JPH02264629A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置が知ら
れている。

然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きす、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないか、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた。

これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォｌ〜レフラクション方式の測定方法か提案されている
。

このフォトレフラクシゴン方式の測定に於いては、被検
眼の光軸か少しずれても充分に測定をすることができ、
被検眼を固定することか困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである６ ［発明か解決しようとする課Ｕｉ］ 然し乍ら、斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折力
測定装置では、カメラの光軸に対し、斜め方向からスト
ロボ光源により照明し、その時の瞳孔像を単に撮影する
たけであり、光源の位置により測定できないデイオプタ
ー値かあり、又測定可能な範囲か狭いという問題を有し
ている。

本発明は、上記実情に鑑みなしなものであり、いかなる
デイオプター値でも州定か可能で且瞬時に測定結果を得
ることかできる眼屈折力測定装置を提供しようとするも
のである。

［課題を解決する為の手段］ 本発明は、測定光源を有し、被検眼眼底に測定光源像を
投影する為の投影系と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置
した受光素子上に眼底からの反射光束を導く為の受光系
とを有し、受光素子上に形成された被検眼の瞳孔像の光
量分布より被検眼の眼屈折力を測定する眼屈折力測定装
置に於いて、前記受光系の光路中に前記反射光束の少な
くとも一部の光束を遮光する為の遮光部材を設けると共
に前記測定光源は前記遮光部材の遮光境界線を一部か横
切る大きさとしたことを特徴とするものである。

［作　　用］ 被検眼の眼屈折力の相違により、遮光部材による光束を
遮光する状態か異なってくる。この遮光の状態と眼屈折
力とは対応し、受光素子に投影さｈな光束の状態、即ち
形状、光量分布を基に眼屈折力を測定できる。

Ｕ実　施　例１ 以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。

先ず、第１図、第２図に於いて本発明の第１の実施例に
ついて説明する。

１は測定光ａ像を被検眼３の眼底７に投影する為の投影
系であり、２は眼底７により反射された光束１０を受光
する為の受光系であつ、投影系１及び受光系２は被検眼
３に対向して配置される。

前記投影系１は、投影系の光軸と直交し且後述する遮光
部材１２のエッチと直交する所要長さのスリット状発光
部４ａを有し、且該遮光部材１２と同期して回転する測
定光源４及び該測定光源４からの光束１１を被検眼３に
向けて反射させる為のハーフミラ−５から成り、該投影
系１は測定光源４からの光束１１を瞳孔６を通して眼底
Ｙ上に測定光源４の像を形成する様に投影する。

前記受光系２は、対′内レンズ８及び受光索子９から成
り、眼底７からの光束１０はハーフミラ−５を透過して
受光素子９上に導かれる。

該受光素子９は、エリアＣＣＩ）、撮１象管或は２以上
の受光素子の集合体であり、受光素子９の受光面９ａは
対物レンズ８に関して被検眼３の瞳孔６と共役位置に配
置される。

前記受光系２の光路内には、被検眼３の眼屈折力が基準
デイオプター値の場合に測定光源像が形成される位置に
、対物レンズ８の光軸Ｏを境界として光束１０の片側を
遮光する為のエッチ状の遮光部材１２を光軸と垂直な平
面内に配置する。

遮光部材１２は、スリット孔１５のエッチ稜線１５ａか
受光系２の光軸と合致し且ローラ２０等により該光軸を
中心に回転可能に支持され、前記した櫟に測定光源４と
同期して回転する様になっている。

尚、この遮光部材１２は、スリット孔１５ではなく、光
軸上を境界として光路の半分を遮光する半円形状の遮光
部として構成してもよい。

又、前記受光素子９には演算器１３か接続され、該演算
器３は受光素子９の受光状態を演算し、その結果を表示
器１４に出力する様になっている。

以下作用を説明する。

先ず第３図〜第１１図に於いて１つの経線についてのデ
イオプター値測定について説明する。

第３図（＾）に示す様に、被検眼３のデイオプター値か
基準デイオプター値に比べて旦のデイオプター値の場合
には、測定光源４の像は眼底７の前方で結像され、この
光束により照明された眼底７上の内、光軸上の１点で反
射された光束１０を考えると、この光束１０は遮光部材
１２の前方、即ち被検眼３側で集光され、対物レンズ８
により受光素子９上に投影される光束の上半分（斜線部
分）か遮光部材１２の遮光境界線を境に遮光される。一
方、第３図（Ｂ）に示す様に、被検眼のデイオプター値
が基準デイオプター値の場合には、光束１０は遮光部材
１２上に集光されるもので、光束１０は遮光部材１２に
よって遮られな又、第３図（Ｃ）に示す様に、被検眼３
のデイオプター値か基準デイオプター値よｒ）正の場合
には、測定光源４の像は眼底７の後方で結像するように
投影され、前述と同様に眼底７で反射された光束１０は
遮光部材１２の後方、即ち受光素子９側で集光され、受
光素子９上に投影される光束１０は第３図（＾）とは逆
の部分の光束（図中では上半分）が遮光部材１２の遮光
境界線を境に遮光される４ 而して、受光面９ａに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼３のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態か変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値か求められる。

受光素子９はこの受光面９ａに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器１３は受光素
子９からの信号を基に、受光面９ａ上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力か正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器１４に出力し、表示器１
４は求められた結果を表示する６ 尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したか、ビームスプリッタ−洞尾プリズム等種々の
光束分離手段を用いることは勿論である。

又、上記実施例に於いて示した測定光源発光部形状とし
ては矩形形状、光軸を中心とする円形形状、或はスリッ
ト形状の場合は前記遮光部材のエッチに対して直角方向
に配置され且光軸を対称軸とする対称形状としてもよい
等、前記遮光部材の工ｙヂを横切る所要幅、所要長さを
有する測定光源であれはよい。

又、所望の形状の測定光源を得るには、例えばＬ　Ｅ　
Ｄを多数個直線状に配置することによりスリット形状の
光源を得る様に、光源の発光部自体の形状を決める方法
或は、光源からの光束の通過光路上に所望の形状の開口
部を存する絞りを配置し、この絞りを光源として使用す
る方法のいずれを採用してもよい。

以下第４図（八）〜（［）に於いて、受光面９ａに形成
される光束の光量分布状態を説明する。

尚、第４図（八）〜（Ｅ）に於いて説明を簡略化する為
、測定光源４の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光
部材１２と対物レンズ８とを一致させている。この為、
測定光源４と対物レンズ８とは同一位置で重ね合わせて
示しており、遮光部材１２は省略して示している４ 第４図（Ａ）〜（Ｅ）は被検眼の屈折力りが基準屈折力
Ｄ０に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ８によって受光面９ａ上
に投影されるものとする。

測定光源４と被検眼瞳孔６との距離をＱに設定しこの測
定光源の像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折
力り。とすると である。

第４図（＾）は被検眼の屈折力かＤ　（＜Ｄ、　）の場
合で前記した測定光源４か、光軸に対し直角方向にＩ−
の長さを有するとし、スリット状の測定光源４の軸上の
一点Ｓ０からの投影光束を示すもので、点Ｓ０の像は一
旦、Ｓｏ′に結像され、被検眼眼底７には、ぼけた像と
して投影される。Ｄ、−Ｄか大きくなるに従い投影され
る領域７ａは広くなる。

第４図（Ｂ）は受光系２、及び、被検眼眼底７からの反
射光束の状態を示すものである。

第４図（Ｂ）に示す様に、被検眼眼底７上の投影領域の
端部の点Ｉ−，からの光束を考えると、この点の像Ｉ−
１′は被検眼瞳孔からグの距角毘σ）位置に結像され、
この光束は対物レンズ８を介して被検眼瞳孔６と共役位
置に配置した受光素子９上に投影される。尚、このＱ′
と被検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。

一方、この眼底上の一点から発した光束のエッチ上での
広がり幅Δは被検眼の瞳径をＵとすると、第４図（８）
から明らかな様に、であり、第（１）式、第（２）式よ
り となり、被検眼３の屈折力りと基準屈折力り。

どの差か大になるに従い遮光部材１２」−の広がりは大
きくなる。

次に、受光素子９上での光束の広かりについて述べる。

受光素子９は、被検眼３の屈折力に関係なく常に、対物
レンズ８に関して被検眼瞳孔と共役に配置されており、
被検眼瞳孔６の径をＵ、対物レンズ８０倍率をβとする
と、受光素子９上ではβＵの径の領域（被検眼の屈折力
に影響を受けない）に光束か投影される。

又、光軸に対して前記Ｉ−０と対称な点りからの光束も
同様に被検眼瞳孔６からＱ′の位置に像■。′を結像し
た後、受光素子９上の同じ領域β１］に投影される。測
定光源４を、１；、ｊ測定光源として、遮光部材１２か
無いものとした時、これら眼底７からの各点１．、・・
・ｉｏ、・・・１８１、からの光束の積分か受光素子９
上の光ヱ分布を決めるものであるに こで、受光素子９１での光速分布について考察するため
、受光素子９上の光束投影位置の端部位置Ｐ−３、すな
わち、光軸を中心とした座この位置に入射する光束は第
４図ｆｃ）での斜線Ａの範囲の光束に限られることとな
る。又、同様に、光軸に対して、前記のＰ−ｏ位置と対
称な位置Ｐ１に入射する光束を考えると斜線Ａ′範囲の
光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔６
から２の距離（測定光源４と共段位りの位置に光軸の一
方の光束Ａ′を遮断するエッチ状の遮光部材１２を配置
すると受光素子９上のＰ−１の位置に入射する光束は遮
）に部材１２により遮断されず、このＰ−７の位置から
上方の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中心
Ｐ。位置で光束の手分が遮光され、））、、ｐ）位置に
なると全ての光束が遮断さ第１、ることとなるものであ
る。従って、エッチ状の遮光部材１２により受光素子９
上には上方に行くにしなかって晴（なり、Ｐ４の点で光
量がＯとなる一′Ａ１頗４；Ｊの光速分布となるもので
ある。

即ち、測定光源４を点光源として考えた場合には、被検
眼の眼屈折力σ〕大小に拘らず常に一定傾斜の光重分布
となるものである。

以上の第４図（Ａ）ヘー（Ｃ）では、測定光源４の光軸
上の一点から発する光束のみを示したが、測定光源４の
端部の一点５−７（測定光源の太き束を考えると第４図
（Ｄ）に示すようになる。この点Ｓ−０からり光束は、
第４図（０）に示す被検眼眼底７上のＩ−、点から１３
点の領域に投影され、このＩ−７点、１９点からの反射
光は、前述と同様に被検眼瞳孔６がらＱ′の距漏の位置
で１、　　、Ｉ、’の１象を結像した後、受光素子９１
のβＵの径の領域に投影されるもσ）である。

ここで、測定光源４の端部の点Ｓ−ユから発する光束の
うち、受光素子９上の光束投影の端部位ｚｐ−，に入射
する光束は第４図ｆＤ）のＢの斜線領域の光束となるも
のである。

又、前記Ｓ−１の点と対称な測定光源４の一点Ｓ、から
の光束を考え、そのうち受光素子９上のＰ−、の点に入
射する光束を考えると第４図ｆＥ）のＣの斜線領域の光
束となる。この様に、測定光源４かある大きさを有する
ものとして考えた場合、受光素子９上の一点の光量は、
測定光源４の各点からの光束の総和として考えなければ
ならない。

第５図（ハ）は、この考え方に基づき、受光素子９上の
Ｐ−、の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、測定光源上のＳ−１の位置から発する光束の
うちＰ−、の位置に入射する光束はＢの領域であり（第
４図（Ｄ）参照）、ハ１定光源上での位置が上方に行く
にしたがってその光束も上方に移動し、軸上の測定光源
位置ＳｏではＡの領域の光束となり（第４図（Ｃ）参照
）、測定光源上でのＳ、の位置ではＣの領域の光束とな
る（第４図（Ｅ）参照）。従って、受光素子９上のＰ−
、の点での光量は、これらの光束の総和として考えられ
る。

ここで、被検眼瞳孔６がらＱの距離の位置に遮光部材１
２を配置した時の受光素子９上の点Ｐ−０の光量を示す
模式図を第５図（八）に示す。

第５図（＾）は測定光源上の位置が変化するにしたがっ
て遮光部材１２により光束がどの様に遮光されるかを示
すものである。第５図（Ｂ）の横軸は測定光源上の座標
位置、縦軸は光量を示すものであり、測定光源上での各
点からの光束を考さ）点から０点までの光束は遮光部材
１２により遮光されず、座標位置の０点を過ぎると徐々
に遮光され、Δ（前述の光束の広がり）の位置で全ての
光束か遮断される事になるものである。

ここで遮光されない場合の測定光源上の各点がらの光量
をｋとして測定光源上での各点からの光量の寄与を示し
たものが第５図（Ｂ）であり、斜線部の面積か受光素子
上のＰ−１，の点の光量値に対応するものである。この
面積値Ｔは下記の様になる。

同様にして、受光素子上での曲の点についても考察する
。第６図（＾）は受光素子上での中心点Ｐｏに入射する
光束を第５図（＾）と同様に示したものであり、測定光
源上のＳ−Ｉｔの点からの光束の内Ｐ０の点に入射する
光束はＢ。の斜線領域、測定光源上の中心Ｓ０の点から
はＡ。の斜線領域、測定光源上のＳ。の点からの光束は
Ｃｏの斜線領域の光束となるものであり、受光素子９の
中心に入射する光量は第６図（Ｂ）の斜線領域の面積Ｔ
０に対応することになる。すなわち、測定光源の各点か
らの受光素子の中心点に入射する光束を考えると、測定
光源上の座標記値になる。

同様にして、受光素子上での点Ｐ８．に入射する光束の
状態、及びこの点での光量値を第７図（Ａ）、第７図（
８）に示す。第７図（＾）においζ、測定光源上のＳ−
３の点からの光束の内Ｐ１．の点に入射する光束はＢ′
の斜線領域、測定光源上の中心　Ｓ。の点からはＡ”の
斜線領域、測定光源上のＰ−４の点からの光束はＣＩｔ
の斜線領域の光束として示す。この場合には、第７図（
Ｂ）に示すように、測定光源の各点から受光素子のＰの
点に入射する光束を考えると、測定光源上されず、−Δ
位置を過ぎると徐々に光束か遮られ、Ｏの位置で全ての
光束か遮断さｔしることになり、この面積値を計算する
と下記値になる。

なり、この面積値を前述と同様に計算すると下これらの
式（５）　＋　（６）　、（７）の結果かられかるよう
に、受光素子９上の光量値は下方から上方にいくにした
がって、光量値は徐々に低くなるものであり、その受光
素子上での光量分布を図示すると第８図に示すように直
線的に変化−４る。

前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を考
えた場合の遮光部材１２上での広がりを想定して説明を
行ったものである。

し 然し乍らΔ〉−の場合、即ち基準デイオプタ一値り。に
対する被検眼のデイオプター値の面差ΔＤか所定斑以上
の場合には、第１１図に示すような直線変化は示さない
。これを第５図ないし第７図にしたかって説明を行う。

１１＋Ｉ述のよ（Ｂ）、第７図（Ｂ）はそれぞれ第１２
図、第１３図、第１４図、Ｌこ示ず様になり、この光量
変化は第８図に示す櫟な直線変化を示さないことになる
。

次に、第３図（８）で示す被検眼の屈折力が基準値であ
る場合、第３図（Ｃ）で示す被検眼の屈折力が基４値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子９上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力か基
準値である場合は、第９図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力か正の場合は第１０図で示す様に第８図で示
したものと逆な分布状態となる。

上記した光量分布の傾斜かデイオプター値（屈折力）を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第１１図を参照して説明する。

前記した光束の広がりΔ、即ちボケ址Δは、前記（４）
式より、 よって（８）式より 而して、（１０）式は基準デイオプター（（７Ｄ　ｏに
に１する被検眼のデイオプター値の１η差ΔＤとに上つ
被検眼のデイオプター値の１１ｉ差ΔＤを求めることか
可能となる。従って、被検眼のデイオプター値りは下記
式て求めることができる。

Ｄ　＝　Ｄ。十ΔＤ　　　　・・・（１１）上記の々ｏ
＜して１経線についてのデイオプター値を求めることか
できる。

ところで乱視は、各経線での眼屈折力（デイオプター値
）が異なることによって生じ、乱視の状態は球面度Ｓ、
乱視度Ｃ，乱視軸角度Ａを測定することで特定すること
かできる。又、任意の角度θの経線でのデオプター値り
。と球面度Ｓ、乱視度Ｃ１乱視軸角度Ａとの関係は下記
の式で表される。

Ｄｏ　　＝ｓ＋ｃ　　５ｌｎ２　　（θ−Ａ）　　　　
　−（１２）従って、３経線θ１、θ２、θ３のティオ
プ乱視軸角度Ａか求められ、乱視状態か特定できター値
を求めれば、球面度数Ｓ、乱視度数Ｓ、池の２経線につ
いてのデイオプター値は…り定光源４及び遮光部（イ１
２をρ１えば６０°次に１２０°と回転させた位置で求
めればよい。

即ち、遮光部材１２の３箇所の回転位；ηをｊπび。

各位置のデイオプター値を８ＩＩＩ定ずれは、前記第（
１２）式により球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ１乱視軸角度Ａ
か直ちに求められる。

次に、第１５図に於いて本発明の第２の実施例を説明す
る。

該第２の実施例では、測定光源１６を第１６（７Ｉで示
す櫟に複数のスリット状測定光源部１６ａ、　１６ｂ、
　１６ｃ・・・を有し、各測定光源部が選択的に点灯で
きる様に構成したもので各測定光源部１６ａ、１６ｂ、
　１６ｃ・・・は投影系１の光軸と垂直な平面内で該光
軸と所要距離離れた位置で光軸を中心としてθたけ異な
る経線上、（’ｆｉｔえば６０’、１２０’・・・の経
線上に設けられている。又、遮光部用１７は、第１７図
に示す如く前記スリット状測定光源部１６ａ’、　１６
ｂ、　１６ｃ・・・に対応する６つのスリット孔１８（
１８ａ、　１８ｂ、　＋８ｃ・）か設けられ、鎖孔１８
の中心か受光系２の光軸と合致する様に配置されている
。更に、各スリット孔１８ａ、　１８ｂ、　１８ｃ・・
・の孔の向きは光軸に関し各測定光源部１６ａ、１６ｂ
　１６ｃと同方向であり、且各スリット孔のエッチ状稜
線は前記測定光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・
の属する経線と直角方向で基準デイオプター値の場合、
各測定光源部の像がこの稜線上で形成される裸にする。

尚、遮光部材１７は光軸を中心として光源１６ａ１６ｂ
、　１６ｃの属する経線と直角な稜線を持つ６角形状の
開口部をもつ絞りで構成してもよい。

該第２の実施例において異なった経線上の少なくとも３
箇所の測定光源部（経線の延長状にある他の測定光源部
を除く）、例えば１６ａ、　１６ｂ。

１６ｃを選択的に１箇所ずつ点灯させ前記したと同様な
測定をすれは、３経線でのデイ第１ター値が求められ、
やはり前記（１２）式より直ちに球面度数Ｓ、乱視度数
Ｃ５乱視軸角度Ａか求められる。

又、第１８図は第３の実施例を示しており、該実施例で
は第２の実施例中で示した測定光源１６と同様な構成を
有し、各測定光源部＋６ａ、　１６ｂ。

１６ｃ・・・が点滅しない様になっている測定光源１６
′と第２の実施例中で示したものと同一の遮光部材１７
を有すると共に該遮光部材１７と対物レンズ８との間に
各測定光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ・・・からの
光束を受光系２の光軸より分離即ち該光軸より離反させ
る方向に分離させる光束分離手段、例えば偏角プリズム
１９を設けている。該偏角プリズム１９は各測定光源部
１６ａ、１６ｂ　１６ｃ・・・に対応するプリズム片１
９ａ、　１９ｂ、　１９ｃ・・・を光軸を中心に放射状
に集合させたものである。

該実施例では各測定光源部１６ａ、　１６ｂ、　１６ｃ
・・・からの光束が、受光面９ａの異なった位置に投影
される為、受光面９ａの投影された各部分で前記したと
同様な方法でデイオプター値を求めるようにすれば、複
数の経線方向のデイオプター値が同時に求められ、球面
度Ｓ、乱視度数Ｃ１乱視軸角度Ａも又求められる。

更に、第２０図は第４の実施例を示している。

円形の発光部を有する測定光源４を被検眼３に対して対
向した位置に配置し、該測定光源４、被検眼３の光軸を
含む平面内で該光軸に交差する光軸を有する受光系２ｘ
、２ｙ、２ｚを被検眼３側より順次配設する。而して、
被検眼３の光軸上にハーフミラ−５ｘ、　５ｙ、　５ｚ
を配設し、眼底７からの光束を受光系２ｘ、２ｙ、２ｚ
に向けて分割反射する。

ここで、受光系２Ｘ、２Ｙ、２Ｚの受光素子９ｘ、　９
ｙ、　９ｚの受光面９ｘａ、　９ｙａ、　９ｚａは前記
実施例と同様対物レンズ８ｘ、８ｙ、８ｚに関して被検
眼３の瞳孔６と共役位置とし、該３つの受光系２ｘ、２
ｙ、２ｚの光路内に前記実施例と同様な位置に第２図で
示したと同様のスリット孔を有する遮光部材１２ｘ、　
１２ｙ。

１２ｚを遮光部材１２ｙは光軸に関し遮光部材１２ｘよ
り６０°回転させた位置、遮光部材１２Ｚは光軸に関し
該遮光部材１２ｙより更に６０°回転させた位置とする
。

斯かる構成とすれば、受光素子９ｘ、９ｙ、９ｚの受光
結果より得られるデイオプター値は３経線方向の値とな
り、しかも同時に測定することかてきる。

尚、第２０図で示した実施例に於いて、受光系２ｘ、　
２ｙ、　２ｚを全く同一の構成とし、ハーフミラ−で分
割反射する方向を被検眼３の光軸に関し、６０°、１２
０°と変え、受光系２ｘ、２ｙ、２ｚが被検眼３の光軸
に対して放射状となる様な配置としても、同様に３経線
方向のデイオプター値を得ることが可能である。

尚、上記した第１、第２、第３、第４の実施例に於いて
乱視状態を特定する為に３経線上のデイオプター値を求
めればよいか、１つの経線延長上の他の経線についての
デイオプター値を、第１、第４の実施例では遮光部材１
２及び１２ｘ１２ｙ、　１２ｚを更に回転させ、第２、
第３の実施例では対称な位置にある測定光源部、及び対
向配置位置にあるエッチ部により求めて平均化すれば、
被検眼のマッグの影響、角膜水晶体等透明体の部分的な
濁りの影響を除くことかでき、測定精度は更に向上する
。

尚、上記実施例では投影系の光束分だ１段としてハーフ
ミラ−を使用したが、ビームスプリッタ−１面光プリス
ム等種々の光束分離手段を用い得ることは勿論である。

更に、乱視の測定では３経線上のデイオプター値を求め
るのか好ましいか、乱視の状態は大体２経線方向く直角
関係にある２経線方向）に代表されるものであり、従っ
て上記実施で２経線方向のデイオプター値を求める様に
してもよい。

又、受光素子としては２次元の充電変換素子でなく、エ
ンヂに対して直交する方向の１次元の素子で構成しても
よい。

［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、投影系と受光系とか同
軸に配置される構成であるので、如何なるデイオプター
値でも測定が可能で、且つ受光系は受光素子を用いてい
るので測定結果は瞬時に得られるという優れた効果を発
揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ａ）は本発明の第１の実施例を示す基本構成図
、第１図（Ｂ）は第１図（Ａ）に於けるＡ−Ａ矢視図、
第２図は第１図のＢ−Ｂ矢視図、第３図（＾）（ＢＨＣ
＋は該実施例に於ける被検眼のデイオプター値の相違に
よる光束の状態の相違を示す説明図、第４図（＾）（Ｂ
）　（Ｃ）（Ｄ）　ｆＥ）は受光系及び被検眼眼底から
の反射光束の状態を示す説明図、第５図（Ａ）、第６図
（＾）、第７図（Ａ）は受光素子に到達する測定光源各
点の反射光束の状態を示す説明図、第５図（Ｂ）、第６
図（Ｂ）、第７図（８１は遮光部材によって遮られた場
合の各光束の光量変化を示す説明図、第８図、第９図、
第１０図はデイオプター値に対応した受光面での光量分
布状態を示す説明図、第１１図は光量分布状態よりデイ
オプター値を求める場合の説明図、第１２図、第１３図
、第１４図は遮光部材上での広がり幅Δか測定光源の１
／２の大きさより大きな場合の遮光部材によって遮光さ
れた場合の各光束の光量変化を示す説明図、第１５図は
第２の実施例を示す基本構成図、第１６図は第１５図の
Ｃ−Ｃ矢視図、第１７図は第１５図のＤ−Ｃ矢視図、第
１８図は第３の実施例を示す基本構成図、第１９図は第
１８図のＥ−Ｅ矢視図、第２０図は第４の実施例を示す
基本構成図である。 １は投影系、２，２ｘ、２ｙ、２ｚは受光系、３は被検
眼、４．１６．１６′は測定光源、５．５Ｘ、　５Ｖ、
　５Ｚはハーフミラ−１８，８Ｘ、　８ｙ、　８ｚは対
物レンズ、９，９Ｘ、９ｙ９ｚは受光素子、１２．１２
ｘ、　１２ｙ、　１２ｚ、　１７は遮光部材１９は偏向
プリズムを示す。 特　　許　　出　　願　　人 株式会社ドブコン

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）測定光源を有し、被検眼眼底に測定光源像を投影す
   る為の投影系と、被検眼瞳孔と略共役位置に配置した受
   光素子上に眼底からの反射光束を導く為の受光系とを有
   し、受光素子上に形成された被検眼の瞳孔像の光量分布
   より被検眼の眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於
   いて、前記受光系の光路中に前記反射光束の少なくとも
   一部の光束を遮光する為の遮光部材を設けると共に前記
   測定光源は前記遮光部材の遮光境界線を一部が横切る大
   きさとしたことを特徴とする眼屈折力測定装置。 ２）遮光部材は受光系の光軸を挾んで一方の光束を遮光
   する為、光軸と直交する平面内の直線状の遮光境界線を
   有する請求項第１項記載の眼屈折力測定装置。 ３）測定光源を遮光部材の直線状の遮光境界線に直交す
   る方向に延びるスリット状とした請求項第２項記載の眼
   屈折力測定装置。 ４）スリット状測定光源は遮光境界線に対して対称な形
   状を有する請求項第３項記載の眼屈折力測定装置。