーク
ステーション端末装置中の信号を受は取るのに用いられ
るものと同じ月並な仕方で行われる。ツイン同軸ケーブ
ル（ＴＷＸ’）による信号入力装置４２１はコネクタ２
２１及び２２２のツイン同軸ケーブルの電圧から、０／
＋５ボルトの論理信号へ変換する。また、この装置は、
歪んだ入力信号を、高速の遷移時間を持つ論理パルスに
成形するための標準的な閾値機能を含んでいる。ＴＴＰ
による信号入力装置４２２は、コネクタ２２５または２
２６からの悪化したＴＴＰ入力信号を０／＋５ボルトの
論理信号に変換するため同様の動作を遂行する。

テスト選択スイッチ２３１は、ツイン同軸ケーブルによ
る信号入力装置４２１、またはＴＴＰによる信号入力装
置４２２の何れかを、検出装置４３０の入力端子４０１
に接続する３極スライダ式スイッチである。自己テスト
・モードの場合、スイッチ２３１は、その中央位置にお
いて、デコーダ回路の入力４０２ｔ！：接地する。

クロック回路４４０は、第４図のワークステーション制
御装置１１５によって、ケーブル１２３を介して転送さ
れるデータ・ビットの周波数及び位相のクロック・パル
スに相当するパルス列を与える。水晶発振器４４１はデ
ータ周波数（２ＭＨ２）と、より高い周波数（１６ＭＨ
ｚ）でクロック・パルスを発生する。このクロック信号
の遷移と、データ入力４０１の遷移とを整列させるため
に、シンクロナイザ４４２が、これらのデータ入力４０
１をマツチするために、生のクロック信号４０３の遷移
を時間シフトする。これは、例えば、ＵＡＲＴ　（万能
非同期式受信／送信回路）の集積回路において共通に遂
行される通常の機能である。

従って、同期クロック信号４０４は、周波数及び位相が
データ入力信号とマツチし、そしてケーブル１２３から
の信号中のデータ・ビットを調時するためのタイム・ス
ロット、即ちタイム・ウィンドウｔ−与える。

この携帯用ポート・テスターのための電源は、内部のリ
チウム電池４５１ｔ−含んでいる。この電池は寿命が永
く（約１０年の寿命）、この適用例の場合、約７５０回
のテスト・サイクルを行うことが出来る。この電池は交
換可能である。テスターの価格に跳ね返る問題を与え、
そして、誤って電源スィッチを切り忘れた場合に、電池
を消耗させるような問題を、電源スィッチの無いこの電
源回路４５０によって避けることが出来る。電源スィッ
チの代りに、ライン４０５に示されているように、テス
ト・ボタン２８２がテスターのすべての回路への電力を
供給する。電源が投入されたときに、グリッチ（ｇｌｉ
ｔｃｈ　）　ｔ−避けるために、月並なパワー・オン・
リセット回！８４５２が「電源異常なし」の論理信号を
他の回路に供給する。

デコーダー回路４３０は、適正な動作、またはエラー状
態を示す複数の異なったビット列を検出するために、ケ
ーブル１２３を通った入力データ・ストリームを分析す
る。この特定の実施例によって使用されたデータのプロ
トコルは、標準的な２位相コード、または位相変調コー
ドでエンコードされた１６ビツト・フレームのグループ
を含むメツセージ中のコマンド及びデータを転送する。

各ビット・セルは１マイクロ秒の長さを持っている。

データ信号は、フレームが転送されていない時、高レベ
ルにある。メツセージの初めは、５個の１ビツト（０，
５秒の低レベルを従えた０、５マイクロ秒の高レベル）
の「静」のビット列と、「コード違反」のビット列（１
，５マイクロ秒の高レベルと、５マイクロ秒の低レベル
）を含む。各フレームはパリティ・ビットを含んでいる
。プロトコルの中にボール・コマンドがあり、このコマ
ンドは、特定のメツセージを返すことによって、それ自
身を識別するために、ポートの特定のアドレス（０〜７
）における端末装置を要求するコマンドである。プロト
コルが、１０秒以内のインターバルで、１つのポートに
関するすべての受信人に属するアドレスをボールするよ
う、制御装置１１５に要求するので、ボールは、このテ
スターによるテストをする場合に、好都合なフレームで
ある。

従って、たとえ、ポートがアクティブな端末装置を持っ
ていなくとも、ＷＳ制御装置１１５が少なくとも約１０
秒位毎にボール・コマンドを転送することが分っている
。これは、少なくとも物理的なケーブルが完全である事
実を示す所定のビット列を与える。ボール・コマンドの
フオームは、以下の通りである。

１００００ＸＸＯＸＸＸＰＯＯＯ ここで、３個のＸのグループは、ボールされた端末アド
レスを示す、Ｐはパリティ・ビットである。

クロック信号４０４は、入力４０１から４８ビツトのシ
フトレジスタ４３１を調時する。パリティ・チエッカ−
４３２は、フレームのパリティが正しければ、パリティ
信号を発生する。同時に、比較装置であるボール信号発
生回路４３．３は、ボール・コマンドがシフト・レジス
タ４３１で検出された時、ボール検出信号を発生する。

比較装置である開始信号発生装置４３４はメツセージ開
始ビット列（静止／コード違反）を検出する。アンド・
ゲート４３５は、これらの３つの状態が発生した時、表
示装置ＬＥＤ２３３を点灯して、ポートに誤動作のない
ことを表示する。ラッチ４３６は、テスト・ボタン２３
２が解放されるまで、この指示灯ＬＥＤをオンに保って
いる。

他の比較装置である開始信号反転回路４３７は、開始ビ
ット列を検出するが、しかし、すべてのビット極性を反
転する。このパターンは、ケーブル１２３のデータ導体
が反転されたことを表示し、オア・ゲート４３８を介し
て、黄色のＬＥＤを点灯する。ラッチ４３９は、テスト
・ボタン２３１が解放されるまで、このＬＥＤをオンに
保つ。

選択スイッチ２３１がライン４０２を接地した時、自己
テスト論理回路４６０が介入する。テスト列発生器４６
１は、ライン４０２（反転された）に応答して、正しい
パリティを持つボール・コマンドを従えた有効開始ビッ
ト列を発生する。スイッチ論理回路４６２は、ライン４
０２に応答して、外部データ信号の代りに、シフト・レ
ジスタ４３１に有効開始ビット列をゲートする。この有
効開始ビット列は、若し、テストが適正に動作したなら
ば、ＬＥＤ２３３を点灯する。また、自己テスト信号４
０２は、オア・ゲート４３８の反転入力を通って、黄色
のＬ　Ｅ　Ｄ　２３４　ｅ点灯する。

Ｆ８発明の詳細 な説明したように、本発明は入力／出力装置をチエツク
して、正確な方法で、故障した装置を特定するための物
理的に小型で、安価な入／出力ポート・テスターを与え
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従ったポート・テスターに含まれてい
る回路の実施例を示す図、第２図は本発明のポート・テ
スターの実施例の外観を示す斜視図、第３図は第２図に
示したポート・テスターの背面を示す図、第４図は本発
明を適用する環境を持つデータ処理システムの高レベル
のブロック図である。 １２３・・・・ケーブル、１１５・・・・ワークステー
ション制御装置、２００．２２０・・・・コネクタ、２
２、２２２・・・・ツイン同軸ケーブル用コネクタ、２
２５．２２６・・・・ＴＴＰ用コネクタ、２３１・・・
・選択スイッチ、２３２・・・・テスト・ボタン、２３
３．２３４・・・・発光ダイオード、４００・・・・ポ
ート・テスターの回路、４２０・・・・信号入力回路、
４２１・・・・ツイン同軸ケーブルによる信号入力装置
、４２２・・・・ＴＴＰによる信号入力装置、４３０・
・・・デコーダー回路、４３１・・・・シフトレジスタ
、４３２・・・・パリティチエッカ−１４３３・・・・
ボール信号発生回路、４３４・・・・開始信号発生回路
、４３７・・・・開始信号反転回路、４４０・・・・ク
ロック回路。 ｒ　１　コ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 データ処理システムの入出力ポートのためのポート・テ
   スト装置であつて、該ポートは、該システムを入出力装
   置に接続するためのケーブルをもち、該ケーブルは、該
   入出力装置と通信するための予定のレートとプロトコル
   をもつ信号を搬送し、該プロトコルは、予定の複数の多
   重ビット・コードを含むようなポート・テスト装置にお
   いて、（ａ）携帯用に適合したサイズと形状をもつハウ
   ジング手段と、 （ｂ）上記ハウジング手段に取り付けられ、上記ケーブ
   ルに結合するように適合されたコネクタ手段と、 （ｃ）上記コネクタ手段に接続され、上記信号を予定の
   形式に変換するための受信手段と、 （ｄ）上記予定のレートに関連付けられたクロック信号
   を発生するためのクロック手段と、 （ｅ）上記クロック手段と上記受信手段に接続され、上
   記ケーブル上で、上記信号の、少なくとも上記多重ビッ
   ト・コードのうちの予定のものがあるという条件を検出
   するためのデコーダ手段と、（ｆ）上記ハウジング手段
   に設けられ、上記デコーダ手段に応答して上記ポートの
   適正動作を表示するための表示手段と、 （ｇ）上記ハウジング内にあつて、上記各手段のうち電
   力を必要とするものに電力を供給するための電力手段、 とを具備するポート・テスト装置。