JPH0230174A - 半導体チップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体チップに係り、特にＥＣＬ（エミッタ結
合論理）ゲートアレイ半導体集積回路素子の基準電圧供
給回路に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の半導体チップ上の基準電圧供給方式は、
等価な基準電圧発生源が同一半導体チップ上に複数存在
する場合において、これら基準電圧発生源の受け持ち領
域は方形を基本として、組み合せられていた。

第２図において、従来の領域区分法によシセル１０を半
導体チップ２０上にかたより無く配置した一例が示され
ており、基準電圧発生回路６の受けもつ領域８、および
基準電圧発生回路７の受けもつ領域９ともに、セル１０
が配置される為、半導体チップ２０上の温度分布は均一
になシ、基準電圧発生回路６、および７の両者で電力を
消費することになる。

また第３図において、従来の領域区分法にエクセル１５
を、基準電圧発生回路１１の受けもつ領域１３にのみ集
中して配置し、基準電圧発生回路１２の受けもつ領域１
４には、いかなるセルの配置もしない。これによると、
２つの基準電圧源のうち一つの基準電圧源１２は削除さ
れ、低消費電力化の目的は達成されるが、半導体チップ
２０上の半分の領域に、全てのセル１５が集中するため
、これらのセル１５よシ発生する熱に起因する温度分布
の不均一により、半導体チップ２０の機械的ひずみおよ
び破損のおそれがある。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述した従来の基準電圧供給構造は、等価な基準電圧発
生源の受け持ち領域をすべて方形としているので、特に
消費電力低減の目的で使用するセルの配置をある特定の
基準電圧発生源の受け持ち領域に集中させ、他の特定の
基準電圧発生源の受け持ち領域にはいかなるセルの配置
をも禁止することにより、この受け持ち領域内にセルを
有しない基準電圧源を削除するという構造をとらざるを
得ない場合がしばしは有った。この構造によると、半導
体チップ上のかたよった領域に熱を発生するセルが集中
することになり、半導体チップ上の温度分布の極端な不
均一に起因する機械的なひずみが生じ、破損に至る可能
性があるという欠点がある。

本発明の目的は、セルを集中させることなく分散させ、
しかも多数ある基準電圧発生源のうち所望の屯のを除く
ことができるようにした半導体チ、プを提供することに
ある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の半導体チップの構成は、基準電圧発生源の受け
持ち領域を互にくし型形状としたことを特徴とする。

〔実施例〕

次に本発明について図面を後照して説明する。

第１図は本発明の一実施例の半導体チップの平面図であ
る。同図において、基準電圧発生源１の受け持ち領域３
と、基準電圧発生源２の受け持ち領域４とが示されてい
る。ここで、セル５はすべて領域３にのみ存在し、領域
４にはひとつも配置されない為、実際には基準電圧発生
源２は削除され、基準圧発生源として電力を消費するの
は発生源１のみである。この時、半導体チップ２０上に
おけるセル５の分布にがたよυは無く、温度分布の不均
一によるチップのひずみや破損等のおそれは無い。

本実施例の基準電圧供給構造は、複数の等価な基準電圧
発生源の受け持つ領域がそれぞれぐし型の形状を有し、
相互に入り組む様な形状になるようになっている。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、半導体チップ上の温度
分布の不均一をまねくこと無く、基準電圧発生源の生成
される個数を最小限におさえ、消費電力の低減を達成出
来る効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の半導体チップの平面図、第
２図は従来の領域区分法によりセルをチ、プ上に均一に
配置した一例を示す平面図、第３図は従来の領域区分法
によシセルを一方の基準電圧発生源の受けもち領域にの
み集中配置した一例を示す平面図である。 １．２，６，７，１１．１２・・・・・・基準電圧発生
源、３，４，８，９，１３．１４・・・・・・受け持ち
領域、５，１０，１５・・・・・・セル、２０・・・・
・・半導体チ、ブ。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 基準電圧発生源の受け持ち領域を互にくし型形状とした
   ことを特徴とする半導体チップ。