JPH04246921A - パタン試験方式 - Google Patents
パタン試験方式Info
- Publication number
- JPH04246921A JPH04246921A JP3060856A JP6085691A JPH04246921A JP H04246921 A JPH04246921 A JP H04246921A JP 3060856 A JP3060856 A JP 3060856A JP 6085691 A JP6085691 A JP 6085691A JP H04246921 A JPH04246921 A JP H04246921A
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- JP
- Japan
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- pattern
- test
- communication line
- address
- circuit
- Prior art date
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- Granted
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 15
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データ通信の通信線の
パタン試験方式に利用する。特に、送信側と受信側とで
所定パタンを比較照合することにより通信線の正常性を
チエックするパタン試験方式に関するものである。
パタン試験方式に利用する。特に、送信側と受信側とで
所定パタンを比較照合することにより通信線の正常性を
チエックするパタン試験方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来例のパタン試験方式のブロッ
ク構成図である。従来、パタン試験方式は、図４に示す
ように通信線５０の正常性をチェックするために、スイ
ッチ７１、７２を切替え、パタン作成回路２１で通信線
５０に所定パタンを送出し、途中でパタン比較器６２で
入力した所定パタンと送出した所定パタンとの比較照合
を行っていた。
ク構成図である。従来、パタン試験方式は、図４に示す
ように通信線５０の正常性をチェックするために、スイ
ッチ７１、７２を切替え、パタン作成回路２１で通信線
５０に所定パタンを送出し、途中でパタン比較器６２で
入力した所定パタンと送出した所定パタンとの比較照合
を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来例のパタン試験方式では、パタン作成回路とパタン比
較器とが一対になって通信線を確保するために、通信線
を一時的に試験用に使い、通常の通信ができない問題点
があった。
来例のパタン試験方式では、パタン作成回路とパタン比
較器とが一対になって通信線を確保するために、通信線
を一時的に試験用に使い、通常の通信ができない問題点
があった。
【０００４】本発明は上記の問題点を解決するもので、
通信線の試験時でも通常の通信ができるパタン試験方式
を提供することを目的とする。
通信線の試験時でも通常の通信ができるパタン試験方式
を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力する複数
のデータを多重して通信データを出力する多重回路と、
この出力された通信データが転送される被試験通信線に
所定パタンを出力するパタン発生手段とが送信側に配置
され、上記被試験通信線に接続され上記出力された所定
パタンと上記被試験通信線を介して入力する所定パタン
とを比較するパタン比較手段が受信側に配置されたパタ
ン試験方式において、上記パタン発生手段は、上記出力
する所定パタンを作成するパタン作成回路と、この作成
された所定パタンに送出先のアドレスを付加し試験パタ
ンとして出力するアドレス指定回路とを含み、上記多重
回路は上記通信データの一つとして上記出力された試験
パタンを多重して上記被試験通信線に送出する多重回路
を備え、上記パタン比較手段は、上記被試験通信線を介
して入力する試験パタンの送出先のアドレスと自己のア
ドレスとを比較するアドレス比較部と、このアドレス比
較部の一致結果に基づきこの入力された試験パタンの所
定パタンと上記作成された所定パタンとを比較するパタ
ン比較部を含むことを特徴とする。
のデータを多重して通信データを出力する多重回路と、
この出力された通信データが転送される被試験通信線に
所定パタンを出力するパタン発生手段とが送信側に配置
され、上記被試験通信線に接続され上記出力された所定
パタンと上記被試験通信線を介して入力する所定パタン
とを比較するパタン比較手段が受信側に配置されたパタ
ン試験方式において、上記パタン発生手段は、上記出力
する所定パタンを作成するパタン作成回路と、この作成
された所定パタンに送出先のアドレスを付加し試験パタ
ンとして出力するアドレス指定回路とを含み、上記多重
回路は上記通信データの一つとして上記出力された試験
パタンを多重して上記被試験通信線に送出する多重回路
を備え、上記パタン比較手段は、上記被試験通信線を介
して入力する試験パタンの送出先のアドレスと自己のア
ドレスとを比較するアドレス比較部と、このアドレス比
較部の一致結果に基づきこの入力された試験パタンの所
定パタンと上記作成された所定パタンとを比較するパタ
ン比較部を含むことを特徴とする。
【０００６】また、本発明は、上記作成された所定パタ
ンはＰＮパタンであることができる。
ンはＰＮパタンであることができる。
【０００７】さらに、本発明は、上記パタン比較手段は
複数個であることができる。
複数個であることができる。
【０００８】
【作用】パタン発生手段は、パタン作成回路で所定パタ
ンを作成し、アドレス指定回路でこの作成された所定パ
タンに送出先のアドレスを付加し試験パタンとして出力
する。多重回路は通信データの一つとして試験パタンを
多重して被試験通信線に送出する。パタン比較手段は、
アドレス比較部で通信線を介して入力する試験パタンの
送出先のアドレスと自己のアドレスとを比較し、パタン
比較部でアドレス比較部の一致結果に基づきこの入力さ
れた試験パタンの所定パタンと上記作成された所定パタ
ンとを比較する。
ンを作成し、アドレス指定回路でこの作成された所定パ
タンに送出先のアドレスを付加し試験パタンとして出力
する。多重回路は通信データの一つとして試験パタンを
多重して被試験通信線に送出する。パタン比較手段は、
アドレス比較部で通信線を介して入力する試験パタンの
送出先のアドレスと自己のアドレスとを比較し、パタン
比較部でアドレス比較部の一致結果に基づきこの入力さ
れた試験パタンの所定パタンと上記作成された所定パタ
ンとを比較する。
【０００９】以上により通信線の試験時でも通常の通信
ができる。
ができる。
【００１０】
【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図１は本発明一実施例パタン試験方式のブロック
構成図である。図１において、パタン試験方式は、入力
する複数のデータを多重して通信データ１０を出力する
多重回路４０と、この出力された通信データ１０が転送
される被試験通信線として通信線５０に所定パタンを出
力するパタン発生手段としてパタン発生回路２０とが送
信側に配置され、通信線５０に接続され上記出力された
所定パタンと通信線５０を介して入力する所定パタンと
を比較するパタン比較手段として比較回路６０が受信側
に配置される。
する。図１は本発明一実施例パタン試験方式のブロック
構成図である。図１において、パタン試験方式は、入力
する複数のデータを多重して通信データ１０を出力する
多重回路４０と、この出力された通信データ１０が転送
される被試験通信線として通信線５０に所定パタンを出
力するパタン発生手段としてパタン発生回路２０とが送
信側に配置され、通信線５０に接続され上記出力された
所定パタンと通信線５０を介して入力する所定パタンと
を比較するパタン比較手段として比較回路６０が受信側
に配置される。
【００１１】ここで本発明の特徴とするところは、パタ
ン発生回路２０は、上記出力される所定パタンを作成す
るパタン作成回路２１と、この作成された所定パタンに
送出先のアドレスを付加し試験パタン３０として出力す
るアドレス指定回路２２とを含み、多重回路４０はは通
信データ１０の一つとして試験パタン３０を多重して通
信線５０に送出する手段を含み、比較回路６０は、通信
線５０を介して入力する試験パタン３０の送出先のアド
レスと自己のアドレスとを比較するアドレス比較器６１
と、アドレス比較器６１の一致結果に基づきこの入力さ
れた試験パタン３０の所定パタンと上記作成された所定
パタンとを比較するパタン比較器６２を含むことにある
。
ン発生回路２０は、上記出力される所定パタンを作成す
るパタン作成回路２１と、この作成された所定パタンに
送出先のアドレスを付加し試験パタン３０として出力す
るアドレス指定回路２２とを含み、多重回路４０はは通
信データ１０の一つとして試験パタン３０を多重して通
信線５０に送出する手段を含み、比較回路６０は、通信
線５０を介して入力する試験パタン３０の送出先のアド
レスと自己のアドレスとを比較するアドレス比較器６１
と、アドレス比較器６１の一致結果に基づきこの入力さ
れた試験パタン３０の所定パタンと上記作成された所定
パタンとを比較するパタン比較器６２を含むことにある
。
【００１２】また、上記作成された所定パタンはＰＮパ
タンである。
タンである。
【００１３】さらに、比較回路６０は複数個である。
【００１４】このような構成の動作について説明する。
図２は本発明のパタン試験方式のアドレス指定ルールを
示す図である。図３は本発明のパタン試験方式の多重回
路の出力信号のフレームフォーマットである。
示す図である。図３は本発明のパタン試験方式の多重回
路の出力信号のフレームフォーマットである。
【００１５】図１において、多重回路４０は、通常は入
力する複数のデータを多重して通信データ１０を出力す
る。 試験時には、パタン発生回路２０は、パタン作成回路２
１で試験に使用する所定パタン（たとえば、ＰＮパタン
）を作成し、アドレス指定回路２２で図２に示すように
この所定パタンに通信線５０の途中に設置された比較回
路６０１ 〜６０３ のアドレスを設定し試験パタン３
０としてを出力する。多重回路４０は、図３に示すよう
に通信データ１０の一つとして試験パタン３０を多重し
て通信線５０に送出する。
力する複数のデータを多重して通信データ１０を出力す
る。 試験時には、パタン発生回路２０は、パタン作成回路２
１で試験に使用する所定パタン（たとえば、ＰＮパタン
）を作成し、アドレス指定回路２２で図２に示すように
この所定パタンに通信線５０の途中に設置された比較回
路６０１ 〜６０３ のアドレスを設定し試験パタン３
０としてを出力する。多重回路４０は、図３に示すよう
に通信データ１０の一つとして試験パタン３０を多重し
て通信線５０に送出する。
【００１６】図２に示すように比較回路６０１ にアド
レス「０１」が設定され、パタン発生回路２０が試験パ
タン３０として（「０１」＋「ＰＮパタン」）を出力し
た場合に、比較回路６０１ は、アドレス比較器６１１
で通信線５０を介して伝送されてきた試験パタン３０
（「０１」＋「ＰＮパタン」）のアドレス「０１」を検
出する。比較回路６０１ のアドレスは「０１」であり
、試験されているのは自己であることが判り、「ＰＮパ
タン」を取込み、パタン比較器６２２ でチェックする
。
レス「０１」が設定され、パタン発生回路２０が試験パ
タン３０として（「０１」＋「ＰＮパタン」）を出力し
た場合に、比較回路６０１ は、アドレス比較器６１１
で通信線５０を介して伝送されてきた試験パタン３０
（「０１」＋「ＰＮパタン」）のアドレス「０１」を検
出する。比較回路６０１ のアドレスは「０１」であり
、試験されているのは自己であることが判り、「ＰＮパ
タン」を取込み、パタン比較器６２２ でチェックする
。
【００１７】この場合に、比較回路６０２ （６０３
）は、各々自己のアドレスが「０１」以外に設定されて
いるために、アドレス比較器６１２ （６１３ ）では
パタン比較器６２２ （６２３ ）に「ＰＮパタン」を
与えない。この結果、パタン発生回路２０と比較回路６
０１ との間のパタン試験のみが実施される。また、送
信側および受信側で図３に示すように試験用のタイムス
ロットとデータ用のタイムスロットとを区別して割付け
ることによりデータを妨害することがない。
）は、各々自己のアドレスが「０１」以外に設定されて
いるために、アドレス比較器６１２ （６１３ ）では
パタン比較器６２２ （６２３ ）に「ＰＮパタン」を
与えない。この結果、パタン発生回路２０と比較回路６
０１ との間のパタン試験のみが実施される。また、送
信側および受信側で図３に示すように試験用のタイムス
ロットとデータ用のタイムスロットとを区別して割付け
ることによりデータを妨害することがない。
【００１８】上述と同様に本実施例は比較回路６０２
（６０３ ）に設定してあるアドレスをパタン発生回路
２０が通信線５０に送出した場合には、パタン発生回路
２０と比較回路６０２ （６０３ ）との間の試験を行
うことができる。
（６０３ ）に設定してあるアドレスをパタン発生回路
２０が通信線５０に送出した場合には、パタン発生回路
２０と比較回路６０２ （６０３ ）との間の試験を行
うことができる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、通信線
の試験時でも通常の通信ができ、かつ通信線上の任意の
区間で試験を行うことができる優れた効果がある。
の試験時でも通常の通信ができ、かつ通信線上の任意の
区間で試験を行うことができる優れた効果がある。
【図１】 本発明一実施例パタン試験方式のブロック
構成図。
構成図。
【図２】 本発明のパタン試験方式のアドレス指定ル
ールを示す図。
ールを示す図。
【図３】 本発明のパタン試験方式の多重回路の出力
信号のフレームフォーマット。
信号のフレームフォーマット。
【図４】 従来例のパタン試験方式のブロック構成図
。
。
１０、１０Ａ 通信データ
２０ パタン発生回路
２１ パタン作成回路
２２ アドレス指定回路
３０ 試験パタン
４０、４０Ａ 多重回路
５０ 通信線
６０１ 〜６０３ 比較回路
６１１ 〜６１３ アドレス比較器６２、６２１
〜６２３ パタン比較器７１、７２ スイッチ
〜６２３ パタン比較器７１、７２ スイッチ
Claims (3)
- 【請求項１】 入力する複数のデータを多重して通信
データを出力する多重回路と、この出力された通信デー
タが転送される被試験通信線に所定パタンを出力するパ
タン発生手段とが送信側に配置され、上記被試験通信線
に接続され上記出力された所定パタンと上記被試験通信
線を介して入力する所定パタンとを比較するパタン比較
手段が受信側に配置されたパタン試験方式において、上
記パタン発生手段は、上記出力する所定パタンを作成す
るパタン作成回路と、この作成された所定パタンに送出
先のアドレスを付加し試験パタンとして出力するアドレ
ス指定回路とを含み、上記多重回路は上記通信データの
一つとして上記出力された試験パタンを多重して上記被
試験通信線に送出する多重回路を備え、上記パタン比較
手段は、上記被試験通信線を介して入力する試験パタン
の送出先のアドレスと自己のアドレスとを比較するアド
レス比較部と、このアドレス比較部の一致結果に基づき
この入力された試験パタンの所定パタンと上記作成され
た所定パタンとを比較するパタン比較部を含むことを特
徴とするパタン試験方式。 - 【請求項２】 上記作成された所定パタンはＰＮパタ
ンである請求項１記載のパタン試験方式。 - 【請求項３】 上記パタン比較手段は複数個である請
求項１記載のパタン試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6085691A JP2616593B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | パタン試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6085691A JP2616593B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | パタン試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04246921A true JPH04246921A (ja) | 1992-09-02 |
| JP2616593B2 JP2616593B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=13154444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6085691A Expired - Lifetime JP2616593B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | パタン試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2616593B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6873939B1 (en) | 2001-02-02 | 2005-03-29 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and calibrating a signaling system |
| US7137048B2 (en) | 2001-02-02 | 2006-11-14 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
| US7765074B2 (en) | 2003-02-11 | 2010-07-27 | Rambus Inc. | Circuit, apparatus and method for capturing a representation of a waveform from a clock-data recovery (CDR) unit |
| US9356743B2 (en) | 2001-02-02 | 2016-05-31 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP6085691A patent/JP2616593B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6873939B1 (en) | 2001-02-02 | 2005-03-29 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and calibrating a signaling system |
| US7137048B2 (en) | 2001-02-02 | 2006-11-14 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
| US7360127B2 (en) | 2001-02-02 | 2008-04-15 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
| US9356743B2 (en) | 2001-02-02 | 2016-05-31 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
| US10855413B2 (en) | 2001-02-02 | 2020-12-01 | Rambus Inc. | Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system |
| US7765074B2 (en) | 2003-02-11 | 2010-07-27 | Rambus Inc. | Circuit, apparatus and method for capturing a representation of a waveform from a clock-data recovery (CDR) unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2616593B2 (ja) | 1997-06-04 |
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