JPH02290327A - デジタル・インタフェース回路、デジタル入力回路及びデジタル変換回路 - Google Patents
デジタル・インタフェース回路、デジタル入力回路及びデジタル変換回路Info
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
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- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、異なるロジック・ファミリのデジタル電子回
路間に機能的互換性を与えるデジタル・インタフェース
回路、特にバイポーラ・デジタル回路及び相補形メタル
・オキサイド・セミコンダクタ(CMOS)間のインタ
フェースとして機能する回路に関する。
路間に機能的互換性を与えるデジタル・インタフェース
回路、特にバイポーラ・デジタル回路及び相補形メタル
・オキサイド・セミコンダクタ(CMOS)間のインタ
フェースとして機能する回路に関する。
[従来の技術]
デジタル電子回路は、種々のロジック・ファミリの内の
1つの動作特性に応じて機能するように設計されている
。これらのロジック・ファミリには、CMOSトランジ
スタを使用したファミリ<CMOSデジタル回路)と、
トランジスタートランジスタ論理回路(TTL)および
エミッタ結合ファミリ(ECL)の様なバイポーラ接合
トランジスタを使用したファミリ (バイポーラ・デジ
タル回路)とがある。各ロジック・ファミリは、異なる
動作制約のもとでの使用に適するように動作特性が異な
る。このような回路はシリコンおよびガリウムひ素を含
む種々の半導体から製造されるが、以下の説明はシリコ
ンから製造する回路の動作特性を例に挙げて行う。
1つの動作特性に応じて機能するように設計されている
。これらのロジック・ファミリには、CMOSトランジ
スタを使用したファミリ<CMOSデジタル回路)と、
トランジスタートランジスタ論理回路(TTL)および
エミッタ結合ファミリ(ECL)の様なバイポーラ接合
トランジスタを使用したファミリ (バイポーラ・デジ
タル回路)とがある。各ロジック・ファミリは、異なる
動作制約のもとでの使用に適するように動作特性が異な
る。このような回路はシリコンおよびガリウムひ素を含
む種々の半導体から製造されるが、以下の説明はシリコ
ンから製造する回路の動作特性を例に挙げて行う。
バイポーラ−CMOS回路と呼ばれる1個のデジタル集
積回路では、異なる構成部分にバイポーラ素子およびC
MOSデジタル素子を使用することが望ましい場合があ
る。その第1の例としては、大規模集積方法で製造され
たCMOSデジタル集積回路の動作周波数は、相互接続
されたCMO Sトランジスタ間の容量によって、これ
らトランジスタ自体のスイッチング速度よりも制限され
る。
積回路では、異なる構成部分にバイポーラ素子およびC
MOSデジタル素子を使用することが望ましい場合があ
る。その第1の例としては、大規模集積方法で製造され
たCMOSデジタル集積回路の動作周波数は、相互接続
されたCMO Sトランジスタ間の容量によって、これ
らトランジスタ自体のスイッチング速度よりも制限され
る。
そこで、電流増幅器として構成した複数のバイポーラ・
トランジスタを使用すると大規模CMO Sデジタル回
路の速度制限キャパシタンスを補償でき、その結果、C
MOSデジタル回路よりも動作周波数が高いバイポーラ
−CMOSデジタル回路を形成できる。第2の例として
は、1個の集積回路内でCMOSI−ランジスタ及びバ
イポーラ・トランジスタの大規模集積を行うと、集積回
路上での完全な電子システムの製造が可能になる。しか
し、補償されていないバイポーラ回路およびCMOSデ
ジタル回路の動作特性は多くの点で異なり、その結果、
これらの回路をインタフェースすることが困難である。
トランジスタを使用すると大規模CMO Sデジタル回
路の速度制限キャパシタンスを補償でき、その結果、C
MOSデジタル回路よりも動作周波数が高いバイポーラ
−CMOSデジタル回路を形成できる。第2の例として
は、1個の集積回路内でCMOSI−ランジスタ及びバ
イポーラ・トランジスタの大規模集積を行うと、集積回
路上での完全な電子システムの製造が可能になる。しか
し、補償されていないバイポーラ回路およびCMOSデ
ジタル回路の動作特性は多くの点で異なり、その結果、
これらの回路をインタフェースすることが困難である。
[発明が解決しようとする課題]
ECLファミリ用に設計したハイポーラ・デジタル回路
の場合、CMOS回路との第1の違いは論理信号レベル
である。比較のために、これらの回路を+5■の電源で
動作させると、ECL回路の高及び低論理信号レベルは
、夫々+4.1■及び+ 3. 3 Vになる。これに
対して、高密度CMO S回路の高及び低論理信号レベ
ルは、夫々+5■および0■である。また第2の違いは
、ECL回路の論理信号電圧レベルが温度変化に応じて
変化することに対して、CMOS回路の論理信号電圧レ
ベルは、動作温度の全範囲にわたり略一定であることで
ある。更に第3の違いは、CMOS回路に使用するnチ
ャンネル及びpチャンネル電界効果トランジスタ(FE
T)は、互いにスレッショルド電圧特性が異なり、製造
工程の変化に影響を受け易い。これに対し、ECL回路
に使用するn. pnバイポーラ接合トランジスタは製
造工程の変化にあまり影響を受けない。CMOSデジタ
ル回路のnおよびPチャンネル・トランジスタのスレッ
ショルド電圧特性が異なるために、高及び低ロジック信
号のスレッショルド・レベルが電源電圧の30%又は7
0%に変化する。それにより、高及び低論理信号に関し
て伝播遅延時間が異なる。
の場合、CMOS回路との第1の違いは論理信号レベル
である。比較のために、これらの回路を+5■の電源で
動作させると、ECL回路の高及び低論理信号レベルは
、夫々+4.1■及び+ 3. 3 Vになる。これに
対して、高密度CMO S回路の高及び低論理信号レベ
ルは、夫々+5■および0■である。また第2の違いは
、ECL回路の論理信号電圧レベルが温度変化に応じて
変化することに対して、CMOS回路の論理信号電圧レ
ベルは、動作温度の全範囲にわたり略一定であることで
ある。更に第3の違いは、CMOS回路に使用するnチ
ャンネル及びpチャンネル電界効果トランジスタ(FE
T)は、互いにスレッショルド電圧特性が異なり、製造
工程の変化に影響を受け易い。これに対し、ECL回路
に使用するn. pnバイポーラ接合トランジスタは製
造工程の変化にあまり影響を受けない。CMOSデジタ
ル回路のnおよびPチャンネル・トランジスタのスレッ
ショルド電圧特性が異なるために、高及び低ロジック信
号のスレッショルド・レベルが電源電圧の30%又は7
0%に変化する。それにより、高及び低論理信号に関し
て伝播遅延時間が異なる。
したがって、ECL回路およびCMOS回路間に機能的
互換性を与えるインタフェースに必要な要件は、これら
の回路の論理信号電圧レベルの違いを補償し、ECL論
理信号電圧レベルの温度による変化を補償し、更に共通
のCMOS論理信号電圧スレッショルドを使用可能にす
ることである。
互換性を与えるインタフェースに必要な要件は、これら
の回路の論理信号電圧レベルの違いを補償し、ECL論
理信号電圧レベルの温度による変化を補償し、更に共通
のCMOS論理信号電圧スレッショルドを使用可能にす
ることである。
マギー(Magee)の発明による米国特許第4,57
8,6 0 0号明細書は、高及び低CMOS論理信号
レベル用に共通の論理スレッショルド電圧が使用可能に
なるCMOSバッファ回路を開示している。この発明で
は、論理スレッショルド電圧は、回路に使用するn及び
pチャンネルFETの異なるスレノショルド電圧特性と
は独立している。
8,6 0 0号明細書は、高及び低CMOS論理信号
レベル用に共通の論理スレッショルド電圧が使用可能に
なるCMOSバッファ回路を開示している。この発明で
は、論理スレッショルド電圧は、回路に使用するn及び
pチャンネルFETの異なるスレノショルド電圧特性と
は独立している。
マギーによるCMOSバッファ回路は、第5図に示す従
来のCMOSインバータ(1 0)を含んでいる。イン
バータ(10)は、nチャンネル・トランジスタ(12
)及びpチャンネル・トランジスタ(16)から成り、
これらの各ゲート端子(16)及び(18)は電気的に
互いに接続され、各ドレイン端子(20)及び(22)
も電気的に互いに接続されている。ゲート端子(16)
及び(1日)はインバータ(10)の入力端子(24)
を形成し、ドレイン端子(20)及び(22)はインバ
ータ(10)の出力端子(26)を形成する。nチャン
ネル・トランジスタ(12)のソース端子(28)は負
電圧源導体−Vddに電気的に接続され、Pチャンネル
・トランジスタ(14)のソース端子(30)は正電圧
源導体+Vddに電気的に接続され、ソース端子(28
)及び(30)はインバータ(10)のバイアス電圧端
子となる。
来のCMOSインバータ(1 0)を含んでいる。イン
バータ(10)は、nチャンネル・トランジスタ(12
)及びpチャンネル・トランジスタ(16)から成り、
これらの各ゲート端子(16)及び(18)は電気的に
互いに接続され、各ドレイン端子(20)及び(22)
も電気的に互いに接続されている。ゲート端子(16)
及び(1日)はインバータ(10)の入力端子(24)
を形成し、ドレイン端子(20)及び(22)はインバ
ータ(10)の出力端子(26)を形成する。nチャン
ネル・トランジスタ(12)のソース端子(28)は負
電圧源導体−Vddに電気的に接続され、Pチャンネル
・トランジスタ(14)のソース端子(30)は正電圧
源導体+Vddに電気的に接続され、ソース端子(28
)及び(30)はインバータ(10)のバイアス電圧端
子となる。
インバータ(10)の出力端子(26)には、入力端子
(24)に供給されたCMOS論理信号に関連する反転
されたCMOS論理信号が現れる。
(24)に供給されたCMOS論理信号に関連する反転
されたCMOS論理信号が現れる。
第6図に、インバータ(10)を使用したマギーのCM
OSバッファ回路(32)を示す。1対のnチャンネル
及びpチャンネル・オフセット・トランジスタ(34)
及び(36)は、夫々nチャンネル及びpチャンネル・
トランジスタ(12)及び(14)にオフセット電圧を
供給する。オフセット電圧が発生し、nチャンネル及び
pチャンネル・トランジスタ(12)及び(14)に供
給される動作を以下に説明する。pチャンネル・オフセ
ット・トランジスタ(34)のゲート端子(38)及び
ドレイン端子(40)は、負電圧源導体−Vddに電気
的に接続される。pチャンネル・オフセット・トランジ
スタ(34)のソース端子(42)及びnチャンネル・
トランジスタ(12)のソース端子(28)にはpチャ
ンネル・スレッショルド電圧に比例した電圧分だけーV
ddからオフセットした電圧が生じる。同様に、nチャ
ンネル・オフセット・トランジスタ(36)のゲート(
44)及びドレイン端子(46)は、正電圧源導体+V
ddに電気的に接続される。nチャンネル・オフセット
・トランジスタ(36)のソース端子(40)及びpチ
ャンネル・トランジスタ(14)のソース端子(30)
にnチャンネル・スレッショルド電圧に比例した電圧分
だけ+Vddからオフセットした電圧が生じる。インバ
ータ(10)の入力端子(24)及び出力端子(26)
は、夫々バッファ回路(32)の入力端子及び出力端子
となる。
OSバッファ回路(32)を示す。1対のnチャンネル
及びpチャンネル・オフセット・トランジスタ(34)
及び(36)は、夫々nチャンネル及びpチャンネル・
トランジスタ(12)及び(14)にオフセット電圧を
供給する。オフセット電圧が発生し、nチャンネル及び
pチャンネル・トランジスタ(12)及び(14)に供
給される動作を以下に説明する。pチャンネル・オフセ
ット・トランジスタ(34)のゲート端子(38)及び
ドレイン端子(40)は、負電圧源導体−Vddに電気
的に接続される。pチャンネル・オフセット・トランジ
スタ(34)のソース端子(42)及びnチャンネル・
トランジスタ(12)のソース端子(28)にはpチャ
ンネル・スレッショルド電圧に比例した電圧分だけーV
ddからオフセットした電圧が生じる。同様に、nチャ
ンネル・オフセット・トランジスタ(36)のゲート(
44)及びドレイン端子(46)は、正電圧源導体+V
ddに電気的に接続される。nチャンネル・オフセット
・トランジスタ(36)のソース端子(40)及びpチ
ャンネル・トランジスタ(14)のソース端子(30)
にnチャンネル・スレッショルド電圧に比例した電圧分
だけ+Vddからオフセットした電圧が生じる。インバ
ータ(10)の入力端子(24)及び出力端子(26)
は、夫々バッファ回路(32)の入力端子及び出力端子
となる。
Pチャンネル及びnチャンネル・オフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)は、インバータ(10)のn
チャンネル及びpチャンネル・トランジスタ(12)及
び(14)と共に2対の対称的相補形トランジスタ回路
を形成する。この回路では、nチャンネル及びpチャン
ネル・トランジスタ(12)及び(14)の異なるスレ
ッショルド電圧特性とは独立した論理スレッショルド電
圧が得られる。即ち、この構成によると、電圧Vdd及
び+Vddの中間値の安定した論理スレッショルド電圧
が得られる。これに比較すると、オフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)を接続しないインバータ(1
0)は、nチャンネル・トランジスタ(12)及びPチ
ャンネル・トランジスタ(14)のスレッショルド電圧
特性の変化により、論理スレッショルド電圧を正確に設
定できない。
スタ(34)及び(36)は、インバータ(10)のn
チャンネル及びpチャンネル・トランジスタ(12)及
び(14)と共に2対の対称的相補形トランジスタ回路
を形成する。この回路では、nチャンネル及びpチャン
ネル・トランジスタ(12)及び(14)の異なるスレ
ッショルド電圧特性とは独立した論理スレッショルド電
圧が得られる。即ち、この構成によると、電圧Vdd及
び+Vddの中間値の安定した論理スレッショルド電圧
が得られる。これに比較すると、オフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)を接続しないインバータ(1
0)は、nチャンネル・トランジスタ(12)及びPチ
ャンネル・トランジスタ(14)のスレッショルド電圧
特性の変化により、論理スレッショルド電圧を正確に設
定できない。
しかし、マギーのCMOSバッファ回路(32)には、
インバータ(10)のスイッチング動作期間の負帰還電
流により生ずる高出力インピーダンスに起因する問題が
ある。この問題とは、出力電流はオフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)の一方のインピーダンスを介
して流れるので、トランジスタ(12)及び(14)に
有効使用できる駆動電圧が減少することである。その結
果、接続した負荷容量を駆動するバッファ回路(32)
の機能が低下し、回路動作の最高スイッチング速度がイ
ンバータ(10)だけの場合に比較して約1桁分遅くな
る。したがって、マギーのCMOSバッファ回路では充
分な動作速度が得られず、バイポーラ回路及びCMOS
デジタル回路間のインタフェース内の使用には適さない
。
インバータ(10)のスイッチング動作期間の負帰還電
流により生ずる高出力インピーダンスに起因する問題が
ある。この問題とは、出力電流はオフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)の一方のインピーダンスを介
して流れるので、トランジスタ(12)及び(14)に
有効使用できる駆動電圧が減少することである。その結
果、接続した負荷容量を駆動するバッファ回路(32)
の機能が低下し、回路動作の最高スイッチング速度がイ
ンバータ(10)だけの場合に比較して約1桁分遅くな
る。したがって、マギーのCMOSバッファ回路では充
分な動作速度が得られず、バイポーラ回路及びCMOS
デジタル回路間のインタフェース内の使用には適さない
。
〔課題を解決するための手段及び作用]本発明のデジタ
ル・インタフェース回路は、デジタル変換回路及びデジ
タル入力回路から成り、ハイポーラ・デジタル回路及び
CMOSデジタル回路間に接続される。デジタル変換回
路は、バイポーラ・デジタル回路からバイポーラ論理信
号を受け取り、所定のオフセット電圧成分及びバイポー
ラ論理信号に比例した信号成分を含む中間論理信号を発
生する。デジタル入力回路は、この中間論理信号の上記
所定のオフセット電圧成分に略等しい高および低論理信
号に共通の論理スレッショルド電圧を発生し、この論理
スレッショルド電圧を基準にして上記バイポーラ論理信
号に比例する信号に対応するCMOS論理信号を発生し
、CMOSデジタル回路に供給する。
ル・インタフェース回路は、デジタル変換回路及びデジ
タル入力回路から成り、ハイポーラ・デジタル回路及び
CMOSデジタル回路間に接続される。デジタル変換回
路は、バイポーラ・デジタル回路からバイポーラ論理信
号を受け取り、所定のオフセット電圧成分及びバイポー
ラ論理信号に比例した信号成分を含む中間論理信号を発
生する。デジタル入力回路は、この中間論理信号の上記
所定のオフセット電圧成分に略等しい高および低論理信
号に共通の論理スレッショルド電圧を発生し、この論理
スレッショルド電圧を基準にして上記バイポーラ論理信
号に比例する信号に対応するCMOS論理信号を発生し
、CMOSデジタル回路に供給する。
また、本発明のデジタル入力回路では、電圧オフセント
回路で第1及び第2CMOS供給電圧をオフセントし、
インピーダンス変換回路に供給する。このインピーダン
ス変換回路の出力インピーダンスは、電圧オフセット回
路に比較して低い。
回路で第1及び第2CMOS供給電圧をオフセントし、
インピーダンス変換回路に供給する。このインピーダン
ス変換回路の出力インピーダンスは、電圧オフセット回
路に比較して低い。
インピーダンス変換回路の第1及び第2出力信号は、相
補接続した電界効果ト与ンジスタ対から成る出力回路に
供給電圧として加える。この出力回路の入力端子に論理
信号を入力し、出力端子からは第1及び第2CMOS供
給電圧間の特定値を共通のスレッシゴルド電圧として入
力論理信号に応じたCMOS論理信号が得られる。
補接続した電界効果ト与ンジスタ対から成る出力回路に
供給電圧として加える。この出力回路の入力端子に論理
信号を入力し、出力端子からは第1及び第2CMOS供
給電圧間の特定値を共通のスレッシゴルド電圧として入
力論理信号に応じたCMOS論理信号が得られる。
更に、本発明のデジタル変換回路では、共通モード電圧
及び互いに極性が異なる信号電圧を含む相補形のバイポ
ーラ論理信号が第1及び第2電流発生手段に入力される
。第1及び第2電流発生手段は、共通モード電圧及びバ
イポーラ論理信号に夫々比例した第1及び第2電流を発
生し、夫々第1及び第2電流ミラー回路の各一方の端子
に供給する。第1及び第2電流ミラー回路の各他方の端
子には夫々第1及び第2バイアス抵抗器を接続し、更に
第1及び第2電流ミラー回路間に導体を接続する。第2
電流ミラー回路の出力端からはパイボ−ラ論理信号の大
きさに比例し、且つ所定電圧に対して対称に位置する出
力信号が得られる。
及び互いに極性が異なる信号電圧を含む相補形のバイポ
ーラ論理信号が第1及び第2電流発生手段に入力される
。第1及び第2電流発生手段は、共通モード電圧及びバ
イポーラ論理信号に夫々比例した第1及び第2電流を発
生し、夫々第1及び第2電流ミラー回路の各一方の端子
に供給する。第1及び第2電流ミラー回路の各他方の端
子には夫々第1及び第2バイアス抵抗器を接続し、更に
第1及び第2電流ミラー回路間に導体を接続する。第2
電流ミラー回路の出力端からはパイボ−ラ論理信号の大
きさに比例し、且つ所定電圧に対して対称に位置する出
力信号が得られる。
〔実施例]
第1図は本発明のデジタル・インタフェース回路を説明
するためのブロック図を示す。この図において、バイポ
ーラ−CMOS形インタフェース回路(50)は、バイ
ポーラ・トランジスタで構成したデジタル回路(52)
(バイポーラ回路(52))及びCMOS}ランジスタ
で構成したデジタル回路(54)(CMOS回路(54
))間のインタフェースとして働く。ここでは、バイポ
ーラ・デジタル回路(52)には、エミンタ結合論理(
ECL)デジタル回路を使用する。また、CMOS回路
(54)には、CMOSトランジスタで構成した入力回
路段を含むハイポーラ・デジタル回路を使用する。イン
タフェース回路(50)は、デジタル変換回路(56)
及びCMOSデジタル人力回路(58)から成り、これ
ら2つの回路は共に働いてECL信号を受け取り、この
信号からCMOS出力信号を形成する。デジタル変換回
路(56)は、バイポーラ回路(52)から相補形EC
L論理出力信号D及びDが供給される入力端子(60)
及び(62)を有ずる。デジタル変形回路(56)は受
け取ったECL信号を基に、CMOSデジタル入力回路
(5日)で設定された共通論理スレッショルド電圧に対
して対称に位置する電圧波形を持つ中間論理信号を発生
する。CMOSデジタル入力回路(58)はその入力端
子(64)にこの中間論理信号を受け取り、この信号を
基にCMOS回路(54)の入力端子(66)に供給す
るCMOS出力信号を形成する。
するためのブロック図を示す。この図において、バイポ
ーラ−CMOS形インタフェース回路(50)は、バイ
ポーラ・トランジスタで構成したデジタル回路(52)
(バイポーラ回路(52))及びCMOS}ランジスタ
で構成したデジタル回路(54)(CMOS回路(54
))間のインタフェースとして働く。ここでは、バイポ
ーラ・デジタル回路(52)には、エミンタ結合論理(
ECL)デジタル回路を使用する。また、CMOS回路
(54)には、CMOSトランジスタで構成した入力回
路段を含むハイポーラ・デジタル回路を使用する。イン
タフェース回路(50)は、デジタル変換回路(56)
及びCMOSデジタル人力回路(58)から成り、これ
ら2つの回路は共に働いてECL信号を受け取り、この
信号からCMOS出力信号を形成する。デジタル変換回
路(56)は、バイポーラ回路(52)から相補形EC
L論理出力信号D及びDが供給される入力端子(60)
及び(62)を有ずる。デジタル変形回路(56)は受
け取ったECL信号を基に、CMOSデジタル入力回路
(5日)で設定された共通論理スレッショルド電圧に対
して対称に位置する電圧波形を持つ中間論理信号を発生
する。CMOSデジタル入力回路(58)はその入力端
子(64)にこの中間論理信号を受け取り、この信号を
基にCMOS回路(54)の入力端子(66)に供給す
るCMOS出力信号を形成する。
第2図は第1図に示したCMOSデジタル人力回路(5
8)の回路構成を示す。CMOSデジタル入力回路(5
8)は、nチャンネル及びpチャンネルMOS FE
Tのスレッショルド電圧に比例したオフセット電圧を発
生する電圧オフセット回路(70)を含む。電圧オフセ
ット回路(70)はマギーのCMOSパッファ回路(3
2)に類似しているが、CMOSバッファ回路(32)
の入力端子(24)及び出力端子(26)が電気的に接
続されている点が異なる。電圧オフセット回路(70)
は、pチャンネル・トランジスタ(34)のソース端子
(42)に負オフセット電圧を生じ、nチャンネル・ト
ランジスタ(36)のソース端子C48)に正オフセッ
ト電圧を生じる。
8)の回路構成を示す。CMOSデジタル入力回路(5
8)は、nチャンネル及びpチャンネルMOS FE
Tのスレッショルド電圧に比例したオフセット電圧を発
生する電圧オフセット回路(70)を含む。電圧オフセ
ット回路(70)はマギーのCMOSパッファ回路(3
2)に類似しているが、CMOSバッファ回路(32)
の入力端子(24)及び出力端子(26)が電気的に接
続されている点が異なる。電圧オフセット回路(70)
は、pチャンネル・トランジスタ(34)のソース端子
(42)に負オフセット電圧を生じ、nチャンネル・ト
ランジスタ(36)のソース端子C48)に正オフセッ
ト電圧を生じる。
1対の同様の電圧フォロア増幅器(72)及び(74)
には、夫々正及び負オフセット電圧が供給される。電圧
フォロア増幅器(72)は演算増幅器(76)から成り
、その正入力端子(78)にはnチャンネル・トランジ
スタ(36)のソース端子(48)からの正オフセット
電圧を供給する。演算増幅器(76)の負入力端子(8
o)は、その出力端子(82)に接続する。同様に、電
圧フォロア増幅器(74)は演算増幅器(86)から成
り、その正入力端子(88)にはpチャンネル・トラン
ジスタ(34)のソース端子(42)からの負オフセッ
ト電圧を供給する。演算増幅器(86)の負入力端子(
90)は、その出力端子(92)に接続する。電圧フォ
ロア増幅器(72)及び(74)は、インピーダンス変
換回路(94)として働き、nチャンネル・トランジス
タ(36)のソース端子(48)及びPチャンネル・ト
ランジスタ(34)のソース端子(42)の出力インピ
ーダンスを効果的に減少させる。
には、夫々正及び負オフセット電圧が供給される。電圧
フォロア増幅器(72)は演算増幅器(76)から成り
、その正入力端子(78)にはnチャンネル・トランジ
スタ(36)のソース端子(48)からの正オフセット
電圧を供給する。演算増幅器(76)の負入力端子(8
o)は、その出力端子(82)に接続する。同様に、電
圧フォロア増幅器(74)は演算増幅器(86)から成
り、その正入力端子(88)にはpチャンネル・トラン
ジスタ(34)のソース端子(42)からの負オフセッ
ト電圧を供給する。演算増幅器(86)の負入力端子(
90)は、その出力端子(92)に接続する。電圧フォ
ロア増幅器(72)及び(74)は、インピーダンス変
換回路(94)として働き、nチャンネル・トランジス
タ(36)のソース端子(48)及びPチャンネル・ト
ランジスタ(34)のソース端子(42)の出力インピ
ーダンスを効果的に減少させる。
電圧フォロア増幅器(72)及び(74)の出力端子(
82)及び(92)は、正及び負オフセット電圧をCM
OSインバータ回路(100)の各々のバイアス電圧端
子に供給する。CMOSインバータ回路(100)は、
nチャンネル・トランジスタ(102)及びpチャンネ
ル・トランジスタ(104)から成り、各ゲート端子(
106)及び(10B)は電気的に互いに接続し、各ド
レイン端子(110)及び(112)も電気的に互いに
接続する。インバータ(100)は、pチャンネル・ト
ランジスタ(104)のソース端子(11B)に正オフ
セット電圧を受け取り、nチャンネル・トランジスタ(
102)のソース端子(116)に負オフセット電圧を
受け取る。
82)及び(92)は、正及び負オフセット電圧をCM
OSインバータ回路(100)の各々のバイアス電圧端
子に供給する。CMOSインバータ回路(100)は、
nチャンネル・トランジスタ(102)及びpチャンネ
ル・トランジスタ(104)から成り、各ゲート端子(
106)及び(10B)は電気的に互いに接続し、各ド
レイン端子(110)及び(112)も電気的に互いに
接続する。インバータ(100)は、pチャンネル・ト
ランジスタ(104)のソース端子(11B)に正オフ
セット電圧を受け取り、nチャンネル・トランジスタ(
102)のソース端子(116)に負オフセット電圧を
受け取る。
ゲート端子(’106)及び(108)はCMOSデジ
タル入力回路(58)の入力端子(64)を形成し、ド
レイン端子(110)及び(112)はインタフェース
回路(50)の出力端子を形成する。このインタフェー
ス回路(5o)の出力は、CMOS回路(54)の入力
端子(66)に供給する。インバータ回路(100)は
、結合した論理インバータ及び論理コンバータとして働
き、入力端子(64)に供給した中間論理信号に応答し
て、反転されたCMOS論理信号をCMOS回路(54
)に供給する。
タル入力回路(58)の入力端子(64)を形成し、ド
レイン端子(110)及び(112)はインタフェース
回路(50)の出力端子を形成する。このインタフェー
ス回路(5o)の出力は、CMOS回路(54)の入力
端子(66)に供給する。インバータ回路(100)は
、結合した論理インバータ及び論理コンバータとして働
き、入力端子(64)に供給した中間論理信号に応答し
て、反転されたCMOS論理信号をCMOS回路(54
)に供給する。
nチャンネル及びpチャンネル形のトランジスタは、互
いに“相補形”゜であると、ここでは呼ぶ。
いに“相補形”゜であると、ここでは呼ぶ。
pチャンネル及びnチャンネル・オフセット・トランジ
スタ(34)及び(36)は、インバータ回路(100
)@夫々nチャンネル及びpチャンネル・トランジスタ
(102)及び(104)と共に2組の対称的相補形ト
ランジスタ対を形成する。これら2組のトランジスタ対
は共に働き、nチャンネル及びPチャンネル・トランジ
スタ(102)及び(104)の異なるスレッショルド
電圧特性とは独立した論理スレッショルド電圧を供給す
る。この構成によれば、インバータ(100)の出力電
圧波形が低論理信号レベルから高論理信号レベルに変化
する場合、またはその逆に変化する場合の基準となる共
通の安定した論理スレッショルド電圧が得られる。特に
、+5V及び+OVの正及び負の供給電圧では、共通論
理スレッショルド電圧は+2.5■になる。
スタ(34)及び(36)は、インバータ回路(100
)@夫々nチャンネル及びpチャンネル・トランジスタ
(102)及び(104)と共に2組の対称的相補形ト
ランジスタ対を形成する。これら2組のトランジスタ対
は共に働き、nチャンネル及びPチャンネル・トランジ
スタ(102)及び(104)の異なるスレッショルド
電圧特性とは独立した論理スレッショルド電圧を供給す
る。この構成によれば、インバータ(100)の出力電
圧波形が低論理信号レベルから高論理信号レベルに変化
する場合、またはその逆に変化する場合の基準となる共
通の安定した論理スレッショルド電圧が得られる。特に
、+5V及び+OVの正及び負の供給電圧では、共通論
理スレッショルド電圧は+2.5■になる。
電圧フォロア増幅器(72)及び(74)のインピーダ
ンス変換作用より、デジタル入力回路(58)はCMO
S論理インバータ回路のみの場合の約半分の最低速度で
動作するようになる。CMOS論理インバータ回路のみ
の場合より動作速度が低くなる理由は、ソース端子(1
16)及び(118)間の電圧差が、正及び負電源導体
の電圧差の約半分になるからである。CMOSデジタル
回路の動作速度は、正及び負電圧の電圧差の大きさに比
例する。
ンス変換作用より、デジタル入力回路(58)はCMO
S論理インバータ回路のみの場合の約半分の最低速度で
動作するようになる。CMOS論理インバータ回路のみ
の場合より動作速度が低くなる理由は、ソース端子(1
16)及び(118)間の電圧差が、正及び負電源導体
の電圧差の約半分になるからである。CMOSデジタル
回路の動作速度は、正及び負電圧の電圧差の大きさに比
例する。
複数のインバーク(100)を演算回路(76)及び(
86)の出力端子(82)及び(92)に電気的に接続
すると、デジタル入力回路(58)が複数チャンネル構
成で動作可能になる。
86)の出力端子(82)及び(92)に電気的に接続
すると、デジタル入力回路(58)が複数チャンネル構
成で動作可能になる。
第3図はデジタル変換回路(56)の具体的回路を示す
。デジタル変換回路(56)は第1電流発生回路段とし
て働くダイオード接続したNPNバイポーラ接合トラン
ジスタ(130)と、第2電流発生回路段として働くダ
イオード接続したNPNハイボーラ接合トランジスタ(
132)とを含む。トランジスタ(130)及び(13
2)には、夫々ECLデジタル出力信号Dに比例した電
流が供給される。ECLデジタル出力信号Dは、共通モ
ード電圧Vcm及び正又は負極性の信号電圧成分Vsi
gから成る。トランジスタ(130)及び(132)に
より生じる電流は、夫々1対のNPNバイポーラ接合ト
ランジスタ(134)及び(136)に送られる。トラ
ンジスタ(130)及び(134)と、トランジスタ(
132)及び(136)との各対は、電流ミラー回路と
して動作する。トランジスタ(134)及び(136)
は導線(13B)を介して共に働き、電圧が信号電圧V
sigに比例し、さらに電圧波形がCMO Sデジタル
入力回路(58)により設定された共通の論理スレッシ
ョルド電圧に対して対称的に位置する中間論理信号V
intを発生する。この動作を以下に詳述する。
。デジタル変換回路(56)は第1電流発生回路段とし
て働くダイオード接続したNPNバイポーラ接合トラン
ジスタ(130)と、第2電流発生回路段として働くダ
イオード接続したNPNハイボーラ接合トランジスタ(
132)とを含む。トランジスタ(130)及び(13
2)には、夫々ECLデジタル出力信号Dに比例した電
流が供給される。ECLデジタル出力信号Dは、共通モ
ード電圧Vcm及び正又は負極性の信号電圧成分Vsi
gから成る。トランジスタ(130)及び(132)に
より生じる電流は、夫々1対のNPNバイポーラ接合ト
ランジスタ(134)及び(136)に送られる。トラ
ンジスタ(130)及び(134)と、トランジスタ(
132)及び(136)との各対は、電流ミラー回路と
して動作する。トランジスタ(134)及び(136)
は導線(13B)を介して共に働き、電圧が信号電圧V
sigに比例し、さらに電圧波形がCMO Sデジタル
入力回路(58)により設定された共通の論理スレッシ
ョルド電圧に対して対称的に位置する中間論理信号V
intを発生する。この動作を以下に詳述する。
共通の回路接続点(144)で接続された2kオームの
第1人力抵抗器(140)及び2kオームの第2人力抵
抗器(142)には、夫々相補形ECL論理入力信号D
及び/D (Dの反転を意味する)が供給される。論理
人力信号D及び/Dは、例えば、夫々信号電圧成分十V
sig及び−Vsigを含んでいる。その結果、入力抵
抗器(140)及び(142)を流れる電流は、夫々信
号電圧成分+Vsig及び−Vsigに比例し、互いに
相殺し合い、回路接続点(144)には共通モード電圧
Vcmに比例した電流I,が供給される。特に、抵抗器
(140)及び(142)の各値を2Rとすると、電流
I,は次のように表される。
第1人力抵抗器(140)及び2kオームの第2人力抵
抗器(142)には、夫々相補形ECL論理入力信号D
及び/D (Dの反転を意味する)が供給される。論理
人力信号D及び/Dは、例えば、夫々信号電圧成分十V
sig及び−Vsigを含んでいる。その結果、入力抵
抗器(140)及び(142)を流れる電流は、夫々信
号電圧成分+Vsig及び−Vsigに比例し、互いに
相殺し合い、回路接続点(144)には共通モード電圧
Vcmに比例した電流I,が供給される。特に、抵抗器
(140)及び(142)の各値を2Rとすると、電流
I,は次のように表される。
1.: [Vcm + Vsig] /2R + [V
cm −Vsig] /2RzVcm/R 電流1.は、トランジスタ(132)のコレクタ端子(
146)及びベース端子(148)と、トランジスタ(
136)のベース端子(150)に送られる。各トラン
ジスタ(132)及び(136)のエミッタ端子(15
2)及び(154)は接地電位源(156)に接続する
。トランジスタ(132)及び(136)は第1トラン
ジスタ対(157)を形成し、トランジスタ(136)
はコレクタ端子(158)に電流I,に略等しい電流■
2を発生する。
cm −Vsig] /2RzVcm/R 電流1.は、トランジスタ(132)のコレクタ端子(
146)及びベース端子(148)と、トランジスタ(
136)のベース端子(150)に送られる。各トラン
ジスタ(132)及び(136)のエミッタ端子(15
2)及び(154)は接地電位源(156)に接続する
。トランジスタ(132)及び(136)は第1トラン
ジスタ対(157)を形成し、トランジスタ(136)
はコレクタ端子(158)に電流I,に略等しい電流■
2を発生する。
1kオームの第3人力抵抗器(162)はECL入力信
号Dを受け取り、入力信号Dの電圧即ち共通モード電圧
Vcm及び信号電圧成分Vsigの和電圧に比例した電
流l3を回路接続点(164)に送る。特に、抵抗器の
値をRとすると電流I3は次のように表される。
号Dを受け取り、入力信号Dの電圧即ち共通モード電圧
Vcm及び信号電圧成分Vsigの和電圧に比例した電
流l3を回路接続点(164)に送る。特に、抵抗器の
値をRとすると電流I3は次のように表される。
1,Z [Vcm + Vsig] /R電流I3は、
トランジスタ(130)のコレクタ端子(166)及び
ベース端子(168)と、トランジスタ(134)のベ
ース端子(172)とに送られる。トランジスタ(13
0)及び(134)の各エミッタ端子(176)及び(
178)は共に接地電位源に接続する。トランジスタ(
130)及び(134)は第2のトランジスタ対(17
9)を形成し、トランジスタ(134)はそのコレクタ
端子(180)に電流■3に比例した電流I4を発生す
る。
トランジスタ(130)のコレクタ端子(166)及び
ベース端子(168)と、トランジスタ(134)のベ
ース端子(172)とに送られる。トランジスタ(13
0)及び(134)の各エミッタ端子(176)及び(
178)は共に接地電位源に接続する。トランジスタ(
130)及び(134)は第2のトランジスタ対(17
9)を形成し、トランジスタ(134)はそのコレクタ
端子(180)に電流■3に比例した電流I4を発生す
る。
導線(138)は、コレクタ端子(180)の電流から
コレクタ端子(15B)の電流を減算する。その結果、
電流I4は(電流I3一電流■2)に略等しくなるが、
6kオームの第1バイアス抵抗器(186)に生ずるバ
イアス電流により増加される。抵抗器(186)は、E
CL電源Vcc及びトランジスタ(136)のコレクタ
端子(15B)間に接続される。抵抗器(186)の値
を6Rとすると、電流I4は次のように表される。
コレクタ端子(15B)の電流を減算する。その結果、
電流I4は(電流I3一電流■2)に略等しくなるが、
6kオームの第1バイアス抵抗器(186)に生ずるバ
イアス電流により増加される。抵抗器(186)は、E
CL電源Vcc及びトランジスタ(136)のコレクタ
端子(15B)間に接続される。抵抗器(186)の値
を6Rとすると、電流I4は次のように表される。
I,zT3−1, + Vcc/6R: [Vcm
+ Vsig] /R − Vcm/R + Vcc
/6Rz [6Vsig + Vcc] /6Rデジタ
ル変換回路(56)は回路接続点(188)に、CMO
Sデジタル入力回路(58)の入力端子(64)に送ら
れる中間論理信号V intを発生する。中間論理信号
V intは、ECL供給電圧Vccと3kオームの第
2バイアス抵抗器(190)の両端に生ずる電圧との電
圧差に略等しい。抵抗器(190)はECL電源Vcc
及び回路接続点(18B)間に接続され、その両端には
電流I4に比例したオフセント電圧が生じる。特に、抵
抗器(190)の値を3Rとすると、中間論理信号Vi
ntは次のように表される。
+ Vsig] /R − Vcm/R + Vcc
/6Rz [6Vsig + Vcc] /6Rデジタ
ル変換回路(56)は回路接続点(188)に、CMO
Sデジタル入力回路(58)の入力端子(64)に送ら
れる中間論理信号V intを発生する。中間論理信号
V intは、ECL供給電圧Vccと3kオームの第
2バイアス抵抗器(190)の両端に生ずる電圧との電
圧差に略等しい。抵抗器(190)はECL電源Vcc
及び回路接続点(18B)間に接続され、その両端には
電流I4に比例したオフセント電圧が生じる。特に、抵
抗器(190)の値を3Rとすると、中間論理信号Vi
ntは次のように表される。
VintzVcc − 1.X 3R:Vcc
− ( [6Vsig + Vcc] /6R)
X3RZVcc/2 − 3Vsig 以上の結果、ECL論理信号Dは、デジタル入力回路(
58)で発生される共通論理スレッショルド電圧に対し
て対称的に位置する電圧波形を持つ中間論理信号Vtn
tに変換される。ECL論理信号Dは増幅されて、デジ
タル入力回路(58)で使用可能な高及び低論理信号レ
ベルを持つようになる。
− ( [6Vsig + Vcc] /6R)
X3RZVcc/2 − 3Vsig 以上の結果、ECL論理信号Dは、デジタル入力回路(
58)で発生される共通論理スレッショルド電圧に対し
て対称的に位置する電圧波形を持つ中間論理信号Vtn
tに変換される。ECL論理信号Dは増幅されて、デジ
タル入力回路(58)で使用可能な高及び低論理信号レ
ベルを持つようになる。
特に、ECL供給電圧Vccが約+5■の場合は、上記
の等弐のVcc/2の項により、デジタル入力回路(5
8)により生ずる共通論理スレッショルド電圧の大きさ
である+2.5■のオフセット電圧が得られる。信号電
圧Vsigが約±0.4■の場合は、中間論理信号Vi
ntO高及び低論理信号電圧は夫々+3.7■及び+1
.3■である。+3.7■及び+1.3■の論理信号電
圧は、夫々高及び低CMOS論理ステートとしてデジタ
ル入力回路(58)を駆動するのに適切な大きさである
。
の等弐のVcc/2の項により、デジタル入力回路(5
8)により生ずる共通論理スレッショルド電圧の大きさ
である+2.5■のオフセット電圧が得られる。信号電
圧Vsigが約±0.4■の場合は、中間論理信号Vi
ntO高及び低論理信号電圧は夫々+3.7■及び+1
.3■である。+3.7■及び+1.3■の論理信号電
圧は、夫々高及び低CMOS論理ステートとしてデジタ
ル入力回路(58)を駆動するのに適切な大きさである
。
上述の電流の大きさの値の算出は、一次近似で行われる
。回路には複数の漏れ電流があり、この漏れ電流は相互
接続された異なるトランジスタのβに従って増幅される
。これらの漏れ電流の一部を補償するには、トランジス
タ(130)、(132)及び(136)の各々のエミ
ッタの面積が1μ×3μであるように構成し、更にトラ
ンジスタ(134)のエミッタの面積が1μ×12μで
あるように構成して、漏れ電流を減少させる。
。回路には複数の漏れ電流があり、この漏れ電流は相互
接続された異なるトランジスタのβに従って増幅される
。これらの漏れ電流の一部を補償するには、トランジス
タ(130)、(132)及び(136)の各々のエミ
ッタの面積が1μ×3μであるように構成し、更にトラ
ンジスタ(134)のエミッタの面積が1μ×12μで
あるように構成して、漏れ電流を減少させる。
更には、抵抗器(140)、(142)、(162)、
(186)及び(190)の公称抵抗値を夫々6kオー
ム、6kオーム、3kオーム、18kオーム及び4.5
kオームに変更する。
(186)及び(190)の公称抵抗値を夫々6kオー
ム、6kオーム、3kオーム、18kオーム及び4.5
kオームに変更する。
デジタル変換回路(56)及びデジタル入力回路(58
)は、夫々0〜+5■及び約+1. 2 5 V〜+3
. 7 5 Vの異なる電源電圧を使用し、電気的ノイ
ズの抑制効果を高めている。特に、ECLデジタル信号
の高及び低論理信号レベル間の電圧差は比較的小さい。
)は、夫々0〜+5■及び約+1. 2 5 V〜+3
. 7 5 Vの異なる電源電圧を使用し、電気的ノイ
ズの抑制効果を高めている。特に、ECLデジタル信号
の高及び低論理信号レベル間の電圧差は比較的小さい。
CMOS電源により発生する比較的小さい電圧スパイク
は、CMOSデジタル回路には影響しないが、ECLデ
ジタル信号の読み違いを引き起こす原因となることがあ
る。デジタル変換回路(56)及びデジタル入力回路(
58)に別々の電源を使用すると、このようなエラーの
防止に役立つ。
は、CMOSデジタル回路には影響しないが、ECLデ
ジタル信号の読み違いを引き起こす原因となることがあ
る。デジタル変換回路(56)及びデジタル入力回路(
58)に別々の電源を使用すると、このようなエラーの
防止に役立つ。
第4図では、第3図中の抵抗器(190)及び回路接続
点(188)間にショットキー・ダイオードを電気的に
接続した変更がなされている。ダイオード(192)を
追加したことで、第6図のデジタル変換回路(56)の
温度補償特性が改良される。ダイオード(192)の他
に、第6図の回路(56)を更に変更し、抵抗器(14
0)、(142)、(162)、(186)及び(19
2)の公称抵抗値を夫々6kオーム、6k、3k、30
k及び1.9kオームにする。
点(188)間にショットキー・ダイオードを電気的に
接続した変更がなされている。ダイオード(192)を
追加したことで、第6図のデジタル変換回路(56)の
温度補償特性が改良される。ダイオード(192)の他
に、第6図の回路(56)を更に変更し、抵抗器(14
0)、(142)、(162)、(186)及び(19
2)の公称抵抗値を夫々6kオーム、6k、3k、30
k及び1.9kオームにする。
本発明はここに示し且つ説明した実施例のみに限定する
べきではなく、本発明の要旨を逸脱することな種々の変
形及び変更が可能であることは当業者には容易に理解で
きよう。
べきではなく、本発明の要旨を逸脱することな種々の変
形及び変更が可能であることは当業者には容易に理解で
きよう。
以上の説明から理解出来るように、本発明によれば、デ
ジタル変換回路は所定のオフセット電圧成分及び供給さ
れたバイポーラ論理信号に比例した信号成分を含む中間
論理信号を発生し、デジタル入力回路は所定のオフセン
1・電圧に略等しく高及び低論理信号に共通のスレッシ
ョルド電圧及び中間論理信号に対応するCMOS論理信
号を発生する。この構成により本発明のデジタル・イン
タフェース回路は、バイポーラ・デジタル回路及びCM
OSデジタル回路間のレベルの違いを補償し、高及び低
論理レベルに対し共通のスレッショルド電圧を使用して
バイポーラ論理信号に比例した信号からCMOS論理信
号を形成できる。
ジタル変換回路は所定のオフセット電圧成分及び供給さ
れたバイポーラ論理信号に比例した信号成分を含む中間
論理信号を発生し、デジタル入力回路は所定のオフセン
1・電圧に略等しく高及び低論理信号に共通のスレッシ
ョルド電圧及び中間論理信号に対応するCMOS論理信
号を発生する。この構成により本発明のデジタル・イン
タフェース回路は、バイポーラ・デジタル回路及びCM
OSデジタル回路間のレベルの違いを補償し、高及び低
論理レベルに対し共通のスレッショルド電圧を使用して
バイポーラ論理信号に比例した信号からCMOS論理信
号を形成できる。
第1図はバイポーラ論理信号を受け取り、CMOS論理
信号を形成する本発明のデジタル・インタフェース回路
のブロック図、第2図は本発明のCMOSデジタル入力
回路の好適な実施例の回路図、第3図は本発明のデジタ
ル変換回路の好適な実施例の回路、第4図は本発明のデ
ジタル変換回路の他の実施例の回路図、第5図は従来の
CMOSインバータ回路の回路図、第6図は従来のCM
OSパッファ回路の回路図を示す。 図中において、(38)及び(44)は第1及び第2電
界効果トランジスタ、(50)はデジタル・インタフェ
ース回路、(52)4;tパ゛イホーラ・デジタル回路
、(54)はCMOSデジタル回路、(56)はデジタ
ル変換向路、(5日)はインピーダンス変換回路、(7
0)は電圧オフセット回路、(100)は出力回路、(
132)及び(136)は第1電流ミラー回路、(13
0)及び(134)は第2電流ミラー回路、(138)
は導体、(140)及び(162)は第1電流発生手段
、(142)は第2電流発生手段、(186)及び(1
90)は第1及び第2ハイアス抵抗器である。
信号を形成する本発明のデジタル・インタフェース回路
のブロック図、第2図は本発明のCMOSデジタル入力
回路の好適な実施例の回路図、第3図は本発明のデジタ
ル変換回路の好適な実施例の回路、第4図は本発明のデ
ジタル変換回路の他の実施例の回路図、第5図は従来の
CMOSインバータ回路の回路図、第6図は従来のCM
OSパッファ回路の回路図を示す。 図中において、(38)及び(44)は第1及び第2電
界効果トランジスタ、(50)はデジタル・インタフェ
ース回路、(52)4;tパ゛イホーラ・デジタル回路
、(54)はCMOSデジタル回路、(56)はデジタ
ル変換向路、(5日)はインピーダンス変換回路、(7
0)は電圧オフセット回路、(100)は出力回路、(
132)及び(136)は第1電流ミラー回路、(13
0)及び(134)は第2電流ミラー回路、(138)
は導体、(140)及び(162)は第1電流発生手段
、(142)は第2電流発生手段、(186)及び(1
90)は第1及び第2ハイアス抵抗器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、バイポーラ・デジタル回路及びCMOSデジタル回
路間に接続されるデジタル・インタフェース回路におい
て、 上記バイポーラ・デジタル回路からバイポーラ論理信号
を受け取り、所定のオフセット電圧成分及び上記バイポ
ーラ論理信号に比例した信号成分を含む中間論理信号を
発生するデジタル変換回路と、 上記所定のオフセット電圧成分に略等しく高及び低論理
信号に共通の論理スレッショルド電圧を基準に上記中間
論理信号のバイポーラ信号に比例した信号成分に対応す
るCMOS論理信号を発生し、上記CMOSデジタル回
路に供給するデジタル入力回路と を具えることを特徴とするデジタル・インタフェース回
路。 2、第1及び第2CMOS供給電圧を出力する第1及び
第2電圧源と、 相補形の第1及び第2電界効果トランジスタ対を有し、
該トランジスタ対の各スレッショルド電圧に比例する電
圧を上記第1及び第2CMOS供給電圧からオフセット
させた第1及び第2CMOS供給オフセット電圧を発生
する電圧オフセット回路と、 該第1及び第2CMOS供給オフセット電圧を受け取り
、第1及び第2出力端子に出力し、上記電圧オフセット
回路に比較し出力インピーダンスが低いインピーダンス
変換回路と、 上記第1及び第2電界効果トランジスタに対して夫々相
補形の第3及び第4電界効果トランジスタを有し、該第
3及び第4電界効果トランジスタのソース端子を上記イ
ンピーダンス変換回路の第1及び第2出力端子に接続し
、両ゲート端子を互いに接続して入力端子を形成し、両
ドレイン端子を互いに接続して出力端子を形成した出力
回路とを具え、 該出力回路の上記入力端子に論理信号を供給し、出力端
子から上記論理信号に応じたCMOS論理信号を得るこ
とを特徴とするデジタル入力回路。 3、共通モード電圧及びバイポーラ論理信号に夫々比例
した第1及び第2電流を発生する第1及び第2電流発生
手段と、 上記第1及び第2電流が夫々一方の端子に供給された第
1及び第2電流ミラー回路と、上記第1及び第2電流ミ
ラー回路の夫々他方の端子に一端を接続した第1及び第
2バイアス抵抗器と、 上記第1及び第2電流ミラー回路間に接続された導体と
を具え、 上記第2電流ミラー回路の出力端から上記バイポーラ論
理信号の大きさに比例し、且つ所定電圧に対し対称に位
置する出力信号を得ることを特徴とするデジタル変換回
路。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US187774 | 1988-04-29 | ||
US07/187,774 US4833350A (en) | 1988-04-29 | 1988-04-29 | Bipolar-CMOS digital interface circuit |
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---|---|
JPH02290327A true JPH02290327A (ja) | 1990-11-30 |
Family
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---|---|---|---|
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---|---|
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EP (2) | EP0339679A3 (ja) |
JP (1) | JPH02290327A (ja) |
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- 1989-04-28 EP EP19910120858 patent/EP0481530A3/en not_active Withdrawn
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