JPH0230386B2 - - Google Patents
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- JPH0230386B2 JPH0230386B2 JP59152337A JP15233784A JPH0230386B2 JP H0230386 B2 JPH0230386 B2 JP H0230386B2 JP 59152337 A JP59152337 A JP 59152337A JP 15233784 A JP15233784 A JP 15233784A JP H0230386 B2 JPH0230386 B2 JP H0230386B2
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
- C23C18/1633—Process of electroless plating
- C23C18/1655—Process features
- C23C18/1664—Process features with additional means during the plating process
- C23C18/1669—Agitation, e.g. air introduction
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/14—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring using a fluid stream, e.g. a jet of gas, in conjunction with the laser beam; Nozzles therefor
- B23K26/146—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring using a fluid stream, e.g. a jet of gas, in conjunction with the laser beam; Nozzles therefor the fluid stream containing a liquid
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C18/161—Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning from plating step, e.g. inkjet
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- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/02—Local etching
-
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/225—Correcting or repairing of printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/10—Using electric, magnetic and electromagnetic fields; Using laser light
- H05K2203/107—Using laser light
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
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-
- H—ELECTRICITY
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- H05K2203/175—Configurations of connections suitable for easy deletion, e.g. modifiable circuits or temporary conductors for electroplating; Processes for deleting connections
-
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- H05K3/068—Apparatus for etching printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K3/187—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating means therefor, e.g. baths, apparatus
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、金属、半導体、絶縁物等の被加工物
に選択的に加工を施す方法に係り、特に微細パタ
ーンの形成及び修正に好適な加工方法に関する。
に選択的に加工を施す方法に係り、特に微細パタ
ーンの形成及び修正に好適な加工方法に関する。
従来、被加工物の被加工部分を溶液中に設置
し、めつきが促進するようにエネルギービームを
照射して、照射した部分のみに選択的にめつきを
形成する例として、特開昭55−148757号公報に開
示されためつき方法があげられる。この従来技術
について第11図を参照して以下に述べる。第1
1図において、セル2中には無電解めつき液3が
含まれている。加工物1は無電解めつき液3中に
浸される。エネルギー源4より発したエネルギー
ビーム8は、レンズシステム7により集光し、無
電解めつき液3を通過して被加工物1の表面に照
射される。このようにしてエネルギービーム8を
照射した部分にのみ選択的に無電解めつきするこ
とが可能である。
し、めつきが促進するようにエネルギービームを
照射して、照射した部分のみに選択的にめつきを
形成する例として、特開昭55−148757号公報に開
示されためつき方法があげられる。この従来技術
について第11図を参照して以下に述べる。第1
1図において、セル2中には無電解めつき液3が
含まれている。加工物1は無電解めつき液3中に
浸される。エネルギー源4より発したエネルギー
ビーム8は、レンズシステム7により集光し、無
電解めつき液3を通過して被加工物1の表面に照
射される。このようにしてエネルギービーム8を
照射した部分にのみ選択的に無電解めつきするこ
とが可能である。
しかしながら、このめつき方法によれば、加工
物14全体を容器10中に浸してめつきを行なわ
なければならず、したがつて加工物14が大きな
ものである場合には、大掛りな設備(特に、容器
10)を必要とする。また、微細パターンの修正
に際しては修正不要な部分もめつき液に浸される
こととなり、高品質の確保の妨げとなる。
物14全体を容器10中に浸してめつきを行なわ
なければならず、したがつて加工物14が大きな
ものである場合には、大掛りな設備(特に、容器
10)を必要とする。また、微細パターンの修正
に際しては修正不要な部分もめつき液に浸される
こととなり、高品質の確保の妨げとなる。
かかる不具合は、例えば、特開昭58−64368号
公報に開示された「化学メツキ方法」においても
同様に生じるものである。
公報に開示された「化学メツキ方法」においても
同様に生じるものである。
本発明の目的は、加工物の品質を保持しつつ、
局部的な選択加工を高速にて行いうる加工方法を
提供することにある。
局部的な選択加工を高速にて行いうる加工方法を
提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の選択的加
工方法は、被加工物の任意の加工部分に溶液を接
触させかつエネルギービームを照射して選択的に
加工を施す選択的加工方法において、前記溶液を
前記加工部に前記エネルギービームの照射方向に
ほぼ同じ方向から流動させる点に特徴を有する。
工方法は、被加工物の任意の加工部分に溶液を接
触させかつエネルギービームを照射して選択的に
加工を施す選択的加工方法において、前記溶液を
前記加工部に前記エネルギービームの照射方向に
ほぼ同じ方向から流動させる点に特徴を有する。
次に、本発明による選択的加工方法の好ましい
実施例を図面に基づいて説明する。
実施例を図面に基づいて説明する。
第1図、第2図に、本発明の第1の実施例を示
す。この第1の実施例は後述するように高速めつ
きセルを使つて配線パターン等の断線欠陥部を埋
めて修正する例について示したものである。第1
図に示すように、ポリイミド基板13上に形成さ
れた金属パターン12に断線欠陥部aが存在する
とする。この断線欠陥部aに先端ノズル10を指
向して高速めつきセル9が配置されている。金属
パターン12上には断線欠陥部a近傍のみを露出
すべく保護パツド11が置かれている。高速めつ
きセル9は略筒状を有し、上部に集光レンズ7が
設けられ、上部側方には高速めつきセル9の空胴
を連通するめつき液供給口27が取付けられてい
る。
す。この第1の実施例は後述するように高速めつ
きセルを使つて配線パターン等の断線欠陥部を埋
めて修正する例について示したものである。第1
図に示すように、ポリイミド基板13上に形成さ
れた金属パターン12に断線欠陥部aが存在する
とする。この断線欠陥部aに先端ノズル10を指
向して高速めつきセル9が配置されている。金属
パターン12上には断線欠陥部a近傍のみを露出
すべく保護パツド11が置かれている。高速めつ
きセル9は略筒状を有し、上部に集光レンズ7が
設けられ、上部側方には高速めつきセル9の空胴
を連通するめつき液供給口27が取付けられてい
る。
さて、第2図に示すように、めつき液供給口2
7から無電解銅めつき液14を供給すると、高速
めつきセル9の先端10のノズルからめつき液1
4が所定の速度(例えば、60m/min)で断線欠
陥部aに向けて噴射される。このとき、断線欠陥
部aの近傍以外の金属パターンはパツド11によ
つて覆われているから、不必要にめつき液14に
さらされることはなく、品質の低下を防止でき
る。したがつて、噴射されためつき液14は矢印
で示すようにパツド11上を流れ、外部へと放出
される。一方、高速めつきセル9の上方から与え
られるレーザビーム8は集光レンズ7によつて微
小スポツトを断線欠陥部aに形成し、断線欠陥部
aのみを選択的に加熱する。
7から無電解銅めつき液14を供給すると、高速
めつきセル9の先端10のノズルからめつき液1
4が所定の速度(例えば、60m/min)で断線欠
陥部aに向けて噴射される。このとき、断線欠陥
部aの近傍以外の金属パターンはパツド11によ
つて覆われているから、不必要にめつき液14に
さらされることはなく、品質の低下を防止でき
る。したがつて、噴射されためつき液14は矢印
で示すようにパツド11上を流れ、外部へと放出
される。一方、高速めつきセル9の上方から与え
られるレーザビーム8は集光レンズ7によつて微
小スポツトを断線欠陥部aに形成し、断線欠陥部
aのみを選択的に加熱する。
このようにして、断線欠陥部aのみをレーザビ
ーム8により選択的に加熱するとともに、めつき
液14を断線欠陥部aの近傍においてレーザビー
ム8の照射方向と同じ方向から流動させることに
より、断線欠陥部aのみを高速でしかも局部的に
めつき処理することが可能となる。そして、めつ
き液14をレーザビーム8と同じ方向から流動さ
せることにより、レーザビーム8と直角方向に流
動させるよりも、レーザビームはめつき液によつ
て屈折や散乱させられることが少なく、精度よく
効率よく断線欠陥部aに照射される。
ーム8により選択的に加熱するとともに、めつき
液14を断線欠陥部aの近傍においてレーザビー
ム8の照射方向と同じ方向から流動させることに
より、断線欠陥部aのみを高速でしかも局部的に
めつき処理することが可能となる。そして、めつ
き液14をレーザビーム8と同じ方向から流動さ
せることにより、レーザビーム8と直角方向に流
動させるよりも、レーザビームはめつき液によつ
て屈折や散乱させられることが少なく、精度よく
効率よく断線欠陥部aに照射される。
ここで、このようにレーザビーム8による加熱
とめつき液14の流動的な供給がめつきの高速化
に寄与する理由について説明する。加熱によるめ
つきの高速化は温度上昇による分子の活性化によ
るものとして知られているので、ここでは主とし
てめつき液の流動に伴う現象について考察する。
とめつき液14の流動的な供給がめつきの高速化
に寄与する理由について説明する。加熱によるめ
つきの高速化は温度上昇による分子の活性化によ
るものとして知られているので、ここでは主とし
てめつき液の流動に伴う現象について考察する。
第3図に、無電解銅めつき液(液温90℃)中に
ポリイミド基材を設置し、レーザは照射しない時
の時間に対する膜厚変化、および同じ無電解銅め
つき液(液温20℃)中にポリイミド基材を設置
し、アルゴンレーザ(照射密度600W/mm2)を照
射した部分の膜厚変化を示す。だたし、後者は照
射部での温度が90℃付近になつていることを別途
確認している。この図から、レーザを照射した場
合の膜生成速度600μm/hourは、温度が同じ通
常の無電解めつきの膜生成速度6μm/hourの約
100倍になつていることがわかる。この結果は、
レーザを照射した時の膜生成速度の増加が、単に
照射部の温度上昇(90℃)によるものだけでない
ことを示している。また、その他の加速要因とし
て考えられるのは、照射部近傍のみ物質移動が容
易になつているということである。換言すれば、
レーザ照射部で局部的な液の攪拌現象が起きた結
果、拡散層(イオンが消費される被加工物近傍で
濃度勾配ができている部分)の厚みが局所的に薄
くなつているということである。
ポリイミド基材を設置し、レーザは照射しない時
の時間に対する膜厚変化、および同じ無電解銅め
つき液(液温20℃)中にポリイミド基材を設置
し、アルゴンレーザ(照射密度600W/mm2)を照
射した部分の膜厚変化を示す。だたし、後者は照
射部での温度が90℃付近になつていることを別途
確認している。この図から、レーザを照射した場
合の膜生成速度600μm/hourは、温度が同じ通
常の無電解めつきの膜生成速度6μm/hourの約
100倍になつていることがわかる。この結果は、
レーザを照射した時の膜生成速度の増加が、単に
照射部の温度上昇(90℃)によるものだけでない
ことを示している。また、その他の加速要因とし
て考えられるのは、照射部近傍のみ物質移動が容
易になつているということである。換言すれば、
レーザ照射部で局部的な液の攪拌現象が起きた結
果、拡散層(イオンが消費される被加工物近傍で
濃度勾配ができている部分)の厚みが局所的に薄
くなつているということである。
ところで、拡散層の厚みは、基板の近傍の溶液
を攪拌するほど薄くなることが一般によく知られ
ている。溶液を攪拌するのには、例えば基板自体
を高速で回転させればよい。基板の角回転速度ω
と拡散層の厚みδとの関係は次式で与えられる。
を攪拌するほど薄くなることが一般によく知られ
ている。溶液を攪拌するのには、例えば基板自体
を高速で回転させればよい。基板の角回転速度ω
と拡散層の厚みδとの関係は次式で与えられる。
δ=1.61D1/3ω-1/2ν1/6 ……(1)
ここで、
D:拡散定数
ν:動粘度
Dとνとを与えて拡散層の厚みδと回転速度と
の関係を示したのが第4図である。この図から、
回転数を上げるほど、拡散層の厚みが薄くなるこ
とがわかる。
の関係を示したのが第4図である。この図から、
回転数を上げるほど、拡散層の厚みが薄くなるこ
とがわかる。
さて、めつきの場合、膜生成速度vと基板の回
転速度ωの関係は次式で与えられる。
転速度ωの関係は次式で与えられる。
v=ki=±0.625knFCD2/3ν-1/6ω1/2 ……(2)
ここで、
i:限界電流密度
k:定数
n:イオン価
F:フアラデー定数
C:沖合濃度
(2)式に、先述のレーザを照射した場合の膜生成
速度600μm/hourを代入して回転数を求め、こ
の値を(1)式に入れて拡散層の厚みに換算すると、
δ=0.2μmと求まる。この結果を第4図に示す。
通常の無電解めつき液で、基材を1000rpmで回転
した場合の拡散層の厚みは第4図からδ=14μm
と求まる。したがつて、レーザを照射した部分の
み拡散層の厚みが1/70になつていることが推定さ
れる。
速度600μm/hourを代入して回転数を求め、こ
の値を(1)式に入れて拡散層の厚みに換算すると、
δ=0.2μmと求まる。この結果を第4図に示す。
通常の無電解めつき液で、基材を1000rpmで回転
した場合の拡散層の厚みは第4図からδ=14μm
と求まる。したがつて、レーザを照射した部分の
み拡散層の厚みが1/70になつていることが推定さ
れる。
以上の結果から、拡散層の厚みをさらに薄くす
れば、めつき速度はさらに上がることがわかる。
れば、めつき速度はさらに上がることがわかる。
本実施例では、先に第2図に示したように、被
加工部において、めつき液14は常にレーザ照射
方向と同じ方向から流れて攪拌されている。すな
わち、レーザによる温度上昇と攪拌効果、液の流
れによる攪拌効果が相乗的に働き、めつき膜生成
速度は2000μm/hourと向上する。その結果、被
加工部のみ選択的高能率なめつきが可能になるわ
けである。以上のように、本実施例において、被
加工物の被加工部においてめつき液がレーザ照射
方向と同じ方向から流動しているので、めつき速
度は加速されている。
加工部において、めつき液14は常にレーザ照射
方向と同じ方向から流れて攪拌されている。すな
わち、レーザによる温度上昇と攪拌効果、液の流
れによる攪拌効果が相乗的に働き、めつき膜生成
速度は2000μm/hourと向上する。その結果、被
加工部のみ選択的高能率なめつきが可能になるわ
けである。以上のように、本実施例において、被
加工物の被加工部においてめつき液がレーザ照射
方向と同じ方向から流動しているので、めつき速
度は加速されている。
次に、第5図、第6図に第2の実施例を示す。
第5図に示す第2の実施例は、高速めつきセル9
の内部に光フアイバ15を挿通し、断線欠陥部a
に直接的にレーザビーム8を導くようにしたもの
である。その他は第1の実施例と同様なので説明
は省略する。このように、光フアイバ15を用い
ることにより、レーザビーム8がめつき液14中
を僅かな距離しか通過しないので、めつき液14
に吸収され易い波長のレーザ光を用いる場合に適
している。
第5図に示す第2の実施例は、高速めつきセル9
の内部に光フアイバ15を挿通し、断線欠陥部a
に直接的にレーザビーム8を導くようにしたもの
である。その他は第1の実施例と同様なので説明
は省略する。このように、光フアイバ15を用い
ることにより、レーザビーム8がめつき液14中
を僅かな距離しか通過しないので、めつき液14
に吸収され易い波長のレーザ光を用いる場合に適
している。
さらに、光フアイバ15は移動に関する自由度
が大きいので、ポリイミド基材13上での移動が
容易である。また、光フアイバ15を導入した高
速めつきセル9を小型化して、レーザペンのよう
な構造にすれば、より簡便な加工装置が提供され
る。
が大きいので、ポリイミド基材13上での移動が
容易である。また、光フアイバ15を導入した高
速めつきセル9を小型化して、レーザペンのよう
な構造にすれば、より簡便な加工装置が提供され
る。
光フアイバ15は必ずしもめつき液14中を通
過しなくてもよい。その例を第6図に示す。レー
ザビーム8は光フアイバ16によつて供給され
る。めつき液14はレーザビーム8の照射部に対
し斜め横から供給される。第1図、第2図で示し
たようにビームの供給の仕方は、レーザ源からそ
のままきた光を利用しても、光フアイバを利用し
てもかまわない。
過しなくてもよい。その例を第6図に示す。レー
ザビーム8は光フアイバ16によつて供給され
る。めつき液14はレーザビーム8の照射部に対
し斜め横から供給される。第1図、第2図で示し
たようにビームの供給の仕方は、レーザ源からそ
のままきた光を利用しても、光フアイバを利用し
てもかまわない。
以上述べた本実施例では、被加工物の被加工部
において、溶液が流動しているので、めつき速度
を加速できることに加えて、レーザビーム8の供
給を効率的に行うことができ、また操作性のよい
高速セルを提供しうる。
において、溶液が流動しているので、めつき速度
を加速できることに加えて、レーザビーム8の供
給を効率的に行うことができ、また操作性のよい
高速セルを提供しうる。
めつき液14は、必ずしも高速めつきセルより
供給されなくともよい。本発明の第3の実施例を
第7図に示す。第7図に示すように、セル17は
先端に吸引盤18を有する構造とする。レーザビ
ーム8はレンズ7により集光され、めつき液14
中を通過して断線欠陥部a上に照射される。ポリ
イミド基材13上は、選択めつきが必要な部分の
近傍以下は、吸引盤18の外に存在することにな
る。したがつて、選択めつきが必要な部分の近傍
以外はめつき液14と接しないため、バツクグラ
ウンドにめつきされない。ここでめつき液は矢印
で示したように、セル内を循環しているので、被
加工物の被加工部において流動しており、めつき
速度はより加速されている。
供給されなくともよい。本発明の第3の実施例を
第7図に示す。第7図に示すように、セル17は
先端に吸引盤18を有する構造とする。レーザビ
ーム8はレンズ7により集光され、めつき液14
中を通過して断線欠陥部a上に照射される。ポリ
イミド基材13上は、選択めつきが必要な部分の
近傍以下は、吸引盤18の外に存在することにな
る。したがつて、選択めつきが必要な部分の近傍
以外はめつき液14と接しないため、バツクグラ
ウンドにめつきされない。ここでめつき液は矢印
で示したように、セル内を循環しているので、被
加工物の被加工部において流動しており、めつき
速度はより加速されている。
本発明の第4の実施例を第8図に示す。セル1
9は、先端にOリング20を有する構造をとつて
いる。レーザビーム8は、レンズ7によつて集光
され、めつき液14中を通過して断線欠陥部a上
に照射される。ポリイミド基材13上は、選択め
つきが必要な部分の近傍以外は、Oリング20の
外に存在する。めつき液は矢印で示したようにセ
ル内を循環しているので、被加工物の被加工部に
おいて流動しており、めつき速度はより加速され
る。
9は、先端にOリング20を有する構造をとつて
いる。レーザビーム8は、レンズ7によつて集光
され、めつき液14中を通過して断線欠陥部a上
に照射される。ポリイミド基材13上は、選択め
つきが必要な部分の近傍以外は、Oリング20の
外に存在する。めつき液は矢印で示したようにセ
ル内を循環しているので、被加工物の被加工部に
おいて流動しており、めつき速度はより加速され
る。
本発明の第5の実施例を第9図に示す。ポリイ
ミド基材13の下に排気孔24を有する固定台2
3を配置してもよい。セル21はゴムパツト22
で液もれを防止する構造をとつている。レーザビ
ーム8は、レンズ7によつて集光され、めつき液
14中を通過して断線欠陥部a上に照射される。
ポリイミド基材13上は、選択めつきが必要な部
分の近傍以外はゴムパツト22で覆われている。
めつき液は矢印で示したようにセル内を循環して
いるので、被加工物の被加工部において流動して
おり、めつき速度はより加速される。
ミド基材13の下に排気孔24を有する固定台2
3を配置してもよい。セル21はゴムパツト22
で液もれを防止する構造をとつている。レーザビ
ーム8は、レンズ7によつて集光され、めつき液
14中を通過して断線欠陥部a上に照射される。
ポリイミド基材13上は、選択めつきが必要な部
分の近傍以外はゴムパツト22で覆われている。
めつき液は矢印で示したようにセル内を循環して
いるので、被加工物の被加工部において流動して
おり、めつき速度はより加速される。
本発明の第6の実施例を第10図に示す。ポリ
イミド基材13は、セル25中の固定治具26に
よつて固定されている。めつき液14は、矢印で
示したようにセル内を循環しているので、被加工
物の被加工部において流動しており、めつき速度
はより加速されている。
イミド基材13は、セル25中の固定治具26に
よつて固定されている。めつき液14は、矢印で
示したようにセル内を循環しているので、被加工
物の被加工部において流動しており、めつき速度
はより加速されている。
以上の実施例では選択的なめつきについて示し
たが、めつき液をエツチング液に変えれば、選択
的なエツチングの速度が加速される。
たが、めつき液をエツチング液に変えれば、選択
的なエツチングの速度が加速される。
また、選択的なエネルギー源となるエネルギー
ビームとしてレーザビームを示したが、赤外線ラ
ンプ、キセノンランプなどでもかまわない。
ビームとしてレーザビームを示したが、赤外線ラ
ンプ、キセノンランプなどでもかまわない。
また、本実施例では、断線欠陥部aを有する基
材上にレーザビームを照射し、パターンを修正す
る例を示したが、レーザビームを所望のパターン
通りにスイープすれば、マスクレスでパターンが
形成できる。
材上にレーザビームを照射し、パターンを修正す
る例を示したが、レーザビームを所望のパターン
通りにスイープすれば、マスクレスでパターンが
形成できる。
また、以上の実施例は、めつき処理について示
したが、エツチング液を用いて不要パターンの削
除を選択的に行うことができる。つまり、反応を Cu2++2e←Cu と逆転させればよいからである。エツチング液の
組成例としては、例えば、 水…………1 塩酸…………300ml 硝酸…………300ml または 水…………1 水酸化カリウム(KOH)………40g などが挙げられる。セルの構造、レーザビームの
供給方法等は先に述べた各実施例に準ずればよ
い。
したが、エツチング液を用いて不要パターンの削
除を選択的に行うことができる。つまり、反応を Cu2++2e←Cu と逆転させればよいからである。エツチング液の
組成例としては、例えば、 水…………1 塩酸…………300ml 硝酸…………300ml または 水…………1 水酸化カリウム(KOH)………40g などが挙げられる。セルの構造、レーザビームの
供給方法等は先に述べた各実施例に準ずればよ
い。
以上のように、本発明によれば、加工部分で溶
液をエネルギービームの照射方向と同じ方向から
流動させるので、エネルギービームは、溶液によ
つて屈折や散乱させられることが少なく加工部分
に精度よく到達し、通常のエネルギービームの照
射と攪拌の条件、すなわち攪拌する溶液がエネル
ギービームを横切る方向に流動する場合よりも、
加工部分近傍の溶液をより活性化させ、加工速度
を向上させることができる。
液をエネルギービームの照射方向と同じ方向から
流動させるので、エネルギービームは、溶液によ
つて屈折や散乱させられることが少なく加工部分
に精度よく到達し、通常のエネルギービームの照
射と攪拌の条件、すなわち攪拌する溶液がエネル
ギービームを横切る方向に流動する場合よりも、
加工部分近傍の溶液をより活性化させ、加工速度
を向上させることができる。
第1図は本発明による加工方法の第1の実施例
を実施するための装置の外観を示す斜視図、第2
図はその断面図、第3図は第1の実施例における
時間に対する膜厚変化を示す説明図、第4図は拡
散膜の厚み変化を示す説明図、第5図は第2の実
施例を示す断面図、第6図は第2の実施例の別の
態様を示す断面図、第7図は第3の実施例を示す
断面図、第8図は第4の実施例を示す断面図、第
9図は第5の実施例を示す断面図、第10図は第
6の実施例を示す断面図、第11図は従来のめつ
き方法を示す説明図である。 7……集光レンズ、8……レーザビーム、9…
…高速めつきセル、10……ノズル、11……パ
ツド、12……金属パターン、13……ポリイミ
ド基板、14……めつき液、a……断線欠陥部。
を実施するための装置の外観を示す斜視図、第2
図はその断面図、第3図は第1の実施例における
時間に対する膜厚変化を示す説明図、第4図は拡
散膜の厚み変化を示す説明図、第5図は第2の実
施例を示す断面図、第6図は第2の実施例の別の
態様を示す断面図、第7図は第3の実施例を示す
断面図、第8図は第4の実施例を示す断面図、第
9図は第5の実施例を示す断面図、第10図は第
6の実施例を示す断面図、第11図は従来のめつ
き方法を示す説明図である。 7……集光レンズ、8……レーザビーム、9…
…高速めつきセル、10……ノズル、11……パ
ツド、12……金属パターン、13……ポリイミ
ド基板、14……めつき液、a……断線欠陥部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被加工物の任意の加工部分に、溶液を接触さ
せかつエネルギービームを照射して選択的に加工
を施す選択的加工方法において、前記溶液を前記
加工部に前記エネルギービームの照射方向とほぼ
同じ方向から流動させることを特徴とする選択的
加工方法。 2 特許請求の範囲第1項記載の方法において、
加工はめつき加工であることを特徴とする選択的
加工方法。 3 特許請求の範囲第1項記載の方法において、
加工はエツチング加工であることを特徴とする選
択的加工方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59152337A JPS6130672A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 選択的加工方法 |
US07/004,279 US4766009A (en) | 1984-07-23 | 1987-01-06 | Selective working method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59152337A JPS6130672A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 選択的加工方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6130672A JPS6130672A (ja) | 1986-02-12 |
JPH0230386B2 true JPH0230386B2 (ja) | 1990-07-05 |
Family
ID=15538328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59152337A Granted JPS6130672A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 選択的加工方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4766009A (ja) |
JP (1) | JPS6130672A (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62196378A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-08-29 | Brother Ind Ltd | 薄膜形成方法 |
JPH0791661B2 (ja) * | 1986-08-08 | 1995-10-04 | ディジタル イクイプメント コ−ポレ−ション | 電子的構成要素を形成するためレ−ザを使用するリソグラフィック方法 |
US5013399A (en) * | 1987-01-22 | 1991-05-07 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of preparing support for lithographic printing plate |
US5221422A (en) * | 1988-06-06 | 1993-06-22 | Digital Equipment Corporation | Lithographic technique using laser scanning for fabrication of electronic components and the like |
US5171608A (en) * | 1990-09-28 | 1992-12-15 | The Unites States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method of pattern transfer in photolithography using laser induced metallization |
US5292418A (en) * | 1991-03-08 | 1994-03-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Local laser plating apparatus |
DE4125863A1 (de) * | 1991-08-03 | 1993-02-04 | Lpkf Cad Cam Systeme Gmbh | Verfahren zum aufbringen von strukturierten metallschichten auf glassubstraten |
FR2682520B1 (fr) * | 1991-10-11 | 1994-02-11 | Titra Film Sa | Procede de sous-titrage de films cinematographiques. |
JPH0640797A (ja) * | 1992-04-23 | 1994-02-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイヤモンドの加工方法 |
US6689426B1 (en) * | 1993-03-23 | 2004-02-10 | Tokai University | Solid surface modification method and apparatus |
WO1994021715A1 (en) * | 1993-03-23 | 1994-09-29 | Tokai University | Solid surface modifying method and apparatus |
US5882435A (en) * | 1993-09-30 | 1999-03-16 | Siemens Solar Gmbh | Process for the metal coating of solar cells made of crystalline silicon |
US5612099A (en) * | 1995-05-23 | 1997-03-18 | Mcdonnell Douglas Corporation | Method and apparatus for coating a substrate |
US5814152A (en) * | 1995-05-23 | 1998-09-29 | Mcdonnell Douglas Corporation | Apparatus for coating a substrate |
US7994450B2 (en) * | 2002-01-07 | 2011-08-09 | International Business Machines Corporation | Debris minimization and improved spatial resolution in pulsed laser ablation of materials |
EP1598140A1 (de) * | 2004-05-19 | 2005-11-23 | Synova S.A. | Laserbearbeitung eines Werkstücks |
US7163640B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-01-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Methods and systems for laser processing |
US8330070B2 (en) * | 2006-05-11 | 2012-12-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Laser shock hardening method and apparatus |
FR2911080B1 (fr) * | 2007-11-26 | 2010-02-12 | Toshiba Kk | Procede et appareil de trempe par choc laser |
CN101823183A (zh) * | 2009-03-04 | 2010-09-08 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 水导激光装置 |
JP5220914B2 (ja) * | 2011-05-25 | 2013-06-26 | 株式会社スギノマシン | レーザー加工装置 |
DE102011107982A1 (de) * | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Rena Gmbh | Werkzeugkopf (LCP-Kopf) |
WO2015189875A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 富士電機株式会社 | 不純物添加装置、不純物添加方法及び半導体素子の製造方法 |
DE102015224115B4 (de) * | 2015-12-02 | 2021-04-01 | Avonisys Ag | Laserstrahl-bearbeitungsvorrichtung mit einer einkoppelvorrichtung zum einkoppeln eines fokussierten laserstrahls in einen flüssigkeitsstrahl |
US11168400B2 (en) | 2018-06-21 | 2021-11-09 | International Business Machines Corporation | Formation of terminal metallurgy on laminates and boards |
CN109068493A (zh) * | 2018-09-18 | 2018-12-21 | 北京梦之墨科技有限公司 | 一种低熔点金属线路的打印方法及打印装置 |
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---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (6)
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US4259367A (en) * | 1979-07-30 | 1981-03-31 | International Business Machines Corporation | Fine line repair technique |
US4349583A (en) * | 1981-07-28 | 1982-09-14 | International Business Machines Corporation | Laser enhanced maskless method for plating and simultaneous plating and etching of patterns |
JPS5864368A (ja) * | 1981-10-12 | 1983-04-16 | Inoue Japax Res Inc | 化学メツキ方法 |
-
1984
- 1984-07-23 JP JP59152337A patent/JPS6130672A/ja active Granted
-
1987
- 1987-01-06 US US07/004,279 patent/US4766009A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55148757A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-19 | Ibm | Selective plating method without using electricity |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4766009A (en) | 1988-08-23 |
JPS6130672A (ja) | 1986-02-12 |
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