JPH0225129A - 多重化装置の予備系障害検出方式 - Google Patents
多重化装置の予備系障害検出方式Info
- Publication number
- JPH0225129A JPH0225129A JP63175753A JP17575388A JPH0225129A JP H0225129 A JPH0225129 A JP H0225129A JP 63175753 A JP63175753 A JP 63175753A JP 17575388 A JP17575388 A JP 17575388A JP H0225129 A JPH0225129 A JP H0225129A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- standby
- multiplexing
- signal
- standby system
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、各種のディジタルデータ通信システムなどで
利用される多重化装置の予備系障害検出方式に関するも
のである。
利用される多重化装置の予備系障害検出方式に関するも
のである。
(従来の技術)
ディジタルデータ通信システムでは、多重化回路と多重
分離回路とが対になった多重化装置が設置される。この
多重化装置は、通常、信頬性を確保するうえで現用系の
他に待機予備系も設置され、現用系に障害が発生すると
待機予備系によって動作がmVtされるようになってい
る。このような予備系が待機中に障害になることもあり
得るので、このような待機系について障害発生の有無を
検出することも必要になる。
分離回路とが対になった多重化装置が設置される。この
多重化装置は、通常、信頬性を確保するうえで現用系の
他に待機予備系も設置され、現用系に障害が発生すると
待機予備系によって動作がmVtされるようになってい
る。このような予備系が待機中に障害になることもあり
得るので、このような待機系について障害発生の有無を
検出することも必要になる。
従来、上述のような予備系の障害検出は、低次群信号群
が4の場合について第3図に例示するように、系内折り
返しループを形成して行っている。
が4の場合について第3図に例示するように、系内折り
返しループを形成して行っている。
され、試験パターン発生回路342〜34dで発生され
た試験パターンが多重化回路31の各入力端子a %
dに供給される。系内折り返しループを経て多重分離回
路の対応の出力端子a −= dがら出力された試験パ
ターンは、比較回路353〜35dの一方の入力端子に
供給され、各比較回路の他方の入力端子に直接供給され
る折り返し前の試験パターンと比較される。比較回路3
52〜35dのそれぞれの比較結果は出力端子363〜
36dを介してコントローラに読取られ、障害の有無が
判定される。
た試験パターンが多重化回路31の各入力端子a %
dに供給される。系内折り返しループを経て多重分離回
路の対応の出力端子a −= dがら出力された試験パ
ターンは、比較回路353〜35dの一方の入力端子に
供給され、各比較回路の他方の入力端子に直接供給され
る折り返し前の試験パターンと比較される。比較回路3
52〜35dのそれぞれの比較結果は出力端子363〜
36dを介してコントローラに読取られ、障害の有無が
判定される。
(発明が解決しようとする課題)
上記従来の予備系障害検出方式では、待機予備系の多重
化回路の各入力端子に異なる折り返し用の試験パターン
を供給している。このため、多数の試験パターン発生回
路が必要になり、多重化装置全体が複雑・高価になると
いう問題がある。
化回路の各入力端子に異なる折り返し用の試験パターン
を供給している。このため、多数の試験パターン発生回
路が必要になり、多重化装置全体が複雑・高価になると
いう問題がある。
(課題を解決するための手段)
本発明の予備系障害検出方式は、現用系の多重化回路の
各入力端子又は一つの入力端子に供給中の信号を待機予
備系における系内折り返し試験用の信号として待機予備
系の多重化回路の対応の入力端子又は各入力端子に供給
する折り返し試験用信号供給手段と、待機予備系内にお
いて多重化回路と多重分離回路との間に折り返しループ
を形成する系内折り返しループ形成手段と、待機予備系
内の多重化回路の各入力端子に供給される折り返し試験
用信号と待機予備系内の多重分離回路の対応の出力端子
から出力される折り返し済みの試験用信号とを比較し、
障害の有無を判定する比較・判定手段とを備え、試験パ
ターン発生回路の設置を不要とするように構成されてい
る。
各入力端子又は一つの入力端子に供給中の信号を待機予
備系における系内折り返し試験用の信号として待機予備
系の多重化回路の対応の入力端子又は各入力端子に供給
する折り返し試験用信号供給手段と、待機予備系内にお
いて多重化回路と多重分離回路との間に折り返しループ
を形成する系内折り返しループ形成手段と、待機予備系
内の多重化回路の各入力端子に供給される折り返し試験
用信号と待機予備系内の多重分離回路の対応の出力端子
から出力される折り返し済みの試験用信号とを比較し、
障害の有無を判定する比較・判定手段とを備え、試験パ
ターン発生回路の設置を不要とするように構成されてい
る。
以下、本発明の作用を実施例と共に詳細に説明する。
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例に係わる予備系障害検出方
式を適用する多重化装置の構成を示すブロック図であり
、1は現用系の多重化回路、2は現用系の多重分離回路
、3a〜3dは多重化対象の低次群信号の入力端子群、
4a〜4bは多重分離された低次群信号の出力端子、5
と6はそれぞれ待機予備系の多重化回路と多重分離回路
、10はコントローラll、ゲート回路12.13及び
比較回路142〜14dを備えた障害検出部である。
式を適用する多重化装置の構成を示すブロック図であり
、1は現用系の多重化回路、2は現用系の多重分離回路
、3a〜3dは多重化対象の低次群信号の入力端子群、
4a〜4bは多重分離された低次群信号の出力端子、5
と6はそれぞれ待機予備系の多重化回路と多重分離回路
、10はコントローラll、ゲート回路12.13及び
比較回路142〜14dを備えた障害検出部である。
障害検出部10のコントローラ11は、この多重化装置
の現用系や予備系についてほぼ所定の周期で障害の検出
を行う。コントローラ11によって予備系の障害の検出
が開始されると、まずゲート回路13が導通せしめられ
る。これに伴い、現用系の多重化回路lの各入力端子に
供給中の低次群信号が待機予備系における試験用の信号
として待機予備系の多重化回路5の対応の入力端子に供
給される。次に、ゲート回路12が導通せしめられるこ
とにより予備系内の多重化回路5と多重分離回路6との
間に系内折り返しループが形成される。
の現用系や予備系についてほぼ所定の周期で障害の検出
を行う。コントローラ11によって予備系の障害の検出
が開始されると、まずゲート回路13が導通せしめられ
る。これに伴い、現用系の多重化回路lの各入力端子に
供給中の低次群信号が待機予備系における試験用の信号
として待機予備系の多重化回路5の対応の入力端子に供
給される。次に、ゲート回路12が導通せしめられるこ
とにより予備系内の多重化回路5と多重分離回路6との
間に系内折り返しループが形成される。
ゲート回路12を通して待機予備系内の多重化回路5の
各入力端子に供給される折り返し試験用信号は、比較回
路148〜14dの一方の入力端子にも供給される。比
較回路148〜14dの他方の入力端子には、多重化回
路5とゲート回路12による折り返しループとを経て多
重分離回路6の各出力端子から出力される折り返し済み
の試験用信号が供給される。従って、予備系内の多重化
回路5と多重分離回路6に障害がなければ、比較回路1
42〜14dからは比較一致信号が出力される。コント
ローラ11は、この比較一致信号を読取ることにより待
機中の予備系が正常であると判定する。コントローラ1
1は、いずれかの比較回路から比較不一致信号を受は取
ると、所定回数の試験を繰り返し不一致信号が繰り返し
検出される場合には障害の発生と判定する。
各入力端子に供給される折り返し試験用信号は、比較回
路148〜14dの一方の入力端子にも供給される。比
較回路148〜14dの他方の入力端子には、多重化回
路5とゲート回路12による折り返しループとを経て多
重分離回路6の各出力端子から出力される折り返し済み
の試験用信号が供給される。従って、予備系内の多重化
回路5と多重分離回路6に障害がなければ、比較回路1
42〜14dからは比較一致信号が出力される。コント
ローラ11は、この比較一致信号を読取ることにより待
機中の予備系が正常であると判定する。コントローラ1
1は、いずれかの比較回路から比較不一致信号を受は取
ると、所定回数の試験を繰り返し不一致信号が繰り返し
検出される場合には障害の発生と判定する。
第2図は、本発明の他の実施例に係わる予備系障害検出
方式を適用する多重化装置の構成を示すブロック図であ
る。
方式を適用する多重化装置の構成を示すブロック図であ
る。
第2図中、第1図と同一の参照符号を付した構成要素は
第1図で説明済みの構成要素と同一のものであり、それ
らについては重複する説明を省略する。この実施例では
、障害検出部10内のゲート回路13の代りにセレクタ
15が設置されている。
第1図で説明済みの構成要素と同一のものであり、それ
らについては重複する説明を省略する。この実施例では
、障害検出部10内のゲート回路13の代りにセレクタ
15が設置されている。
コントローラ11は、予備系の障害の検出を開始すると
入力端子3a〜3dに出現中の低次群信号の一つをセレ
クタ15に選択させると共に、ゲート回路12を導通さ
せて返しループを形成させる。セレクタ15で選択され
多重化回路5の各入力端子に供給される折り返し試験用
信号は、系内折り返しループと多重分離回路6の各出力
端子を経て折り返し済みの試験用信号となって比較回路
142〜14dの一方の入力端子に供給され、各比較回
路の他方の入力端子に直接供給される折り返し前の試験
用信号と比較される。コントローラ11は、いずれかの
比較回路から比較不一致信号を受は取ると、所定回数の
試験を繰り返し不一致信号が繰り返し検出される場合に
は障害の発生と判定する。
入力端子3a〜3dに出現中の低次群信号の一つをセレ
クタ15に選択させると共に、ゲート回路12を導通さ
せて返しループを形成させる。セレクタ15で選択され
多重化回路5の各入力端子に供給される折り返し試験用
信号は、系内折り返しループと多重分離回路6の各出力
端子を経て折り返し済みの試験用信号となって比較回路
142〜14dの一方の入力端子に供給され、各比較回
路の他方の入力端子に直接供給される折り返し前の試験
用信号と比較される。コントローラ11は、いずれかの
比較回路から比較不一致信号を受は取ると、所定回数の
試験を繰り返し不一致信号が繰り返し検出される場合に
は障害の発生と判定する。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明の予備系障害検出方
式は、現用系の多重化回路の各入力端子又は一つの入力
端子に供給中の信号を待機予備系における折り返し試験
用の信号として待機予備系の多重化回路の対応の入力端
子又は各入力端子に供給する構成であるから、試験パタ
ーン発生回路が不要となり、障害検出部を含めた多重化
装置全体が簡易・安価になるという効果が奏される。
式は、現用系の多重化回路の各入力端子又は一つの入力
端子に供給中の信号を待機予備系における折り返し試験
用の信号として待機予備系の多重化回路の対応の入力端
子又は各入力端子に供給する構成であるから、試験パタ
ーン発生回路が不要となり、障害検出部を含めた多重化
装置全体が簡易・安価になるという効果が奏される。
第1図は本発明の一実施例の障害検出方式を適用する多
重化装置の構成を示すブロック図、第2図は本発明の他
の実施例の障害検出方式を通用する多重化装置の構成を
示すブロック図、第3図は従来の障害検出方式を説明す
るための構成ブロック図である。 1・・・現用系の多重化回路、2・・・現用系の多重分
離回路、5・・・待機予備系の多重化回路、6・・・待
機予備系の多重分離回路、IO・・・障害検出部、11
・・・コントローラ、12・予備系内に折り返しループ
を形成するためのゲート回路、13・・・ゲート回路、
14a〜14d・・・比較回路、15・・・セレクタ。 J115!If
重化装置の構成を示すブロック図、第2図は本発明の他
の実施例の障害検出方式を通用する多重化装置の構成を
示すブロック図、第3図は従来の障害検出方式を説明す
るための構成ブロック図である。 1・・・現用系の多重化回路、2・・・現用系の多重分
離回路、5・・・待機予備系の多重化回路、6・・・待
機予備系の多重分離回路、IO・・・障害検出部、11
・・・コントローラ、12・予備系内に折り返しループ
を形成するためのゲート回路、13・・・ゲート回路、
14a〜14d・・・比較回路、15・・・セレクタ。 J115!If
Claims (2)
- (1)多重化回路と多重分離回路との対を現用系と待機
予備系として備えた多重化装置において、現用系の多重
化回路の各入力端子に供給中の信号を待機予備系におけ
る折り返し試験用の信号として待機予備系の多重化回路
の対応の入力端子に供給する試験用信号供給手段と、 待機予備系内において多重化回路と多重分離回路との間
に折り返しループを形成する系内折り返しループ形成手
段と、 前記待機予備系内の多重化回路の各入力端子に供給され
る折り返し試験用信号と待機予備系内の多重分離回路の
対応の出力端子から出力される折り返し済みの試験用信
号とを比較し、障害の有無を判定する比較・判定手段と
を備えたことを特徴とする多重化装置の予備系障害検出
方式。 - (2)多重化回路と多重分離回路との対を現用系と待機
予備系として備えた多重化装置において、現用系の多重
化回路の各入力端子の一つに供給中の信号を待機予備系
における折り返し試験用の信号として待機予備系の多重
化回路の各入力端子に供給する試験用信号供給手段と、 待機予備系内において多重化回路と多重分離回路との間
に折り返しループを形成する系内折り返しループ形成手
段と、 前記待機予備系内の多重化回路の各入力端子に供給され
る折り返し試験用信号と待機予備系内の多重分離回路の
各出力端子から出力される折り返し済みの試験用信号と
を比較し、障害の有無を判定する比較・判定手段とを備
えたことを特徴とする多重化装置の予備系障害検出方式
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63175753A JPH0225129A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 多重化装置の予備系障害検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63175753A JPH0225129A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 多重化装置の予備系障害検出方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0225129A true JPH0225129A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=16001654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63175753A Pending JPH0225129A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 多重化装置の予備系障害検出方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0225129A (ja) |
-
1988
- 1988-07-13 JP JP63175753A patent/JPH0225129A/ja active Pending
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