JPH02310807A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
- Publication number
- JPH02310807A JPH02310807A JP13243689A JP13243689A JPH02310807A JP H02310807 A JPH02310807 A JP H02310807A JP 13243689 A JP13243689 A JP 13243689A JP 13243689 A JP13243689 A JP 13243689A JP H02310807 A JPH02310807 A JP H02310807A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- magnetic
- metal
- bonding
- composite film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 66
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 47
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 33
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 34
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 16
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 4
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 9
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 9
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract 9
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 9
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 9
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 92
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 8
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 7
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 6
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229910000702 sendust Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- -1 I-1f Inorganic materials 0.000 description 1
- 101100406879 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) par-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910020489 SiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、ビデオテープレコーダ(VTR)等に用い
られる磁気ヘッドに関する。
られる磁気ヘッドに関する。
「従来の技術」
例えばVTRに−用いられる従来の磁気ヘッドとして、
第4図および第5図に示すようなものが知られている。
第4図および第5図に示すようなものが知られている。
これは、フェライト等の磁性体力\らなる一対のハーフ
コア1a’、lbを突き合わせて構成され、それぞれの
突き合わせ面には、高11飽和磁束密度を持つセンダス
ト等の金属磁性膜2とSi OvH(シリコン酸化膜)
3とが積層して形成され、接合された5ide膜3が磁
気ギャップ4を構成している。この磁気ヘッドの両側面
にはトラック幅規制溝5が形成されて低融点のボンディ
ングガラス6で充填されており、また、ノ\−フコアl
a、 1bの少なくとも一方には巻線溝7が貫通して
形成されている。
コア1a’、lbを突き合わせて構成され、それぞれの
突き合わせ面には、高11飽和磁束密度を持つセンダス
ト等の金属磁性膜2とSi OvH(シリコン酸化膜)
3とが積層して形成され、接合された5ide膜3が磁
気ギャップ4を構成している。この磁気ヘッドの両側面
にはトラック幅規制溝5が形成されて低融点のボンディ
ングガラス6で充填されており、また、ノ\−フコアl
a、 1bの少なくとも一方には巻線溝7が貫通して
形成されている。
「発明が解決しようとする課題」
ところで、上述した従来の磁気ヘッドにあっては、次に
示す問題点があった。
示す問題点があった。
■上記磁気ヘッドは、一対の/%−フコアl a、 l
bの突き合わせ面を突き合わせた後にこれを加熱し、
トラック幅規制溝5にガラス6を溶解して流し込み接合
するようにしているが、この際にsto、tl13がボ
ンディングガラス6に侵食され、このボンディングガラ
ス6と一体化する現象が生じる。これにより、5iOy
膜3の一部がボンディング温度において溶融して消失す
るために、ボンディングガラス6と金属磁性膜2との接
合の強度が低下してハーフコア1a、■bが剥離する。
bの突き合わせ面を突き合わせた後にこれを加熱し、
トラック幅規制溝5にガラス6を溶解して流し込み接合
するようにしているが、この際にsto、tl13がボ
ンディングガラス6に侵食され、このボンディングガラ
ス6と一体化する現象が生じる。これにより、5iOy
膜3の一部がボンディング温度において溶融して消失す
るために、ボンディングガラス6と金属磁性膜2との接
合の強度が低下してハーフコア1a、■bが剥離する。
■上記理由による5iOy膜3の消失個所、すなわち、
ボンディングガラス6と金属磁性膜2との接触点におい
て反応が起こり、ボンディングガラス6内に気泡が生じ
て磁気特性が劣化する。
ボンディングガラス6と金属磁性膜2との接触点におい
て反応が起こり、ボンディングガラス6内に気泡が生じ
て磁気特性が劣化する。
■金属磁性膜2と5ins膜3との間のもともとの密着
力が弱いので、金属磁性膜2と5ins膜3との間で剥
離が発生し、これにより、ハーフコアI a、 I b
が剥離する。
力が弱いので、金属磁性膜2と5ins膜3との間で剥
離が発生し、これにより、ハーフコアI a、 I b
が剥離する。
この発明は上述した事情に鑑みてなされたしので、ボン
ディングガラス6の気泡に基づく磁気特性の劣化を防ぐ
ことができると共に、ハーフコア間の接合強度を向上さ
せることができる磁気ヘットを提供することを目的とし
ている。
ディングガラス6の気泡に基づく磁気特性の劣化を防ぐ
ことができると共に、ハーフコア間の接合強度を向上さ
せることができる磁気ヘットを提供することを目的とし
ている。
[課題を解決するための手段]
この発明は、一対の磁性体からなるハーフコアの互いの
突き合わせ面の少なくとも一方に金属磁性膜を形成し、
この金属磁性膜上に、第1の活性化金属−5ift複合
膜とS iO!膜と第2の活性化金属−SiOtm合膜
とを順次積層形成して磁気ギャップを形成したことを特
徴とする。
突き合わせ面の少なくとも一方に金属磁性膜を形成し、
この金属磁性膜上に、第1の活性化金属−5ift複合
膜とS iO!膜と第2の活性化金属−SiOtm合膜
とを順次積層形成して磁気ギャップを形成したことを特
徴とする。
「作用」
この発明によれば、第1の活性化金属−Sing複合膜
、5ins膜、第2の活性化金属=Sin、複合膜の三
層構造膜によって磁気ギャップが構成される。そして、
第1の活性化金属−3ift複合膜は、その複合膜に含
まれる活性化金属によって、金属磁性膜とSiOx膜と
の間の密着力を大とする。また、第2の活性化金属−8
ift複合膜は、その複合膜に含まれる活性化金属によ
って、ハーフコアの突き合わせの際に用いられるボンデ
ィングガラスからSiOx膜を保護する。これにより、
S r Oを膜がボンディングガラスによって侵食され
ず、したがって、ハーフコア間の接合強度が低下するこ
とが防止される。また、第2の活性化金属−Sin7複
合膜に含まれる5iftは、ボンディングガラスによる
突き合わせの際に5iOz膜およびボンディングガラス
に拡散し、Sin、膜とボンディングガラスとの結合強
度を向上させる。また、上記三層構造膜中央のSiO!
膜は光りを透過するので、従来同様に例えば光学顕微鏡
によって磁気ギャップの測定を容易に行うことができる
。また、上記三層構造膜によって、金属磁性膜とボンデ
ィングガラスとの接触が避けられるので、ボンディング
ガラス内の発泡が防止され、これにより、磁気特性の劣
化を防止することができる。
、5ins膜、第2の活性化金属=Sin、複合膜の三
層構造膜によって磁気ギャップが構成される。そして、
第1の活性化金属−3ift複合膜は、その複合膜に含
まれる活性化金属によって、金属磁性膜とSiOx膜と
の間の密着力を大とする。また、第2の活性化金属−8
ift複合膜は、その複合膜に含まれる活性化金属によ
って、ハーフコアの突き合わせの際に用いられるボンデ
ィングガラスからSiOx膜を保護する。これにより、
S r Oを膜がボンディングガラスによって侵食され
ず、したがって、ハーフコア間の接合強度が低下するこ
とが防止される。また、第2の活性化金属−Sin7複
合膜に含まれる5iftは、ボンディングガラスによる
突き合わせの際に5iOz膜およびボンディングガラス
に拡散し、Sin、膜とボンディングガラスとの結合強
度を向上させる。また、上記三層構造膜中央のSiO!
膜は光りを透過するので、従来同様に例えば光学顕微鏡
によって磁気ギャップの測定を容易に行うことができる
。また、上記三層構造膜によって、金属磁性膜とボンデ
ィングガラスとの接触が避けられるので、ボンディング
ガラス内の発泡が防止され、これにより、磁気特性の劣
化を防止することができる。
「実施例」
以下、図面を参照してこの発明の一実施例について説明
する。第1図はこの発明の一実施例による磁気ヘッドの
構成を示す斜視図、第2図はギャップ部の拡大図である
。この磁気ヘッドは、フェライト等の強磁性材料から平
板上に形成された一対のハーフコアIIA、IIBが突
き合わせられて構成され、一方のハーフコアIIBには
、コイルを巻き付けるべき巻線溝12および補強溝13
(第3図(ロ)参照)が形成されている。これらのハー
フコアttA、ttBには、突き合わせ面と側面のI′
r1部を切欠くようにトラック幅規制溝16が形成され
、この規制溝I6、上記巻線Wf I 2および補強溝
!3にはボンディングガラス17が充填されている。
する。第1図はこの発明の一実施例による磁気ヘッドの
構成を示す斜視図、第2図はギャップ部の拡大図である
。この磁気ヘッドは、フェライト等の強磁性材料から平
板上に形成された一対のハーフコアIIA、IIBが突
き合わせられて構成され、一方のハーフコアIIBには
、コイルを巻き付けるべき巻線溝12および補強溝13
(第3図(ロ)参照)が形成されている。これらのハー
フコアttA、ttBには、突き合わせ面と側面のI′
r1部を切欠くようにトラック幅規制溝16が形成され
、この規制溝I6、上記巻線Wf I 2および補強溝
!3にはボンディングガラス17が充填されている。
これらのハーフコア11A、IIBのトラック幅規制溝
16を含む突き合わせ面には、コア本体側から順に、金
属磁性膜20、Cr−5ift複合膜21、SiOx膜
22、Cr−5ift複合膜23が積層して形成されて
いる。Cr 5iot複合膜21.23は、Cr:約
70aL%、S io t:約30at%の割合で構成
され、これらCr−9ins複合膜21と5iOt膜2
2とCr−9ift複合膜23とで接合部にギャップ2
4が形成されている。金属磁性膜20は、高い飽和磁束
密度を持つセンダストが用いられるが、アモルファス等
でもよく、フェライトコア単独の場合に比較してより強
い磁界をギャップ24に発生することができるようにな
っている。これらの膜20.2 +、22.23は、ハ
ーフコアIIA、IIBの接合の前にあらかじめスパッ
タリングを用いて形成されているが、その他蒸着法また
は化学めっき法などを用いてもよい。
16を含む突き合わせ面には、コア本体側から順に、金
属磁性膜20、Cr−5ift複合膜21、SiOx膜
22、Cr−5ift複合膜23が積層して形成されて
いる。Cr 5iot複合膜21.23は、Cr:約
70aL%、S io t:約30at%の割合で構成
され、これらCr−9ins複合膜21と5iOt膜2
2とCr−9ift複合膜23とで接合部にギャップ2
4が形成されている。金属磁性膜20は、高い飽和磁束
密度を持つセンダストが用いられるが、アモルファス等
でもよく、フェライトコア単独の場合に比較してより強
い磁界をギャップ24に発生することができるようにな
っている。これらの膜20.2 +、22.23は、ハ
ーフコアIIA、IIBの接合の前にあらかじめスパッ
タリングを用いて形成されているが、その他蒸着法また
は化学めっき法などを用いてもよい。
巻線溝12の壁面には、ボンディングガラス17と同じ
組成のガラス層が形成されており、゛コイルの被膜に傷
が付くのを防止するために用いられている。なお、この
ガラス層は必ずしも必要ではない。
組成のガラス層が形成されており、゛コイルの被膜に傷
が付くのを防止するために用いられている。なお、この
ガラス層は必ずしも必要ではない。
次に、第3図(イ)〜(ホ)を参照して上述した磁気ヘ
ッドの製造工程を説明する。
ッドの製造工程を説明する。
■まず、第3図(イ)に示すように、フェライト等の強
磁性材料を所定の直方体形状に切断して一対のハーフコ
アブロックlla、Ilbを形成する。
磁性材料を所定の直方体形状に切断して一対のハーフコ
アブロックlla、Ilbを形成する。
次に、これらのハーフコアブロックlla、Ilbの双
方の突き合わせ面(図において上面)に鏡面加工を施す
。
方の突き合わせ面(図において上面)に鏡面加工を施す
。
■次に、第3図(ロ)に示すように、第3図(イ)のハ
ーフコアブロックlla、11bの突き合わせ面に、そ
の幅方向に沿って所定間隔でトラック幅規制溝16.1
6.・・・を形成する。また、その他方、例えばIlb
に巻線溝12および補強溝13を、それぞれ長手方向に
沿って形成する。この巻線溝12および補強溝I3は両
ブロック双方に設けてもよく、図示するように片方のブ
ロックのみに設けてもよい。
ーフコアブロックlla、11bの突き合わせ面に、そ
の幅方向に沿って所定間隔でトラック幅規制溝16.1
6.・・・を形成する。また、その他方、例えばIlb
に巻線溝12および補強溝13を、それぞれ長手方向に
沿って形成する。この巻線溝12および補強溝I3は両
ブロック双方に設けてもよく、図示するように片方のブ
ロックのみに設けてもよい。
■次に、第3図(ハ)に示すように、第3図(ロ)のハ
ーフコアブロックlla、llbの突き合わせ面に、金
属磁性膜20、Cr−5ift複合膜21SSiO2膜
22、Cr−S io x複合膜23を順次形成する。
ーフコアブロックlla、llbの突き合わせ面に、金
属磁性膜20、Cr−5ift複合膜21SSiO2膜
22、Cr−S io x複合膜23を順次形成する。
この場合、これらの薄膜20〜23の形成は、スパッタ
リング法、蒸着法または化学メッキ法等のいずれかの方
法によって行う。スパッタリング法を用いる場合には、
Cr−5in、複合膜21.23のターゲットとして、
Crニア0at%−S to 、:30at%の組成の
焼結体を用いる。
リング法、蒸着法または化学メッキ法等のいずれかの方
法によって行う。スパッタリング法を用いる場合には、
Cr−5in、複合膜21.23のターゲットとして、
Crニア0at%−S to 、:30at%の組成の
焼結体を用いる。
■次に、第3図(ニ)に示すように、第3図(ハ)のハ
ーフコアブロックlla、llbを突き合わせ、巻線溝
!2および補強溝13にガラスパー25を挿入してその
溶融温度にて加熱処理する。これにより、ガラスパー2
5が溶融してトラック幅規制溝!6に流れて充填される
ことになり、ハーフコアブロックlla、llbはボン
ディングガラス17によって接合される。
ーフコアブロックlla、llbを突き合わせ、巻線溝
!2および補強溝13にガラスパー25を挿入してその
溶融温度にて加熱処理する。これにより、ガラスパー2
5が溶融してトラック幅規制溝!6に流れて充填される
ことになり、ハーフコアブロックlla、llbはボン
ディングガラス17によって接合される。
■次に、第3図(ホ)に示すように、接合が完了したハ
ーフコアブロックlla、flbを、切断線C1すなわ
ちトラック幅規制N16の中央部で所定幅に切断し、次
いで、切断線りに示す位置で補強溝13の下部の不要部
分を切断して除去し、第1図に示すような磁気ヘッドを
得る。この磁気ヘッドは、その後テープ摺接面が円弧状
に研磨され、巻線溝12にコイルが巻回される。
ーフコアブロックlla、flbを、切断線C1すなわ
ちトラック幅規制N16の中央部で所定幅に切断し、次
いで、切断線りに示す位置で補強溝13の下部の不要部
分を切断して除去し、第1図に示すような磁気ヘッドを
得る。この磁気ヘッドは、その後テープ摺接面が円弧状
に研磨され、巻線溝12にコイルが巻回される。
しかして、上記磁気ヘッドの磁気ギャップ24は、Cr
SiO*複合膜21.Stow膜22.Cr−3i
O*複合膜23の三層構造膜を互いに突き合わせた構造
となる。
SiO*複合膜21.Stow膜22.Cr−3i
O*複合膜23の三層構造膜を互いに突き合わせた構造
となる。
このように、上述した実施例においては、磁気ギャップ
24を上記三層構造膜によって購成している。そして、
金属磁性膜20に接する0r−9in2複合rI21は
、この複合11121に含まれるCrによって、金属磁
性膜20とSiO*膜22との間の密着力を大とする。
24を上記三層構造膜によって購成している。そして、
金属磁性膜20に接する0r−9in2複合rI21は
、この複合11121に含まれるCrによって、金属磁
性膜20とSiO*膜22との間の密着力を大とする。
すなわち、従来のものの接着強度は50g程度であった
が、本実施例によれば150g位の接着強度を得ること
ができる。この場合、複合膜21は、50Å以上の厚さ
で密着力を大とする効果があられれるので、100〜3
00人程度の厚さが最適である。また、ボンディングガ
ラス17に接するCr5iOs複合膜23は、この複合
膜23に含まれるCrがポンディグガラス17と反応し
にくいので、5iOy膜22が侵食されることを防止す
る。この場合、複合膜23は、200Å以上の厚さでそ
の効果が得られる。
が、本実施例によれば150g位の接着強度を得ること
ができる。この場合、複合膜21は、50Å以上の厚さ
で密着力を大とする効果があられれるので、100〜3
00人程度の厚さが最適である。また、ボンディングガ
ラス17に接するCr5iOs複合膜23は、この複合
膜23に含まれるCrがポンディグガラス17と反応し
にくいので、5iOy膜22が侵食されることを防止す
る。この場合、複合膜23は、200Å以上の厚さでそ
の効果が得られる。
これにより、ハーフコアIIA、IIB間の結合力が低
下することがない。また、複合膜23に含まれるS i
Otは、ボンディング時に、5ift膜22およびボ
ンディングガラス17に拡散し、SiO3膜22とボン
ディングガラス17との結合強度を向上させる。また、
ハーフコアIIA、11Bの接合面はCr−SiO*複
合膜23どうしの相互拡散により結合強度を向上させる
。
下することがない。また、複合膜23に含まれるS i
Otは、ボンディング時に、5ift膜22およびボ
ンディングガラス17に拡散し、SiO3膜22とボン
ディングガラス17との結合強度を向上させる。また、
ハーフコアIIA、11Bの接合面はCr−SiO*複
合膜23どうしの相互拡散により結合強度を向上させる
。
以上により、ハーフコア11A、I 18間の結合力の
低下が防止されるとともに、その結合力が向上する。
低下が防止されるとともに、その結合力が向上する。
また、上記三層構造膜によって、ボンディングガラス1
7と金属磁性膜20との接触が防止されるので、ボンデ
ィングガラス17中の発泡が防止され、これにより、金
属磁性膜20の磁気特性を本来のものに維持することが
可能となる。
7と金属磁性膜20との接触が防止されるので、ボンデ
ィングガラス17中の発泡が防止され、これにより、金
属磁性膜20の磁気特性を本来のものに維持することが
可能となる。
また、上記三層構造膜中央のSin、膜22は光りを透
過するので黒色に見え、したがって、従来のものと同様
に例えば光学顕微鏡によって磁気ギャップ24の測定を
容易に行うことができる。
過するので黒色に見え、したがって、従来のものと同様
に例えば光学顕微鏡によって磁気ギャップ24の測定を
容易に行うことができる。
なお、上記の複合膜中の金属としては、Crに限られる
ことなく、適宜の活性化金属、例えば■a属〜■a属に
属するT i、 Z r、I−1f、N b、T a、
Mo等が用いられてよい。
ことなく、適宜の活性化金属、例えば■a属〜■a属に
属するT i、 Z r、I−1f、N b、T a、
Mo等が用いられてよい。
また、上記実施例においては、0r−5iOs複合膜2
1.23におけるCr:5iOsの組成比を7・3とし
たが、他に、l二9〜7:3の範囲内のいずれかの組成
比としてもよい。
1.23におけるCr:5iOsの組成比を7・3とし
たが、他に、l二9〜7:3の範囲内のいずれかの組成
比としてもよい。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明によれば、一対の磁性体
からなるハーフコアの互いの突き合わ(i−面の少なく
とも一方に金属磁性膜が形成され、この金属磁性膜上に
は、第1の活性化金属−9iOs複合膜と5hot膜と
第2の活性化金属−SiOs複合膜とが積層形成されて
磁気ギップン構成するようにしたので、以下に示す効果
を奏することができる。
からなるハーフコアの互いの突き合わ(i−面の少なく
とも一方に金属磁性膜が形成され、この金属磁性膜上に
は、第1の活性化金属−9iOs複合膜と5hot膜と
第2の活性化金属−SiOs複合膜とが積層形成されて
磁気ギップン構成するようにしたので、以下に示す効果
を奏することができる。
■金属磁性膜とS iOを膜との間に第1の活性化金属
−9iOs複合膜を設け、また、5ift膜とボンディ
ングガラスとの間に第2の活性化金属−8i Ot >
U冶膜を設けたので、ハーフコア間の接合強度が劣化せ
ず、かつ、その接合強度を高くすることができる。
−9iOs複合膜を設け、また、5ift膜とボンディ
ングガラスとの間に第2の活性化金属−8i Ot >
U冶膜を設けたので、ハーフコア間の接合強度が劣化せ
ず、かつ、その接合強度を高くすることができる。
■第1の活性化金属−8+Ot複合膜、5iOt膜。
第2の活性化金属−5in、複合膜の三層構造膜によっ
て、ボンディングガラスと金属磁性膜との接触が防止さ
れるので、ボンディングガラス中の発泡が防止され、こ
れにより、金属磁性膜の磁気特性を本来のものに維持す
ることか可能となる。
て、ボンディングガラスと金属磁性膜との接触が防止さ
れるので、ボンディングガラス中の発泡が防止され、こ
れにより、金属磁性膜の磁気特性を本来のものに維持す
ることか可能となる。
■上記三層溝造膜中央の5ins膜は光りを透過するの
で、従来同様に例えば光学顕微鏡によって磁気ギャップ
の測定を容易に行うことができる。
で、従来同様に例えば光学顕微鏡によって磁気ギャップ
の測定を容易に行うことができる。
第1図はこの発明の一実施例による磁気ヘッドの構成を
示す斜視図、第2図は同磁気ヘッドのギャップ部の拡大
図、第3図(イ)〜(ホ)はこの発明の磁気ヘッドの製
造工程を示す斜視図、第4図は従来の磁気ヘッドの構成
を示す斜視図、第5図はその平面図である。 + 1A、11B・・・・・・ハーフコア、20・・・
・・・金属磁性膜、2I・・・・・・Gr−9iOs複
合膜(第1の活性化金属−9in、複合膜)、22・・
・・・・Sin、膜、23・・・・・・Cr−5iOs
複合膜(第2の活性化金属−810、複合膜)、24・
・・・・・磁気ギャップ。
示す斜視図、第2図は同磁気ヘッドのギャップ部の拡大
図、第3図(イ)〜(ホ)はこの発明の磁気ヘッドの製
造工程を示す斜視図、第4図は従来の磁気ヘッドの構成
を示す斜視図、第5図はその平面図である。 + 1A、11B・・・・・・ハーフコア、20・・・
・・・金属磁性膜、2I・・・・・・Gr−9iOs複
合膜(第1の活性化金属−9in、複合膜)、22・・
・・・・Sin、膜、23・・・・・・Cr−5iOs
複合膜(第2の活性化金属−810、複合膜)、24・
・・・・・磁気ギャップ。
Claims (2)
- (1)一対の磁性体からなるハーフコアの互いの突き合
わせ面の少なくとも一方に金属磁性膜を形成し、この金
属磁性膜上に、第1の活性化金属−SiO_2複合膜と
SiO_2膜と第2の活性化金属−SiO_2複合膜と
を順次積層形成して磁気ギャップを形成したことを特徴
とする磁気ヘッド。 - (2)上記活性化金属はCrであることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1132436A JP2656615B2 (ja) | 1989-05-25 | 1989-05-25 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1132436A JP2656615B2 (ja) | 1989-05-25 | 1989-05-25 | 磁気ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02310807A true JPH02310807A (ja) | 1990-12-26 |
JP2656615B2 JP2656615B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=15081326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1132436A Expired - Fee Related JP2656615B2 (ja) | 1989-05-25 | 1989-05-25 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2656615B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62295204A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-22 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツド |
JPS6370906A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-31 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツドコアおよびその製造方法 |
JPS63146203A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツドコア |
-
1989
- 1989-05-25 JP JP1132436A patent/JP2656615B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62295204A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-22 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツド |
JPS6370906A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-31 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツドコアおよびその製造方法 |
JPS63146203A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Alps Electric Co Ltd | 磁気ヘツドコア |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2656615B2 (ja) | 1997-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH036564B2 (ja) | ||
JPS6374115A (ja) | 浮動形磁気ヘツドおよびその製造方法 | |
JPH0258714A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPH06223316A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPH02310807A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPS5845617A (ja) | 磁気ヘツド | |
KR900007490B1 (ko) | 자기헤드 | |
JPH0521688Y2 (ja) | ||
JPS60223012A (ja) | 磁気ヘツド | |
JPS6275912A (ja) | 磁気ヘツドおよびその製造方法 | |
JPH01155509A (ja) | 磁気ヘッド | |
JP2906641B2 (ja) | 磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
KR940011675B1 (ko) | 자기헤드의 제조방법 | |
JP2542946B2 (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
JPH06203323A (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
JPH05282622A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPS6362805B2 (ja) | ||
JPH01113909A (ja) | 磁気ヘツド | |
JPS6226609A (ja) | 磁気ヘツドコア | |
JPH01287806A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPH08147621A (ja) | 磁気ヘッド | |
JPH0235608A (ja) | 磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
JPS61229216A (ja) | 磁気ヘツドコアおよびその製造方法 | |
JPH0528420A (ja) | 磁気ヘツド | |
JPH0658404U (ja) | 積層型磁気ヘッド |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |