JPH02244116A - 光学特性変調器および光学素子 - Google Patents

光学特性変調器および光学素子

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JPH02244116A
JPH02244116A JP6375489A JP6375489A JPH02244116A JP H02244116 A JPH02244116 A JP H02244116A JP 6375489 A JP6375489 A JP 6375489A JP 6375489 A JP6375489 A JP 6375489A JP H02244116 A JPH02244116 A JP H02244116A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学特性を電気的に変化きせて、出力光の強度
や進行方向を制御するのに好適な装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、量子井戸(QW)内のキャリア濃度を変化させて
光学特性を電気的に制御する方法としては,アプライド
・フイジクス・レター 50巻1、2号(1987年)
第708頁から710頁(Appl. Phys. L
ett. 50(12)、1987, pp708−7
10)に記載の方式が知られている(第14図(a)。
第14図(b)、この方式は電界効果トランジスタ(F
ET)のチャネルにQW61を用い、該QW61に蓄積
している電子67をゲートに負の電圧v1を印加してデ
プリートさせ、該QW61の実効的なバンドギャップを
EaからEa−へと変化させ、エネルギがEaである光
をオン/オフしていた。
一方.QW構造が多層積層された多重量子井戸(MQW
)構造を用いた電流制御スイッチとしては、例えば特開
昭56 − 76581号に記載の素子が知られている
(第15図(a)、第15図(b))。
この素子では、高速に電流を制御するためしこ、FET
のチャネルにMQW73を用い、かつ該MQW73の障
壁層732にのみ不純物733をドーピングし、電子7
8が蓄積されているQW層731で、不純物733によ
り電子78が散乱されるのを防いでいた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来のキャリアの濃度変化を用いた光変調法では、
光の利用効率の点についての配慮が不十分であり、単一
QW構造であるため光学特性の変化する層が薄く(〜1
0nm)、大部分の光は変調を受けずに透過してしまう
恐れがあった。
一方、従来のMQW構造を用いた電流制御スイッチでは
、光を変調することが目的ではないため、特にMQWを
導波コアとして用いる場合の配慮がされておらず、光を
導波させられないという問題があった。これは、光源と
同一基板上に変調素子を形成しようとする場合は、大き
な問題である。
本発明の目的は、光利用効率の高い導波路型の光学特性
変調器を提供することにある。
本発明の他の目的は、上記光学特性変調器を用いた、光
学素子を提案することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、第1−a図と第1−b図に
示すように、量子井戸141と障壁層142が交互に複
数積層されたMQWをFETのチャルとし、該MQW1
4に不純物をドープして各QW層141にキャリアが、
蓄積されているようにし、かつ上記MQW層より小さな
屈折率を有する少なくとも2つの半導体層131と13
2を、該MQW層の少なくとも積層方向に対して接して
設け、上記半導体層131上にゲート電極121と、ソ
ース電極及びドレイン電極を形成した。
本発明の他のを達成するために、本発明による光学特性
変調器を、導波路の一部に設ける構造の光学素子とした
〔作用〕
本発明の作用を、第2図(a)から第6図を用いて説明
する6本説明では、QW層に電子が蓄積されるように、
MQW層にはドナー不純物をドーピングしたものとする
第2図(a)は、各電極に電圧を与えない場合のチャネ
ル146の形を示す図であり、第2図(b)は、その場
合の第2図(a)のA−A’断面のバンド図である。ゲ
ート電圧VgがOであるため、MQW層1層表4成する
全てのQW141内に2次元電子145が蓄積されてお
り、MQW層14全体がチャネル146となっている。
そのためMQW層1層表4様な屈折率を示す。
次に、ゲート電極171に負の電圧Vgを印加すると、
第3図(b)に示すように、ゲート電極171側のQW
層143では電子が空乏化する。
そのため第2電極162に正電圧を印加すると、第3図
(a)に示したように、MQW層1層表4、チャネル1
46と空乏層147が形成される。空乏層147には電
子がないため、屈折率はチャネル146より小さい。従
ってチャネル146の形状に応じた屈折率分布が生ずる
第4図に模式的に示したように、第2図(a)及び第3
図(a)において、B−B’断面の屈折率分布は電圧に
よって変化する。そのため、光をMQW層1層表4行に
入射させると、電圧が印加されていなければ、MQW層
1層表4折率は一様なので光は直進するが(第5図(a
))、各電極に所定の電圧を印加すると、屈折率に不均
一が生ずるので、光は屈折率の大きい方、すなわち空孔
層147からチャネル側146に曲がっていく(第5図
(b)、入射光のエネルギをゲート電圧Vgが加わって
いる場合のMQW層1層表4効的バンドギャップEo’
  より十分低くすれば、MQW層1層表4収されるこ
とはないので、効率よく光を偏向させることができる。
偏向の向きを逆にするには、第1電極161と第2電極
162に加える電圧を逆にすればよい。
各電極に電圧を印加してキャリア濃度分布の形状を制御
するためには、チャネルにQW構造を導入する必要はな
い、しかし、QW構造でない場合はキャリアは自由キャ
リアとして振舞うため、光と強く相互作用し、光を反射
してしまう。QW層内に閉じ込められた2次元キャリア
は、動きが制限されているため、光を反射することはな
い。
電圧印加でMQW層1層表4成される屈折率分布の形を
MQW層1層表4層方向に関し対称にするには、MQW
層1層表4側のクラッド層132の下側、例えば基板に
第3の電極162を形成し、ゲート電圧v5に対応して
、負の電圧を印加すればよい。
MQW層1層表4さを0.2μm以上としているために
、入射光の大部分を変調させることができ、またクラッ
ド層131,132の厚さを0.2μm以上としている
ので、入射光をほぼ完全にMQW層1層表4込めること
ができる。
また、第6図に示すように1MQW層14の吸収端は、
ゲート電圧Vzで、Elから低エネルギ側のEo  に
シフトする。このシフト量は、電界でバンドが傾くこと
による変化分(Eo   Eo<O)と、キャリアが空
乏化することによる変化分(El−Eo<O)の和であ
る。上記2つの変化は、従来(第3図(a)、第3図(
b))は逆向きの変化であったが、本発明では同符号で
あるので、従来より大きな値となる。バンドパラメータ
を適当に選ぶことで、室温のフォノン・エネルギ(〜2
5@eV)2倍以上とすることができるので、極めて大
きな吸収係数の変化を得ることができる。
そのため変調光のエネルギをEo’  に選ぶことによ
り、高効率で光をオン/オフすることができる。
本発明の変調素子を導波路の一部に配置した構造とすれ
ば、光を所定の方向にのみ進行させることができるので
、より効率よく光を利用することができる。
さらに、本変調素子を光源と同一基板上に形成すれば、
光源と変調素子の光軸を一致させることができるので、
光の利用効率はより高まり、また他の素子との組合わせ
を容易に進めることができる。
一方、Y字型導波路、あるいはX字型導波路の交点に本
変調素子を形成すれば、本素子が示す屈折率変化により
、出力側の2本の導波路のどちら側へでもスイッチさせ
ることができる。
あるいは、本変調素子をシリーズに、あるいはマトリッ
クス状に形成し、個々の素子に光のオン/オフや光路切
り替え、あるいは偏向などの動作をさせることにより、
光入力データを任意に加工することができ、光演算処理
をすることも可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図により説明する。
第1図(a)、第1図(b)は、本発明の第一の実施例
を示す装置の断面図である。図において11は半絶縁性
G a A s基板であり、12は0,5μmGaAs
バッファ層であり、131と132は0.3.um A
flGaAsクラッド層であり、14はGaAs/AQ
GaAs  MQWコア層(0,5μm)である。MQ
Wコア層の構成は。
GaAs井戸層141が9nm、AQGaAs障壁層1
42が8.5nm であり、GaAs141を29層、
A Q G a A s 142を28層、交互に形成
した。またMQWコア層には、5X10”C1m −”
の81をドープした。バッファ層12から上側のクラッ
ド層131までは、分子線エピタキシ法で作製した。各
A Q G a A s層におけるAQ組成は0.3 
である、161はソース電極であり、162はドレイン
電極である。
これらは、真空蒸着法でAuGaを付け、次にAuを付
けて形成した。18はソース電極161とドレイン電極
162を形成後、熱処理で得られた5n型の拡散領域で
ある。171はAQを真空蒸着して形成したゲート電極
である。
次に動作例について述べる。ゲート電圧v6が0の場合
は、第2図(a)に示したようにMQWコア層14全体
にチャネル146が拡がっており、一様な屈折率を示す
ので、MQWコア層14に層数4入射した光は直進した
(第5図(a)。ゲート電圧Vざ=−4vとし、ドレイ
ンに0.2V 印加したところ、MQWコア層14で層
数4147が拡がり、チャネル146は第3図(a)の
ようになり、屈折率の勾配が生じた(第4図)。そのた
めMQWコア層14に層数4入射した光は、屈折率の大
きなソース電極側へと曲がった(第5図(b))。本実
施例では、チャネル146と空乏層147の屈折率差は
約2%であり、ゲート長を200μm、ゲート幅10μ
mとした場合、光は直進した場合に比べ、ソース電極1
61側に約4μm、基板側に1μm曲がった。また、1
61をドレイン電極とし、162をソース電極として用
いたところ、ソース電極162側に4μm、基板側に1
μm曲がることが確認された。
本実施例では、ゲート電圧を印した場合のMQWコア層
14の層数4Eo′(第6図)が840nmであるので
、入射光には870nmの光を用いた。
その結果、光はMQWコア層14に層数4吸収損失は、
はとんど認められなかった。
第2の実施例として、エネルギがEo  の光(波長8
40nm) をMQWコア層14に層数4せた。
本実施例の場合のMQWコア層14の層数40.2μm
でありゲート長と幅は10μmである。
■、=0の場合は、90%の光が透過したが、Vg=5
Vにしたところ、吸収が大きくなり(第6図)、透過し
た光は10%以下であり、10:1以上の消光比が得ら
れた。
第7図は、本発明の第3の実施例を示す図である。図に
おいて、111はn十型GaAs基板であり、121は
0.5μm n+型GaAsバッファ層である。121
においては、Siが5X10170−3ドーピングされ
ている。クラッド層132より上側の部分は、実施例1
と同じ構成である。
172は第2ゲート電極であり、AuGeとAuから成
り、形成後、熱処理を施した。本実施例では、ゲート電
極が2つ設けられているので、MQWコア層14に形成
される空乏層の形状をより自由に制御できる。そのため
、第2ゲート電極172にもゲート電界171と同様に
、負の電圧を印加することにより、MQWコア層14に
形成される空乏層の形状を、該MQWコア層14の積層
方向に関し対称にすることがきた。これにより、第1の
実施例では基板側にも曲がっていた光を、本実施例では
MQWコア層に平行に出射させることができた。
第8図は、本発明の第4の実施例を示す装置の模式的断
面図である。本実施例では、第2ゲート電極172を、
ウェットエッチ等の方法により、n+ GaAsバッフ
ァ層121を露出させ、その表面に真空蒸着でAuGe
を付け、次にAuを付けて形成し、熱処理を施した。本
実施例においても、上記第3の実施例と同様の効果が得
られた。
第9図は、本発明の第5の実施例を示す模式的構成図で
ある0本実施例では、第1の実施例で説明した変調素子
41を、0.5μmの A Q o、xG a O,TA 8層を0.3 μm
のA Ii o、aG a 0.7A s層で挾んだ構
造の導波路42の一部に設ける構成とした。本実施例の
様な構成とすることで、光を発散させずに所定の方向に
長距離導波できるので、変調素子41と他の光学素子を
組合わせる自由度が多くなり、またスケールを大きくで
きるので、取扱いが容易になった。
第10図は、本発明の第6の実施例を示す模式的構成図
である。本実施例では、第1の実施例で説明した変調素
子41を、半導体レーザ5と同一基板上に設ける構成と
した。この様な構成とすることで、光源5と変調素子4
1の光軸を高い精度で一致させることができ、光源5か
ら出た光191を完全にMQWコア層内に入射させるこ
とができた。そのため光軸の不一致による光の損失を無
くすることができ、本変調素子41の有する高い光利用
効率と相まって、変調後の出力光192の入射光191
に対する比は、80%以上であった。
さらに光源5と同一基板上に形成したことにより、他の
光学素子と光軸合わせが容易になり、組合わせ後の光利
用効率が向上した。
第11図は、本発明の第7の実施例を示す模式的構成図
である。本実施例では、第2の実施例で説明した変調素
子を、同一基板上にシリーズに形成した。一定の強度を
有する入力光191が、個個の変調素子41に入射させ
ても、各変調素子41のゲート電圧を制御することによ
り、任意のオン/オフパターンを出力光192に与える
ことができた。逆に、光強度の異なる入力光191を入
射させて、出力光強度192の強度を一定にそろえるこ
ともでき、出力光強度を一定にするフィルタとして使う
ことができた。
第12図は、本発明の第8の実施例を示す模式的構成図
である0本実施例では、第1の実施例で説明した変調素
子41を横にm個、縦n個、同一基板上に配した。この
ような構成とし、個々の変調素子に印加する電圧を制御
することにより、n個の光入力データ(a)を同時に置
換する操作ができた。変調素子41の働きを、個々の素
子の位置で偏向させるものと、オン/オフさせるものと
すれば、より高度な光演算が可能である。
第13図は、本発明の第9の実施例を示す模式的構成図
である。本実施例では、第1の実施例で説明した変調素
子41を、交差する第1の導波路421と第2の導波路
422の交点に設けた。変調素子41に所定の電圧を印
加した場合は、第1の導波路421に入射した入力光1
91は直進し、第1の出力光193が得られた。変調素
子41に電圧を印加しないと、屈折率は大きくなるので
、光は変調素子41で反射され、第2の出力光194が
得られ、光路切替えスイッチ動作が見られた。
上記第1から第9の実施例においては、QW層がGaA
sであり、障壁層とクラッド層がAQGaAsの場合で
説明したが、本実施例はこれに限ることはない。例えば
、使用する波長に応じてGaAsとAQAsの組合せや
、GaPとAlGaP、GaPとAQP、InGaAs
とGaAs、あるいはI nAsとGaAsなどの組合
せを選択することにより、同様の効果が得られる。
また、電子をキャリアとして用いる場合について説明し
たが、MQW層にアクセプタ不純物を導入することによ
り、正孔をキャリアとして用いることもでき、同様の効
果を生ずる。
さらに、基板の材質もGaAsに限らず、GaPやIn
Pなどでも良い、熱伝導性の良さや、機械的強度の点か
ら、Siを基板に用いれば、効果が大きい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、電気的に光の進行方向や透過光強度を
アナログ的に制御できるので、機械的方法を用いずに光
を高速かつ高精度に制御でき、また装置全体が小型化・
軽量化できるという利点がある。
また、導波路と一体化し、光を高効率で利用できるので
、他の光学素子との組合わせが容易となり、損失が少な
くなるという利点があり、特に光検出が容易になるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の第1の実施例を示す模式的装置
断面図、第1図(b)は第1図(a)のMQWQW層の
構成を示す図、第2図(a)は第1図の装置の各電極に
電圧を印加しない場合のチャネルの形状を示す図、第2
図(b)は第2図(a)のA−A’断面バンド図、第3
図(a)は第1図の装置の各電極へ電圧を印加した場合
のチャネルの形状を示す図、第3図(b)は第3図(a
)A−A’断面のバンド図、第4図は第2図(a)の及
び第3図(a)のb−b’断面の屈折率分布を示す図、
第5図(a)は第2図(a)のB−B’断面における光
の進行を示す図、第5図(b)は第3図(a)のB−B
’断面における光の進行方向を示す図、第6図はMQW
層の吸収スペクトルを示す図、第7図は本発明の第3の
実施例を示す模式的装置断面図、第8図は本発明の第4
の実施例を示す模式的装置断面図、第9図は本発明の第
5の実施例を示す模式的装置構成図、第10図は本発明
の第6の実施例を示す模式的装置構成図、第11図は本
発明の第7の実施例を示す模式的装置構成図、第12図
は本発明の第8の実施例を示す模式的装置構成図、第1
3図は本発明の第9の実施例を示す模式的装置構成図、
第14図(a)と第14図(b)は第1の公知例におけ
るバンド図、第15図(、)は本発明の第2の公知例に
おける構成の断面図、第15図(b)は第15図(a)
のMQWQW層のバンド図である。 131・・・第3の半導体層(クラッド層)、132・
・・第4の半導体層(クラッド層)、14・・・MQW
コア層、141・・・第1の半導体(QW層)、142
・・・第2の半導体(障壁層)、143・・・電子が空
乏化したQW層、145・・・2次元電子、146・・
・チャネル、147・・・空孔層、161・・・第1電
極、162・・・第2電極、171・・・ゲート電極、
172・・・第3電極、41・・・変調素子、42・・
・導波路、421・・・第1の導波路、422・・・第
2の導波路、5・・・光源、19・・・光の進路、19
1・・・入射光、192・・・出力光。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、キャリアが蓄積された量子井戸が複数積層された多
    重量子井戸層をチャネルとした電界効果トランジスタ構
    造を有し、上記多重量子井戸層より小さな屈折率を有す
    る少なくとも2つの半導体層が、それぞれ上記多重量子
    井戸層の少なくとも積層方向に対して接して設けられて
    おり、上記半導体層上にはゲート電極とソース電極及び
    ドレイン電極が形成されていることを特徴とする、光学
    特性変調器。 2、請求の範囲第1項において、上記ゲート電極が、上
    記多重量子井戸層の積層方向に対し、両側に形成されて
    いることを特徴とする、光学特性変調器。 3、キャリアが蓄積された量子井戸が複数積層された多
    重量子井戸層をチャネルとした電界効果トランジスタ構
    造を有し、上記多重量子井戸層を導波コアとし、該多重
    量子井戸層より小さな屈折率を有する少なくとも2つの
    半導体層を導波クラッドとして設けており、上記半導体
    層上にはゲート電極とソース電極及びドレイン電極が形
    成されていることを特徴とする、光学特性変調器。 4、請求の範囲第1項から第3項において、上記多重量
    子井戸層の積層方向の厚さが0.2μm以上であること
    を特徴とする、光学特性変調器。 5、請求の範囲第3項において、入射光を上記多重量子
    井戸層に閉込めるために、上記第1及び第2の半導体層
    の厚さを0.2μm以上としたことを特徴とする光学特
    性変調器。 6、請求の範囲第1項から第5項において、上記多重量
    子井戸層のバンドギャップよりも十分低エネルギの光を
    変調させる光として用いることを特徴とする、光学特性
    変調器。 7、請求の範囲第1項から第5項において、電界が印加
    された場合の上記量子井戸層の実効的バンドギャップと
    同じエネルギの光を変調光に用いることにより、変調光
    をオン/オフすることを特徴とする、光学特性変調器。 8、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、導
    波路の一部に設けられていることを特徴とする、光学素
    子。 9、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、光
    源と同一基板上に作製されていることを特徴とする、光
    学素子。 10、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器を、
    交差する2本の導波路の交点に設け、上記多重量子井戸
    層の屈折率を変化させ全反射条件を制御することにより
    、光の進行方向を切り替えることを特徴とする、光学素
    子。 11、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、
    シリーズにあるいはマトリックス状に配置されているこ
    とを特徴とする、光学素子。 12、請求の範囲第11項に記載の集積した光学特性変
    調器により、一様な強度を有しない複数の入射光を、同
    数の一様の強度の出力光に変換することを特徴とする、
    光学特性変調方法。 13、請求の範囲第11項に記載の光学素子において、
    光の偏向を目的とした変調器と、光のオン/オフを目的
    とした変調器から成ることを特徴とする光学素子。 14、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、
    GaAsとAlGaAs、GaAsと AlAs、AlGaAsとAlAs、あるいはAlの組
    成が異なるAlGaAsから形成されていることを特徴
    とする、光学特性変調器。 15、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、
    GaPとAlGaP、GaPとAlP、AlGaPとA
    lP、あるいは組成の異なるAlGaPから形成されて
    いることを特徴とする、光学特性変調器。 16、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、
    InGaAsとGaAs、もしくはInAsとGaAs
    から形成されていることを特徴とする光学特性変調器。 17、請求の範囲第1項から第5項に記載の変調器が、
    Si基板上に形成されていることを特徴とする、光学素
    子。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5880617A (ja) * 1981-11-09 1983-05-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 導波形光スイツチ素子
JPS6258690A (ja) * 1985-09-04 1987-03-14 Daido Steel Co Ltd 砒素化ガリウム系半導体発光素子
JPS62191822A (ja) * 1986-02-18 1987-08-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 量子井戸形光変調器およびその製造方法
JPS62284331A (ja) * 1986-06-02 1987-12-10 Nec Corp 光変調器
JPS63187A (ja) * 1986-06-19 1988-01-05 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レ−ザ及びその製造方法
JPS6417487A (en) * 1987-07-10 1989-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor laser device

Patent Citations (6)

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