TWI507703B - 電子裝置及用於測試電子裝置之方法及系統 - Google Patents

Description

電子裝置及用於測試電子裝置之方法及系統

本發明大體上係關於電子裝置，且更特定言之，係關於測試電子裝置。

通常在製造期間測試諸如媒體播放器、攜帶型電腦及蜂巢式電話之電子裝置。常常使用遵照IEEE 1149.1標準之程序來執行測試。有時被稱作聯合測試動作小組(JTAG)測試之此類型的測試可用以擷取且分析掃描鏈資料且執行其他除錯程序。

對於習知JTAG測試程序可出現挑戰。在一些情形下，有必要探測裝置內之印刷電路板以執行測試或一旦測試完成，則對印刷電路板進行製造改變。其他測試程序依賴於易受凍結影響之裝置軟體。

因此將需要能夠提供用於測試電子裝置之改良之技術。

一電子裝置可具備音訊電路及經組態以支援測試模式操作之控制器電路。諸如一可反轉連接器之連接器可插入至該電子裝置中之一配合裝置連接器中。該可反轉連接器可在一正常定向抑或該可反轉連接器相對於該正常定向旋轉180°之一反轉定向上連接至該裝置連接器。該裝置連接器可具有藉由一接地環繞之六個觸點。該可反轉連接器可具有與該裝置連接器接地配合之一接地及與該裝置連接器中之該六個觸點中的一些或所有配合之觸點。

在測試模式操作期間，一測試器可使用該可反轉連接器耦接至該裝置連接器。該測試器可產生電壓、電阻、時變信號或指引該裝置組態切換電路以支援測試之其他輸入。該裝置中之監視電路可用以偵測來自該測試器之輸入。回應於來自該測試器之經偵測輸入，該切換電路可經調整以將控制器耦接至該裝置連接器。該控制器可用以執行測試模式操作，諸如聯合測試動作小組測試操作。在正常操作期間，該切換電路可經組態以將該音訊電路或其他電路耦接至該裝置連接器。

本發明之其他特徵、其性質及各種優勢將自隨附圖式及較佳實施例之以下詳細描述更顯而易見。

電子裝置可具備支援測試之電路。圖1中展示具有支援測試之電路之裝置的說明性系統環境。如圖1中所展示，系統10可包括電子裝置，諸如電子裝置12。電子裝置12可為攜帶型電子裝置或其他合適的電子裝置。舉例而言，電子裝置12可為膝上型電腦、平板電腦、稍較小的裝置(諸如，手錶裝置、懸掛式裝置、頭戴式耳機裝置、耳機裝置或其他可穿戴或小型裝置)、蜂巢式電話、媒體播放器、諸如桌上型電腦之較大裝置、整合至電腦監視器中之電腦或其他電子裝置。

裝置12可包括連接器，諸如連接器14。連接器14可具有兩個觸點、三個觸點、四個觸點、五個觸點、六個觸點、六個或六個以上觸點、六個或六個以下觸點(例如，接地 觸點及五個或五個以下觸點)、七個觸點、七個或七個以上觸點、七個或七個以下觸點(例如，接地觸點及六個或六個以下觸點)、三十個觸點，或任何其他合適數目個觸點。

連接器14可耦接至不同類型之外部設備。如圖1中所展示，可連接至裝置12之類型的外部設備16包括諸如電力配接器18之電源供應器、諸如附件26之附件及諸如測試器30之測試器(作為實例)。

電力配接器18可將來自交流電(AC)源20之交流電電力轉換成連接器22處之直流電(DC)信號。在需要對裝置12中之電池充電或以其他方式將電力提供至裝置12時，電力配接器連接器22可連接至配合電子裝置連接器14，如由路徑36所說明。

附件26可包括與連接器14配合之諸如連接器24之連接器。附件26可為具有麥克風之單聲道或立體聲耳機、不具有麥克風之單聲道或立體聲耳機、充電站、外部揚聲器集合、電腦(例如，用以將電力提供至裝置12及/或用以將資料與裝置12同步之膝上型或桌上型電腦)，或其他合適附件或外部設備。在需要將附件26用於裝置12時，可將附件連接器24插接至電子裝置12之連接器14中，如由路徑34所指示。

可使用測試器30執行測試。測試器30可為聯合測試動作小組(JTAG)測試器或支援其他測試協定之測試設備。JTAG測試器有時使用四個或五個接針介面(例如，包括諸 如JTAG測試資料輸入接針TDI、JTAG測試資料輸出接針TDO、JTAG時脈接針TCK、JTAG狀態機控制接針TMS及在需要時之重設接針的接針之介面)。在一些測試環境下，可需要最小化接針計數，因此已開發出經由兩個接針(例如，使用SWDIO資料接針及時脈接針SWCLK)支援測試之諸如串列線除錯(SWB)協定之協定。串列線除錯介面可用以支援JTAG測試。在本文中有時將其中測試器30為可支援JTAG及/或串列線除錯測試之類型的測試器之說明性組態作為實例來描述。然而，一般而言，測試器30可支援任何合適的測試協定。如由路徑32所展示，測試器30之測試連接器28可在需要測試裝置12時與電子裝置12之連接器14配合。

圖2中展示可在電子裝置12中提供之說明性電路。如圖2中所展示，諸如路徑58之路徑可耦接至連接器14。路徑58可包括印刷電路板或其他基板上之導電跡線。諸如積體電路、開關、感測器及其他裝置之組件可安裝於基板上。路徑58中之跡線或其他導電線可各自連接至連接器14中之各別觸點。若(例如)連接器14含有四個、五個、六個或七個觸點，則四個、五個、六個或七個觸點中之每一者可連接至路徑58中之各別線。

裝置12可使用諸如監視器電路54之監視器電路來監視連接器14之狀態。舉例而言，監視器電路54可監視連接器14之觸點是否存在指示裝置12應進入測試模式(例如，JTAG模式)之信號或連接器特性。

切換電路52可用以將通信路徑58中之線選擇性地耦接至諸如路徑60及62中之線的線。舉例而言，在藉由使用者對裝置12進行之正常操作期間，切換電路52可經組態以使用路徑60中之兩個或兩個以上線來將來自連接器14之信號投送至音訊電路46。在測試模式操作期間，切換電路52可經組態以經由路徑62中之兩個或兩個以上線將來自連接器14之信號投送至控制電路38的測試模組44。

舉例而言，音訊電路46可為處置類比及/或數位音訊信號之音訊積體電路。諸如媒體播放、麥克風信號放大、雜訊消除、數位/類比及類比/數位轉換、等化、音量控制、接針指派交換(例如，容納麥克風及接地端子反轉之耳機)及其他控制及音訊處理特徵之功能可藉由音訊電路46來處置。在一些上下文中，音訊電路46可被稱作編解碼器。非音訊功能可在需要時整合至音訊電路46中或使用裝置12中之其他電路來提供。

控制電路38可使用一或多個積體電路來實施。舉例而言，控制電路38可使用有時被稱作系統單晶片(SOC)積體電路之類型的積體電路來實施。系統單晶片積體電路通常包括處理器及其他電路。控制電路38可包括記憶體或可耦接至外部儲存器(例如，組件56中之記憶體)。

控制電路38可包括處理電路，諸如一或多個測試及通信模組。作為實例，控制電路38可包括諸如通用串列匯流排(USB)模組40之通信模組、諸如通用非同步接收器傳輸器(UART)模組42之通信模組，及其他通信電路。控制電路 38可包括經組態以支援諸如測試電路44之測試模式操作的電路。測試電路44可支援諸如四個或五個導線JTAG協定及/或使用諸如串列線除錯介面之兩個導線測試介面傳送JTAG資料的協定之測試協定。

電力管理單元48可用以處置與經由連接器14接收外部電力相關聯的操作。舉例而言，在電力配接器18(圖1)耦接至連接器14時，電力管理單元48可用於在電池需要充電時將來自電力配接器18之電力投送至裝置12內之電池。電力管理單元48亦可在需要直接自外部供應之DC信號對裝置12供電時將電力投送至裝置12內之內部電路。

諸如耳機之附件26(圖1)可包括天線。舉例而言，耳機內之配線可充當裝置12之頻率調變(FM)天線。裝置12內之接收器電路50可經由連接器14及路徑58自天線接收FM信號。

裝置12可含有其他組件56。組件56可包括一或多個顯示器、狀態指示器燈、按鈕、感測器、麥克風、揚聲器、電池、放大器、射頻收發器電路、微處理器、微控制器、揮發性記憶體(例如，動態隨機存取記憶體、靜態隨機存取記憶體等)、非揮發性記憶體(例如，快閃記憶體或其他固態儲存器)、硬碟機、特殊應用積體電路及其他電組件。此等組件可與圖2中所展示之其他組件互連。舉例而言，一或多個剛性印刷電路板(例如，玻璃纖維填充之環氧樹脂印刷電路板)及/或可撓性印刷電路(例如，由聚醯亞胺或其他聚合物之可撓性薄片上的經圖案化導電跡線形成之撓 曲電路)可充當其上可安裝有圖2之組件的基板。裝置12中之儲存及處理電路(諸如，裝置12中之非揮發性及揮發性記憶體、控制電路38、微處理器電路及裝置12中之特殊應用積體電路中的處理電路)形成可用於執行裝置12之軟體、控制切換電路52及裝置12中之其他組件56的操作等等之控制電路。

為了確保裝置12進入JTAG測試模式或其他所要測試模式，裝置12可具備外部輸入。外部輸入可採用預定義連接器至連接器14中之插入、藉由測試器30供應至連接器14之信號及/或用於指引裝置12進入操作的測試模式之其他合適輸入的形式。

圖3中展示一展示在諸如圖1之系統10的系統環境下使用裝置12所涉及之操作的狀態圖。在狀態64之操作期間，裝置12與外部設備16斷開連接。詳言之，裝置12未連接至任何附件26，裝置12未連接至電力配接器18，且裝置12未連接至測試器30。

如線72所指示，在將外部設備16之零件插接至裝置10中時，裝置12可執行操作以判定是否進入測試模式(狀態66)。此等操作可包括(例如)使用監視器電路54來量測連接器14之觸點上的信號。可進行信號量測以(例如)比較觸點上之信號與參考信號(例如，比較信號電壓與參考電壓)，將信號之量值彼此間進行比較(例如，比較一或多個觸點上之信號電壓與一或多個其他觸點上之信號電壓)，計算電阻，評估監視連接器是否插接至連接器14中之感測器的 狀態等等。

回應於藉由裝置12進行之裝置12未經指示進入測試模式的判定(亦即，因為連接至裝置12之外部設備為電力配接器或其他附件且不是測試器)，裝置12可轉變至狀態70，如由線78所指示。在狀態70之操作期間，裝置12及連接至裝置12之外部設備(例如，電力配接器18或諸如附件26之其他附件)可正常地操作。一旦移除外部設備，則裝置12可轉變回至狀態64，如由線80所指示。

回應於藉由裝置12進行之裝置12經指示進入測試模式的判定(亦即，因為耦接至裝置12之外部設備為諸如測試器30之測試器)，裝置12可轉變至狀態68(測試模式)，如由線74所指示。在狀態68期間，測試電路44或經組態以支援測試模式操作之控制電路38中的其他電路可啟動且用於處置測試操作。舉例而言，JTAG電路可用以執行邊界掃描測試操作，可用於將測試資料傳送至測試器30，且可用於執行用於測試裝置12是否正令人滿意地操作之其他測試操作。若識別出錯誤，則可向測試操作者發出警示(例如，藉由在測試器30上顯示警示訊息)。可執行除錯操作，其中將藉由電路44擷取之測試資料傳輸至測試器30以用於分析。測試器30亦可指引裝置12之組件執行各種動作(例如，調整積體電路設定等)且可評估裝置12之執行此等動作的能力。

一旦完成測試，則測試器30可與連接器14斷開連接且如由線76所指示，可操作裝置12同時使其與外部設備解耦 (狀態64)。

切換電路52可含有藉由來自裝置12中之控制電路(例如，控制電路38及/或裝置12中之其他儲存及處理電路)的控制信號控制之電子開關。切換電路52內之開關可係基於傳輸閘極(例如，基於金屬氧化物半導體電晶體之閘極)或其他電可控制開關技術。

在切換電路52中可存在任何合適數目個開關(例如，一或多個、兩個或兩個以上、五個或五個以上、十個或十個以上等)。可選擇用於切換電路52中之開關的數目以為裝置12內之信號提供所要量之投送靈活性。舉例而言，若需要能夠在正常或反轉組態下將來自連接器14之一組信號投送至內部電路，則切換電路52可具備充分切換資源(例如，縱橫制開關)以執行此類型之信號切換。

作為另一實例，若需要將來自連接器14中之觸點的信號投送至若干可能的目的地(諸如音訊電路46中之接針、與USB模組40相關聯之接針、與UART模組42相關聯之接針及與測試電路44相關聯之接針)，則切換電路52可具備用於形成能夠選擇應在裝置12中形成此等各種路徑中之哪些路徑的多工電路之開關。包括相對多的開關之針對切換電路52之組態可用以提供增強量的互連靈活性，而包括相對少的開關之針對切換電路52之組態可用以節省裝置資源。

連接器14及與外部設備16相關聯之配合連接器可係基於具有特定允許定向之諸如30接針連接器格式的連接器格式。此類型之連接器可在允許(正常)之定向上配合，但不 可反轉。舉例而言，30接針插頭通常將僅在恰當地定向時裝配於30接針插口中。若插頭相對於恰當定向翻轉180°(亦即，若插頭之定向反轉)，則插頭將不裝配於插口中。

在需要時，諸如連接器14及與外部設備16相關聯之配合連接器之連接器可使用可反轉連接器形成。藉由可反轉連接器設計，可在兩個不同定向(有時被稱作正常及180°反轉定向)上將插頭或與外部設備16相關聯之其他連接器插入至連接器14中。

可用於連接器14及設備16之配合連接器的類型之可反轉連接器可具有任何合適數目個觸點(例如，兩個或兩個以上、三個或三個以上、四個或四個以上、五個或五個以上、六個或六個以上、七個或七個以上，或八個或八個以上)。圖4中展示已使用藉由接地觸點FG環繞之六個觸點FP1、FP2、FP3、FP4、FP5及FP6實施連接器14的說明性組態。

與連接器14配合的在設備16中之連接器(諸如連接器28)可具有圖5及圖6中所展示之類型的組態。在圖5之端視圖中以正常(非反轉)組態來展示連接器28。在圍繞其縱向軸線(亦即，在圖5之方向29上)旋轉180°時，圖5之連接器28可自其相對於連接器14之正常定向移動至其相對於連接器14的反轉定向(圖6)。

如圖5中所展示，當連接器28插入至連接器14中時，連接器28可具有與連接器14之接地觸點FG配合的諸如接地觸 點MG之接地觸點。觸點MP2、MP3、MP4及MP5可在需要時為用於接收且傳輸類比及/或數位資料信號(例如，類比或數位音訊信號、通用串列匯流排數位資料信號及其他數位資料信號、類比或數位控制信號或非音訊信號等)之接針。觸點MP1可用以載運電力或其他信號。舉例而言，觸點MP1可對應於載運相對於接地MG上之0伏特接地電壓的正電壓之正電源供應線。可選觸點MP6可用於資料或電力且可在需要時省略。

在需要時，可使用連接器28中之接針的其他組態。使用觸點MP1及MG載運電力及使用觸點MP2、MP3、MP4及MP5中之一或多者載運非電力信號僅為說明性的。一般而言，觸點MP1、MP2、MP3、MP4、MP5、MP6及MG可各自用以載運任何合適類型之信號(類比、數位、資料、電力等)。

連接器28可與測試器30相關聯。當連接器28在圖5之正常定向上與連接器14配合時，觸點MP1可與觸點FP1配合，觸點MP2可與觸點FP2配合，觸點MP3可與觸點FP3配合，觸點MP4可與觸點FP4配合，觸點MP5可與觸點FP5配合且可選觸點MP6可(在存在的情況下)與觸點FP6配合。當連接器28在圖6之反轉定向上與連接器14配合時，觸點MP6可(在存在的情況下)與觸點FP1配合，觸點MP5可與觸點FP2配合，觸點MP4可與觸點FP3配合，觸點MP3可與觸點FP4配合，觸點MP2可與觸點FP5配合且觸點MP1可與觸點FP6配合。

裝置12可藉由監視連接器14之觸點上的信號來偵測連接器28之定向。作為實例，在觸點MP6不存在之類型的組態下，可藉由比較接針FP1及FP6上之電壓來偵測連接器28之定向。當連接器28在圖5之正常定向上連接時，正電壓(亦即，藉由觸點MP1載運之正電源供應電壓)將在觸點FP1上偵測到，而觸點FP6將為浮動的。在連接器28在圖6之反轉定向上連接時，正電壓(亦即，藉由觸點MP1載運之正電源供應電壓)將在觸點FP6上偵測到，而觸點FP1為浮動的。

切換電路52可在需要時含有電可組態縱橫制開關或容納在圖5及圖6之正常及反轉組態兩者下的連接器28與連接器14之間的耦接之其他合適切換電路。當連接器28在圖5之定向上插接至連接器14中時，切換電路可(例如)具有第一組態。當連接器28在圖6之反轉定向上插接至連接器14中時，縱橫制開關或裝置12中之其他切換電路52可被置成第二(反轉)組態以在連接器28在其正常定向上時投送信號的方式(亦即，使得來自MP1之信號投送至FP1，使得來自MP2之信號投送至FP2等等)將信號投送於裝置12內。對縱橫制開關之需要可在需要時藉由使用允許裝置12恰當地起作用而不管連接器28之定向的接針指派來減少或消除。

圖5及圖6中所展示之類型的可反轉連接器可用於連接器22及24(圖1)。在需要時，諸如圖4之連接器14及圖5及圖6之連接器28的可反轉連接器可具有不同數目個觸點。圖4、圖5及圖6之實例僅為說明性的。

圖7為展示可用於圖1之測試器30的說明性組態之電路 圖。如圖7中所展示，測試器30可包括諸如控制器98之控制電路。控制器98可係基於一或多個微處理器、一或多個微控制器、一或多個特殊應用積體電路，或其他控制電路。

控制器98可經由路徑96之路徑耦接至諸如輸入輸出電路94之控制電路。輸入輸出電路94可包括輸入輸出緩衝器(例如，能夠產生所要量值之可調整及/或固定電壓的電壓之輸出驅動器)、可調整電阻器、可調整電流源或其他輸入輸出電路。導電路徑92(例如，印刷電路板或其他基板上之跡線)可用以將來自輸出緩衝器、可調整電阻器及其他輸入輸出電路94之輸出信號耦接至路徑90中之各別線。線92中之每一者可耦接於與電路94相關聯之各別輸入輸出接針與諸如路徑90中之導線的導電路徑之間。路徑90可使用含有連接至在豬尾式連接之連接器(連接器28)中的各別觸點88之導線的纜線來實施，如圖7中所展示。在連接器28中可存在任何合適數目個觸點88。舉例而言，連接器28可包括諸如圖5之觸點MP1、MP2、MP3、MP4、MP5、可選觸點MP6及接地觸點MG的觸點。

在測試期間，諸如控制器98及輸入輸出電路94之在測試器30中的控制電路可將指引測試中之裝置進入測試模式的命令提供至測試中之裝置。舉例而言，測試器30可使用控制器98及輸入輸出電路94來產生觸點88處之電壓(或電阻)的特定型樣。可藉由監視測試中之裝置中的電路來偵測此等信號。

圖8展示裝置12之監視電路54可含有用於比較連接器14之觸點上的電壓的方式之電路。圖8中之線200可耦接至連接器14中之一對各別觸點。比較器202可比較線200上之信號的電壓且可在輸出線204上供應對應輸出。輸出204上之信號可(例如)在圖8中上部線200具有高於下部線200的電壓時為邏輯高值，且可在圖8中上部線200具有低於下部線200的電壓時具有邏輯低值。諸如比較器202之比較器可用以比較連接器14中之觸點中的任何兩者上之電壓。監視器電路54可具有諸如比較器202之一個比較器、諸如比較器202之兩個比較器或諸如比較器202之兩個以上比較器。

在需要時，監視電路54可具有比較連接器14中之觸點上的信號電壓與參考電壓之一或多個比較器。圖9中展示此類型之組態。在圖9實例中，線200中之上部線(其可連接至連接器14中之第一觸點)可經由路徑205連接至比較器208之第一輸入，而比較器208之第二輸入可接收路徑206上的參考電壓。比較器208可比較路徑205及206上之電壓且可在輸出208上產生對應的高或低輸出信號。比較器214可比較線200中之下部線上的電壓與參考電壓。詳言之，比較器214可經由輸入213接收線200中之下部線上的電壓且可接收輸入212上之參考電壓。比較器214可比較輸入213及212上之電壓且可在輸出路徑216上產生對應的高或低邏輯輸出。額外比較器可用以在需要時執行額外參考電壓比較。

一般而言，監視器電路54可具有用於監視線200(及連接 器14中之相關聯觸點)上之信號屬性的任何合適電路。監視器電路54可(例如)具有用於量測各別觸點之間的電阻之一或多個電路，可具有用於比較一個觸點上之電壓量值與另一個觸點上之電壓量值的一或多個電路，可具有用於將不同觸點上之信號量值彼此間進行比較的一或多個電路，可具有用於量測時變信號之電路等等。

在正常操作期間，當連接器22或24中之一者耦接至連接器14時，裝置12可正常地操作(例如，使用音訊電路46或其他電路將信號傳送至連接器14中之觸點等等)。當需要將裝置12置成測試模式(例如，JTAG測試模式)時，測試器30可經由可反轉之連接器28及連接器14以合適輸入來供應裝置12。裝置12可使用監視器電路54來量測電壓、電流、電阻、時變信號或與連接器14相關聯之其他合適輸入。舉例而言，監視器電路54可偵測測試器30(圖7)何時將預定電壓或電壓型樣置於連接器14之觸點中的一或多者上或何時以其他方式指引裝置12進入測試模式。回應於連接器14之觸點或其他輸入上的不同電壓之偵測，可將裝置12置成不同各別狀態。

作為實例，當測試器30需要將裝置12置成測試模式時，測試器30可將預定電壓置於連接器12之觸點中的一者上。回應於觸點上之一或多個預定電壓的偵測，可將裝置12置成測試模式(例如，使用JTAG或其他測試電路44來執行測試且與測試器30通信)。

作為實例，考慮使用測試器30來將一或多個電壓之型樣 置於連接器14及連接器28之觸點上以控制裝置12之操作模式。圖10為說明電壓之型樣可與不同操作模式相關聯的方式之表。在圖10之實例中，連接器14為圖4中所展示之類型的連接器，且具有相關聯之觸點FG、FP1、FP2、FP3、FP4、FP5及FP6(例如，藉由接地FG環繞之六個觸點)。監視器電路54可量測此等觸點中之每一者上的電壓，及/或可比較此等觸點中之一或多個不同對上之相對電壓(亦即，電壓之型樣可供應至觸點中的兩者或兩者以上，供應至觸點中的三者或三者以上，供應至觸點中的四者或四者以上，供應至觸點中的五者或五者以上，或供應至所有六個觸點FP1、FP2、FP3、FP4、FP5及FP6以及接地FG)。

在將圖10之表的「模式1」行中所展示之電壓之型樣提供至連接器14時(亦即，在將電壓V1提供至觸點FG，將電壓V2提供至觸點FP1，將電壓V3提供至觸點FP2，將電壓V4提供至觸點FP3，將電壓V5提供至觸點FP4，將電壓V6提供至觸點FP5及將電壓V7提供至可選觸點FP6時)，可將裝置12置成第一操作模式(例如，「模式1」)。在將與圖10表之「模式2」行相關聯的電壓V1'、V2'、V3'、V4'、V5'、V6'及V7'之型樣提供至連接器14時，可將裝置12置成第二操作模式(例如，「模式2」)。在將與圖10表之「模式3」行相關聯的電壓V1"、V2"、V3"、V4"、V5"、V6"及V7"之型樣提供至連接器14時，可將裝置12置成第三操作模式(例如，「模式3」)等。電壓V1、V2、V3、V4、V5、V6、V7、V1'、V2'、V3'、V4'、V5'、V6'、V7'、 V1"、V2"、V3"、V4"、V5"、V6"及V7"可具有在0伏特至5伏特之間變化(作為實例)的任何合適值。

在需要時，可將較少的電壓供應至連接器14之觸點(例如，一個給定電壓、兩個不同電壓、至少兩個不同電壓之型樣、至少三個不同電壓之型樣或圖10之電壓中的一些為浮動之其他型樣)。圖10之配置僅為說明性的。

在需要時，測試器30可使用控制器98及輸入輸出電路94或其他控制電路來在連接器28之觸點上產生時變信號。裝置12之監視器電路54可偵測連接器14之配合觸點上的此等時變信號且可指引裝置12相應地作出回應。圖11之曲線圖中的曲線110展示測試器30可供應至連接器14之觸點中的一者以將裝置12置成測試模式或其他所要操作模式之說明性時變控制信號。如圖11中所展示，曲線110可具有脈衝，該等脈衝具有不同最大電壓。脈衝可具有不同脈衝寬度(例如，圖11中之針對說明性第一及第二脈衝的時間週期T1及T2)。亦可藉由變化時間量來分離脈衝(例如，第一及第二脈衝可藉由時間週期TB1分離，曲線110之信號中的第二及第三脈衝可藉由時間週期TB2分離，等等)。藉由測試器30產生之信號的屬性可用於指引裝置12進入所要操作模式。舉例而言，諸如信號量值、脈衝寬度、脈衝間距及信號110之其他屬性的屬性可組合以充當允許測試器30將所要操作模式通知給裝置12之程式碼。在需要時，經編碼信號中之脈衝可具有相等量值及/或相等寬度及/或非正方形形狀。圖11之實例僅為說明性的。

圖12之曲線112展示可在需要將裝置12置成不同操作模式時藉由測試器30將具有不同量值及/或時序屬性之脈衝的不同型樣供應至裝置12的方式。可將諸如圖11及圖12之說明性信號的時變信號施加至連接器14中之單一觸點(例如，麥克風觸點或其他觸點)，或可將多個時變及/或固定信號施加至多個觸點102。作為實例，可將諸如圖11之信號110的信號施加至觸點102中之第一者，而可將諸如圖12之信號112的信號施加至觸點102中之第二者。藉由使用信號之不同組合，測試器30可產生用以將裝置12置成不同各別操作模式(作為實例)之額外程式碼。

在需要時，測試器30可使用控制器98及輸入輸出電路94跨越連接器14中之不同各別觸點對強加一或多個不同電阻、兩個或兩個以上不同電阻或其他合適數目個不同電阻之型樣以將裝置12置成所要操作模式。舉例而言，如圖13中所展示，測試器30可將電阻R1置成跨越連接器14中之第一對端子(例如，FP1及FP2)，將電阻R2置成跨越連接器14中之第二對端子，等等。作為回應，監視器電路54可偵測電阻(或此等電阻之任何合適子集)之此型樣，且可指引裝置12之控制電路進入所要操作模式。如圖13之表的行中所展示，輸入輸出電路94(圖7)之可調整電阻器或其他電路可用於產生跨越連接器28中之觸點的電阻之不同型樣(及因此跨越連接器14中之觸點的電阻之不同對應型樣)，以將裝置12置成不同操作模式(例如，模式2、模式3等)。

圖14為在操作諸如系統10(圖1)之裝置12的裝置中所涉 及之說明性步驟之流程圖。最初，裝置12可與任何外部設備16斷開連接。在步驟230處，裝置12可耦接至外部設備16。舉例而言，電力配接器18之連接器22、附件26之連接器24或測試器30的連接器28可連接至裝置12之連接器14。

在步驟232處，裝置12可在需要時使用監視器電路54來判定連接器28在連接器14中之定向(亦即，連接器28是以結合圖5所描述之類型的正常組態抑或以結合圖6所描述之類型的反轉組態連接至連接器14)。為了判定連接器28之定向，監視器電路54可(例如)比較一對觸點上之電壓，可比較一個觸點上之電壓與參考電壓，或可進行其他信號量測。回應於判定連接器28之極性反轉，裝置12之控制電路可在需要時組態切換電路52以對連接器反轉進行補償。亦可藉由使用不受連接器反轉影響之接針指派方案經由連接器28及14中之觸點傳輸信號(例如，經由諸如觸點MP2及MP5之一對觸點發送差分資料信號，因此恰當地傳輸且接收資料而不管連接器28連接至連接器14之定向)而適應連接器反轉情形。

在步驟232處，裝置12可使用監視器電路54來監視連接器14之觸點上的信號，從而判定測試器30是否正發出將裝置12置成測試模式之命令。監視器電路54可(例如)監視連接器14中之觸點中的一或多者以偵測電壓位準、電阻、時變信號、多個觸點上之信號的型樣、觸點中之單一者上的具有特定值之信號等。

若監視器電路54在連接器14之一或多個觸點上偵測到的 信號指示應正常地操作裝置12(例如，在非測試模式下)，則可正常地操作裝置12，而監視器電路54繼續監視觸點102之狀態(例如，偵測電壓，偵測電阻，偵測時變信號等)，如由線236所指示。在此等操作期間，作為實例，切換電路52可具有正常組態，諸如將音訊電路46(圖2)或裝置12中之其他非測試電路耦接至連接器14的組態。

回應於充當裝置12進入測試模式之命令的特定信號或信號型樣(例如，一個觸點上之預定電壓、多個觸點上之電壓的預定型樣、與一或多對觸點相關聯之一或多個電阻、預定時變信號，或其他信號)之偵測，裝置12可進入測試模式(步驟238)。在測試模式操作期間，切換電路52可經組態以支援測試操作且測試電路可經啟動。舉例而言，路徑62可使用切換電路52耦接至路徑58，且JTAG或其他測試電路44可用以執行測試模式操作。

前文僅說明本發明之原理，且可由熟習此項技術者在不脫離本發明之範疇及精神的情況下進行各種修改。

10‧‧‧系統/裝置

12‧‧‧電子裝置

14‧‧‧連接器

16‧‧‧外部設備

18‧‧‧電力配接器

20‧‧‧交流電(AC)源

22‧‧‧電力配接器連接器

24‧‧‧附件連接器

26‧‧‧附件

28‧‧‧連接器

29‧‧‧方向

30‧‧‧測試器

32‧‧‧路徑

34‧‧‧路徑

36‧‧‧路徑

38‧‧‧控制電路

40‧‧‧通用串列匯流排(USB)模組

42‧‧‧通用非同步接收器傳輸器(UART)模組

44‧‧‧測試電路

46‧‧‧音訊電路

48‧‧‧電力管理單元

50‧‧‧接收器電路

52‧‧‧切換電路

54‧‧‧監視器電路/監視電路

56‧‧‧組件

58‧‧‧路徑

60‧‧‧路徑

62‧‧‧路徑

64‧‧‧狀態

66‧‧‧狀態

68‧‧‧狀態

70‧‧‧狀態

72‧‧‧線

74‧‧‧線

76‧‧‧線

78‧‧‧線

80‧‧‧線

88‧‧‧觸點

90‧‧‧路徑

92‧‧‧導電路徑/線

94‧‧‧輸入輸出電路

96‧‧‧路徑

98‧‧‧控制器

110‧‧‧曲線/信號

112‧‧‧曲線/信號

200‧‧‧線

202‧‧‧比較器

204‧‧‧輸出線

205‧‧‧路徑

206‧‧‧路徑

208‧‧‧比較器

212‧‧‧輸入

213‧‧‧輸入

214‧‧‧比較器

216‧‧‧輸出路徑

圖1為根據本發明之實施例之可操作電子裝置及外部設備的說明性系統之圖。

圖2為根據本發明之實施例之可用於圖1的電子裝置中之類型之說明性電路的電路圖。

圖3為展示根據本發明之實施例之在監視測試器是否已指引電子裝置進入測試模式時所涉及的操作之狀態圖。

圖4為根據本發明之實施例之可用於可置成測試模式以 執行測試的類型之電子裝置中之說明性連接器的圖。

圖5為根據本發明之實施例之可經提供至外部設備以用於在正常定向上與圖4中所展示的類型之連接器配合之類型的說明性連接器之圖。

圖6為根據本發明之實施例之在相對於圖5的正常定向旋轉180°之反轉定向上之圖5的連接器之圖。

圖7為根據本發明之實施例之可用於測試電子裝置的說明性測試器之圖。

圖8為根據本發明之實施例之可用以比較裝置連接器中的不同觸點上之信號之說明性監視器電路的圖。

圖9為根據本發明之實施例之可用以比較裝置連接器中的觸點上之信號與參考信號之說明性監視器電路的圖。

圖10為展示根據本發明之實施例之可將電壓的型樣提供至裝置中之連接器中之不同觸點的方式的表。

圖11及圖12為展示根據本發明之實施例之可供應至裝置中的連接器之說明性時變電壓之曲線圖。

圖13為展示根據本發明之實施例之可跨越裝置連接器中的不同對觸點施加之電阻之型樣的表。

圖14為根據本發明之實施例之在測試期間控制裝置時所涉及之步驟的流程圖。

Claims (28)

1. 一種支援測試之電子裝置，該電子裝置包含：一第一電路；一第二電路，其中該第二電路包含經組態以支援測試模式操作之測試電路；一裝置連接器，其經組態以收納在該電子裝置外部之一外部測試器之一可反轉連接器；切換電路，其耦接於該第一電路及該第二電路與該裝置連接器之間，其中該切換電路經組態以在正常操作期間將來自該裝置連接器之信號投送至該第一電路以及經組態以在該等測試模式操作期間將來自該裝置連接器之信號投送至該第二電路；及控制電路，其經組態以針對來自該外部測試器之至少一信號監視該裝置連接器中之至少一觸點，其中該控制電路經組態以回應於在該至少一觸點上偵測來自該外部測試器之該至少一信號而調整該切換電路。
2. 如請求項1之電子裝置，其中該裝置連接器包含至少六個觸點及一接地，且經組態以在一正常定向及一反轉定向上與該可反轉連接器配合。
3. 如請求項2之電子裝置，其中該裝置連接器中之該接地環繞該六個觸點，且其中藉由該接地環繞之該六個觸點為藉由該接地環繞之該等僅有觸點。
4. 如請求項3之電子裝置，其中該第一電路包含一音訊電路，且其中該第二電路包含經組態以執行聯合測試動作 小組測試操作之電路。
5. 如請求項1之電子裝置，其中來自該測試器之該至少一信號包含一預定電壓，且其中該控制電路經組態以回應於該預定電壓之偵測而調整該切換電路。
6. 如請求項5之電子裝置，其中該第二電路包含經組態以執行聯合測試動作小組測試操作之電路。
7. 如請求項6之電子裝置，其中該第一電路包含一音訊電路。
8. 如請求項1之電子裝置，其中來自該測試器之該至少一信號包含一時變電壓，且其中該控制電路經組態以回應於該時變電壓之偵測而調整該切換電路。
9. 如請求項8之電子裝置，其中該時變電壓包括至少兩個信號脈衝，其中該第一電路包含一音訊電路，且其中該第二電路包含經組態以執行聯合測試動作小組測試操作之電路。
10. 如請求項1之電子裝置，其中該裝置連接器包含藉由一接地環繞之六個觸點，且其中該控制電路經組態以回應於該裝置連接器中之至少兩個觸點上的不同電壓之一型樣之偵測而調整該切換電路。
11. 如請求項10之電子裝置，其中該第二電路包含經組態以執行聯合測試動作小組測試操作之電路。
12. 如請求項11之電子裝置，其中該第一電路包含一音訊電路。
13. 如請求項1之電子裝置，其中該控制電路經組態以回應 於跨越該裝置連接器中之至少兩個觸點的一預定電阻值之偵測而調整該切換電路。
14. 如請求項13之電子裝置，其中該第二電路包含經組態以執行聯合測試動作小組測試操作之電路。
15. 如請求項14之電子裝置，其中該第一電路包含一音訊電路。
16. 一種用於測試電子裝置之方法，該方法包含：在自以下各者選擇之一定向上將一外部測試器之一可反轉連接器耦接至一電子裝置的一裝置連接器：一正常定向及該可反轉連接器相對於該正常定向旋轉180°之一反轉定向，該外部測試器在該電子裝置外部，其中該電子裝置具有經由切換電路耦接至該裝置連接器之第一電路及第二電路，且其中該第二電路經組態以在一測試模式下執行測試操作；及經由該可反轉連接器將至少一信號自該外部測試器施加至該裝置連接器，該至少一信號指引該電子裝置調整該切換電路以將來自該連接器之信號投送至該第二電路。
17. 如請求項16之方法，其進一步包含：使用該電子裝置中之監視電路偵測該至少一信號，其中自該測試器施加該信號包含在該可反轉連接器在該反轉定向上連接至該裝置連接器時經由該可反轉連接器將該信號施加至該裝置連接器。
18. 如請求項17之方法，其中施加該至少一信號包含：將至 少兩個不同電壓之一型樣施加至該可反轉連接器中的至少兩個觸點。
19. 如請求項17之方法，其中施加該至少一信號包含：跨越該裝置連接器中之至少一對觸點施加至少一電阻。
20. 如請求項17之方法，其中該測試模式包含一聯合測試動作小組測試模式，該方法進一步包含回應於該至少一信號之偵測而在該測試模式下執行聯合測試動作小組測試操作。
21. 一種用於測試電子裝置之系統，該系統包含：一外部測試器，其具有一可反轉連接器，該可反轉連接器具有藉由一接地環繞之至少兩個觸點；及一電子裝置，其具有一音訊電路及經組態以在一測試模式期間實施聯合測試動作小組測試之一控制器，其中該電子裝置包含一裝置連接器，其中該電子裝置具有耦接於該音訊電路及該控制器與該裝置連接器之間的切換電路，且其中該裝置連接器具有藉由一接地環繞之觸點，其中該裝置連接器及在該電子裝置外部之該外部測試器之該可反轉連接器經組態以在一正常定向及該可反轉連接器相對於該正常定向旋轉180°之一反轉定向兩者上配合。
22. 如請求項21之系統，其中該切換電路經組態以在正常操作期間將來自該裝置連接器之信號投送至該音訊電路，且經組態以在該測試模式期間將來自該裝置連接器之信號投送至該控制器。
23. 如請求項22之系統，其中存在該等觸點中之六個觸點，且其中該裝置連接器之該接地環繞不多於該六個觸點的觸點。
24. 一種支援測試之電子裝置，該電子裝置包含：一第一電路；一控制電路，其經組態以當測試該電子裝置時支援測試模式操作；一裝置連接器，其經組態以耦接至在該電子裝置外部之一外部測試器；切換電路，其耦接於該第一電路、該控制電路與該裝置連接器之間，其中該切換電路經組態以在正常操作期間將來自該裝置連接器之信號投送至該第一電路以及經組態以在該等測試模式操作期間將來自該裝置連接器之信號投送至該控制電路；及一監視電路，其監視該裝置連接器中之至少一觸點上之信號，其中該切換電路經調整以回應於在該裝置連接器上之該至少一觸點上偵測來自該外部測試器之一預定信號而將來自該裝置連接器之信號投送至該控制電路。
25. 如請求項24之電子裝置，其中該第一電路包含一音訊電路。
26. 如請求項25之電子裝置，其中該裝置連接器係可反轉。
27. 如請求項26之電子裝置，其中該裝置連接器包含具有左、右、麥克風及接地觸點之一音訊連接器，及其中該 預定信號包含在該麥克風觸點上自該外部測試器接收之一預定電壓。
28. 如請求項27之電子裝置，其中該控制電路包含經組態以回應於在該音訊連接器之該麥克風觸點上偵測該預定電壓而執行聯合測試動作小組測試操作之電路。