JPH02257678A - 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の作製方法 - Google Patents

窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の作製方法

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JPH02257678A
JPH02257678A JP1076652A JP7665289A JPH02257678A JP H02257678 A JPH02257678 A JP H02257678A JP 1076652 A JP1076652 A JP 1076652A JP 7665289 A JP7665289 A JP 7665289A JP H02257678 A JPH02257678 A JP H02257678A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、マグネシウムを添加した窒化ガリウム系化合
物半導体層を有する純青色発光素子の作製方法に関する
ものである。
(従来の芸術) 従来、有機金属化合物気相成長法(以下、MOVPE法
と記す)を用いて、窒化ガリウム系化合物半導体(G 
a + −x A j2 x N但し1>x≧0)をサ
ファイア基板上に気相成長させた構造の青色発光素子が
研究されている。
これらの材料により青色発光素子を作製する場合には、
従来絶縁層を形成するため、及び青色発光中心の形成を
狙いとして亜鉛が添加される。亜鉛添加窒化ガリウム系
化合物半導体Ga1−XA l 、N(但し1>x≧0
)に於ける発光素子の発光ピーク波長は425nm付近
の紫色、及び490nm付近の青緑色領域であった。
(発明が解決しようとする課題) 窒化ガリウム系化合物半導体を用いて青色発光素子を作
製する場合、添加する不純物に必要となる役割は二つあ
る。一つには絶縁層の形成が可能であること、もう一つ
は添加した不純物自体或はそれが関係して青色発光中心
を形成することである。窒化ガリウム系化合物半導体に
於て一般的に用いられる亜鉛の場合、絶縁層の形成は可
能であるが、それが関係して形成される発光中心に問題
があった。即ら、形成される発光中心は前述のごとく紫
色及び青緑色領域に発光ピークがあった。
明所視で目視により青色と観測される光の波長は450
nmから480nmの範囲内であり、亜鉛撚jJ11窒
化ガリウム系化合物半導体(Ga1−xA 1. xN
但し1>x≧O)による発光素子では色純度の問題があ
った。
そこで純青色発光中心が形成され、かつ絶縁層の形成が
可能な不純物を各種探索した結果、Mgがその二つの役
割を果たすことを見いだした。
(課題を解決するための手段) 本発明は水素雰囲気で大気圧に保たれた反応管内にサフ
ァイア等の絶縁体基板を設け、反応管の一方より有機ガ
リウム化合物、有機■族元素化合物及びアンモニアをガ
ス状で導入し、基板上にて気相成長法によりGa+−x
AlxN (但し1>x≧0)の単結晶層からなるn型
窒化ガリウム系化合物半導体層を形成後、原料ガスに有
機マグネシウム化合物乏ガス状で反応管内に導入し、絶
縁層及び発光層としてマグネシウム(Mg )を添加し
たi型の窒化ガリウム系化合物半導体Gap−xA I
 XN(但し1>x≧0)層を作製することを特徴とす
る窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の作製方法にあ
る。
(作 用) 本発明の好ましい実施例では前記マグネシウム(Mg 
)添加窒化ガリウム系化合物半導体Ga、、−8Aff
、N(但し1>x≧O)層に於て、添加するマグネシウ
ム(Mg )の■族元素に対する濃度は絶縁層形成のた
め10”cm−’以上であることが好ましい。また必要
以上に高濃度に添加された場合、他の発光中心が形成さ
れ、純青色発光の効率が低下するため2 XIO”cm
−3以内であることが好ましい。
また作製した発光素子に於て、最も大きい光強度を示す
発光波長が430nmから480nmの範囲であること
が特徴である。
(実施例) 以下、添付図面を参照して本発明による純青色発光素子
の作製法の実施例を説明する。しかし、図示し且つ以下
に説明する実施例は、本発明の方法を例示するものに過
ぎず、本発明を限定するものではない。
第1図は純青色発光素子を作製するために使用する窒化
ガリウム系化合物半導体のエピタキシアル結晶成長装置
の概略図である。第1図において、1は反応管、2は基
板加熱用サセプタ、3はその上に載置した基板を示し、
4は原料ガス供給管、5は反応管に連設した試料予備室
、6はターボ真空ポンプ、7,8はロータリー真空ポン
プを示す。
9は原料ガスと水素との供給装置であって、10は水素
供給口、11はアンモニアガス(NHa)供If口、1
2A、12B、12C,12D、12E、12F、12
C;ハ水素tA ffi 計、13はビスシクロペンタ
ジェニルマグネシウム(CP zMg )又はビスメチ
ルシクロペンタジェニルマグネシウム(MCPzMg)
の貯留槽、14はトリメチルアルミニウム(TMA)の
貯留槽、15はトリメチルガリウム(TMC)の貯留槽
、16〜31は流量制御弁、32〜34は切換混合弁を
示す。
サファイア等の絶縁体基板上に窒化ガリウム系化合物半
導体を気相でエピタキシアル成長させて単結晶を形成す
るには、上記の反応管1は予め真空に吸引し、水分、酸
素その他の不純物を除き大気圧の水素雰囲気として、反
応管1をヒーター35により加熱して結晶成長温度に保
つようにし、反応管1内に設けた基板加熱用サセプタ2
上に例えばサファイア等の結晶成長用絶縁体基板3を設
置し、高周波誘導加熱等により外部より反応管1を加熱
し、結晶成長温度に基板加熱用サセプタ2を保持しつつ
、結晶成長効率及び不純物添加効率をあげるために設置
された原料導入管4により原料ガスを導入し、導入ガス
を基板上で気相でエピタキシアル成長法で必要な結晶成
長層厚さになるまで結晶成長を行う。発光ダイオードを
作製するにはサファイア等の基板3の上に故意に不純物
を添加していないn型の該窒化ガリウム系化合物半導体
Gal−、A1.XN (但し1>x≧0)の単結晶を
形成の後、Mg成分をビスシクロペンタジェニルマグネ
シウム(CPzMg)又はビスメチルシクロペンタジェ
ニルマグネシウム(M CP zMg )等の有機マグ
ネシウム化合物をガス態で原料ガスに混合し、Mg成分
を添加した窒化ガリウム系化合物半導体Qa1−xA 
I XN (但し1>x≧0)層を作製する。固体中の
Mg添加量の制御は、MgとGaの流量比を切換混合弁
32〜34により行い、第2図に示すようにMg原料ガ
ス供給量の加減により制御する。
第3図にMgを適量添加した場合(a : 4 XIO
”cm−3) 、及び適量以上添加した場合(b:3×
1020c「3)の窒化ガリウムのフォトルミネッセン
ス(PL)スペクトルを示す。Mgを適量添加した場合
には純青色発光が明瞭に観測されるが、ある濃度を越え
ると純青色発光強度は小さくなり、長波長緑色発光が主
体となる。Mg添加量に関する詳細な実験の結果、発光
色の変化するMg添加量が2 XIO”cm−3程度で
あることを見いだした。
またこれらの試料を用いて発光ダイオードを作製し、フ
ォトルミネッセンスと同様、エレクトロルミネッセンス
に於いても同様の結果を示すことが確かめられた。
この結果は、窒化ガリウムの例を示したがAfを含む窒
化ガリウム系化合物半導体Ga1−XAj2xN(但し
1>x≧0)に於いても同様の結果を示すことが確かめ
られた。
以上の結果より、添加するMgの量は2×1020cm
−”以下であることが好ましい。また添加するMg W
kが10Is c m −Sより少なくなると発光ダイ
オードに於ける絶縁層の形成が困難となるため、それ以
上添加する必要がある。
窒化ガリウム系化合物半導体の気相エピタキシアル成長
に際して、Ga成分に対するMg成分の混合割合は0.
1〜10 arm%であり、Gaの原料ガスとして使用
するトリメチルガリウム(TMG)の蒸気圧は30 m
m Hg /  15°Cである。
(発明の効果) 以上の説明のように、本発明による発光素子の作製方法
によれば結晶成長用基板上にn型該窒化ガリウム系化合
物半導体Ga+−xA 1. XN (但し1〉X≧0
)単結晶からなるn型窒化ガリウム系化合物半導体層を
形成後、絶縁層及び発光層としてマグネシウム(Mg 
)を添加した窒化ガリウム系化合物半導体(Gap−x
A p、XN但し1>x≧0)層を形成することにより
、純青色発光ダイオードを作製することが可能である。
従来知られている青色発光ダイオードとよばれているも
のは発光波長が紫色または青緑色領域にかたよっている
もの、或はより長波長の発光が無視できず色純度に問題
のあるものが殆どであった。第3図(a)のように45
0nm付近に発光ピーク波長を持ち、かつより長波長の
発光が殆ど観測されない発光スペクトルを示すダイオー
ドは現在まで報告された例はなかった。
本発明による発光素子の作製方法を用いれば、特別な色
フィルターを使用することなく純青色発光ダイオードの
作製が可能となるため、フィルターによる損失がな〈従
来のものと比較して効率の高い青色発光ダイオードの実
現が可能である。本発明により現在まで実用化の遅れて
いる青色発光ダイオードの実用化が可能となる工業上天
なる利益がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実現するための結晶成長装置の概略構
成図、 第2図はMg原料ガス供給量と窒化ガリウムに添加され
たMg量の関係を示す特性図、第3図は本発明の発光素
子において、発光波長と発光強度フォトルミネッセンス
P Lとの特性図で、 (a)曲線はMgを4×10電9cffl−3添加した
試料の室温でのフォトルミネッセンススペクトル特性図
、(b)曲線はMgを3XIQ”°cm−’添加した試
料の室温でのフォトルミネッセンススペクトル特性図で
ある。 1・・・結晶成長用反応管 2・・・基板加熱用サセプタ 3・・・基板       4・・・原料導入管5・・
・試料予備室    6・・・ターボ真空ポンプ7.8
・・・ロータリー真空ポンプ 9・・・原料ガスと水素との供給装置 10・・・水素供給口 11・・・アンモニアガス(NH:l)供給口12A〜
12G・・・水素流量計 13・・・CP2Mg又はM CP z M g等の有
機Mg化合物の貯留槽

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、水素雰囲気で大気圧に保たれた反応管内にサファイ
    ア等の絶縁体基板を設け、反応管の一方より有機ガリウ
    ム化合物、有機III族元素・化合物及びアンモニアをガ
    ス状で導入し、基板上にて気相成長法によりGa_1_
    −_xAl_xN(但し1>x≧0)の単結晶層からな
    るn型窒化ガリウム系化合物半導体層を形成後、原料ガ
    スに有機マグネシウム化合物をガス状で反応管内に導入
    し、絶縁層及び発光層としてマグネシウム(Mg)を添
    加したi型の窒化ガリウム系化合物半導体Ga_1_−
    _xAl_xN(但し1>x≧0)層を作製することを
    特徴とする窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の作製
    方法。 2、前記マグネシウム(Mg)添加窒化ガリウム系化合
    物半導体Ga_1_−_xAl_xN(但し1>x≧0
    )層に於て、添加するマグネシウム(Mg)のIII族元
    素に対する濃度が10^1^5cm^−^3から2×1
    0^2^0cm^−^3の範囲内である請求項1記載の
    窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の作製方法。 3、作製した発光素子に於て、最も大きい光強度を示す
    発光波長が430nmから480nmの範囲内であるこ
    とを特徴とする請求項1記載の窒化ガリウム系化合物半
    導体発光素子の作製方法。
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