JPH0493047A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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Publication number
JPH0493047A
JPH0493047A JP2209900A JP20990090A JPH0493047A JP H0493047 A JPH0493047 A JP H0493047A JP 2209900 A JP2209900 A JP 2209900A JP 20990090 A JP20990090 A JP 20990090A JP H0493047 A JPH0493047 A JP H0493047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
cell
integrated circuit
semiconductor integrated
Prior art date
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Pending
Application number
JP2209900A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Kuriyama
栗山 敦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0493047A publication Critical patent/JPH0493047A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路装置に関し、特にマスタスライ
ス方式の半導体集積回路装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体集積回路装置では、内部回路の論
理レベルと外部回路の論理レベルとが異なっており、信
号の入出力に際しレベルの変換を行うための入出力回路
が置かれていた。この入出力回路は一回路ごとに長方形
のセル内に構成されており、これらの入出力回路のセル
はチップ辺に沿って配置された入出力端子と一対一に対
応して、入出力端子の内側にチップ辺に沿って配置され
ていた。
例えば、第4図のように、チップ辺400に沿って入出
力端子401,402,403,404が配置され、そ
の内側には入出力端子40]に対応する入出力回路のセ
ル405.入出力端子402に対応する入出力回路のセ
ル406.出力端子403に対応する入出力回路のセル
407゜入出力端子404に対応する入出力回路のセル
408が置かれていた。これらの入出力回路のセル40
5,406,407.408は長方形をしておりチップ
辺と平行に一列に並へられていな。
〔発明か解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体集積回路装置では、入出力回路の
セル405〜406が長方形であるため、入出力回路の
セルをチップ辺に対し平行に並べるとチップの四隅に入
出力回路のセルをおくことがてきず無駄になるスペース
ができてしまう。
また、チップの四隅の部分に入出力回路のセルが置けな
いことにより、入出力回路のセルと一対一に対応する入
出力端子を一チップ上に置くことのできる数が制限され
チップ面積の有効利用に対し、また近年の多入出力端子
の要求に対し欠点となっている。
本発明の目的はチップ面積を有効に利用でき、入出力端
子数を増やすことができる半導体集積回路装置を提供す
ることにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体集積回路装置は、半導体集積回路装置に
対する信号の入出力の際信号レベルの変換を行う入出力
回路を構成する複数のセルを有するマスタスライス方式
の半導体集積回路装置において、前記セルのうち少なく
とも一つのセルの一つの角が90度以下となる形状であ
ることを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は本発明の第1の実施例の平面図である。チップ辺10
0に沿って、入出力端子101゜102.103,10
4を配置し、これらの入出力端子と内側には入出力端子
101に対応する入出力回路のセル105.入出力端子
102に対応する入出力回路のセル106.入出力端子
103に対応する入出力回路のセル107.入出力端子
104に対応する入出力回路のセル108が配置しであ
る。入出力回路のセルの形状は一角が45度の平行四辺
形になっている。
入出力回路のセルがこのような形状をとっていることに
より、チップの四隅にも入出力回路のセルを配置するこ
とがてき、チップ面積を有効に利用することがてきると
ともに入出力端子数を増やすことができる。
第2図は本発明の第2の実施例の平面図である。チップ
辺200に沿って、入出力端子201゜202.203
,204を配置し、これらの入出力端子の内側には入出
力端子201に対応する入出力回路のセル205.入出
力端子202に対応する入出力回路のセル206.入出
力端子203に対応する入出力回路のセル207.入出
力端子204に対応する入出力回路のセル208が配置
しである。
チップのコーナ一部分にある入出力回路のセル205の
形状は一つの角か45度の直角三角形である。この入出
力回路のセル205を配置することにより、チップのコ
ーナ一部分の面積を有効に利用することができるととに
入出力端子数を増やすことができる。
第3図は本発明の第3の実施例の平面図である。
チップ辺300に沿って1、入出力端子301゜302
.303,304を配置し、これらの入出力端子の内側
には入出力端子301に対応する入出力回路のセル30
5.入出力端子302に対応する入出力回路のセル30
6.入出力端子303に対応する入出力回路のセル30
7.入出力端子304に対応する入出力回路のセル30
8が配置しである。
入出力端子のセル305,306,307゜308の形
状はそれぞれ異なっており、チップ中心からみて放射状
をしている。こうすることにより、チップ面積を有効に
利用することができるとともに入出力端子数を増やずこ
とができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、半導体集積回路装置の入
出力回路のセルの形状を長方形ではなく少なくとも一角
を90度以下にすることにより、チップ面・積を有効に
利用することができるととに使用できる入出力端子数を
増やすことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の第1の実施例の平面図、第2図は本発
明の第2の実施例の平面図、第3図は本発明の第3の実
施例の平面図、第4図は従来例の平面図である。 1.00 200,300,400・・・チップ辺、1
01、 102 103 1.04 201 202.
203,204,301,302.30B304.4.
01.4.02,403,404・・・入出力端子、1
05.106.1.07,108,205 206 2
07 208 305.306307.308,405
,406,407.408・・・入出力回路のセル、1
09,209.309409・・・基準電圧発生回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体集積回路装置に対する信号の入出力の際信号
    レベルの変換を行う入出力回路を構成する複数のセルを
    有するマスタスライス方式の半導体集積回路装置におい
    て、前記セルのうち少なくとも一つのセルの一つの角が
    90度以下となる形状であることを特徴とする導体集積
    回路装置。 2、前記セルの一角が45度であることを特徴とする請
    求項1記載の半導体集積回路装置。
JP2209900A 1990-08-08 1990-08-08 半導体集積回路装置 Pending JPH0493047A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009040613A1 (de) 2008-09-09 2010-07-01 Nec Electronics Corp., Kawasaki Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung und Testanschlussanordnungsverfahren
US9311105B2 (en) 2010-04-21 2016-04-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Communicating operating system booting information

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DE102009040613A1 (de) 2008-09-09 2010-07-01 Nec Electronics Corp., Kawasaki Integrierte Halbleiterschaltungsvorrichtung und Testanschlussanordnungsverfahren
US7843226B2 (en) 2008-09-09 2010-11-30 Nec Electronics Corporation Semiconductor integrated circuit device and test terminal arrangement method
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